sop-030-11可靠性測試規(guī)范

SOP-03O-11可靠性測試規(guī)

范(總8頁)-CAL-FENGHAI.-(YICAI)-CompanyOnel-CAL-本頁僅作為文檔封面，使用請直接刪除T.hL一

SOP文件編號：S0P-030-11文件名稱：可靠性測試規(guī)范版本號：ERevisionSummary（每次創(chuàng)建或修改時使用空白表格在第一行寫入本次變更內(nèi)容）版本號：文件生成時間：變更描述：變更原因：變更人：A2011-11-9新增新增鐘鳴B2012-11-91、名為“可靠性測試規(guī)范”2、于新增“物料認(rèn)可SOP”，調(diào)整相應(yīng)內(nèi)容以保持一致；3、整LTOL條件為PowerON/OFF；4、SL、TS后增加熱測、AVF等檢視手段；5、于非COB產(chǎn)品，材料焊在FR4板上，再進(jìn)行TS、HTS、TH等試驗；6、試申請由email方式，改為以《可靠性測試申請單》書面方面；變更袁友行C2013-7-41、?3中新增可靠性試驗失敗后的應(yīng)對措施。變更袁友行D2013.12.251、實驗項目WHTOL取消ON/OFF，時間由500HT1000H；2、光誦量失效判定標(biāo)準(zhǔn)0.7T0.9；3、增加色漂判定標(biāo)準(zhǔn)Du'v'>0.004；變更袁友行E2015.3.301、6.2實驗項目按照不同客戶、不同項目進(jìn)行區(qū)分說明；2、6.3增加新產(chǎn)品，衍生產(chǎn)品的定義及其可靠性測試要求；變更袁友行變更人/變更人/核準(zhǔn)人員變更人/核準(zhǔn)人員變更人：核準(zhǔn)人：會簽：會簽部門：簽字、日期會簽核準(zhǔn)部門：簽字、日期#TOL4高溫高濕老化WHTOLJEITAED-4701/102Ta=85°C,85%RH,MaxIF,30minON/OFF500h0/205高溫存儲HTSJEITAED-4701/201Ta=100C1000h0/206低溫存儲LTSJEITAED-4701/201Ta=-40C1000h0/207溫度沖擊TSJESD22-A106B-45Cs125C,15mindwell,lessthan20sectransfertime300cycle無死燈、缺亮0/206.2.6光引擎產(chǎn)品的實驗項目及判定標(biāo)準(zhǔn)：No.測試項目Testitem參考標(biāo)準(zhǔn)Referencestandard測試條件Testcondition測試時間Testduration判定標(biāo)準(zhǔn)Criteria樣品數(shù)UnitFailed/Tested1高溫老化HTOLJESD22-A108Ts=85C,120Vac/230Vac驅(qū)動1000hdeltaflux三90%deltax/yW00050/32Rapid-CycleStressTest快速循環(huán)壓力測試ENERGY_STAR_Integral_LED_Lamps_Program_RequirementsV1.4Ts=85C,120Vac/230Vac驅(qū)動，2minON/OFF1000hdeltaflux三90%deltax/yW0.0050/53高溫老化HTOL2JESD22-A108Ts=105C,120Vac/230Vac驅(qū)動1000h供參考0/34高溫高濕老化WHTOLJEITAED-4701/102Ta=60C,90%RH,120Vac/230Vac驅(qū)動1000hdeltaflux三70%deltax/yW0.030/35溫度沖擊TSJESD22-A106B-45Cs125C,15mindwell,lessthan20sectransfertime100cycle無死燈、缺亮0/56高溫存儲HTSJEITAED-4701/201Ta=100C1000hdeltaflux三90%deltax/yW00050/37高溫高濕存儲THJEITAED-4701/103Ta=60C,90%RH1000hdeltaflux三90%deltax/yW0.0050/38靜電測試IEC61000-4-2(GBT17626)2KV供參考0/59浪涌測試供參考0/510抗雷擊測試供參考0/5(備注：Rapid-CycleStressTest、HT0L2測試3000h供參考；)627RG高色域產(chǎn)品的實驗項目及判定標(biāo)準(zhǔn):No.測試項目Testitem參考標(biāo)準(zhǔn)Referencestandard測試條件Testcondition測試時間Testduration判定標(biāo)準(zhǔn)Criteria樣品數(shù)UnitFailed/Tested1高溫老化HTOLJESD22-A108Ts=85C,TypicalIF1000hdeltaflux三70%deltax/yW0.030/102高溫老化HTOL2JESD22-A108Ts=105C,TypicalIF1000h供參考0/103高溫高濕老化WHTOLJEITAED-4701/102Ta=85C,85%RH,TypicalIF500hdeltaflux三70%deltax/yW0030/104潮氣敏感度MSLIPC/JEDECJ-STD-02085C/85%環(huán)境下吸濕12h以上9貼片9三遍回流焊無死燈、缺亮0/205溫度沖擊TSJESD22-A106B-45Cs125C,15mindwell,lessthan20sectransfertime100cycle無死燈、缺亮sequencefromMSL6高溫存儲HTSJEITAED-4701/201Ta=100C1000hdeltaflux三70%deltax/yW0030/107高溫高濕存儲THJEITAED-4701/103Ta=60C,90%RH1000hdeltaflux三70%deltax/yW0.030/108靜電放電人體模式ESDHBMJESD22-A114ESDHBMmode2KV@85%fornormalLED,8KV@100%forLEDwithzener供參考0/209硫滲透試驗SP將1g硫磺粉末置于400ml容器底部，把LED放入容器內(nèi)，LED與硫粉不接觸，密閉容器，然后將整個容器放入75°C烤箱中儲存4h.8h.12h.……供參考0/10

628FLASH產(chǎn)品的實驗項目及判定標(biāo)準(zhǔn):No.測試項目Testitem參考標(biāo)準(zhǔn)Referencestandard測試條件Testcondition測試時間Testduration判定標(biāo)準(zhǔn)Criteria樣品數(shù)UnitFailed/Tested(non-COB)1高溫老化HTOLJESD22-A108Ts=85C,MaxIF1000hdeltaflux三90%deltax/yW0.0050/102高溫老化HTOL2JESD22-A108Ts=105C,MaxIF1000h供參考0/103高溫高濕老化WHTOLJEITAED-4701/102Ta=85C,85%RH,MaxIF500hdeltaflux三70%deltax/yW0.030/104PulsedoperatinglifeTa=25C,IF=MaxIFP,TON=400msandToff=3600ms30,000cyclesdeltaflux三90%deltax/yW0.005無死燈0/205潮氣敏感度MSL1IPC/JEDECJ-STD-02085C/85%環(huán)境下吸濕168h以上9貼片9三遍回流焊無死燈、缺亮（供參考）0/206潮氣敏感度MSLIPC/JEDECJ-STD-02085C/85%環(huán)境下吸濕12h以上9貼片9三遍回流焊無死燈、缺亮0/207溫度沖擊TSJESD22-A106B-45Cs125C,15mindwell,lessthan20sectransfertime100cycle無死燈、缺亮sequencefromMSL8高溫存儲HTSJEITAED-4701/201Ta=100C1000hdeltaflux三90%deltax/yW0.0050/109高溫高濕存儲THJEITAED-4701/103Ta=60C,90%RH1000hdeltaflux三90%deltax/yW00050/1010靜電放電人體模式ESDHBMJESD22-A114ESDHBMmode2KV@85%fornormalLED,8KV@100%forLEDwithzener供參考0/2011硫滲透試驗SP將1g硫磺粉末置于400ml容器底部，把LED放入容器內(nèi)，LED與硫粉不接觸，密閉容器，然后將整個容器放入75C烤箱中儲存4h.8h.12h.……供參考0/1012熱陽測1試TRJESD51-14供參考0/2629可靠性測試項目、判定標(biāo)準(zhǔn)不是一成不變的，應(yīng)適應(yīng)項目的實際情況，以符合客戶要求為第一準(zhǔn)則。研發(fā)工程師、物料工程師、品質(zhì)工程師可以根據(jù)項目的實際情況（如客戶特殊要求，特殊的加速實驗條件等），設(shè)計特殊的測試項目，也可以根據(jù)實際需要申請延長測試時間；6.2.10常規(guī)實驗項目的作業(yè)方法參考《環(huán)境實驗標(biāo)準(zhǔn)作業(yè)規(guī)范》、《老化樣品制樣操作規(guī)范》；6.2.11硫滲透試驗（SP,sulfurpenetratetest）:將1g硫磺粉末置于400ml容器底部，把LED放入容器內(nèi)，LED與硫粉不接觸，密閉容器，然后將整個容器放入75°C烤箱中儲存，每4h測試一次或按照委托單特殊要求，當(dāng)光通量維持率低于80%時，實驗停止。應(yīng)采取措施防止硫磺粉末、硫化試驗箱污染其它老化烤箱。從容器中取出LED后應(yīng)立即密閉容器。6.3新產(chǎn)品、衍生產(chǎn)品可靠性測試項目（?代表必做，O代表選做）新產(chǎn)品在設(shè)計總結(jié)評審?fù)瓿?，即設(shè)計完成后，應(yīng)參考6.2或下表進(jìn)行驗證；衍生產(chǎn)品是在新產(chǎn)品開發(fā)初期有經(jīng)過全部信賴度驗證，且所用物料也經(jīng)過正式評估導(dǎo)入的合格物料。如果衍生產(chǎn)品只涉及色溫、亮度、顯指等規(guī)格參數(shù)的變更，無需重復(fù)進(jìn)行可靠性測試；如果變更支架廠商，芯片，熒光粉，封裝膠水等物料，應(yīng)參考下表進(jìn)行驗證；HT0LLTOLWHT0LMSLTSHTSLTSTHESD(HBM)SPTR新產(chǎn)品?O????OOOOO更換芯片????OO更換支架?O????OOO更換封裝膠?O???OOOO更換固晶膠?O???O更換金線?O??更換熒光粉??OO備注1：?代表必做，O代表選做；備注2：其中更換支架是指不變更整體結(jié)構(gòu)，只是供應(yīng)商的更換，或者支架工藝端的微小變更6.4測試報告6.4.1所有可靠性試驗的測試數(shù)據(jù)都需要被保留在服務(wù)器上的相應(yīng)文件夾中?？煽啃怨こ處煈?yīng)該關(guān)注階段性測試數(shù)據(jù)，如果階段性數(shù)據(jù)有異常，可靠性工程師應(yīng)立即通知FA工程師分析，并及時將測試報告、分析結(jié)果反饋測試申請者。當(dāng)所有測試結(jié)束，可靠性工程師負(fù)責(zé)將結(jié)果總結(jié)成《可靠性測試報告》，并以郵件分發(fā)相關(guān)人員。644如果新物料、新產(chǎn)品、衍生產(chǎn)品的可靠性測試NG，可靠性工程師應(yīng)協(xié)同F(xiàn)A工程師、研發(fā)工程師進(jìn)行失效分析；可靠性測試NG的新物料、新產(chǎn)品、衍生產(chǎn)品不能被正常導(dǎo)入。6.4.5如果量產(chǎn)產(chǎn)品的可靠性測試NG,可靠性工程師應(yīng)以“異常通知單”形式通知品質(zhì)工程師，并立即協(xié)同F(xiàn)A工程師、品質(zhì)工程師進(jìn)行失效分析；6.4.6品質(zhì)工程師收到“異常通知單”后應(yīng)按照品質(zhì)事故處理流程，召集品質(zhì)會議，排查、hold相關(guān)庫存，排查可能原因，并關(guān)注客戶使用情況等