SOP可靠性測試規(guī)范E0001

1、SOP文件編號：文件名稱：版本號:SOP-030-11可靠性測試規(guī)范ERevision Summary（每次創(chuàng)建或修改時使用空白表格在第一行與入本次變更內(nèi)谷）版本號:文件生成時間：變更描述：變更原因：變更人：A2011-11-9新增新增鐘鳴B2012-11-91、名為“可靠性測試規(guī)范”2、于新增“物料認可 SOP ”，調(diào)整相應(yīng) 內(nèi)容以保持一致；3、整 LTOL 條件為 Power ON/OFF ；4、SL、TS后增加熱測、 VF等檢視手 段；5、于非COB產(chǎn)品，材料焊在FR4板上，再進行TS、HTS、TH等試驗；6、試申請由email方式，改為以可靠性 測試申請單書面方面；變更袁友行C2013

2、-7-41、.3中新增可靠性試驗失敗后的應(yīng)對措 施。變更袁友行D2013.12.251、實驗項目 WHTOL取消ON/OFF，時間由500H1000H ；2、 光通量失效判定標(biāo)準(zhǔn)0.7 0.9 ；3、增加色漂判定標(biāo)準(zhǔn) Du ' ' 0.004 ；變更袁友行E2015.3.301、6.2實驗項目按照不同客戶、不同項目進行區(qū)分說明；2、6.3增加新產(chǎn)品，衍生產(chǎn)品的定義及其可靠性測試要求；變更袁友行變更人/核準(zhǔn)人員變更人：核準(zhǔn)人：會簽:會簽部門：簽字、日期會簽核準(zhǔn)部門：簽字、日期1.0 目的： 對可靠性測試各流程進行有效管理，確?？煽啃詼y試結(jié)果準(zhǔn)確；通過對公司新產(chǎn) 品、新物料、常規(guī)產(chǎn)

3、品進行可靠性測試，確保公司產(chǎn)品的可靠性符合客戶要求；2.03.0范圍：適用于公司所有產(chǎn)品（新產(chǎn)品、新物料、常規(guī)產(chǎn)品等）的各項可靠性測試項目；職責(zé)：可靠性工程師： 1. 制定可靠性測試規(guī)范，配備相應(yīng)的軟硬件以實現(xiàn)各實驗項目；2. 按照測試申請單進行相應(yīng)可靠性測試；3. 采取措施，確保老化過程嚴格執(zhí)行實驗要求；4. 當(dāng)公司內(nèi)部缺乏某些實驗手段時，選擇合格的第三方實驗室執(zhí)行試驗；物料工程師 研發(fā)工程師 品質(zhì)工程師5. 總結(jié)可靠性測試報告； 制定物料評估、認證計劃，并負責(zé)提交試樣階段的可靠性試驗申請單； 制定新產(chǎn)品評估、認證計劃，并負責(zé)提交試樣階段的可靠性試驗申請單； 制定常規(guī)產(chǎn)品可靠性評估計劃，并負

4、責(zé)提交常規(guī)產(chǎn)品的可靠性試驗申請；4.0安全：無5.0定義：可靠性： 一個系統(tǒng)在規(guī)定條件下，在規(guī)定時期內(nèi)，能成功實現(xiàn)其預(yù)定功能的可能性。 新產(chǎn)品： 新增產(chǎn)品，即新開發(fā)產(chǎn)品；衍生產(chǎn)品： 在成熟產(chǎn)品的基礎(chǔ)上，根據(jù)客戶需求，或者自主開發(fā)，不變更支架，只是變 更芯片，熒光粉等對整體制程不產(chǎn)生影響的產(chǎn)品。6.0 流程：6.1 一般流程與要求6.1.1 研發(fā)工程師、物料工程師、品質(zhì)工程師以書面形式向?qū)嶒炇姨峤粶y試申 請單，提交相應(yīng)樣品，在申請單中詳細填寫實驗樣品的各項信息，及委 托項目；6.2 實驗項目621常規(guī)SMD產(chǎn)品的實驗項目及判定標(biāo)準(zhǔn):No.測試項目Test item參考標(biāo)準(zhǔn)Reference st

5、andard測試條件Test condition測試時間Test duration判定標(biāo)準(zhǔn)Criteria樣品數(shù)Unit Failed/Teste d1高溫老化HTOLJESD22-A108Ts=85C, Typical IF1000hdelta flux > 90% delta x/y < 0.0050/102高溫老化HTOL2JESD22-A108Ts=105C , Typical IF1000h供參考0/103高溫高濕老化 WHTOLJEITA ED-4701/102Ta=85C , 85%RH,Typi cal IF500hdelta flux > 70% delta

6、 x/y < 0.030/104潮氣敏感度MSLIP C/JEDEC J- STD-02085C /85%環(huán)境下吸濕12h以上貼片 三遍回流焊無死燈、缺亮0/205溫度沖擊TSJESD22-A106B-45 °C S 125 °C , 15min dwell, less than 20sec transfer time100cycle無死燈、缺亮sequence from MSL6高溫存儲HTSJEITA ED-4701/201Ta=100C1000hdelta flux > 90% delta x/y < 0.0050/107高溫高濕存儲THJEITA

7、ED-4701/103Ta=60C, 90%RH1000hdelta flux > 90% delta x/y < 0.0050/108靜電放電人體模式ESDHBMJESD22-A114 ESD HBM mode 2KV85% for normal LED, 8KV100% for LED with zener供參考0/209硫滲透試驗SP將1g硫磺粉末置于400ml容器底部，把LED放入容器 內(nèi)，LED與硫粉不接觸，密閉容器，然后將整個容器放入75C烤箱中儲存4h,8h,12h,供參考0/1010熱阻測試TRJESD51-14供參考0/2622常規(guī)COB產(chǎn)品的實驗項目及判定標(biāo)準(zhǔn):

8、No.測試項目Test item參考標(biāo)準(zhǔn)Reference standard測試條件Test condition測試時間Test duration判定標(biāo)準(zhǔn)Criteria樣品數(shù)Unit Failed/Tes ted1高溫老化HTOLJESD22-A108Ts=85C, Typical IF1000hdelta flux> 95%delta x/y < 0.0050/32咼溫老化HTOL2JESD22-A108Ts=105C, Typical IF1000h供參考0/33咼溫咼濕老化 WHTOLJEITA ED-4701/102Ta=85C , 85%RH, Typi cal IF1

9、000hdelta flux > 90%delta x/y < 0.030/34溫度沖擊TSJESD22-A106B-45 C s 125 C , 15min dwell, less than 20sec transfer time100cycle無死燈、缺亮0/55高溫存儲HTSJEITA ED-4701/201Ta=100C1000hdelta flux > 95% delta x/y < 0.0050/36高溫高濕存儲THJEITA ED-4701/103Ta=60C, 90%RH1000hdelta flux > 95% delta x/y < 0.

10、0050/37靜電放電人體模式ESDHBMJESD22-A114 ESD HBM mode 2KV85% for normal LED, 8KV100% for LED with zener供參考0/58硫滲透試驗SP將1g硫磺粉末置于400ml容器底部，把LED放入容器 內(nèi)，LED與硫粉不接觸，密閉容器，然后將整個容器放入75C烤箱中儲存8h,24h,48h供參考0/39熱阻測試TRJESD51-14供參考0/2623 TCL BLU產(chǎn)品的實驗項目及判定標(biāo)準(zhǔn):No.實驗名稱實驗方法判斷依據(jù)數(shù)量備注180 C極限高 溫試驗Ta=80C； 1000h;額定電流；實際散熱片；平置；delta fl

11、ux > 85%delta x/y < 0.0155*N(N :單臺整機所用LB條數(shù)；)實驗后無黃 化等顯性不 良245 C高溫老 化試驗Ta=45C； 1000h ;最大電流；散熱片 確保LED結(jié)溫V110C ;平置；delta flux > 85%delta x/y < 0.0153ESDESD HBM mode ± 4KV, 10 次，LB 引 腳 地，不接地，不驅(qū)動燈條試驗后能正常 點亮54硫滲透試驗SP將1g硫磺粉末置于400ml容器底部， 把LED放入容器內(nèi)，LED與硫粉不接 觸，密閉容器，然后將整個容器放入 75C烤箱中儲存8hdelta flu

12、x > 80%106.2.4創(chuàng)維BLU產(chǎn)品的實驗項目及判定標(biāo)準(zhǔn):No.測試項目Test item測試條件Test condition測試時間Test duration判定標(biāo)準(zhǔn)Criteria樣品數(shù)Unit Failed/Tested1高溫老化HTOLTa=65C, Typical IF500hdelta flux > 70%delta VF<10%IR<2倍初始值不可有外觀性不良0/62高溫存儲HTSTa=85C500h0/63低溫老化LTOLTa=-40 C , Ty pi cal IF500h0/64低溫存儲LTSTa=-40 C500h0/65高溫高濕老化 WHT

13、OLTa=85C , 85%RH, Typical IF179h0/66溫度沖擊TS-45 C s 125 C , 15min dwell, less than 20sec transfer time100cycle無死燈、缺亮sequence from MSL7靜電人體模式ESD HBM mode接觸放電，參考國際靜電協(xié)會(ANSI)標(biāo) 準(zhǔn) 中電壓 等級：2級 (2KV0/26.2.5 L項目的實驗項目及判定標(biāo)準(zhǔn):No.測試項目Test item參考標(biāo)準(zhǔn)Reference standard測試條件Test condition測試時間Test duration判定標(biāo)準(zhǔn)Criteria樣品數(shù)Un

14、it Failed/Teste d(non-COB)1高溫老化JESD22-A108Ts=55 C , Max IF1000hdelta flux > 85%0/20HTOLdelta x/y <0.007delta VF < 10%2高溫老化HTOL2JESD22-A108Ts=85C , Max IF1000h0/203低溫老化LTOLJESD22-A108Ta=-40 C , Max IF1000h0/204高溫高濕老化 WHTOLJEITA ED-4701/102Ta=85C, 85%RH, Max IF , 30min ON/OFF500h0/205高溫存儲HTSJ

15、EITA ED-4701/201Ta=100C1000h0/206低溫存儲LTSJEITA ED-4701/201Ta=-40 C1000h0/207溫度沖擊TSJESD22-A106B-45 C s 125 C , 15min dwell, less than 20sec transfer time300cycle無死燈、缺亮0/20626光引擎產(chǎn)品的實驗項目及判定標(biāo)準(zhǔn):No.測試項目Test item參考標(biāo)準(zhǔn)Reference standard測試條件Test condition測試時間Test duration判定標(biāo)準(zhǔn)Criteria樣品數(shù)Unit Failed/Teste d1高溫老化

16、HTOLJESD22-A108Ts=85C, 120Vac/230Vac 驅(qū)動1000hdelta flux > 90% delta x/y < 0.0050/32Rap id-Cycle Stress Test 快速循環(huán)壓力測試ENERGY_STAR_ ntegral_LED_L amps_P rogram_ Requirements V1.4Ts=85C, 120Vac/230Vac 驅(qū)動， 2min ON/OFF1000hdelta flux > 90% delta x/y < 0.0050/53高溫老化HTOL2JESD22-A108Ts=105C ,120Va

17、c/230Vac 驅(qū)動1000h供參考0/34高溫高濕老化 WHTOLJEITA ED-4701/102Ta=60C , 90%RH, 120Vac/230Vac 驅(qū)動1000hdelta flux > 70%delta x/y < 0.030/35溫度沖擊TSJESD22-A106B-45 C s 125 C , 15min dwell, less than 20sec transfer time100cycle無死燈、缺亮0/56高溫存儲HTSJEITA ED-4701/201Ta=100C1000hdelta flux > 90% delta x/y < 0.00

18、50/37高溫高濕存儲THJEITA ED-4701/103Ta=60C, 90%RH1000hdelta flux > 90% delta x/y < 0.0050/38靜電測試IEC61000-4-2 (GBT17626) 2KV供參考0/59浪涌測試供參考0/510抗雷擊測試供參考0/5(備注：Rapid-Cycle Stress Test、HT0L2 測試 3000h 供參考；)627 RG高色域產(chǎn)品的實驗項目及判定標(biāo)準(zhǔn):No.測試項目Test item參考標(biāo)準(zhǔn)Reference standard測試條件Test condition測試時間Test duration判定標(biāo)準(zhǔn)

19、Criteria樣品數(shù)Unit Failed/Teste d1高溫老化HTOLJESD22-A108Ts=85C, Typical IF1000hdelta flux > 70% delta x/y < 0.030/102高溫老化HTOL2JESD22-A108Ts=105C, Typical IF1000h供參考0/103咼溫咼濕老化 WHTOLJEITA ED-4701/102Ta=85C, 85%RH, Typi cal IF500hdelta flux > 70% delta x/y < 0.030/104潮氣敏感度MSLIP C/JEDEC J-STD-020

20、85C /85%環(huán)境下吸濕12h以上貼片 三遍回流焊無死燈、缺亮0/205溫度沖擊TSJESD22-A106B-45 °C S 125 °C , 15min dwell, less than 20sec transfer time100cycle無死燈、缺亮sequence from MSL6高溫存儲HTSJEITA ED-4701/201Ta=100C1000hdelta flux > 70%delta x/y < 0.030/107高溫高濕存儲THJEITA ED-4701/103Ta=60C , 90%RH1000hdelta flux > 70%d

21、elta x/y < 0.030/108靜電放電人體模式ESDHBMJESD22-A114 ESD HBM mode 2KV85% for normal LED, 8KV100% for LED with zener供參考0/209硫滲透試驗SP將1g硫磺粉末置于400ml容器底部，把LED放入容器 內(nèi)，LED與硫粉不接觸，密閉容器，然后將整個容器放入75C烤箱中儲存4h,8h,12h,供參考0/10628 FLASH產(chǎn)品的實驗項目及判定標(biāo)準(zhǔn):No.測試項目Test item參考標(biāo)準(zhǔn)Reference standard測試條件Test condition測試時間Test duration

22、判定標(biāo)準(zhǔn)Criteria樣品數(shù)Unit Failed/Teste d(non-COB)1高溫老化HTOLJESD22-A108Ts=85C , Max IF1000hdelta flux > 90% delta x/y < 0.0050/102高溫老化HTOL2JESD22-A108Ts=105C, Max IF1000h供參考0/103高溫高濕老化 WHTOLJEITA ED-4701/102Ta=85C, 85%RH, MaxIF500hdelta flux > 70% delta x/y < 0.030/104P ulsed op erating lifeTa=2

23、5C,IF =Max IFP, T ON =400ms and T off=3600 ms30,000 cyclesdelta flux > 90% delta x/y < 0.005 無死燈0/205潮氣敏感度MSL1IP C/JEDEC J-STD-02085 C /85%環(huán)境下吸濕168片三遍回流焊h以上貼無死燈、缺亮 （供參考）0/206潮氣敏感度MSLIP C/JEDEC J-STD-02085 C /85%環(huán)境下吸濕12h以上 貼片 三遍回流焊無死燈、缺亮0/207溫度沖擊TSJESD22-A106B-45 °C S 125 °C , 15min d

24、well, less than 20sec transfer time100cycle無死燈、缺亮sequence from MSL8高溫存儲HTSJEITA ED-4701/201Ta=100C1000hdelta flux > 90% delta x/y < 0.0050/109高溫高濕存儲THJEITA ED-4701/103Ta=60C, 90%RH1000hdelta flux > 90% delta x/y < 0.0050/1010靜電放電人體模式ESDHBMJESD22-A114 ESD HBM mode 2KV85% for normal LED, 8

25、KV100% for LED with zener供參考0/2011硫滲透試驗SP將1g硫磺粉末置于400ml容器底部，把LED放入容器 內(nèi)，LED與硫粉不接觸，密閉容器，然后將整個容器放入75C烤箱中儲存4h,8h,12h,供參考0/1012熱阻測試TRJESD51-14供參考0/26.2.96.2.106.2.11可靠性測試項目、判定標(biāo)準(zhǔn)不是一成不變的，應(yīng)適應(yīng)項目的實際情況，以 符合客戶要求為第一準(zhǔn)則。研發(fā)工程師、物料工程師、品質(zhì)工程師可以根 據(jù)項目的實際情況（如客戶特殊要求，特殊的加速實驗條件等），設(shè)計特 殊的測試項目，也可以根據(jù)實際需要申請延長測試時間；常規(guī)實驗項目的作業(yè)方法參考環(huán)境實

26、驗標(biāo)準(zhǔn)作業(yè)規(guī)范、老化樣品制 樣操作規(guī)范；Fa a V ano硫滲透試驗（SP, sulfur penetrate test ）:將1g硫磺粉末置于400ml容器底 部，把LED放入容器內(nèi)，LED與硫粉不接觸，密閉容器，然后將整個容器 放入75 C烤箱中儲存，每4h測試一次或按照委托單特殊要求，當(dāng)光通量維 持率低于80%時，實驗停止。應(yīng)采取措施防止硫磺粉末、硫化試驗箱污染 其它老化烤箱。從容器中取出LED后應(yīng)立即密閉容器。6.3新產(chǎn)品、衍生產(chǎn)品可靠性測試項目（代表必做，O代表選做）6.3.1新產(chǎn)品在設(shè)計總結(jié)評審?fù)瓿?，即設(shè)計完成后，應(yīng)參考6.2或下表進行驗證;6.3.2衍生產(chǎn)品是在新產(chǎn)品開發(fā)初期有經(jīng)過全部信賴度驗證，且所用物料也經(jīng)過 正式評估導(dǎo)入的合格