成某公司品檢驗(yàn)抽樣管理規(guī)定

1、成品檢驗(yàn)抽樣管理規(guī)定1 目的及適用范圍 目的：規(guī)定了成品檢驗(yàn)前樣本抽取的方法，以符合計(jì)數(shù)抽樣檢驗(yàn)的要求。 適用范圍：適用于微電子分公司及微波事業(yè)部對(duì)執(zhí)行 GJB2438A 2002、GJB 59788、SJ 206681998、SJ 20527A2003 通用（總）規(guī)范的產(chǎn)品進(jìn)行 質(zhì)量一致性檢驗(yàn)、驗(yàn)收等成品檢驗(yàn)時(shí)的樣本抽取。2 職責(zé)2.1 質(zhì)保中心實(shí)驗(yàn)室檢驗(yàn)員負(fù)責(zé)按照產(chǎn)品詳細(xì)規(guī)范及本管理規(guī)定的要求抽取 樣本。2.2 質(zhì)保中心實(shí)驗(yàn)室主任負(fù)責(zé)監(jiān)督檢驗(yàn)員抽樣工作的開展。3 術(shù)語(yǔ)和定義3.1 隨機(jī)抽樣：保證在抽取樣本的過程中，排除一切主觀意向，使批中的每個(gè) 單位產(chǎn)品都有同等被抽取的機(jī)會(huì)的一種抽取方法。

2、3.2 分層抽樣法：也叫類型抽樣法， 是一種隨機(jī)抽樣方法。 它是從一個(gè)可以分 成不同層（或稱子體）的總體中，按規(guī)定的比例從不同層中隨機(jī)抽取樣品的方法。3.3 混合集成電路檢驗(yàn)批：由一定數(shù)量的一種型號(hào)的電路（ A 組檢驗(yàn)要求）或 幾種型號(hào)的電路（僅適用于B、C和D組檢驗(yàn)）組成，但它們必須具有相同的封裝形 式和引線鍍涂，同時(shí)提交質(zhì)量一致性檢驗(yàn)。3.4 微電路檢驗(yàn)批：一個(gè)檢驗(yàn)批應(yīng)由同一封裝形式和引線鍍涂的單一器件型號(hào) 組成。3.5 微電路模塊檢驗(yàn)批： 一個(gè)檢驗(yàn)批應(yīng)由基本相同條件下生產(chǎn)的同一時(shí)間提交 檢驗(yàn)的同一型號(hào)模塊組成。3.6 微波組件檢驗(yàn)批： 在同一生產(chǎn)線上按相同設(shè)計(jì)， 相同工藝， 采用相同材料

3、 生產(chǎn)出來，并同時(shí)提交檢驗(yàn)的同一型號(hào)（包括不同規(guī)格）的全部組件可組 成一個(gè)檢驗(yàn)批。4 內(nèi)容和要求4.1 檢驗(yàn)批的構(gòu)成4.1.1實(shí)驗(yàn)室檢驗(yàn)員按照4.1.24.1.4的規(guī)定組合電路形成檢驗(yàn)批。當(dāng)一個(gè)檢驗(yàn)批由多個(gè) 生產(chǎn)批組成時(shí)，實(shí)驗(yàn)室主任應(yīng)進(jìn)行確認(rèn)。4.1.2 執(zhí)行 GJB 2438A2002、SJ 20668 1 998 的電路每個(gè)檢驗(yàn)批的所有電路 應(yīng)在不超過 13 周的同一周期內(nèi)完成最后密封。執(zhí)行 GJB 59788 的電路 每個(gè)檢驗(yàn)批的所有電路應(yīng)在不超過 6 周的同一周期內(nèi)完成最后密封。 執(zhí)行 SJ 20527A 2003的電路每個(gè)檢驗(yàn)批的所有電路應(yīng)在不超過12周的同一周期內(nèi)完成最后封蓋。4.

4、1.3執(zhí)行GJB 2438A- 2002的電路在提交A組檢驗(yàn)時(shí)，檢驗(yàn)批應(yīng)由同一型號(hào) 電路組成的一個(gè)或多個(gè)生產(chǎn)批組成；提交B、C D組檢驗(yàn)時(shí)，檢驗(yàn)批應(yīng)由同一型號(hào)電路組成的一個(gè)生產(chǎn)批或具有相同的封裝形式和引線鍍涂的幾 種型號(hào)的電路組成的多個(gè)生產(chǎn)批組成。4.1.4 執(zhí)行 GJB 597 88、SJ 20668 1998、SJ 20527A- 2003 的電路檢驗(yàn)批應(yīng) 由同一型號(hào)電路組成的一個(gè)或多個(gè)生產(chǎn)批組成。4.2 樣本抽取4.2.1 樣本選擇的原則是隨機(jī)抽樣。422當(dāng)一個(gè)檢驗(yàn)批由多個(gè)生產(chǎn)批組成，實(shí)驗(yàn)室檢驗(yàn)員按照423426的規(guī) 定進(jìn)行抽樣， 樣本檢驗(yàn)前， 實(shí)驗(yàn)室主任應(yīng)對(duì)檢驗(yàn)批的構(gòu)成與抽取的樣本進(jìn)

5、行核準(zhǔn)、確認(rèn)。4.2.3在進(jìn)行按GJB179A或GB/T 2828抽樣的試驗(yàn)時(shí)，應(yīng)采用分層抽樣法按比 例抽取樣本， 以保證各生產(chǎn)批的樣本量與各生產(chǎn)批量之間是成比例的， 如 執(zhí)行SJ 20668- 1998、SJ 20527A- 2003的電路質(zhì)量一致性檢驗(yàn)的 A組檢 驗(yàn)，執(zhí)行GJB 179A或 GB/T 2828抽樣的產(chǎn)品代驗(yàn)收。4.2.4 在進(jìn)行按接收數(shù)為零的樣本大小（接收數(shù)）抽樣的試驗(yàn)時(shí)，通用（總） 規(guī)范要求隨機(jī)抽樣的分組也應(yīng)參考分層抽樣法按比例抽取樣本，如執(zhí)行 GJB 2438A- 2002或GJB 597- 88的電路質(zhì)量一致性檢驗(yàn)的 A組檢驗(yàn)。4.2.5 除 4.2.4 中規(guī)定的通用

6、（總）規(guī)范要求隨機(jī)抽樣的分組外，其余進(jìn)行按 接收數(shù)為零的樣本大?。ń邮諗?shù)）抽樣的試驗(yàn)時(shí)，無需采用分層抽樣法， 可任意抽取樣品。如執(zhí)行 SJ 20668-1998、 SJ 20527A- 2003的電路質(zhì)量 一致性檢驗(yàn)的C組檢驗(yàn)，執(zhí)行GJB2438A- 2002或GJB597- 88的電路質(zhì) 量一致性檢驗(yàn)的B、C D組檢驗(yàn)。4.2.6 初始樣本和重新提交的樣本應(yīng)從檢驗(yàn)批中隨機(jī)抽取。使用二次或多次抽 樣時(shí)，每個(gè)后繼的樣本應(yīng)從同一檢驗(yàn)批的剩余部分中抽取。4.3 樣本檢驗(yàn)4.3.1 實(shí)驗(yàn)室檢驗(yàn)員根據(jù)產(chǎn)品詳細(xì)規(guī)范、 技術(shù)協(xié)議和訂貨合同規(guī)定的檢驗(yàn)項(xiàng)目， 按照SSE-QZY-JG-003成品驗(yàn)證和檢驗(yàn)管理規(guī)定進(jìn)行檢驗(yàn)。4.3.2 當(dāng)檢驗(yàn)出現(xiàn)不合格時(shí)，應(yīng)按照產(chǎn)品通用（總）規(guī)范的規(guī)定對(duì)檢驗(yàn)批中的 所有生產(chǎn)批進(jìn)行失效分析。可以直接重新提交或執(zhí)行二次抽樣方案的產(chǎn) 品，應(yīng)按照 4.2 的規(guī)定抽取規(guī)定的第二樣本進(jìn)行檢驗(yàn)。 由幾個(gè)生產(chǎn)批組成 的檢驗(yàn)批經(jīng)失效分析后表明其失效機(jī)理為其中一批或幾批的獨(dú)有失效時(shí)， 可對(duì)合格的生產(chǎn)批重新組成一個(gè)或幾個(gè)檢驗(yàn)批， 并補(bǔ)齊樣本量， 重新進(jìn)行 檢驗(yàn)，經(jīng)檢驗(yàn)合格的檢驗(yàn)批， 可交付使用。 對(duì)不合格的生產(chǎn)批按照產(chǎn)品通 用（總）規(guī)范、詳細(xì)規(guī)范及 SSE-QZY-JG-004 失效和缺陷分析管理規(guī)定 的規(guī)定進(jìn)行失效分析。4.4 轉(zhuǎn)移規(guī)則4.4.1 分公司及事業(yè)