SMT進料檢驗規(guī)范

,,XX電子科技有限公司,,,,,,,,SMT進料檢驗規(guī)范,,,,,,,,,,文件編號,,XXX-QPA-QA002,,,制訂日期,,2018/5/1,,

,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,文件版本,,A/01,,,頁碼,,第1頁，共1頁,,

1.定義：,,,,,,,,,,,,,,,4．貼片LED檢驗,,,,,,,,,,,,,,

"1.1A類不合格：指對本公司產品性能、安全、利益有嚴重影響不合格項目。

1.2B類不合格：指對本公司產品性能影響輕微可限度接受的不合格項目。

1.3檢驗儀器、儀表、量具的要求：

所有的檢驗儀器、儀表、量具必須在校正計量期內。",,,,,,,,,,,,,,,,檢驗項目,,,檢驗要求,,,,,,,"檢驗方法

及工具",,MA,MI

,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,0.4,1.0

,,,,,,,,,,,,,,,1,外包裝標簽,,,標簽品名規(guī)格與物料驗收單或IE單不符,,,,,,,目檢,,☆,

2.作業(yè)內容：,,,,,,,,,,,,,,,,,,,"包裝袋未封口,破損",,,,,,,目檢,,☆,

"2.1檢驗方式：抽樣檢驗。

2.2抽樣方案：元器件類:按照GB2828-87正常檢查一次抽樣方案一般檢查水平Ⅱ進行。

2.2.1非元器件類:按照GB2828-87正常檢查一次抽樣方案特殊檢查水平Ⅲ進行。

2.2.2盤帶包裝物料按每盤取3只進行測試。

2.2.3替代法檢驗的物料其替代數(shù)量依據(jù)本公司產品用量的2～3倍進行替代測試。

2.3合格質量水平：

A類不合格AQL=0.4

B類不合格AQL=1.0

替代法測試的物料必須全部滿足指標要求。",,,,,,,,,,,,,,,2,生產日期,,,未注明生產日期,,,,,,,目檢,,☆,

,,,,,,,,,,,,,,,,,,,生產日期超過六個月,,,,,,,目檢,,☆,

,,,,,,,,,,,,,,,3,本體外觀\極性,,,規(guī)格錯誤,,,,,,,目檢,,☆,

,,,,,,,,,,,,,,,,,,,發(fā)光二極管本體破損,,,,,,,目檢,,,☆

,,,,,,,,,,,,,,,,,,,燈座變形,,,,,,,目檢,,,☆

,,,,,,,,,,,,,,,,,,,發(fā)光二極管正面有刮傷,,,,,,,目檢,,,☆

3.貼片電阻檢驗:,,,,,,,,,,,,,,,,,,,發(fā)光二極管正面有擦花,,,,,,,目檢,,,☆

,檢驗項目,,,檢驗要求,,,,,,"檢驗方法

及工具",,,MA,MI,,,,,外觀顏色不符,,,,,,,目檢,,☆,

,,,,,,,,,,,,,0.4,1.0,,,,,正負極未標識,,,,,,,目檢,,☆,

1,電阻外觀,,,絲印數(shù)字標識清楚、零件體及電極不可有破損，須有良好之光潔度,,,,,,目視或鏡檢,,,,☆,,,,,正負極標識錯誤,,,,,,,目檢,,☆,

,,,,,,,,,,,,,,,,,,,PIN腳氧化發(fā)黑,,,,,,,顯微鏡,,☆,

2,電阻值及標識（直標法、數(shù)碼法）,,,標識應與電阻值相符（在允許之誤差范圍內）。,,,,,,,,,☆,,4,電氣性能,,,極性相反,,,,,,,恒流電源,,☆,

,,,,,,,,,,,,,,,,,,,燈不亮,,,,,,,恒流電源,,☆,

3,零件規(guī)格,,,零件規(guī)格須與零件來料標簽上注明之規(guī)格相符（0201、0402、0603、0805、1206）,,,,,,用卡尺量測或目檢,,,☆,,,,,,燈亮時顏色不一致,,,,,,,恒流電源,,,☆

,,,,,,,,,,,,,,,5,尺寸,,,在規(guī)格范圍,,,,,,,卡尺,,☆,

4,包裝方式,,,真空包裝，原裝物料帶不可折斷或散裝，料盤外須有來料標簽，標簽上之物料名稱、P/N、規(guī)格等標識清楚無誤。,,,,,,根據(jù)阻值標識，將數(shù)字萬用表扭至合適量程后，分別用表筆接電阻兩端測試。,,,☆,,,,,,,,,,,,,,,,

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,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,

如發(fā)現(xiàn)電極呈灰色或無良好之光澤度，可取1～2PCS料做上錫試驗，置于220～230°錫爐2至3秒。,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,