GB/T 4957-2003非磁性基體金屬上非導電覆蓋層覆蓋層厚度測量渦流法

ICS25.220.40A29中華人民共和國國家標準GB/T4957-2003/ISO2360：1982代替GB/T4957-—1985非磁性基體金屬上非導電覆蓋層覆蓋層厚度測量渦流法Non-conductivecoatingsonnon-magneticbasismetals-Measurementofcoatingthickness-Eddycurrent（ISO2360:1982,IDT)2003-10-29發(fā)布2004-05-01實施中華人民共和國發(fā)布國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局

GB/T4957-2003/ISO2360:1982前本標準等同采用ISO2360：1982《非磁性基體金屬上非導電覆蓋層覆蓋層厚度測量鍋流法》(英文版）。本標準代替GB/T4957—1985《非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量鍋流方法》本標準根據(jù)ISO2360:1982作如下編輯性修改：A）用“本標準"代替“本國際標準”：b）取消了國際標準的前言：C）引用了采用國際標準的國家標準：d）增加了規(guī)范性引用文件。本標準由中國機械工業(yè)聯(lián)合會提出。本標準由全國金屬與非金屬覆蓋層標準化技術(shù)委員會歸口。本標準負責起草單位：武漢材料保護研究所本標準參加起草單位：浙江樂清市新豐企業(yè)有限公司本標準主要起草人：喻暉、鐘立暢、馮永春、賈建新、鄭秀林本標準所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為：-GB/T4957-1985。

GB/T4957一2003/IS02360:1982非磁性基體金屬上非導電覆蓋層覆蓋層厚度測量潤流法1范圍本標準規(guī)定了使用渦流測厚儀無損測量非磁性基體金屬上非導電覆蓋層厚度的方法本方法適用于測量大多數(shù)陽極氧化膜的厚度;但它不適用于一切的轉(zhuǎn)化膜，有些轉(zhuǎn)化膜因為太薄而不能用這種方法測量(見第7章)。本方法理論上能測量磁性基體金屬上覆蓋層的厚度.但不予推薦。在這種情況下.應采用GB/T4956中所規(guī)定的磁性方法進行測量。2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過本標準的引用而成為本標準的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標準,然而，鼓勵根據(jù)本標準達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件.其最新版本適用于本標準。GB/T4956磁性基體上非磁性覆蓋層覆蓋層厚度測量：磁性法(ISO2178：1982.IDT)3原理禍流測厚儀器測頭裝貿(mào)中產(chǎn)生的高頻電磁場.將在置于測頭下面的導體中產(chǎn)生渦流·渦流的振幅和相位是存在于導體和測頭之間的非導電覆蓋層厚度的函數(shù)影響測量準確度的因素下列因素可能影響覆蓋層厚度測量的準確度。4.1覆蓋層厚度測量不確定度是本方法固有的。對于薄覆蓋層測量的不確定度(確切地說)是恒定值，與覆蓋層厚度無關(guān)，對于每一單次測量而言至少是0.5m。對于厚度約大于25“m的覆蓋層.測量的不確定度等于某一近似恒定的分數(shù)與覆蓋層厚度的乘積。如果對厚度等于或小于5Pm的覆蓋層測量時，要取幾個讀數(shù)的平均值.厚度小于3Pm的覆蓋層厚度測量可能達不到第7章規(guī)定的準確度要求。4.2基體金屬的電性能用渦流儀器測量厚度會受基體金屬電導率的影響·金屬的電導率與材料的成分及熱處理有關(guān)。電導率對測量的影響隨儀器的制造和型號不同而有明顯的差異。4.3基體金屬的厚度每每一臺儀器都有一個基體金屬的臨界厚度.大于這個厚度.測量將不受基體金屬厚度增加的影響。由于臨界厚度既取決于測頭系統(tǒng)的測量頻率又取決于基體金屬的電導率.因此，臨界厚度值應通過實驗確定.除非制造商對此有規(guī)定。通常.對于一定的測量頻率.基體金屬的電導率愈高，其臨界厚度越小：對