標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 4957-2003 非磁性基體金屬上非導(dǎo)電覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量 渦流法》相較于《GB 4957-1985》，主要在以下幾個(gè)方面進(jìn)行了更新和改進(jìn)：

首先，在標(biāo)準(zhǔn)的編號(hào)上，《GB 4957-1985》變更為《GB/T 4957-2003》，其中“T”代表推薦性國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，表明新版本從強(qiáng)制性標(biāo)準(zhǔn)調(diào)整為推薦性標(biāo)準(zhǔn)，給予使用者更多靈活性。

其次，對(duì)于術(shù)語(yǔ)定義部分，《GB/T 4957-2003》增加了對(duì)關(guān)鍵術(shù)語(yǔ)如“渦流測(cè)厚儀”、“校準(zhǔn)片”的詳細(xì)說(shuō)明，并明確了相關(guān)概念，有助于提高理解和應(yīng)用的一致性。同時(shí)，也更新了部分術(shù)語(yǔ)以符合國(guó)際通用表達(dá)方式。

再者，在測(cè)量方法和技術(shù)要求方面，《GB/T 4957-2003》細(xì)化了測(cè)量過(guò)程中的具體步驟，包括樣品準(zhǔn)備、儀器校準(zhǔn)以及數(shù)據(jù)處理等環(huán)節(jié)的要求。新增加了一些技術(shù)參數(shù)的規(guī)定，比如頻率選擇范圍、探頭類型選擇指導(dǎo)原則等，使得實(shí)際操作更加規(guī)范準(zhǔn)確。

此外，《GB/T 4957-2003》還強(qiáng)調(diào)了質(zhì)量控制的重要性，提出了定期檢查設(shè)備性能、記錄維護(hù)信息等方面的建議。通過(guò)這些措施可以確保長(zhǎng)期使用中儀器保持良好狀態(tài)，從而保證測(cè)試結(jié)果的有效性和可靠性。


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  • 2003-10-29 頒布
  • 2004-05-01 實(shí)施
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GB/T 4957-2003非磁性基體金屬上非導(dǎo)電覆蓋層覆蓋層厚度測(cè)量渦流法_第1頁(yè)
GB/T 4957-2003非磁性基體金屬上非導(dǎo)電覆蓋層覆蓋層厚度測(cè)量渦流法_第2頁(yè)
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GB/T 4957-2003非磁性基體金屬上非導(dǎo)電覆蓋層覆蓋層厚度測(cè)量渦流法-免費(fèi)下載試讀頁(yè)

文檔簡(jiǎn)介

ICS25.220.40A29中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4957-2003/ISO2360：1982代替GB/T4957-—1985非磁性基體金屬上非導(dǎo)電覆蓋層覆蓋層厚度測(cè)量渦流法Non-conductivecoatingsonnon-magneticbasismetals-Measurementofcoatingthickness-Eddycurrent（ISO2360:1982,IDT)2003-10-29發(fā)布2004-05-01實(shí)施中華人民共和國(guó)發(fā)布國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

GB/T4957-2003/ISO2360:1982前本標(biāo)準(zhǔn)等同采用ISO2360：1982《非磁性基體金屬上非導(dǎo)電覆蓋層覆蓋層厚度測(cè)量鍋流法》(英文版）。本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T4957—1985《非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量鍋流方法》本標(biāo)準(zhǔn)根據(jù)ISO2360:1982作如下編輯性修改：A）用“本標(biāo)準(zhǔn)"代替“本國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)”：b）取消了國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的前言：C）引用了采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)：d）增加了規(guī)范性引用文件。本標(biāo)準(zhǔn)由中國(guó)機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會(huì)提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)金屬與非金屬覆蓋層標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口。本標(biāo)準(zhǔn)負(fù)責(zé)起草單位：武漢材料保護(hù)研究所本標(biāo)準(zhǔn)參加起草單位：浙江樂(lè)清市新豐企業(yè)有限公司本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：喻暉、鐘立暢、馮永春、賈建新、鄭秀林本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為：-GB/T4957-1985。

GB/T4957一2003/IS02360:1982非磁性基體金屬上非導(dǎo)電覆蓋層覆蓋層厚度測(cè)量潤(rùn)流法1范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了使用渦流測(cè)厚儀無(wú)損測(cè)量非磁性基體金屬上非導(dǎo)電覆蓋層厚度的方法本方法適用于測(cè)量大多數(shù)陽(yáng)極氧化膜的厚度;但它不適用于一切的轉(zhuǎn)化膜，有些轉(zhuǎn)化膜因?yàn)樘《荒苡眠@種方法測(cè)量(見(jiàn)第7章)。本方法理論上能測(cè)量磁性基體金屬上覆蓋層的厚度.但不予推薦。在這種情況下.應(yīng)采用GB/T4956中所規(guī)定的磁性方法進(jìn)行測(cè)量。2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過(guò)本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn),然而，鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件.其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。GB/T4956磁性基體上非磁性覆蓋層覆蓋層厚度測(cè)量：磁性法(ISO2178：1982.IDT)3原理禍流測(cè)厚儀器測(cè)頭裝貿(mào)中產(chǎn)生的高頻電磁場(chǎng).將在置于測(cè)頭下面的導(dǎo)體中產(chǎn)生渦流·渦流的振幅和相位是存在于導(dǎo)體和測(cè)頭之間的非導(dǎo)電覆蓋層厚度的函數(shù)影響測(cè)量準(zhǔn)確度的因素下列因素可能影響覆蓋層厚度測(cè)量的準(zhǔn)確度。4.1覆蓋層厚度測(cè)量不確定度是本方法固有的。對(duì)于薄覆蓋層測(cè)量的不確定度(確切地說(shuō))是恒定值，與覆蓋層厚度無(wú)關(guān)，對(duì)于每一單次測(cè)量而言至少是0.5m。對(duì)于厚度約大于25“m的覆蓋層.測(cè)量的不確定度等于某一近似恒定的分?jǐn)?shù)與覆蓋層厚度的乘積。如果對(duì)厚度等于或小于5Pm的覆蓋層測(cè)量時(shí)，要取幾個(gè)讀數(shù)的平均值.厚度小于3Pm的覆蓋層厚度測(cè)量可能達(dá)不到第7章規(guī)定的準(zhǔn)確度要求。4.2基體金屬的電性能用渦流儀器測(cè)量厚度會(huì)受基體金屬電導(dǎo)率的影響·金屬的電導(dǎo)率與材料的成分及熱處理有關(guān)。電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量的影響隨儀器的制造和型號(hào)不同而有明顯的差異。4.3基體金屬的厚度每每一臺(tái)儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度.大于這個(gè)厚度.測(cè)量將不受基體金屬厚度增加的影響。由于臨界厚度既取決于測(cè)頭系統(tǒng)的測(cè)量頻率又取決于基體金屬的電導(dǎo)率.因此，臨界厚度值應(yīng)通過(guò)實(shí)驗(yàn)確定.除非制造商對(duì)此有規(guī)定。通常.對(duì)于一定的測(cè)量頻率.基體金屬的電導(dǎo)率愈高，其臨界厚度越?。簩?duì)

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