GB/T 2423.102-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗：溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(正弦)綜合

犐犆犛１９．０４０

犓０４

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

犌犅／犜２４２３．１０２—２００８

代替ＧＢ／Ｔ２４２３．４２—１９９５，ＧＢ／Ｔ２４２４．２４—１９９５

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗

第２部分：試驗方法試驗：溫度（低溫、

高溫）／低氣壓／振動（正弦）綜合

犈狀狏犻狉狅狀犿犲狀狋犪犾狋犲狊狋犻狀犵犳狅狉犲犾犲犮狋狉犻犮犪狀犱犲犾犲犮狋狉狅狀犻犮狆狉狅犱狌犮狋狊—

犘犪狉狋２：犜犲狊狋犿犲狋犺狅犱狊—犜犲狊狋：犮狅犿犫犻狀犲犱狋犲犿狆犲狉犪狋狌狉犲（犮狅犾犱犪狀犱

犺犲犪狋）／犾狅狑犪犻狉狆狉犲狊狊狌狉犲／狏犻犫狉犪狋犻狅狀（狊犻狀狌狊狅犻犱犪犾）

２００８０５２０發(fā)布２００８１２０１實施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局

發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

書

犌犅／犜２４２３．１０２—２００８

目次

前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅲ

１范圍!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

２規(guī)范性引用文件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

３術(shù)語和定義!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

４一般說明!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

５試驗設(shè)備!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

６樣品的安裝!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

７嚴(yán)酷等級!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

８預(yù)處理!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!５

９初始檢測!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!６

１０試驗!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!６

１１中間檢測!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!６

１２恢復(fù)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!６

１３最終檢測!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!７

１４失效判據(jù)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!７

１５有關(guān)規(guī)范應(yīng)提供的信息!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!７

附錄Ａ（資料性附錄）導(dǎo)則!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!８

Ａ．１一般說明!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!８

Ａ．２溫度（低溫、高溫）／低氣壓／振動（正弦）綜合試驗的環(huán)境效應(yīng)!!!!!!!!!!!!!!８

Ａ．３環(huán)境參數(shù)的測量!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!８

Ⅰ

書

犌犅／犜２４２３．１０２—２００８

前言

ＧＢ／Ｔ２４２３《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第２部分：試驗方法》按試驗方法分為若干部分。本部分為

ＧＢ／Ｔ２４２３的第１０２部分。

本部分是對ＧＢ／Ｔ２４２３．４２—１９９５《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗低溫／低氣壓／振動（正弦）綜合試驗

方法》和ＧＢ／Ｔ２４２４．２４—１９９５《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗溫度（低溫、高溫）／低氣壓／振動（正弦）綜合

試驗導(dǎo)則》的技術(shù)性修訂，代替ＧＢ／Ｔ２４２３．４２—１９９５和ＧＢ／Ｔ２４２４．２４—１９９５。

本次修訂在技術(shù)內(nèi)容上增加高溫試驗組合，即由原來的低溫／低氣壓／振動（正弦）綜合試驗拓至溫

度（低溫、高溫）／低氣壓／振動（正弦）綜合試驗。

本次修訂的編輯性修改是：

ａ）將ＧＢ／Ｔ２４２３．４２—１９９５作為本部分的正文部分。

ｂ）將ＧＢ／Ｔ２４２４．２４—１９９５作為附錄部分。

ｃ）本部分名稱由《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗低溫／低氣壓／振動（正弦）綜合試驗方法》改為

《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第２部分：試驗方法試驗：溫度／低氣壓／振動（正弦）綜合試驗》。

ｄ）按ＧＢ／Ｔ１．１—２０００的要求，作如下編輯性修改：

———第１章改為“范圍”；

———增加第２章“規(guī)范性引用文件”；

———增加第３章“術(shù)語和定義”。

ｅ）用詞的修改：

———用“本部分”代替“本標(biāo)準(zhǔn)”；

———用“有關(guān)規(guī)范”代替“有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)”或“有關(guān)規(guī)定”。

本部分的附錄Ａ為資料性附錄。

本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會提出并歸口。

本部分起草單位：信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所、中國電信股份有限公司廣東研究院、電信科學(xué)技術(shù)

第一研究所、北京航空航天大學(xué)。

本部分主要起草人：紀(jì)春陽、陳健兒、常少莉、魏蓓、吳颯、解禾。

本部分是首次發(fā)布。

Ⅲ

犌犅／犜２４２３．１０２—２００８

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗

第２部分：試驗方法試驗：溫度（低溫、

高溫）／低氣壓／振動（正弦）綜合

１范圍

本部分規(guī)定了溫度（低溫、高溫）／低氣壓／振動（正弦）綜合試驗的基本要求、嚴(yán)酷等級、試驗程序以

及其他技術(shù)細(xì)則。

本部分適用于確定產(chǎn)品在溫度（低溫、高溫）、低氣壓和振動（正弦）綜合作用下的貯存、運(yùn)輸和使用

的適應(yīng)性。有溫度變化的綜合試驗可參考本部分。

２規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過ＧＢ／Ｔ２４２３的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文

件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵根據(jù)本部分達(dá)成

協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本

部分。

ＧＢ／Ｔ２４２１—１９９９電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第１部分：總則（ｉｄｔＩＥＣ６００６８１：１９８８）

ＧＢ／Ｔ２４２２—１９９５電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗術(shù)語（ｉｄｔＩＥＣ６００６８５２：１９９０）

ＧＢ／Ｔ２４２３．１—２００１電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第２部分：試驗方法試驗Ａ：低溫（ＩＥＣ６００６８

２１：１９９０，ＩＤＴ）

ＧＢ／Ｔ２４２３．２—２００１電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第２部分：試驗方法試驗Ｂ：高溫（ＩＥＣ６００６８２

２：１９７４，ＩＤＴ）

ＧＢ／Ｔ２４２３．１０—２００８電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第２部分：試驗方法試驗Ｆｃ和導(dǎo)則：振動（正