標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 2423.26-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)》與《GB 2423.26-1981》相比，在內(nèi)容上進(jìn)行了更新和細(xì)化，主要變化包括：

  • 標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)從強(qiáng)制性變?yōu)橥扑]性。這體現(xiàn)在標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)由“GB”變更為“GB/T”，意味著該標(biāo)準(zhǔn)不再作為強(qiáng)制執(zhí)行的標(biāo)準(zhǔn)，而是供企業(yè)參考采用。
  • 對(duì)于試驗(yàn)條件的描述更加具體。例如，《GB/T 2423.26-1992》中對(duì)溫度范圍、壓力水平以及兩者結(jié)合使用時(shí)的具體參數(shù)給出了更詳細(xì)的說(shuō)明，有助于提高不同實(shí)驗(yàn)室間測(cè)試結(jié)果的一致性和可比性。
  • 增加了關(guān)于樣品狀態(tài)的規(guī)定。新版標(biāo)準(zhǔn)中增加了對(duì)于被測(cè)樣品在進(jìn)行試驗(yàn)前后的處理要求，比如如何放置、是否需要預(yù)熱或冷卻等，確保了試驗(yàn)過(guò)程中樣品的狀態(tài)符合實(shí)際應(yīng)用情況。
  • 明確了試驗(yàn)報(bào)告應(yīng)包含的信息?！禛B/T 2423.26-1992》詳細(xì)列出了完成本項(xiàng)試驗(yàn)后報(bào)告中必須記錄的各項(xiàng)數(shù)據(jù)和觀察結(jié)果，使得試驗(yàn)過(guò)程更加透明化，便于后續(xù)分析與復(fù)現(xiàn)。
  • 調(diào)整了部分術(shù)語(yǔ)定義。為了與其他相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)保持一致，并且更準(zhǔn)確地反映技術(shù)發(fā)展現(xiàn)狀，《GB/T 2423.26-1992》修訂了一些專(zhuān)業(yè)術(shù)語(yǔ)及其定義。

這些調(diào)整反映了技術(shù)進(jìn)步及實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)積累對(duì)標(biāo)準(zhǔn)化工作的影響，旨在使標(biāo)準(zhǔn)更加科學(xué)合理、易于操作實(shí)施。


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  • 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替，建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 2423.26-2008
  • 1992-07-01 頒布
  • 1993-03-01 實(shí)施
?正版授權(quán)
GB/T 2423.26-1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)_第1頁(yè)
GB/T 2423.26-1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)_第2頁(yè)
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GB/T 2423.26-1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)-免費(fèi)下載試讀頁(yè)

文檔簡(jiǎn)介

UDC621.3.001.4K04中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T2423.26—92電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)BasicenvironmentaltestingproceduresforelectricandelectronicproductsTestZ/BM:combineddryheat/lowairpressuretests1992-07-01發(fā)布1993-03-01實(shí)施國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)GB/T2423.26-92Basicenvironmentaltestingproceduresfor代替GB2423.26-81electricandelectronicproductsTestZ/BM：combineddryheat/lowairpressuretests本標(biāo)準(zhǔn)參照采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)IC68-2-41(1976）《基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第二部分試驗(yàn)試驗(yàn)Z/BM高溫/低氣壓試驗(yàn)）及其1983年的修改件。1主題內(nèi)容與適用范圍111主題內(nèi)容本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了散熱和非散熱試驗(yàn)樣品高溫(溫度漸變和突變)和低氣壓綜合試驗(yàn)的試驗(yàn)?zāi)康?、試?yàn)設(shè)備、嚴(yán)酷度等級(jí)和試驗(yàn)程序。1.2適用范圍1.2.1本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的綜合試驗(yàn)通常只有在試驗(yàn)樣品進(jìn)行單一環(huán)境試驗(yàn)不能得出綜合環(huán)境影響時(shí)使用。1.2.2本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)方法只適用于在試驗(yàn)期間能夠達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗(yàn)樣品、1.2.3本本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)方法一次只能試驗(yàn)一個(gè)散熱試驗(yàn)樣品，散熱試驗(yàn)樣品一般應(yīng)按GB2423.2的規(guī)定在無(wú)強(qiáng)迫空氣循環(huán)的試驗(yàn)箱中進(jìn)行。1.2.4本標(biāo)準(zhǔn)僅適用于氣壓大于1kPa的壓力試驗(yàn)1.2.5有關(guān)高度、壓力和溫度的關(guān)系見(jiàn)GB1920。1.2.6GB2423.2中有關(guān)非做熱試驗(yàn)樣品試驗(yàn)和散熱試驗(yàn)樣品試驗(yàn)應(yīng)用對(duì)比的指南也適用于本標(biāo)準(zhǔn)。注：非做熱試驗(yàn)樣品的定義按GB2422中的規(guī)定，不應(yīng)在低氣壓下測(cè)量其最熱點(diǎn)的溫度。2引用標(biāo)準(zhǔn)GB1920《標(biāo)準(zhǔn)大氣(30公里以下)》GB2421F電電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程總則（B2422電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程名詞術(shù)語(yǔ)GB2423.2電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法GB2423.21電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)M:低氣壓試驗(yàn)方法GB2423.22電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法GB2424.1電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則（B2424.15電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程溫度/低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則3試驗(yàn)?zāi)康暮鸵话阏f(shuō)明3.1試驗(yàn)?zāi)康谋驹囼?yàn)的目的是確定元件、設(shè)備和其

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