GB/T 2423.21-1991電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗M：低氣壓試驗方法

UDC621.3.001.4K04中華人民共和國國家標準GB2423.21—91電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗M：低氣壓試驗方法BasieenvironmentaltcstingproceduresforelectricandelectronicproductsTestM：Lowairpressure1991-05-27發(fā)布1992-02-01實施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國國家標準電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程GB2423.21-91試驗M:低氣壓試驗方法代替GB2423.21-81BasicenvironmentaltestingproccdurcsforelectricandelectronicproductsTestM:Lowairpressure第二部分：試驗本標準參照采用國際電工委員會IEC68—2—13《基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗M:低氣壓》1983年版)。主題內(nèi)容與適用范圍本標準規(guī)定了電工電子產(chǎn)品低氣壓試驗方法的嚴酷等級、預處理、初始測量、條件試驗、恢復和最后測量本標準適用于室溫條件下的低氣壓試驗。主要用來確定元件、設備或其他產(chǎn)品在低氣壓條件下見存、運輸或使用的適應性。注：對于存、運輸或使用條件下的產(chǎn)品·當高溫和低氣壓或低溫和低氣壓綜合影響施于產(chǎn)品上的應力或在此應力作用下的失效機理是十分重要時，則應按下列標準進行試驗：GB2423.25以及GB2423.26.2引用標準GB2421電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程總則GB2422電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程名詞術(shù)語GB2423.25電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗方法電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程GB2423.26試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗方法電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程GB2424.15溫度/低氣壓綜合試驗導則一般說明低氣壓試驗系將試驗樣品放入試驗箱(室）然后將箱(室)內(nèi)氣壓降低到有關(guān)標準規(guī)定的值，并保持規(guī)定持續(xù)時間的試驗。試驗設備4.1試驗箱(室)應具有能保持本標準第5章所規(guī)定的低氣壓條件的能力4.2在恢復氣壓至正常時，應注意避免發(fā)生由于輔助設備裝置及導入不清清的空氣而使箱內(nèi)空氣發(fā)生污染的情況、4.3當試驗散熱試驗樣品時，對試驗箱(室)的要求可根據(jù)GB2423.26進行適當?shù)囊?guī)定。5嚴酷等級5.1有關(guān)標準應當規(guī)定氣壓和試驗持續(xù)時間的嚴酷等級，