• 被代替
  • 已被新標準代替，建議下載現行標準GB/T 2423.21-2008
  • 1991-05-27 頒布
  • 1992-02-01 實施
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GB/T 2423.21-1991電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗M：低氣壓試驗方法_第1頁
GB/T 2423.21-1991電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗M：低氣壓試驗方法_第2頁
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文檔簡介

UDC621.3.001.4K04中華人民共和國國家標準GB2423.21—91電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗M：低氣壓試驗方法BasieenvironmentaltcstingproceduresforelectricandelectronicproductsTestM：Lowairpressure1991-05-27發(fā)布1992-02-01實施國家技術監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國國家標準電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程GB2423.21-91試驗M:低氣壓試驗方法代替GB2423.21-81BasicenvironmentaltestingproccdurcsforelectricandelectronicproductsTestM:Lowairpressure第二部分：試驗本標準參照采用國際電工委員會IEC68—2—13《基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗M:低氣壓》1983年版)。主題內容與適用范圍本標準規(guī)定了電工電子產品低氣壓試驗方法的嚴酷等級、預處理、初始測量、條件試驗、恢復和最后測量本標準適用于室溫條件下的低氣壓試驗。主要用來確定元件、設備或其他產品在低氣壓條件下見存、運輸或使用的適應性。注：對于存、運輸或使用條件下的產品·當高溫和低氣壓或低溫和低氣壓綜合影響施于產品上的應力或在此應力作用下的失效機理是十分重要時，則應按下列標準進行試驗：GB2423.25以及GB2423.26.2引用標準GB2421電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程總則GB2422電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程名詞術語GB2423.25電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗方法電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程GB2423.26試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗方法電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程GB2424.15溫度/低氣壓綜合試驗導則一般說明低氣壓試驗系將試驗樣品放入試驗箱(室）然后將箱(室)內氣壓降低到有關標準規(guī)定的值，并保持規(guī)定持續(xù)時間的試驗。試驗設備4.1試驗箱(室)應具有能保持本標準第5章所規(guī)定的低氣壓條件的能力4.2在恢復氣壓至正常時，應注意避免發(fā)生由于輔助設備裝置及導入不清清的空氣而使箱內空氣發(fā)生污染的情況、4.3當試驗散熱試驗樣品時，對試驗箱(室)的要求可根據GB2423.26進行適當的規(guī)定。5嚴酷等級5.1有關標準應當規(guī)定氣壓和試驗持續(xù)時間的嚴酷等級，

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