GB/T 2423.1-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫

ICS19.040K04中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T2423.1—200°idtIEc60068-2-1：1990電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫EnvironmentaltestingforelectricandelectronicproductsPart2：TestmethodsTestsA：Cold2001-07-12發(fā)布2001-12-01實(shí)施中華：人民共和國發(fā)布國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

GB/T2423.1-2001前言IEC前言試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)的歷史概況試驗(yàn)A:低溫與試驗(yàn)B：干熱下標(biāo)字母之間的關(guān)系批述2引用標(biāo)準(zhǔn)………非散熱試驗(yàn)樣品與散熱試驗(yàn)樣品試驗(yàn)方法應(yīng)用對(duì)比4非散熱試驗(yàn)樣品：溫度突變?cè)囼?yàn)和溫度漸變?cè)囼?yàn)應(yīng)用對(duì)比……5散熱試驗(yàn)樣品有或無強(qiáng)迫空氣循環(huán)的試驗(yàn)6圖解第一篇試驗(yàn)Aa：非散熱試驗(yàn)樣品溫度突變的低溫試驗(yàn)?zāi)康?一般說明3試驗(yàn)設(shè)備嚴(yán)酷等級(jí)5預(yù)處理6初始檢測(cè)條件試驗(yàn)中間檢測(cè)9歡復(fù)10最后檢測(cè)·11相關(guān)規(guī)范應(yīng)給出的信息…第二篇試驗(yàn)Ab:非散熱試驗(yàn)樣品溫度漸變的低溫試驗(yàn)12一般說明……試驗(yàn)設(shè)備嚴(yán)酷等級(jí)……16預(yù)處理……初始檢測(cè)·18條件試驗(yàn)·19中間檢測(cè)….

GB/T2423.1-200120恢復(fù)……21最后檢測(cè)……22相關(guān)規(guī)范應(yīng)給出的信息第三篇試驗(yàn)Ad:散熱試驗(yàn)樣品溫度漸變的低溫試驗(yàn)?zāi)康摹?4-般說明·試驗(yàn)設(shè)備嚴(yán)酷等級(jí)·27預(yù)處理…28初始檢測(cè)·29條件試驗(yàn)…30中間檢測(cè)31飲復(fù)32最后檢測(cè)00000000000033相關(guān)規(guī)范應(yīng)給出的信息附錄A(標(biāo)準(zhǔn)的附錄）環(huán)境溫度校準(zhǔn)計(jì)算圖附錄B(標(biāo)準(zhǔn)的附錄）試驗(yàn)Ad方法A：有強(qiáng)迫空氣循環(huán)試驗(yàn)溫度狀態(tài)的圖示附錄C(標(biāo)準(zhǔn)的附錄)試驗(yàn)Ad方法B:有強(qiáng)迫空氣循環(huán)試驗(yàn)溫度狀態(tài)的圖示附錄D(提示的附錄）試驗(yàn)Ad（29.1.2)中方法A簡(jiǎn)要流程圖附錄E(提示的附錄）試驗(yàn)Ad(29.1.2)中方法B簡(jiǎn)要流程圖

GB/T2423.1-2001第第2部分：試驗(yàn)本標(biāo)準(zhǔn)等同采用國際電工委員會(huì)IEC60068-2-1:1990（第五版）環(huán)境試驗(yàn)成驗(yàn)A:低溫》及其修改1:1993、修改2:1994。本標(biāo)準(zhǔn)與IEC60068-2-1:1990（第五版）的差異：為與GB/T2423《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)》系列標(biāo)淮的名稱協(xié)調(diào)一致，本標(biāo)準(zhǔn)名稱為：《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫》。本標(biāo)準(zhǔn)與GB/T2423.1—1989主要有下列差異：-本標(biāo)準(zhǔn)的技術(shù)內(nèi)容、編寫格式及表達(dá)方法與IEC60068-2-1:1990相一致。而GB/T2423.1-1989雖然等效采用IEC60068-2-1:1974(第四版）但編寫格式與表達(dá)方法與IEC60068-2-1:1974相差很多,如將試驗(yàn)Aa、試驗(yàn)Ab及試驗(yàn)Ad三種試驗(yàn)相同的內(nèi)容歸納編輯成章;將其附錄B、附錄C改為標(biāo)淮正文圖1、圖2,刪去了“試驗(yàn)Aa、Ab.Ad的相同點(diǎn)和不同點(diǎn)示意圖?！?根據(jù)GB/T1.1標(biāo)準(zhǔn)編寫模板，在引言中加入引用標(biāo)準(zhǔn)一條。本標(biāo)準(zhǔn)增加了附錄D和附錄E（根據(jù)IEC60068-2-1:1990的修改2:1994）-刪去了GB/T2423.1-1989中6.2第3段(本標(biāo)準(zhǔn)為4.2、15.2和26.2)最后一句:“但在任何請(qǐng)況下，持續(xù)時(shí)間不應(yīng)少于30min”-根據(jù)GB/T2422—1995,本標(biāo)準(zhǔn)將relevantspecifieation譯成“相關(guān)規(guī)范”，而GB/T2423.1-1989是譯成“有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)”。本標(biāo)準(zhǔn)是GB/T2423《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)》系列標(biāo)準(zhǔn)之一.在本標(biāo)準(zhǔn)涉及到的與IEC出版物相對(duì)應(yīng)的國家標(biāo)準(zhǔn)有：GB/T2421—1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第1部分：總則(idtIEC60068-1:1988）GB/T2422—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)術(shù)語(eqvIEC60068-5-2:1990)GB/T2424.1—1989電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程高低溫試驗(yàn)導(dǎo)則(eqvIEC60068-3-1:1974)本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A、附錄B、附錄C為標(biāo)準(zhǔn)的附錄。本標(biāo)準(zhǔn)的附錄D、附錄E為提示的附錄。本標(biāo)準(zhǔn)從實(shí)施之日起,同時(shí)代替GB/T2423.1—1989.本標(biāo)準(zhǔn)由國家機(jī)械工業(yè)局提出并由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：廣州電器科學(xué)研究所。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：趙世杰、陳潔、張水彬本標(biāo)準(zhǔn)首次發(fā)布于1981年，第1次修訂于1989年2月本標(biāo)準(zhǔn)委托全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)負(fù)責(zé)解釋

GB/T2423.1-2001IEC前言1）IEC關(guān)于技術(shù)事項(xiàng)的正式?jīng)Q議或協(xié)議，是由對(duì)該問題有特殊興趣的所有國家委員會(huì)派代表參加的技術(shù)委員會(huì)制定的，它盡可能地表達(dá)國際上對(duì)所討論問題的一致意見。2）這些決議或協(xié)議以推薦形式供國際上使用.并在此意義上為各國委員會(huì)所接受3）為了促進(jìn)國際間的統(tǒng)一性.IEC希望所有國家委員會(huì).在其國家條件允許的范圍內(nèi)采用IEC推薦的標(biāo)準(zhǔn)的正文形式為國家標(biāo)準(zhǔn)形式。在國家標(biāo)準(zhǔn)與IC標(biāo)準(zhǔn)之間存在任何不一致時(shí)，要盡可能在國家標(biāo)準(zhǔn)中明確指出、本標(biāo)準(zhǔn)由IECTC50環(huán)境試驗(yàn)技術(shù)委員會(huì)50B氣候分技術(shù)委員會(huì)制定IEC60068-2-1(第五版)是以IEC60068-2-1(1974)第四版（包括第四版校正版IEC60068-2-1A：1976和第四版修訂：1983)和下列文件為基礎(chǔ)：表1出版物六個(gè)月法投票報(bào)告兩個(gè)月法投票報(bào)告60068-2-1（第四版）50B（CO）15850B（CO)16350B（CO）16750B(C0)172第一次修訂本50B（CO)23950B（CO）25050068-2-1A50B（CO）182有關(guān)同意本標(biāo)準(zhǔn)的全部投票資料，可在上表投票報(bào)告中找到本標(biāo)準(zhǔn)引用了以下IEC出版物：出版號(hào)IEC60068-1:1988環(huán)境試驗(yàn)第一部分：總則IEC60068-3-1:1974環(huán)境試驗(yàn)第三部分:背景信息第一章：低溫和干熱試驗(yàn)

GB/T2423.1-2001試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)的歷史概況第一次出版（1954）只包含試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)，僅涉及溫度的突變，標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)時(shí)間6h第二次出版(1960)與試驗(yàn)A同.但標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)時(shí)間改為2h。第三次出版(1966）介紹：-試驗(yàn)Aa:與前版試驗(yàn)A同-試驗(yàn)Ab:溫度漸變的新方法第四次出版(1974）介紹：試驗(yàn)Aa:與前版試驗(yàn)Aa同試驗(yàn)Ab：與前版試驗(yàn)Ab同試驗(yàn)Ad:散熱樣品溫度漸變的新方法試驗(yàn)A：低溫與試驗(yàn)B：千熱下標(biāo)字母之間的關(guān)系試驗(yàn)A:低溫與試驗(yàn)B：干熱下標(biāo)字母之間的關(guān)系·見下表：試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)試驗(yàn)B：干熱試驗(yàn)下標(biāo)字母樣品類型溫度變化武試驗(yàn)開始時(shí)的樣品溫度樣品類型溫度變化武驗(yàn)開始時(shí)的樣品溫度非散熱穩(wěn)定非散熱突變穩(wěn)定燈非散熱非散熱穩(wěn)定*做熱穩(wěn)定小非散熱穩(wěn)定散熱新變穩(wěn)定水*：在試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間開始之前，試驗(yàn)樣品要達(dá)到溫度穩(wěn)定。在特殊情況下，也可能不是這樣·這需要在相關(guān)規(guī)范中提供附加信息，見引言的第1節(jié)和IEC60068-3-1（所涉及的這些情況的修改正在考電中

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法9E/.2423.1-2001idtLEc600682-1:1990試驗(yàn)A:低溫代替GB/T2423.1-1989Environmentaltestingforelectricandelectronicproducts概述本標(biāo)準(zhǔn)所涉及的低溫試驗(yàn)適用于非散熱和散熱兩類試驗(yàn)樣品。。對(duì)于非散熱試驗(yàn)樣品，試驗(yàn)Aa和Ab不違背早期發(fā)行的標(biāo)準(zhǔn)。本標(biāo)準(zhǔn)僅限于用來考核或確定電工、電子產(chǎn)品（包括元件、設(shè)備及其他產(chǎn)品)在低溫環(huán)境條件下購存和（或）使用的適應(yīng)性。這一低溫試驗(yàn)不能用來評(píng)價(jià)試驗(yàn)樣品對(duì)溫度變化的耐抗性和在溫度變化期間的工作能力，在這科情況下，應(yīng)當(dāng)采用試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法。低溫試驗(yàn)方法分為以下三類：非散熱試驗(yàn)樣品低溫試驗(yàn)：試驗(yàn)Aa:溫度突變?cè)囼?yàn)Ab:溫度漸變散熱試驗(yàn)樣品低溫試驗(yàn)：一試驗(yàn)Ad：溫度漸變本試驗(yàn)方法通常用于條件試驗(yàn)期間能達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗(yàn)樣品。試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間是從試驗(yàn)樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定時(shí)開始計(jì)算的。在特殊情況下，如果條件試驗(yàn)期間試驗(yàn)樣品達(dá)不到溫度穩(wěn)定·則試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間從試驗(yàn)箱(室）達(dá)到規(guī)定試驗(yàn)溫度時(shí)開始計(jì)算相關(guān)規(guī)范應(yīng)規(guī)定：a）試驗(yàn)箱(室）內(nèi)溫度變化速率；b）試驗(yàn)樣品放入試驗(yàn)箱(室)的時(shí)間：）試驗(yàn)樣品在試驗(yàn)條件下暴露試驗(yàn)開始的時(shí)間：d）試驗(yàn)樣品通電或加負(fù)載的時(shí)間。在這些條件下,相關(guān)規(guī)范的制定者可根據(jù)GB/T2424.1—1989導(dǎo)則選定以上4個(gè)參數(shù)（以上條件下的修訂正在考電之中)。2引用標(biāo)準(zhǔn)下列標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文，通過在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的條文。本標(biāo)準(zhǔn)出版