GB/T 2424.24-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)導(dǎo)則

yDc.621.3.001.4KO4中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T2424.24-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)導(dǎo)則BasicenvironmentaltestingproceduresforelectricandelectronicproductsGuidanceforcombinedtemperature(coldandheat)/lowairpressure/vibration(sinusoidal）test1995-01-27發(fā)布1995-12-01實(shí)施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(dòng)(正弦)GB/T2424.24-1995綜合試驗(yàn)導(dǎo)則BasicenvironmentaltestingproceduresforelectricandelectronicproductsGuidanceforcombinedtemperature(coldandheat)/lowairpressure/vibrationCsinusoidal）test主題內(nèi)客與適用范圍本標(biāo)準(zhǔn)閘述了溫度/低氣壓/振動(dòng)綜合試驗(yàn)的試驗(yàn)依據(jù)、環(huán)境效應(yīng)、試驗(yàn)設(shè)備和環(huán)境參數(shù)的測量等內(nèi)谷本標(biāo)準(zhǔn)適用于高溫/低氣壓/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)和低溫/低氣壓/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)2引用標(biāo)準(zhǔn)GB/T2424.15電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程！溫度/低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則GB2424.22電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程：溫度(低溫、高溫)和振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)導(dǎo)則一般說明3.1溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)方法是在GB2423.1試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法GB2423.2試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法和GB2423.10試驗(yàn)Fe:振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)方法和GB2423.21試驗(yàn)M：低氣壓試驗(yàn)方法的基礎(chǔ)上制訂的。因而GB2424.1高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則和GB2424.7振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)導(dǎo)則中有關(guān)的試驗(yàn)基本原理也適用于本綜合試驗(yàn)。3.2本綜合試驗(yàn)考惠了包括地面和飛機(jī)常用的氣壓范圍，低于1kPa的氣壓不在本標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)。3.3在所考惠的氣壓范圍內(nèi),散熱試驗(yàn)樣品的表面溫度在強(qiáng)迫空氣循環(huán)條件下比“自由空氣”條件下將大大下降，因此對散熱試驗(yàn)樣品應(yīng)采用“自由空氣"條件。但考患到振動(dòng)臺所產(chǎn)生的附加熱干擾和設(shè)備不能滿足“自由空氣”條件時(shí)，允許采用風(fēng)速小于0.5m/s的強(qiáng)迫空氣循環(huán)試驗(yàn)方法。3.4在低氣壓條件下，由于對流傳熱的效率下降，而熱輻射的影響增大，因此在同一試驗(yàn)箱(室)內(nèi)的各散熱試驗(yàn)樣品間相互熱作用也增大，為了避免散熱試驗(yàn)樣品間因輻射造成的熱干擾，故本試驗(yàn)最好一次只試驗(yàn)一個(gè)試驗(yàn)樣品。非散熱試驗(yàn)樣品和那些已知相互間熱干擾不大(不影響試驗(yàn)的再現(xiàn)性)的散熱試驗(yàn)樣品，則允許多個(gè)試驗(yàn)樣品一起試驗(yàn)。3.5由于溫度引起的材料特性變化會(huì)導(dǎo)致試驗(yàn)樣品(如橡膠或塑料器件)的固有頻率發(fā)生漂移(即低溫時(shí)向頻率高的方向漂移,高溫時(shí)向頻率低的方向漂移),因此要確切地獲得試驗(yàn)樣品的固有頻率,振動(dòng)響應(yīng)檢直應(yīng)在綜合環(huán)境試驗(yàn)條件下進(jìn)行。3.6