標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 18311.34-2003 纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件 基本試驗(yàn)和測(cè)量程序 第3-34部分：檢查和測(cè)量-隨機(jī)配接連接器的衰減》這一標(biāo)準(zhǔn)主要規(guī)定了光纖互連器件與無(wú)源器件在特定測(cè)試條件下的衰減檢查與測(cè)量方法，特別是針對(duì)隨機(jī)配對(duì)接頭的性能評(píng)估。然而，您提供的對(duì)比要求中，《》部分為空，沒(méi)有給出另一個(gè)具體的標(biāo)準(zhǔn)或版本以進(jìn)行直接的變更比較。

沒(méi)有具體的對(duì)比對(duì)象，無(wú)法直接闡述相對(duì)于某個(gè)特定標(biāo)準(zhǔn)或前一版的變更內(nèi)容。但可以一般性說(shuō)明，這類標(biāo)準(zhǔn)更新時(shí)常見的變更可能包括但不限于以下幾點(diǎn)：

  1. 測(cè)試方法的優(yōu)化：新標(biāo)準(zhǔn)可能會(huì)引入更精確或更高效的測(cè)試技術(shù)，以提高測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性和重復(fù)性。
  2. 參數(shù)定義的調(diào)整：對(duì)關(guān)鍵參數(shù)如衰減限值、測(cè)試條件（如溫度、濕度）的定義可能有所修改，以適應(yīng)技術(shù)進(jìn)步或市場(chǎng)要求。
  3. 適用范圍擴(kuò)展：新標(biāo)準(zhǔn)可能會(huì)擴(kuò)大適用的產(chǎn)品類型或光纖規(guī)格，以覆蓋更廣泛的互連器件和無(wú)源器件。
  4. 計(jì)量單位或精度要求的變化：隨著技術(shù)發(fā)展，對(duì)測(cè)量結(jié)果的精度要求可能提升，或采用國(guó)際更通用的計(jì)量單位。
  5. 術(shù)語(yǔ)和定義的更新：為保持與國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的一致性，標(biāo)準(zhǔn)中的專業(yè)術(shù)語(yǔ)和定義可能會(huì)被修訂或新增。
  6. 引用標(biāo)準(zhǔn)的更新：參考的其他標(biāo)準(zhǔn)或文獻(xiàn)可能已被更新，新標(biāo)準(zhǔn)會(huì)相應(yīng)調(diào)整引用內(nèi)容，確保所有指導(dǎo)依據(jù)均為最新有效版本。

若需要關(guān)于該標(biāo)準(zhǔn)與某一特定前期版本或相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的具體變更對(duì)比，請(qǐng)?zhí)峁┩暾麡?biāo)準(zhǔn)名稱或版本號(hào)以便進(jìn)行詳細(xì)分析。


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  • 2003-11-24 頒布
  • 2004-08-01 實(shí)施
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GB/T 18311.34-2003纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第3-34部分：檢查和測(cè)量-隨機(jī)配接連接器的衰減_第1頁(yè)
GB/T 18311.34-2003纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第3-34部分：檢查和測(cè)量-隨機(jī)配接連接器的衰減_第2頁(yè)
GB/T 18311.34-2003纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第3-34部分：檢查和測(cè)量-隨機(jī)配接連接器的衰減_第3頁(yè)

文檔簡(jiǎn)介

ICS33.180.20L50中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T18311.34-2003/IEC61300-3-34：2001纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第3-34部分:檢查和測(cè)量隨機(jī)配接連接器的衰減Fibreopticinterconnectingdeyicesandpassivecomponents-Basictestandmeasurementprocedures-Part3-34:Examinationsandmeasurements-Attenuationofrandomnmatedconnectors（IEC61300-3-34:2001,IDT)2003-11-24發(fā)布2004-08-01實(shí)施中華人民共和國(guó)發(fā)布國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

GB/T18311.34-2003/IEC61300-3-34:2001本部分為GB/T18311的第34部分.并隸屬于GB/T18309.1—2001《纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第1部分：總則和導(dǎo)則》本部分等同采用IEC61300-3-34:2001《纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第3-34部分：檢查和測(cè)量隨機(jī)配接連接器的衰減》英文版)為便于使用·對(duì)于IEC61300-3-34:2001還作了下列編輯性修改：刪除IEC61300-3-34:2001的前言。《纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序》是系列國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，下面列出了這些國(guó)家標(biāo)淮的預(yù)計(jì)結(jié)構(gòu)及其對(duì)應(yīng)的IEC標(biāo)準(zhǔn)：a）GB/T18309.1—2001《纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第1部分：總則和導(dǎo)則》idtIEC61300-1:1995）。GB/T18310《纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第2部分：試驗(yàn)》GGB/T18310.1-—2002《纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件：基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第2-1部分：試驗(yàn)振動(dòng)(正弦)》IEC61300-2-1:1995.IDT)GB/T18310.2-2001《纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第2-2部分：試驗(yàn)配接耐久性》idtIEC61300-2-2:1995)GB/T18310.3-2001《纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第2-3部分:試驗(yàn)靜態(tài)剪切力》(idtIEC61300-2-3:1995）GB/T18310.4-2001《纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第2-4部分：試驗(yàn)光纖/光纜保持力》idtIEC61300-2-4:1995)C）GB/T18311《纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第3部分;檢查和測(cè)量》-GB/T18311.1—2003《纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第3-1部分：檢查和測(cè)量外觀檢查》IEC61300-3-1:1995.IDT)-GB/T18311.2—2001《纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第3-2部分：檢查和測(cè)量單模纖維光學(xué)器件偏振依賴性》(idtIEC61300-3-2:1995）-GB/T18311.3—2001《纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第3-3部分：檢查和測(cè)量監(jiān)監(jiān)測(cè)衰減和回波損耗變化（多路)》（idtIEC61300-3-3:1997）-2003《纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件GB/T18311.4—基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第3-4部分：檢查和測(cè)量衰減》IEC61300-3-4:2001.IDT)本部分由中華人民共和國(guó)信息產(chǎn)業(yè)部提出。本標(biāo)準(zhǔn)由中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所（CESI)歸口，本部分起草單位：上海傳輸線研究所。本部分主要起草人：樊鶴峰、湯鈞、程萬(wàn)茂、馬磊、懷向芳、王銳臻

GB/T18311.34-2003/IEC61300-3-34:2001纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第3-34部分：檢查和測(cè)量隨機(jī)配接連接器的衰減花圍本部分旨在規(guī)定測(cè)量隨機(jī)配接的光連接器的衰減的統(tǒng)計(jì)分布和平均值所要求的程序.本部分術(shù)語(yǔ)“衰減"也可稱為“插入損耗”2！規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過(guò)GB/T18311的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件.其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本部分。GB/T18309.1-2001纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序：第1部分：總則和導(dǎo)則（IEC61300-1：1995.IDT)GB/T18311.1—2003纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第3-1部分：檢查和測(cè)量外觀檢查(IEC61300-3-1:1995.IDT)概述3.1武驗(yàn)方法本程序規(guī)定了測(cè)量隨機(jī)配接的光纖連接器衰減的兩種方法。這兩種方法都提供了從一個(gè)批次中選取的一組跳線(如適用,包括適配器)用于光學(xué)系統(tǒng)時(shí)所期望平均性能的估計(jì)值。為了保證測(cè)量提供個(gè)統(tǒng)計(jì)上沒(méi)有誤差的估計(jì)值，跳線和所有適配器必須隨機(jī)抽取方法1規(guī)定了基于使用10根跳線（20個(gè)光連接器)和10個(gè)適配器的測(cè)量程序。在這個(gè)方法中所有的插頭按順序被用作“基準(zhǔn)”插頭·并且所有剩下的插頭相對(duì)于選擇準(zhǔn)插頭進(jìn)行測(cè)試?；?60次測(cè)量的結(jié)果見圖3所示的試驗(yàn)矩陣。方法1旨在用于設(shè)計(jì)定型試驗(yàn)的一部分.可能包括一個(gè)或多個(gè)供貨方。定型一旦通過(guò).方法2取決于過(guò)程控制的維持。然而，有爭(zhēng)議時(shí)，應(yīng)以方法1作為基準(zhǔn)測(cè)量方法。方法2規(guī)定了基于15根跳線的測(cè)量程序。選擇的5根跳線作為基準(zhǔn)跳線·每根基準(zhǔn)跳線的一個(gè)插頭被指定為基準(zhǔn)插頭。剩下的10根跳線的所有插頭都相對(duì)于5根基準(zhǔn)插頭進(jìn)行測(cè)量.100次測(cè)量結(jié)果如圖6所示的試驗(yàn)矩陣考慮到對(duì)于用戶或者生產(chǎn)成品的供貨方·就每天的常規(guī)檢測(cè)而言.方法1所要求的測(cè)量次數(shù)非常大。因而·基于以上的原因，方法2可以作為一種替代的選擇。注：在本測(cè)量方法中·采用基準(zhǔn)插頭或基準(zhǔn)跳線這些術(shù)

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