第四部分光纖網(wǎng)絡(luò)的測(cè)試

1、光纖網(wǎng)絡(luò)的測(cè)試(csh)Volition TM 共三十八頁(yè)光纖測(cè)量(cling)項(xiàng)目物理性能測(cè)試(csh)（實(shí)驗(yàn)室） 機(jī)械性能：拉伸、壓扁、沖擊、彎曲、扭轉(zhuǎn)、磨損 環(huán)境性能：溫度循環(huán)性、滲水、充氣、充油滴淌工程測(cè)試 單盤(pán)檢驗(yàn)，光纜敷設(shè)前后的檢驗(yàn)測(cè)試、光纜線路 工程竣工后中繼段的全程測(cè)試。共三十八頁(yè) ANSI/EIA/TIA-526-14 光纜布線測(cè)試方法方法A，測(cè)試光纖本身外加一個(gè)連接衰減。方法B，測(cè)試光纖本身，兩個(gè)連接以及一條跳線的衰減。（ANSI/EIA/TIA-568-A將方法B列為光纜布線測(cè)試方法）方法A和方法B都必須注意(zh y)光纖鏈路的接收端和發(fā)射端。光纖測(cè)試(csh)標(biāo)準(zhǔn)共三

2、十八頁(yè)光纖測(cè)量方法衰減(shui jin)基準(zhǔn)法（Reference Test Method） 截?cái)喾ㄌ娲ǎˋlternative Test Method）插入法，后向散射法（OTDR）帶寬時(shí)域法，頻域法基準(zhǔn)法：嚴(yán)格按照光纖某一給定特性的定義進(jìn)行測(cè)量的方法。替代法：在某種意義上與給定特性的定義相一致的測(cè)量方法。共三十八頁(yè)截?cái)?ji dun)法測(cè)試（1）先測(cè)出被測(cè)光纖的輸出光功率(gngl)P2（o）（2）保持光源輸出不變，在距光源23m處截?cái)喙饫w， 測(cè)出注入光功率P1（ o ）（3）若光功率計(jì)的指示值為dB，則該段的光纖衰減為P1-P2 若光功率計(jì)的指示值為mW，則該段的光纖衰減為10log

3、P1/P2(dB)共三十八頁(yè)插入法測(cè)試(csh)(1) 先采用與被測(cè)光纖同類型的光跳線作為參考光纖。(2) 對(duì)測(cè)量系統(tǒng)進(jìn)行初始校準(zhǔn)，獲得基準(zhǔn)電平 P1。(3) 取下參考光纖，代之插入被測(cè)光纖，調(diào)整耦合接頭(ji tu)， 以使耦合最佳，即在功率計(jì)上獲得最大電平，記下此 值 P2。(4) 被測(cè)光纖的總衰減 A 為 A = ( P1-P2 )共三十八頁(yè)插入法測(cè)試(csh)后向散射(snsh)法（OTDROptical Time Domain Reflectometer） 利用一個(gè)適當(dāng)寬度的光脈沖注入被測(cè)光纖。 在注入端收集此光脈沖經(jīng)過(guò)之處因瑞利散射和菲涅爾反射光向后傳播回來(lái)的光，從中捕獲反映光纖衰

4、減特性的信息。 具有單端測(cè)量和非破壞性的優(yōu)點(diǎn)，適合現(xiàn)場(chǎng)施工和維護(hù)測(cè)試時(shí)使用。 主要用來(lái)測(cè)量光纖長(zhǎng)度，光纖故障點(diǎn)，光纖衰減及光纖接頭損耗。共三十八頁(yè)OTDR測(cè)試方法的有關(guān)(yugun)規(guī)定OTDR測(cè)試方法：后向散射法，取雙向平均值國(guó)標(biāo)GB/T 15972.4-1998中的規(guī)定：1、后向散射法是測(cè)量光纖衰減特性的替代試驗(yàn)方法它測(cè)量從光纖中不同點(diǎn)后向散射至該光纖始端的后向散射功率。這是一種單端測(cè)量。2、該方法的測(cè)量結(jié)果受光纖中光的傳輸速度和光纖后向散射性能的影響，不可能(knng)像剪斷法那樣精確測(cè)量光纖衰減。3、本方法允許對(duì)光纖整個(gè)長(zhǎng)度進(jìn)行分析，甚至可以鑒別分立的點(diǎn)(例如接頭、點(diǎn)不連續(xù))。4、應(yīng)進(jìn)

5、行雙向測(cè)量，將雙向測(cè)量獲得的數(shù)值取平均值得到精確的衰減和衰減系數(shù)共三十八頁(yè)光時(shí)域反射(fnsh)儀Optical Time Domain Reflectometer 共三十八頁(yè)后向散射(snsh)OTDR Measurement DisplaySpliceBend ConnectorCrackFiber EndRelative Power (db)OTDRDistance(km)Mechanical Splice光通過(guò)不均勻的沉淀或雜質(zhì)時(shí)，它的一部分光功率散射到不同(b tn)的反向上其中一部分返回入射端，通過(guò)分析后向散射光強(qiáng)度和返回時(shí)間計(jì)算光纖損耗共三十八頁(yè)后向散射(snsh)傳輸(chun

6、 sh)光經(jīng)歷瑞利散射落在接收錐內(nèi)的后向散射光被捕獲并后向傳輸至光源處接收角和模場(chǎng)半徑平方的倒數(shù)成正比(1/w02)模場(chǎng)直徑較小的光纖捕獲較多的后向散射光接收錐被捕獲的后向散射光散射光傳輸光共三十八頁(yè)反射(fnsh)事件非反射(fnsh)事件Connector/air gap 活 接 頭/ 氣 隙Crack/Stress 裂 痕Fusion Splice 熔 接 頭Bend 彎 曲LossLoss連接件、機(jī)械接頭和光纖 裂痕會(huì)引起反射和損耗。熔接頭、彎曲會(huì)引起損耗但不會(huì)產(chǎn)生反射，損耗在曲線上顯 示為有一臺(tái)階共三十八頁(yè)OTDR的性能參數(shù) 典 型 的 OTDR 測(cè) 試 線 路 及 曲 線 OTDR

7、 假 纖 被 測(cè) 光 纖V 型 槽 光 纖 末 端 Dynamic range(SNR=1)Noise Level(Peak)RMSDynamicrange(Peak)被 測(cè) 光 纖 長(zhǎng) 度distance 動(dòng) 態(tài) 范 圍Dynamic range盲 區(qū)Deadzone 長(zhǎng) 度 準(zhǔn) 確 度 Distance accurancy 脈 沖 寬 度 pulsewidth 平 均 次 數(shù)Average time 測(cè) 量 范 圍Measurement range盲 區(qū)盲 區(qū)AB共三十八頁(yè)OTDR測(cè)量(cling)參數(shù)設(shè)置在開(kāi)始測(cè)試之前一般應(yīng)先設(shè)置以下參數(shù)：1、測(cè)量范圍Measurement Range:

8、 根據(jù)實(shí)際被測(cè)長(zhǎng)度和假光纖的長(zhǎng)度確定，以確保整條被測(cè)光纖曲線能顯示出來(lái)通常選擇的測(cè)試范圍比實(shí)際測(cè)試光纖長(zhǎng)15%2、脈沖寬度Pusle Width: 短脈沖增強(qiáng)分辨率( 縮短盲區(qū)) 3、波長(zhǎng)Wavelength: 1310nm,1550nm, 1385nm,850nm( 多模光纖)4、折射率Reflective Index: 據(jù) 光 纖類型設(shè)定 MC:13101.4659 15501.4666TW:13101.4707 15501.47015、平均次數(shù)Average Time: 一 般選擇 1 分鐘6、損耗模式選擇 Lose mode: 據(jù)測(cè)量目的選擇，在光纜(un ln)出廠衰減測(cè)試時(shí) 一 般

9、 選 擇 LSA/Dist (db/km) 模 式2-Point: 被指定的兩光標(biāo)間的光纖損耗，以 db 表示db/distance: 兩點(diǎn)損耗除以兩點(diǎn)間距離， 以 db/km 表示Splice loss: 測(cè)量熔接點(diǎn)損耗， 以 db 表示LSA/2-point: 利用最小二乘法(Least Squares Approximation)平均得出的兩點(diǎn)間損耗。以 db 表 示LSA/db/Dist: LSA/2-point 除以兩點(diǎn)距離。 以 db/km 表示ORL: OTDR 至被測(cè)纖末端的全程損耗， 包括各種接頭和熔接點(diǎn)損耗 ，以 db 表 示共三十八頁(yè)損耗(snho)測(cè)量OTDR 假 纖

10、V 型 槽 conecetor 被 測(cè) 光 纖Fiber EndABLoss（db)Distance(km)121.0db/Div A,B光標(biāo)位置(wi zhi)不能置于盲區(qū)中光纖2接續(xù)不好臺(tái)階太大,影 響 測(cè) 量 精 度損耗分辯率應(yīng) 設(shè)在1.0db/ 格,便于觀察光纖缺陷。應(yīng)進(jìn)行雙向測(cè)試后取平均值共三十八頁(yè)熔接損耗(snho)測(cè)量OTDR 假 纖 V 型 槽 conecetor 熔接(rn ji)點(diǎn)Fiber Endab cLoss（db)Distance(km)1.0db/Div光標(biāo)位置不能置于盲區(qū)中光標(biāo)位置盡量包括除熔接點(diǎn)及盲區(qū)外所有光纖應(yīng)進(jìn)行雙向測(cè)試后取平均值dAB共三十八頁(yè)長(zhǎng)度/距離

11、(jl)測(cè)量 假 纖 V 型 槽 conecetor 被 測(cè) 光 纖Fiber EndOTDRABLoss（db)Distance(km) A,B 光標(biāo)應(yīng)置 于兩反射 峰 的 起始(q sh)點(diǎn)。 將水平Dist. 及豎直Loss進(jìn)行放大，便于找出 兩反射峰的起始點(diǎn)。 如右圖 A,B 之 間即是被測(cè)光 纖的長(zhǎng)度。d=t c2 nt0 t1t =t1-t0c =光速 n =光纖折射率共三十八頁(yè)OTDR光纖曲線(qxin)觀察OTDR 假 纖 V 型 槽 conecetor 被 測(cè) 光 纖Fiber EndABLoss（db)Distance(km)121.0db/Div 光纖1:正常 光纖2:有

12、臺(tái)階 光纖3:有波浪 光纖4:斷纖光纖有缺陷除通過(guò)(tnggu)曲線觀察外,還可通過(guò)(tnggu)被測(cè)光纖衰減值或長(zhǎng)度測(cè)量出。34 注 意：Loss 分辨率應(yīng)設(shè)在1.0db/div共三十八頁(yè)VF45的測(cè)試(csh)共三十八頁(yè)測(cè)試(csh)準(zhǔn)備清潔工具端口對(duì)應(yīng)(duyng)表測(cè)試工具通信工具共三十八頁(yè) 清潔 在每一次測(cè)試之前一定要對(duì)插座及插頭進(jìn)行清洗，并且在清洗完成(wn chng)90秒之后再進(jìn)行測(cè)試，等待的目的是讓清洗液充分揮發(fā)。共三十八頁(yè)插頭(chtu)和插座的清潔插入噴嘴(pnzu)到模塊或跳線適配器中擠壓把手噴出清洗液.共三十八頁(yè)在放大100倍的顯微鏡下看到的清洗前及清洗后的效果(xi

13、ogu)對(duì)比圖共三十八頁(yè)VF-45端口對(duì)應(yīng)(duyng)表要測(cè)試光纖鏈路，首先(shuxin)要得到光纖端口的對(duì)應(yīng)表，即要知道要測(cè)試的這條光纖鏈路的兩個(gè)端口分別在哪里。光纖端口的對(duì)應(yīng)表可從施工單位獲得。共三十八頁(yè)VF-45測(cè)試工具參考跳線VF-45插頭對(duì)VF-45插頭測(cè)試跳線 1條VF-45插頭對(duì)ST或FC/PC測(cè)試跳線 2條VF-45插座對(duì)ST或FC/PC測(cè)試跳線 2條一對(duì)光萬(wàn)用表，或兩臺(tái)(lin ti)光源和兩臺(tái)(lin ti)光功率計(jì)注：根據(jù)被測(cè)光纖規(guī)格選擇不同的測(cè)試跳線測(cè)試儀表要符合被測(cè)線路的單多模特性共三十八頁(yè)參考(cnko)測(cè)試跳線我們需要(xyo)三種跳線ST to VF-45

14、socketST to VF-45 plug VF-45 plug to VF-45 plug共三十八頁(yè)通信(tng xn)工具無(wú)線對(duì)講機(jī)一對(duì)(y du) 此通信設(shè)備用于被測(cè)光纖鏈路兩端測(cè)試人員間的信息傳遞。若無(wú)對(duì)講機(jī)，可用移動(dòng)電話代替共三十八頁(yè)VF-45安裝(nzhung)檢查 用棉簽或小棒撥開(kāi)VF-45插座防塵蓋，檢查光纖是否處在V型槽的正確位置。此檢查應(yīng)在插座安裝完畢(wnb)后進(jìn)行，在測(cè)試前再次檢查。共三十八頁(yè)測(cè)試方法復(fù)習(xí)： ANSI/EIA/TIA-526-14 光纜布線測(cè)試方法方法A，測(cè)試光纖本身外加一個(gè)連接(linji)衰減。方法B，測(cè)試光纖本身，兩個(gè)連接以及測(cè)試跳線的衰減。（A

15、NSI/EIA/TIA-568-A將方法B列為光纜布線測(cè)試方法）方法A和方法B都必須注意光纖鏈路的接收端和發(fā)射端。共三十八頁(yè)方法(fngf)Aa) 如上圖連接測(cè)試儀表(ybio)及參考跳線（白色插頭連接儀表(ybio)）b) 設(shè)置光功率計(jì)參考值或記錄參考電平共三十八頁(yè)方法(fngf)Ac) 斷開(kāi)(dun ki)功率檢測(cè)端口連接器，如圖所示將米色插頭連接功率測(cè)試端口。d) 測(cè)試光纖鏈路共三十八頁(yè)方法(fngf)Ba) 如上圖連接測(cè)試儀表及參考(cnko)跳線（白色插頭連接儀表）b) 設(shè)置光功率計(jì)參考值或記錄參考電平共三十八頁(yè)方法(fngf)Bc) 如圖所示連接儀表，并插入(ch r)雙頭VF-4

16、5跳線d) 測(cè)試光纖鏈路共三十八頁(yè)VF-45可見(jiàn)光源測(cè)試(csh) 將光纖鏈路的遠(yuǎn)端用測(cè)試線環(huán)成回路，用可見(jiàn)光源從近端的一根光纖輸入，肉眼觀察(gunch)是否有光從另一光纖輸出。共三十八頁(yè)VF-45鏈路衰減(shui jin)測(cè)試 將光纖鏈路的遠(yuǎn)端用測(cè)試(csh)線環(huán)成回路，用光源和光功率計(jì)或光萬(wàn)用表測(cè)試(csh)鏈路衰減。共三十八頁(yè)將如圖連接測(cè)得值作參考。假設(shè)所測(cè)雙向鏈路總衰減值為a，單向允許(ynx)衰減為b：若ab,則單向分別測(cè)試。共三十八頁(yè)最大鏈路衰減標(biāo)準(zhǔn)值為:不超過(guò) 2.5dB 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):ANSI/TIA/EIA-568 B每一條鏈路的測(cè)試應(yīng)進(jìn)行四次，即分別(fnbi)對(duì)兩個(gè)模塊的2芯光纖分別(fnbi)與儀表的發(fā)射端連接進(jìn)行測(cè)試。VF45測(cè)試(csh)小結(jié)共三十八頁(yè)內(nèi)容摘要光纖網(wǎng)絡(luò)的測(cè)試。單盤(pán)檢驗(yàn)，光纜敷設(shè)前后的檢驗(yàn)測(cè)試、光纜線路。（ANSI/EIA/TIA-568-A將方法B列為光纜