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文檔簡介

1、中國石油化工總公司附錄A搭接標記的安放位置(補充件)鋼熔化焊對接焊縫射線透照搭接標記的安放位置如下:圖(A15) 附錄B焦點尺寸的計算(補充件)如焦點的形狀為矩形、正方形、圓形或橢圓形時.,則在計算焦點至工件 距離f時可用下列有關公式計算焦點尺d=a (B-1)d= (a+b) /2 (B-2)d二小(B-3)其中,公式(B-1)適用于方形焦點,公式(B-2)適用于長方形焦點及橢圓形焦點,公式(B-3)適用于圓形焦 點。橢圓形圓形正方形長方形圖B-1理想焦點圖形附錄C對接焊縫透照厚度(補充件)透照厚度應按圖C-1所示部位實測值確定,如實測有困難時,可按表 C-1確定。X射線X射線X射線X射線X

2、射線X射線X射線X射線X射線射線源在試件外部時 雙壁單投影時 射線源在試件內(nèi)部時雙壁雙投影時圖CT各種焊接接頭的母材厚度和透照厚度表CT各種焊接接頭的母材厚度 和透照厚度mm透照厚度 透照方式 母材厚度 焊縫余高鈦鋼、鋁單層透照T T T T無單面雙面單面(有墊板)TT十1T十2T十1十T' TT十2T十4T十2十T'雙層透照T T T T無單面雙面單面(有墊板)T X2TX2十1TX2十2T X2十1十T' T X 2 TX2 十 2T X2 十 4T X2 十 2 十 T'注:公稱厚度取母材厚度,對接接頭的母材厚度不同時,取薄的厚度值,表中T ' 為

3、墊板厚度。附錄D可擴大評定區(qū)的處理辦法(補充件)D1當評定區(qū)缺陷點數(shù)超過規(guī)定的級別,但不超過圖D-1中規(guī)定的上 限值,附近的缺陷點數(shù)乂較少時,可將評定區(qū)沿焊縫方向擴大三倍,求出缺陷的總點數(shù),取其1/3 進行評定。D2當缺陷點數(shù)超過圖D-1中的上限值時,則不能用此方法進行評定。缺陷點數(shù)的上限值(取整數(shù))母材厚度,nun陷點數(shù)圖D-1可擴大評定區(qū)的缺陷點數(shù)上限值附錄E透照厚度及底片有效檢出范圍的計算方法(補充件)E1外徑小于或等于76mm的鋼管焊縫,采用雙壁雙投影法一次成象透 照時,透照厚度T A 應按下列公式計算。El. 1 T A計算式:T A =0.8 (D-T) T ) 12 +T (E-

4、1)式中:D-鋼管外徑,mm; T-鋼管壁厚,mm。E1.2等效T A計算式:T A =2T ( 1 十 d/D) (E-2)式中:T-鋼管壁厚,mm; d-鋼管內(nèi)徑,mm; D-鋼管外徑,mm。E2采用雙壁雙投影一次成象透照時,其檢出范圍必須保證在90%以上,并應按下 式計算:L= ( L 1 4 L 2 )/ L 1 ) 100%(E-3)式中:L-檢出范圍,機L 1 -外壁周長,mm;L 2 -底片上不見鋼絲區(qū)域的長度,mm °附錄F專用象質計和未焊透深度對比塊的型式和規(guī)格(補充件)Fl I型專用象質計F1.1外徑大于76mm且小于或等于89mm的鋼管焊縫,采用雙壁單投影法分段

5、 透照,應選用I型專用象質計。F1.2 I型專用象質計由5根直徑相同的鋼絲和鉛字符號組成,其制作要求應 符合GB5618的規(guī)定,其型式、線編號見圖F-l oF2未焊透對比塊F2.1未焊透對比塊的形式和規(guī)格應符合圖F-2和表F-1的規(guī)定。F2.2專用對比塊應與被檢工件材料相同。F3溝槽對比塊F3.1溝槽對比塊的形式和規(guī)格應符合圖F-3和表F-2的規(guī)定。F3.2溝槽對比塊應與被檢工件材料相同。圖F-l I型專用象質計L?5mm S?5mm圖F-2專用對比塊表 F-l mm管壁厚T第一階厚度T1偏差第二階厚度T2偏差笫三階厚度T3偏差3. 5 1 0. 65 0. 5 4 1 0. 6 0. 4 5

6、 1 0. 5 0. 25 6 1 0 0. 06 0. 4 +0. 02 5 0 0. 1 +0. 0250圖F-3溝槽對比塊表 F-2 mm尺寸hl h2 h3 h4 h5偏差h偏差d偏差D偏差I比塊編號0.3 0.6 1.2 1.5 1.8 0 -0. 06 2. 5 0 -0. 10 1. 0 +0. 06 0 對II 0. 5 1. 0 1. 5 2. 0 2. 5 0 -0. 10 3. 5 0 -0. 12 1. 0 +0. 06 0 2. 0 +0. 06 0 附錄G雙晶直探頭性能要求 (補充件)G1距離一波幅特性曲線用圖8 1試塊,在各個厚度上測定其回波高度(dB),并作出如

7、圖G-1所示的 特性曲線,該特性曲線須滿足下列條件:a.在厚度19mm上的回波高度,與最大回波高度差必須在36dB范圍內(nèi)。b.在厚度3mm上的回波高度,與最大回波高度差也必須在36dB范圍內(nèi)。G2表面回波高度用直接接觸法的表面回波高度,必須比最大回波高度低40dB以上。G3檢出靈敏度對準圖G-2試塊4)5.6mm平底孔,其回波高度與最大回波高度差必須在 -10+2dB 范圍內(nèi)。G4有效波束寬度對準圖G-2試塊65.6mm平底孔,與聲波分割面平行地移動探頭,按6dB法測 定波束寬度,其有效值必須大于16mm。回波高度,dB板厚,mm圖G-1距離一波幅特性曲線圖G-2測定儀器和探頭組合性能試塊附錄

8、H壓力容器鋼板橫波檢測(補充件)H1適用范圍本附錄規(guī)定了用斜探頭超聲波(橫波)檢測鋼板中非夾層性缺陷的方法,并作為直 探頭超聲檢測的補充。H2檢測裝量H2. 1原則上選用K1斜探頭,圓晶片直徑應在1325mm之間,方晶片面積應 不小于200mm 2。如有特殊需要也可選用其它尺寸和K值的探頭。H2. 2檢測頻率為25MHz。H3靈敏度校準試塊H3.1試塊用鋼板應與被檢鋼板厚度相同,聲學特性相同或相似。H3.2試塊上的人工缺陷為尖角槽,角度為60 ° ,槽深為極厚的3%槽的長度為 25mm,槽寬不超過深度的一倍。H3.3試塊的尺寸、尖角槽位置應符合圖H-1的規(guī)定切槽圖H-1靈敏度校準試塊

9、H3.4對于板厚超過50mm的鋼板,要在鋼板的底面配置笫二個如H3. 3所述的 校準槽。H4靈敏度的確定H4. 1厚度小于或等于50mm的鋼板。H4. 1. 1把探頭放在試塊有槽的一面上,使聲束對準槽的寬邊,找出第一個全跨距 反射的最大波幅,調(diào)節(jié)儀器,使該反射的最大波幅為滿刻度的80%,在熒光屏上記錄下這 一信號的位置。H4.1. 2移動探頭,得到笫二個全跨距信號,并找出信號最大反射波幅,記下這一 信號幅值點在熒光屏上的位置,在熒光屏上將這兩個槽反射信號幅值點連成一直線,獲得 距離一波幅曲線。H4.2厚度大于50mm而小于或等于150mm的鋼板。H4. 2. 1將探頭聲束對準試塊背面的槽,并找

10、出第一個1/2跨距反射的最大波 幅。調(diào)節(jié)儀器,使反射波幅為滿刻度的80%,在熒光屏上記下這個信號的位置。不改變儀器調(diào) 整狀態(tài),在3/2跨距上重復該項操作。H4. 2. 2不改變儀器調(diào)整狀態(tài),把探頭再次放在試塊面上,使波束對準試塊表面上 的槽,并找出全跨距最大反射波的位置。在熒光屏上記下這一幅值點。H4. 2. 3在熒光屏上將H4. 2. 1和H4. 2. 2所確定的點相連接,獲得距離一波幅 曲線。H4.3厚度大于150mm而小于或等于250mm的鋼板。H4. 3.1把探頭置于試塊表面上,使聲束對準試塊底面上的切槽的槽邊,并找出笫 一個1/2跨距反射的最大幅度位置。調(diào)節(jié)儀器,使這一反射波為熒光屏

11、滿刻度的80%, 在熒光屏上記下這個幅值點。'H4. 3. 2不改變儀器的調(diào)整狀態(tài),把探頭再次放在試塊面上,以全跨距對準切槽獲 得最大反射,在熒光屏上記下這個幅值點。H4. 3. 3在熒光屏上將H4. 3. 1和H4. 3. 2所確定的點連成一直線,此線即為這 種鋼板的距離一波幅曲線。H5掃查方法H5.1以垂直和平行于鋼板主要壓延方向的格子線掃查鋼板的軋制面,格子線中 心距為200mm。掃查時把探頭放在鋼板的某一邊緣附近,使聲束與該邊緣垂直。H5. 2當發(fā)現(xiàn)缺陷信號時,移動探頭使之能在熒光屏上得到最大反射。H5. 3對于每一個等于或超過距離一波幅曲線的缺陷顯示,應記錄其位置,并移動 探

12、頭使波幅降到滿刻度的25%來測量其長度,波幅低于距離一波幅曲線的缺陷,指示長 度較長時,也可記錄備案。H5.4在每一個記錄缺陷位置上,應以記錄缺陷中心起,在200mm X 200mm的區(qū) 域作100%檢測。H6驗收標準等于或超過距離一波幅曲線的任何缺陷信號均應認為是不合格的。但用縱波方法 作輔助檢測時,若發(fā)現(xiàn)缺陷性質是分層類的,則應按縱波檢測的規(guī)定處理。附錄I壓力容器鍛件橫波檢測(補充件)II適用范圍橫波檢測僅適用于內(nèi)外徑之比大于或等于80%的環(huán)形和筒形鍛件。12探頭12. 1探頭公稱頻率主要為2. 5MHz o12.2 探頭晶片面積為140400mm 2。12.3 原則上應采用K1探頭,但根

13、據(jù)工件幾何形狀的不同,也可采用其它的K13靈血度校準試塊13.1為了調(diào)整檢測靈敏度,可利用被檢工件壁厚或長度上的加工余量部分制作 對比試塊。在鍛件的內(nèi)外表面,分別沿軸向和周向加工平行的V形槽作為標準溝槽。V 形槽長度為25mm,深度為鍛件壁厚的1%角度為60 °。也可采用其它等效的反射體 (如邊角反14檢加方法14. 1掃查方式14. 1. 1掃查方向見圖1-1。圖1-114. 1. 2探頭移動速度不應超過150mm/s。14. 1. 3掃查復蓋量應為探頭寬度的 15%以上。14. 2靈敏度校驗從鍛件外圓面將探頭對準內(nèi)斷面的標準溝槽,調(diào)整增益,使最大反射高度為滿刻 度的80%,將該值

14、標在面板上,以其為基準檢測靈敏度;再移動探頭測定外圓面的標準 溝槽,并將最大的反射高度也標在面板上,將以上兩點用直線連接并延長,使之包括全部 檢測范圍,繪出距離一波幅曲線。內(nèi)圓面檢測時的靈敏度也應按上述方法確定,但探頭斜楔 應與內(nèi)圓曲率一致。15記錄記錄超過距離一波幅曲線一半的缺陷反射波和缺陷位置。附錄J高壓無縫鋼管軸向橫波檢測(補充件)J1檢測設備檢測設備由超聲波探傷儀、斜探頭等組成,探頭應與鋼管表面吻合良好,晶片長度 不大于25mm。探頭頻率為2. 510MHz。J2靈敏度校準試塊J2.1靈敏度校準試塊應選取與被檢鋼管規(guī)格相同,材質、熱處理工藝相同或相似 的鋼管, 不得有影響人工缺陷顯示的

15、缺陷。J2.2鋼管橫向缺陷檢測試塊的尺寸、尖角槽和位置應符合圖J 1和表JT 的規(guī)定。t圖J-1橫向缺陷試塊表JT人工缺陷等級mm 等級長度L人工缺陷深度tI 40公稱壁厚的5%,最小為0. 2mm,最大為1mmII 40公稱壁厚的8%,最小為0. 2mm,最大為3mmIII 40公稱壁厚的10%最小為0. 2mm,最大為3mmJ2.3鋼管橫向缺陷檢測試塊的人工缺陷槽一般在外表面加工,當外徑大于或等 于80mm且壁厚不小于10mm時,應同時在內(nèi)表面加工。同一個試塊上內(nèi)外表面 人工缺陷沿鋼管 軸向應有足夠的間距,以使在調(diào)試時容易分辨。J3檢測靈敏度的確定J3.1可直接在對比試塊上將人工尖角槽的反

16、射回波幅度 調(diào)到熒光屏滿刻度的50%,以 此作為基準靈敏度。J3. 2對于在內(nèi)外表面加工槽的對比試塊,應將內(nèi)表面槽的回波幅度調(diào)到滿刻度 的 80%o然后再將外表面槽的反射回波幅度點標在熒光屏上,作出距離一波幅曲線。J3.3檢測靈敏度應比基準靈敏度高6dB oJ4結果評定J4.1若缺陷回波幅度大于或等于人_E缺陷的基準回波幅度或是高于距離一波幅 曲線,則該鋼管為不合格。不合格品允許采取修磨等方法進行處理,復驗合格后可判為 合格。J4.2合格級別的確定由供需雙方商定。 附錄K壓力容器奧氏體鋼鍛件斜角檢測 (補充件)K1適用范圍斜角檢測僅適用于內(nèi)外徑之比大于或等于80%的環(huán)形和筒形鍛件。K2對比試塊

17、K2.1為了調(diào)整檢測靈敏度,利用被檢工件壁厚或長度上的加工余量部分制作對比試塊。在鍛件的內(nèi)外表面,分別沿軸向和周向加工平行的V形槽作為標準溝槽。V 形槽長度為25mm,深度t為鍛件壁厚的3%或5%,角度為60 °。也可采用其它等效的 反射體(如邊角反射等)。K3掃查方式掃查方向如附錄I圖1T的規(guī)定K4靈敏度校驗K4. 1采用刻槽法時,一般需將探頭置于外圓表面上,聲束垂直于刻槽長度方向, 移動探頭并調(diào)整儀器靈敏度,使外壁槽笫二次反射(W型反射)或內(nèi)壁槽第二次反射(X反 射)回波高度至少為滿刻度的20%o連接外壁槽笫一、笫二次回波峰值點或內(nèi)壁槽笫一、 二次回波的峰值點,以此作為全跨距校正

18、的距離一波幅曲線。RL 2如果采用全跨距校正從內(nèi)外壁表面的槽上都得不到至少為滿刻度20%的笫回波,則應采用半跨距校正(此時內(nèi)外壁均應各制一槽,并使其互不影響)。使來自 外壁槽的笫一次回波高度至少為滿刻度的20%,連接內(nèi)壁槽笫一次回波和外壁槽第一次 回波的峰值點,以此作為半跨距校正的距離一波幅曲線。K4. 3內(nèi)徑小于500mm,而且長度超過900mm的筒形鍛件,通常都不從內(nèi)表面進 行掃查。附錄L聲能傳輸損耗差的測定(補充件)工件本身影響反射波幅的兩個主要因素是:材料的材質衰減和工件表 面粗糙度及耦合狀況造成的表面聲能損失。普遍碳素鋼或低合金鋼板材的材質衰減,在頻率低于3MHz、聲程不超過200m

19、m 時,或者衰減系數(shù)小于0. OldB/mm時,可以不計。標準試塊和對比試塊均應滿足這一 要求。受檢工件檢測時,如聲程較大,或材質衰減系數(shù)超過上述范圍,在確定缺陷反射波 幅時,應考慮材質衰減修正。如被檢工件表面比較粗糙還應考慮表面聲能損失問題。L1橫波超聲材質衰減的測量L1.1制作與受檢工件材質相同或相近,厚度約40mm、表面粗糙度與對比試塊相 同的平面型試塊,見圖L-l o圖L-1超聲衰減的測定L1.2用斜探頭按深度1:1調(diào)節(jié)儀器時基掃描線。L1.3另選用一只與該探頭尺寸、頻率、K值相同的斜探頭,兩探頭按圖L-1所 示方向置于平板試塊上,兩探頭入射點間距為1P,儀器調(diào)為一發(fā)一收狀態(tài),找到最大

20、反 射波幅,記錄其波幅值H 1 (dB)oL1.4將兩探頭拉開到距離為2P,找到最大反射波幅,記錄其波幅值H 2 (dB) oL1.5衰減系數(shù)a H可用下式計算: a H H S S H =1 2 2 1 D / ( ) (L-1)S 1 1 1 40 = + / cosb (L-2)S12180 = + / cosb (L-3) 1 1 tg tg 1 0=a b / (L-4)式中:1 0 -晶片到射點的距離,作為簡化處理亦可取1 1=1 0 ,mm;一聲程S 1、S2不考慮材質衰減時大平面的反射波幅dB差??捎霉?01gS 2 / S 1 計算或從該探頭的距離一波幅曲線上查得,約為6d

21、B。L1.6如果在圖L-1試塊和對比試塊的探測面測得波幅相差不超過IdB,則可不 考慮工件 的材質衰減。L2傳輸損失差的測定L2.1用斜探頭按深度調(diào)節(jié)儀器時基掃描線。L2.2選用另一只與該探頭尺寸、頻率、K值相同的斜探頭,兩探頭按圖K-2所 示方向置于對比試塊探測面上,兩探頭入射點間距離為1P,儀器調(diào)為一發(fā)一收狀態(tài)。圖 L-2傳輸損失差的測定L2.3在對比試塊上,找出最大反射波幅,記錄其波幅值H 1 (dB)。L2. 4在受檢工件上(不通過焊縫)同樣測出接收波最大反射波幅,記錄其波幅值H 2 (dB)。L2.5傳輸損失差 V為: V= H 1 一 H 2 D 1 - D 2 (L-5)式中:D

22、 1 -不考慮材質衰減時,聲程S 1、S 2的反射波幅dB差,可用公式201g S 2 / S 1計算或從探 頭的距離一波幅曲線上查得,dB;S 1在對比試塊中的聲程,mm;S 2 在工件板材中的聲程,mm;D 2試塊中聲程S 1與工件中聲程S 2的超聲材質衰減差值,dB。如試塊 材質衰減系數(shù)小于0.01dB/mm,此項可以不予考慮。 附錄M用于非標準溫度的檢測方法 (補充件)Ml概述當滲透檢測不可能在1550 C溫度范圍內(nèi)進行時,則要求對較低或較高溫度 時的檢測方法作出鑒定。通常使用鋁合金對比試塊進行。M2鑒定方法M2.1溫度低于15 c條件下滲透檢測方法的鑒定 在試塊和所有使用材料都降到預

23、定溫度后,將準備的低溫檢測方法用于B區(qū)。然后把試塊加熱到1550 c之間,在A區(qū)用標準方法進行檢測,比較A、B兩區(qū) 的裂紋顯示跡痕。如果顯示跡痕基本上相同,則可以認為準備采川的方法是可行的。M2. 2溫度高于50 C條件下滲透檢測方法的鑒定如果準備采用的檢測溫度高于50 C,則將試塊加溫至這一溫度,在B區(qū)進行檢 測。然后把試塊冷卻到1550 C之間,在A區(qū)用標準方法進行檢測,比較A、B 兩區(qū)的裂紋顯示跡痕。如果顯示跡痕基本上相同,則可以認為準備采用的方法是可行的。附錄N膠片手工沖洗和干燥操作40(參考件)N1準備工作將膠片裝在顯影夾上,并在開始顯影之前攪動溶液。N2開始顯影啟動計時器并將膠片浸

24、入顯影液中,顯影夾之間應留有一定距離,使沖洗過程中膠片彼此不會相貼。不斷將顯影夾上下移動,大約15s oN3顯影室溫20 C時,正常的顯影時間約為58min 0延長顯影時間,會使底片黑度 增加,并稍微增加對比度。在選擇顯影時間時,應遵照膠片制造廠的建議;在溫度稍高或稍 低時必須調(diào)整顯影時間,調(diào)整量也應根據(jù)膠片制造廠所推薦的數(shù)據(jù)。N4攪動顯影過程中應不時將膠片作垂直方向的上下移動,以使膠片均勻顯影。N5停顯或漂洗在顯影結束后,將膠片浸入3%醋酸停顯液約30s,以中和遺留在膠片乳膠中的顯 影劑。如果不能使用停顯液,則可在清水中將膠片強力抖動,進行漂洗23min。N6定影為保證均勻而快速的定影,膠片

25、在浸入定影液時以及在第Imin末,要均勻作上 下方向的移動約10s左右.,然后浸泡到定影結束(其時間至少為達到底片透明所需時 間的兩倍)。在新鮮的定影液中,定影時間一般不超過15min。若經(jīng)常移動膠片,可以縮 短定影時間,但必須避免膠片在定影液中互相接觸。N7定影液的中和在定影和沖洗工序之間,可使用“海波”凈化劑或定影液中和劑進行中和處理,這樣可以減少沖洗時間和用水量。N8沖洗沖洗的效率,與沖洗用水、水溫、水流量以及被沖洗底片的種類有關。一般當溫 度在16 c以下時沖洗過程比較緩慢。當溫度在30 C以上時,應注意底片浸在水 中的時間不能太長。底片在槽中沖洗時.,不允許再加入新從定影液中取的底片

26、。如水槽容 積有限而一次沖洗乂有較多底片,則應隨時把一部分已經(jīng)沖洗過的底片移到進水口的方 向上去。利用小水量分級沖洗的方法在相同的沖洗時間里能達到最佳的沖洗效果。最好把 ;中洗槽分為兩部分(可以用兩個水槽),把從定影液中取出的底片放在出水口部分, 經(jīng)過一段時間沖洗后,把底片移到進水口部分,從而在新鮮水中完成沖洗。N9洗滌劑把底片浸入洗滌劑中約30s,可以使水從底片表面均勻流下,以縮短干燥時間,避 免底片上出現(xiàn)水跡。一般可采用0.1%左右濃度的餐具洗滌劑的水溶液作為洗滌劑, 或采用其它成分的洗滌劑。N10干燥底片的干燥與下列因素有關:膠片類型、處理方法(水洗后乳膠的硬度、洗滌劑的 應用)以及干燥

27、用的空氣(溫度、濕度、流量)。一般可在常溫下干燥,也可用不高于60 C的鼓風機循環(huán)空氣進行干燥。附錄0顯影液的補充方法(參考件)01配方成分顯影液補充液水對甲氨基酚硫酸鹽(米吐爾)無水亞硫酸鹽對苯二酚(兒奴尼)無水碳酸鹽澳化鉀氫氧化鈉加水至 800ml 4g 65g 10g 45g 5g 一1000ml 800ml 6g 70g 20g 60g 一10g 1000ml注:藥品應按表中次序加入水中,并攪動使之溶解。02顯影溫度及時間溫度() 18 20 22 24 26時間(min) 7 6 5 4 3. 503注意事項03.1補充液只允許加入至原顯影液體積的3倍。03.2當用洗片夾在槽中顯影時

28、.,每顯1m 2膠片將會帶出約320ml顯影液,故 每顯1m 2膠片應加入320ml補充液。03.3最后一次添加補充液后,每公升顯影液可顯14 2 m膠片,然后廢棄。附錄P串列式檢測方法(參考件)P1 一般要求P1.1超聲波探傷儀的工作方式必須滿足一收一發(fā)工作狀態(tài)。P1. 2探頭掃查可以采用手動方法,也可采用自動方法,但應保證探頭相對申列基 準線等 距離移動。P1.3推薦采用頻率為22.5MHz、K值為1的探頭,兩探頭入射點最短間 距應小于 20mm oP2儀器調(diào)整P2.1時基線掃描的調(diào)節(jié)應按單斜探頭的方法調(diào)節(jié),最大探測范圍應大于1跨距 聲程。P2.2靈敏度調(diào)整應在工件無缺陷部位進行,將收、發(fā)

29、兩探頭相對放置,間距為1 跨距,見圖P-1和式(PT),找出底面最大反射波,使反射波幅為熒光屏滿刻度的40%以 此為基準波高。將靈敏度分別提高8dB、14dB、20dB即為判廢靈敏度、定量靈敏度和 評定靈敏度。圖P-1靈敏度調(diào)節(jié)P3檢測程序P3. 1檢測準備a.檢測面為對接焊縫的單面雙側;b.在離參考線距離(L-0.5P)的位置標記串列基準線,見圖P-2和式(P-1)。 參考線檢測截面掃查線串列基準線圖P-2串列基準線的標記L 一為參考線至檢測截面的距離P=2TK (P-1)P3.2 初始檢測P3. 2.1檢測靈敏度不低于評定線靈敏度。P3. 2. 2掃查方式采用橫方形或縱方形串列掃查,掃查范

30、圍以串列基準線為中心 盡可能掃查到整個檢測截面,每個檢測截面應掃查一遍。P3. 2. 3標記超過評定線的反射波,當該反射波被判定為缺陷時,應在焊縫的相應 位置作 出記號。P3. 3檢測P3. 3.1檢測只對初始檢測標記部位進行。P3. 3. 2檢測靈敏度為評定靈敏度。P3. 3. 3反射波出現(xiàn)在相當于半跨距聲程位置(見圖P-3)的缺陷,其水平距離和深度分別為: 1=TK (Y/2)(P-2)h=T-(Y/2K)(P-3)式中:Y收、發(fā)兩探頭入射點間距,mm o圖P-3串列掃查缺陷定位P3. 3. 4以熒光屏滿刻度的40%線為基準波高,測出缺陷最大反射波高與基準波 高的dB數(shù)差值作為缺陷的相對波

31、幅。P3. 3. 5缺陷指示長度的測定采用以評定靈敏度為測長靈敏度的絕對靈敏度法測量缺陷指示長度。即進行左右 掃查(橫方形串列掃查),以波幅超過評定線的探頭移動范圍作為缺陷指示長度。P4缺陷評定所有反射波幅度超過評定線的缺陷,均按標準正文9.1.7條和9.1.8條的規(guī)定 予以等級評定。附錄Q鈦制壓力容器焊縫超聲波檢測(參考件)Q1檢測范圍和一般要求本附錄采用A型脈沖反射式超聲波探傷儀以單斜探頭接觸法為主進行檢測并對 檢測結果進行等級評定。本附錄適用于厚度大于或等于8mm的鈦容器對接焊縫超聲檢測。Q2試塊Q2.1試塊材質應與被檢鈦板性能相同或相近,試塊經(jīng)超聲檢測后不得有大于小 2mm平底孔當量以

32、上的缺陷存在。Q2.2試塊尺寸、形狀見表Q-1和圖Q 1。表Q-1試塊尺寸mm試塊號 試塊長度L試塊厚度T試塊的測定范圍1 300 25 2 840 2 500 50 >4080 圖 QT 試塊形狀Q3檢測準備Q3. 1檢測面a.檢測前,應清除探頭移動區(qū)域影響聲束傳播的匕濺、銹蝕、油垢等。表面粗糙 時,應打磨平滑,以保持良好的聲學接觸。b.焊縫外觀及檢測表面應經(jīng)檢查合格后,方可進行檢測。Q3. 2探頭的選擇一般應使用K值為2.0的斜探頭。如有必要,也可選用其它K值的探頭。Q3. 3距離一波幅曲線的制作距離一波幅曲線應在對比試塊上實測繪制,由定量線、判廢線和評定線組成。其 基準電平以6 5

33、mm橫通孔的回波為基準。參見圖Q-2和表Q-2。幅dB圖Q-2距離一波幅曲線表Q-2距離一波幅曲線的靈敏度評定線定量線判廢線5 26dB 5 20dB 小 5 12dBQ3.4掃查靈敏度掃查靈敏度不低于評定線。Q4掃查方法掃查方法按照9.1.5條的規(guī)定。Q5缺陷定量位于定量線或定量線以上的缺陷應進行幅度和指示長度的測定。Q5.1缺陷指示長度的測定按下列方法進行a.當反射波只有一個高點時,用6dB法測定其指示長度。b.當反射波有多個高點時,用端點6dB法測定其指示長度。Q5. 2缺陷指示長度小于10mm的缺陷按5mm計。Q5. 3對缺陷回波高度介于測長線和定量線之間的缺陷,若認為有必要記錄時,也

34、 可采用上述方法進行幅度和指示長度的測定。Q6缺陷等級評定Q6. 1不允許存在反射波幅位于或超過判廢線的缺陷。Q6.2位于判廢線和定量線之間的缺陷,其等級評定如表Q-3 o表Q-3缺陷按指示長度分級mm板厚 T 840 >4080i W 10 W 14 TH W 13 W 13 TIII W 20 W 12 T等級IV指示長度大于川級考注:當對接焊縫兩側板厚不同時,以較薄者為準。Q6. 3深度相同的兩個缺陷相鄰間距小于或等于其中較小缺陷的指示長度時,應 將兩個缺陷作為一個缺陷處理,其指示長度為這兩個缺陷指示長度之和。Q6.4如檢測人員能判定為危害性缺陷時,不受上述條文限制。第一篇總則1主

35、題內(nèi)容與適用范圍本標準規(guī)定了射線檢測、超聲檢測、磁粉檢測、滲透檢測和渦流檢測五種無損檢 測方法及缺陷等級評定。本標準所述各種無損檢測方法,適用于金屬材料制壓力 容器的原材料、零部件和焊縫。2引用標準GB 150鋼制壓力容器GB 3721磁粉探傷機GB 5097黑光源的間接評定方法GB 5616常規(guī)無損探傷應用導則GB 5618線型象質計GB 9445無損檢測人員技術資格鑒定通則GB/T12604. 16無損檢測術語JB 4126超聲波檢驗用鋼質試塊的制造和控制ZBJ04001 A型脈沖反射式超聲波探傷系統(tǒng)工作性能測試方法ZB Y230 A型脈沖 反射式超聲探傷儀通用技術條件ZB Y231超聲探

36、傷用探頭性能測試方法ZB Y232超聲探傷用1號標準試塊技術條件ZB Y344超聲探傷用探頭型號命名方法3術語本標準所用術語除應符合GB/T12604. 16的規(guī)定外,還應符合下述規(guī)定。3.1 密集區(qū)缺陷在熒光屏掃描線相當于50mm聲程范圍內(nèi)同時有5個或5個以上的缺陷反射 信號;或是在50mmX 50mm的檢測面上發(fā)現(xiàn)在同一深度范圍內(nèi)有5個或5個以 上的缺陷反射信號。其反射波幅均大于某一特定當量缺陷基準反射波幅。3.2 山缺陷引起的底波降低量BG/BF(dB)在靠近缺陷處的無缺陷完好區(qū)內(nèi)第一 次底波幅度BG與缺陷區(qū)域內(nèi)的第一次底波幅度BF之比,用聲壓級(dB)值來表 示。3. 3檢測截面用列掃

37、查檢測時,作為檢測對象的截面,一般以焊縫截面作為檢測截面,見圖3-1 o3.4串列基準線串列掃查時,作為一發(fā)一收兩探頭等間隔移動的基準線,一般設在離檢測截面距 離為0. 5倍跨距的位置,見圖3-1 o串列基準線檢測截面檢測面圖3-1檢測截面及串列基準線3 . 5參考線施焊前預先在母材檢測面上,離焊縫坡口一定距離處畫出一標記線,以其作為確 定串列基準線的依據(jù),見圖3 - 2 o該線即為參考線。熔合面參考線坡口面參考線圖3-2參考線3.6 橫方形串列掃查將發(fā)、收一組探頭,使其入射點相對串列基準線保持等距離且平行于焊縫移動的掃查方法,見圖3-3 o串列基準線橫方形掃查 縱方形掃查圖3-3橫方形掃查及

38、縱方形掃查3.7 縱方形串列掃查將發(fā)、收一組探頭,使其入射點相對用列基準線保持等距離且垂直于焊縫移動的 掃查方法,見圖3-3 o4 一般要求4.6 選擇原則1.1 .1壓力容器射線、超聲、磁粉、滲透、渦流檢測方法的選擇、檢測時機及抽 檢率等,應按壓力容器安全技術監(jiān)察規(guī)程、GB150、GB5616及有關技術文 件的要求和原則執(zhí)行。1.2 . 2凡鐵磁性材料制成的壓力容器及零部件,應使川磁粉檢測方法檢測表面缺 陷,確因結構形狀等原因不能使用磁粉檢測時,方可采用滲透檢測。4.7 制造廠的檢測責任4. 2.1當壓力容器及零部件需按本標準進行檢測時,制造廠、裝配或組裝部門應 按本標準的規(guī)定制定出符合有關

39、規(guī)范要求的無損檢測規(guī)程。每一檢測規(guī)程至少應 復制一份副本,以供制造廠所有無損檢測人員參考和使用。4. 2.2檢測程序及結果應正確、完整并有相應責任人員簽名認可。檢測記錄、報 告等保存期不得少于7年。7年后,若用戶需要可轉交用戶保管。4. 2. 3檢測檔案中,對于檢測人員承擔檢測項目的相應資格等級和有效期應有記 錄。4. 2.4檢測用儀器、設備的性能應定期檢驗合格并有記錄。4.3檢測人員4. 3.1凡從事壓力容器及零部件檢測的人員,都必須經(jīng)過技術培訓I,并按照勞動 部文件“鍋爐壓力容器無損檢測人員資格鑒定考核規(guī)則”及GB9445進行考核 鑒定。5. 3.2無損檢測人員按技術等級分為高、中、初級。

40、取得不同無損檢測方法的各 技術等級人員,只能從事與該等級相應的無損檢測工作,并負相應的技術責任。6. 3. 3凡從事壓力容器及零部件無損檢測工作的人員,除具有良好的身體素質外, 視力必須滿足下列要求:7. 3. 3.1校正視力不得低于1. 0,并一年檢查一次。8. 3. 3. 2從事磁粉、滲透檢測工作的人員,不得有色盲、色弱。9. 3. 3. 3從事射線評片人員應能辨別距離400mm遠的一組高為0. 5mm、間距為0. 5mm的印刷字母。4.4無損檢測責任人員的職責4. 4.1參與壓力容器及零部件制造的無損檢測責任工程師,有責任保證本標準在 使用中的正確實施,有權拒絕受理不按本標準規(guī)定進行的任

41、何檢測內(nèi)容。5. 4. 2無損檢測責任工程師,應由具有鍋爐壓力容器無損檢測高級或中級的資格 者擔任。6. 5驗收標記如果檢測內(nèi)容作為壓力容器產(chǎn)品驗收的項目,則檢測合格的所有工件上都應作永 久性或半永久性的標記,標記應醒目。產(chǎn)品上不適合打印標記時,應采取詳細的檢 測草圖或其它有效方式標注,使下道工序或最后的檢測人員能夠辨明。第二篇焊健射線透照檢測5 一般要求5.1 檢測范圍本章規(guī)定了在焊縫透照檢測過程中,為獲得合格透照底片所必須遵循的程序和要求。本章適用于碳素鋼、低合金鋼、不銹鋼、鋁及鋁合金、鈦及鈦合金材料制壓力容器焊縫及鋼 管對接環(huán)縫的射線透照檢測。5.2 防護5.2.1 X射線和丫射線對人體

42、有不良影響,應盡量避免射線的直接照射和散射線的影響。5.2.2 從事射線檢測的人員應備有劑量儀或其它劑量測試設備,以測定工作環(huán)境的射線照射 量和個人受到的累計劑量. y射線檢測操作中,每次都應測定工作場所和丫射線源容器附近的 射線劑量,以便了解射源位置,免受意外照射。5.2.3 在現(xiàn)場進行射線檢測時應設置安全線。安全線上應有明顯警告標志,夜間應設紅燈。5.2.4 檢測人員每年允許接受的最大射線照射劑量為5x10 2- Sv,非檢測人員每年允許接受 的最大劑量為5xlO3-Sv。5.3 檢測人員應符合4.3條的有關規(guī)定。5.4 射線透照等效系數(shù)材料的射線透照等效系數(shù)見表5-1 o將此系數(shù)乘以待檢

43、容器材料的厚度,即能得到相當于多 少厚度鋼的吸收效果。表5-1某些金屬的射線透照等效系數(shù)射線能量金屬 100 kV 150 kV 220 kV 250 kV 400 kV 1 MeV 2 MeV 金25 MeV Ir (銖)Co (鉆)鐵/鋼鎂鋁鋁合金鈦銅鋅黃銅因康銀合金蒙乃爾合金錯鉛 1.0 0.05 0.08 0.10 -1.5 - 1.7 2.4 14.0 1.0 0.05 0.12 0.14 0.54 1.6 1.4 1.4 1.4- 2.3 14.0 1.0 0.08 0.18 0.18 0.54 1.4 1.3 1.3 1.3 1.2 2.0 12.0 1.0- - 1.4- 1.

44、7-1.0-0.71 1.4 1.3 1.3 1.3 -1.5 -1.0-0.9 1.1 - 1.2 1.3 - 1.0 5.0 1.0-0.9 1.1 - 1.1 1.3 - 1.0 2.5 1.0-0.9 1.2 1.2 1.0 1.3- 1.0 2.7 1.0-0.35 0.35 0.9 1.1 1.1 1.1 1.3 -1.2 4.0 1.0-0.35 0.35 0.9 1.1 1.0 1.0 13- 1.0 2.3 5.5透照方式按射線源、工件和膠片三者間的相互位置關系,透照方式分為縱縫透照法、環(huán)縫外透法、環(huán) 縫內(nèi)透法、雙壁單影法和雙壁雙影法五種,見圖5-1 o圖5-1透照方式示意圖

45、縱縫透照法(b)環(huán)縫外透法(c)環(huán)縫內(nèi)透法(d)雙壁單影法(e)雙壁雙影法注:C1射線源不在部件中心:C2射線源在部件中心。5.6 表面要求焊縫的表而質量(包括焊縫余高)應經(jīng)外觀檢查合格。表面的不規(guī)則狀態(tài)在底片上的圖像應不 掩蓋焊縫中的缺陷或與之相混淆,否則應做適當?shù)男蘩怼?.7 定位標記和識別標記5.7.1 定位標記焊縫透照部位應有搭接標記(T),如有需要也可放置中心標記()。當抽查時搭接標記稱為有效 區(qū)段透照標記。5.7.2 識別標記被檢的每段焊縫附近均應貼有下列鉛質識別標記:產(chǎn)品編號、焊縫編號、部位編號和透照 日期。返修透照部位還應有返修標記RI、R2(其數(shù)碼1、2指返修次數(shù))。5.7.

46、3 標記位置上述定位標記和識別標記均應放在膠片的適當位置,并離焊縫邊緣至少5mm o搭接標記的 安放位置見附錄A(補充件)。工件表而應作出永久性標記,以作為對每張底片重新定位的依 據(jù)。產(chǎn)品上不適合打印標記時,應采用詳細的透照部位草圖或其它的有效方式標注。5.8 象質計象質計是用來檢查透照技術和膠片處理質量的。衡量質量的參數(shù)是象質指數(shù)。它等于底片上 能識別出的最細金屬絲的線編號。5.8.1 線型象質計的型號和規(guī)格線型象質計金屬絲的材料應與被透照容器的材料相一致,見表5-2 °線型象質計的型號和規(guī) 格應符合GH5618的規(guī)定。表5-2不同線型象質計適用的材料范圍象質計材料Fe碳素 鋼、不

47、銹鋼Ti鈦合金A1鋁合金Cu銅合金適用材料范圍黑色金屬鈦及鈦合金鋁及鋁 合金銅及銅合金5.8.2 象質計標志及代號 象質計應具有下列標志: 標準編號JB 4730線材代號一一 Fe、Ti、Al、Cu等 線徑編號R 10系列;1/7、6/12、 10/16 583象質計的放置 線型象質計應放在射線源一側的工件表而上被檢焊縫區(qū)的一端(被檢區(qū)長度的1/4部位)。金 屬絲應橫跨焊縫并與焊縫方向垂直,細絲置于外側。當射線源一側無法放置象質計時,也可放 在膠片一側的工件表而上,但象質計指數(shù)應提高一級或通過對比試驗,使實際象質指數(shù)達到規(guī) 定的要求。象質計放在膠片一側工件表而上時,應附加“F”標記以示區(qū)別。采

48、用射線源置于圓心位置的周向爆光時,象質計應在內(nèi)壁每隔90。放置一個。5.9 射線透照質量等級射線透照的質量等級分為A級(普通級)、AB級(較高級)和B級(高級)。不同材料、不同 厚度的工件采用A級、AB級或B級時,在射線底片上必須顯示的最小象質計線徑及相應 的象質指數(shù)見表5 3 °表5-3象質計的選用適合的透照厚度TAmni要求達到的象 質指數(shù)線徑mm A級AB級B級16 0.100 < 6 15 0,125 < 6 >6 - 8 14 0.160 < 6 >6-8 >8 10 13 0.200 >6 8 >8-12 >10 16

49、 12 0.250 >8 10 >1216 >16 25 11 0.320 >10 16 >1620 >25 32 10 0.400 >1625 >2025 >3240 9 0.500 >2532 >2532 >4050 8 0.630 >3240 >32 50 >5080 7 0.800 >4060 >50 80 >80 150 6 1.000 >60-80 >80 120 >150 2005 1.250 >80-150 > 120-150 >200

50、-2504 1.600>150 170>150 200-3 2.000 >170 180 >200-250-2 2.500 >180 190 1 3.200 >190 200一一5.10 膠片和增感屏5.10.1 膠片的分類和選擇工業(yè)X射線膠片的類型見表5-4。通常,如需縮短曝光時間,則需使用表5-4中號數(shù)較大的 膠片;如需提高射線透照的底片質量,則需使用號數(shù)較小的膠片。表5-4工業(yè)射線透照膠片的 類型高千伏數(shù)kV厚度,mm圖5-6透照不同厚度材料時允許使用的最高X射線管電壓5.13 無用射線和散射線的屏蔽表5-6不同射線源適用的材料透照厚度范圍mm碳素鋼、

51、低合金鋼和不銹鋼射線源A級AB級B級Ir 192 20100 3095 40-90 Co 60 40-200 50 175 60-150 l-2MeV X 射線 30200 40175 60-150大于 2MeV X 射線 >40 >50 >50注:采用內(nèi)透法(中心法和偏心法)時,透照厚度可為表5-6下限值的一半。5.13.1 為減少散射線的影響,應采用適當?shù)钠帘畏椒ㄒ韵拗剖軝z部位的受照面積。通常, 可在X射線管窗口上裝設錐形鉛罩或鉛質遮光板。為避免從其它工件或膠片后方和側面物 體上產(chǎn)生的散射線對膠片的影響,可采用加厚增感屏,或在膠片與增感屏后再加上一塊鉛板, 其厚度約14m

52、m o如工件邊緣處于射線透照區(qū)內(nèi),通??捎脠D5 7的方法或其它適 當方法來屏蔽散射線。圖5-7減少散射線影響的方法5.13.2 為檢查背散射,可在暗可背面貼附一個“ B ”的鉛字標記(其高度為13mm.厚度為 1.6mm)。若在較黑背影上出現(xiàn)“ B ”的較淡影象,就說明背散射線保護不夠,應采取有效措施重 照。如在較淡背景上出現(xiàn)“B ”的較黑影象,則不能作為該底片判廢的依據(jù)。5.14 曝光5.14.1 應根據(jù)設備、膠片、增感屏和其它具體條件制作或選用合適的曝光曲線,并以此確定 曝光規(guī)范。5.14.2 為達到規(guī)定的底片黑度,推薦采用不低于15mA. min的曝光量,以防止用短焦距和高 電壓所引起的

53、不良影響。5.15 膠片處理5.15.1 膠片的處理應按膠片的使用說明書或公認的有效方法處理??刹捎米詣記_洗或手工沖 洗方式。5.15.2 膠片的自動沖洗應注意精確控制膠片顯影、定影、水洗和干燥等工序的傳送速度及藥 液補充。5.15.3 膠片的手工沖洗應采用槽浸方式,在規(guī)定的溫度(20 左右)和時間內(nèi)進行顯影、定影 等操作。定影后的底片應經(jīng)充分水洗和洗滌劑處理,以防止水跡的產(chǎn)生,然后自然干燥或在干 燥箱內(nèi)烘干。膠片的手工沖洗方法可參考附錄N(參考件)。5.15.4 顯影液性能的控制應采用定期添加補充液的方法來維持顯影液性能的恒定。詳見附錄0(參考件)。5.16 底片質量5.16.1 象質指數(shù)底

54、片上必須顯示出的最小線徑及象質指數(shù),見表5 3 o5.16.2 黑度選擇的曝光條件應使底片有效評定區(qū)域內(nèi)的黑度滿足表5-7的要求。表5-7底片的黑度范 圍射線種類底片黑度D灰霧度DO A級AB 級 1.23.5X 射線B 級 1.53.5<03丫 射線 1.83.5<0.3注:表中D值包括了 DO值5.16.3 影象識別要求5.16.3.1 底片上的象質計影象位置應正確,定位標記和識別標記齊全,且不掩蓋被檢焊縫影 象。5.16.3.2 在焊縫影象上,如能清晰地看到長度不小于10mm的象質計金屬絲影象,就認為是 可識別的。5.16.4 不允許的假缺陷在底片評定區(qū)域內(nèi)不應有以下妨礙底片

55、評定的假缺陷。a.灰霧;b.處理時產(chǎn)生的條紋、水跡或化學污斑等缺陷;c.劃痕、指紋、臟物、靜電痕跡、黑點或撕裂等;d.由于增感屏不好造成的缺陷顯示。5.17 底片的觀察5.17.1 評片環(huán)境評片應在專用評片室內(nèi)進行。評片室內(nèi)的光線應暗淡,但不全暗,室內(nèi)照明用光不得在底片表 而產(chǎn)生反射。5.17.2 觀片燈觀片燈最大亮度應不小于100000cd/m2,且觀察的漫射光亮度應可調(diào)。對不需要觀察或透 光量過強的部分應采用適當?shù)恼诠獍迤帘螐姽?。?jīng)照射后的底片亮度應不小于30cd/m2 o 5.18報告及驗收標記5.18.1報告至少應包括以下內(nèi)容:a.委托單位、被檢工件名稱、編號;b.被檢工件材質、母材厚

56、度;c.檢測裝置的名稱、型號;d.透照方法及透照規(guī)范;e.透照部位及工件草圖(或示意圖);f.檢測結果、缺陷等級評定及檢測標準名稱;g.返修情況;h.檢測人員和責任人員簽字及其技術資格;i.檢測日期。5.18.2驗收標記應符合4.5條的規(guī)定。6焊縫射線透照缺陷等級評定6.1 鋼制壓力容器對接焊縫透照缺陷等級評定6.1.1 檢測范圍和一般要求6.1.1.1 本條適用于2250mm板厚的碳素鋼、低合金鋼、不銹鋼制壓力容器對接焊縫的 X射線和y射線透照和缺陷等級評定。6.1.1.2 透照底片質量等級、透照范圍和焊縫的缺陷等級評定,應按產(chǎn)品技術條件和GB150的 規(guī)定選擇,并應符合圖樣規(guī)定。6.1.2 底片質量應符合5.16條的規(guī)定。6.1.3 焊縫缺陷等級評定6.13.1 根據(jù)缺陷的性質和數(shù)量,將焊縫缺陷分為

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