(高清版)GBT 42025-2022 智能制造 射頻識(shí)別系統(tǒng) 超高頻RFID系統(tǒng)性能測(cè)試方法

智能制造射頻識(shí)別系統(tǒng)超高頻RFID系統(tǒng)性能測(cè)試方法2022-10-12發(fā)布2023-05-01實(shí)施國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局I前言 12規(guī)范性引用文件 13術(shù)語和定義 14符號(hào)和縮略語 15一般測(cè)試要求 25.1測(cè)試項(xiàng)目選擇 25.2標(biāo)準(zhǔn)大氣條件 25.3預(yù)處理 25.4默認(rèn)允差 25.5測(cè)量不確定度 25.6識(shí)別測(cè)試 25.7讀寫測(cè)試 25.8通信參數(shù) 35.9標(biāo)簽排列 35.10長(zhǎng)度采樣步長(zhǎng) 45.11速度采樣步長(zhǎng) 45.12移動(dòng)方向 45.13測(cè)試報(bào)告 46讀寫器抗擾度 56.1測(cè)試目的 56.2測(cè)試布置 56.3測(cè)試步驟 56.4測(cè)試報(bào)告 87密集型讀寫器互擾 87.1測(cè)試目的 87.2測(cè)試布置 97.3測(cè)試步驟 97.4測(cè)試報(bào)告 98標(biāo)簽環(huán)境適應(yīng)性 8.1測(cè)試目的 8.2測(cè)試布置 8.3測(cè)試步驟 8.4測(cè)試報(bào)告 9堆垛標(biāo)簽性能 9.1測(cè)試目的 Ⅱ9.2測(cè)試布置 9.3測(cè)試步驟 9.4測(cè)試報(bào)告 10典型應(yīng)用場(chǎng)景下的多標(biāo)簽訪問能力 10.1測(cè)試目的 10.2測(cè)試布置 10.3測(cè)試步驟 10.4測(cè)試報(bào)告 11典型應(yīng)用場(chǎng)景下的移動(dòng)速度 11.1測(cè)試目的 11.2測(cè)試布置 11.3測(cè)試步驟 11.4測(cè)試報(bào)告 附錄A(規(guī)范性)典型應(yīng)用場(chǎng)景 附錄B(資料性)測(cè)試報(bào)告記錄信息 參考文獻(xiàn) ⅢGB/T42025—2022本文件按照GB/T1.1—2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部分：標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的規(guī)定起草。請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利。本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別專利的責(zé)任。本文件由全國(guó)信息技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC28)提出并歸口。本文件起草單位：中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院、北京中科佐迪克電子科技發(fā)展有限公司、廣東中科臻恒信息技術(shù)有限公司、睿芯聯(lián)科(北京)電子科技有限公司、北京智芯微電子科技有限公司、重慶唯申科技有限公司、四川華大恒芯科技有限公司、愛康普科技(大連)有限公司、高新興智聯(lián)科技有限公司、上海天臣射頻技術(shù)有限公司、青島海爾洗衣機(jī)有限公司、品冠物聯(lián)科技有限公司。1智能制造射頻識(shí)別系統(tǒng)超高頻RFID系統(tǒng)性能測(cè)試方法1范圍本文件描述了用于智能制造的超高頻RFID的系統(tǒng)性能測(cè)試的一般方法。本文件適用于智能制造領(lǐng)域超高頻RFID系統(tǒng)性能的測(cè)試。2規(guī)范性引用文件下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，僅該日期對(duì)應(yīng)的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。GB/T17626.2—2018電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.3—2016電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.4—2018電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.5—2019電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)浪涌(沖擊)抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.6—2017電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度GB/T17626.8—2006電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)工頻磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.11—2008電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)GB/T29261.3—2012信息技術(shù)自動(dòng)識(shí)別和數(shù)據(jù)采集技術(shù)詞匯第3部分：射頻識(shí)別GB/T29768—2013信息技術(shù)射頻識(shí)別800/900MHz空中接口協(xié)議3術(shù)語和定義GB/T29261.3—2012界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本文件。讀/寫標(biāo)簽效率read/writetag(s)efficiency單位時(shí)間(s)內(nèi)成功讀/寫標(biāo)簽的次數(shù)。標(biāo)簽識(shí)讀靈敏度tagreadsensitivity標(biāo)簽成功完成一系列命令所需的最小載波功率。標(biāo)簽反向散射功率tagbackscatterpower標(biāo)簽處于某一靈敏度水平時(shí)，成功完成一系列命令后返回的功率。4符號(hào)和縮略語下列符號(hào)和縮略語適用于本文件。2D:標(biāo)簽幾何中心與讀寫器天線之間的距離D?:讀寫器a天線與標(biāo)簽之間的距離D?:讀寫器b天線與標(biāo)簽之間的距離D.:讀寫器天線之間的距離RFID:射頻識(shí)別(RadioFrequencyIdentification)UID:用戶標(biāo)簽標(biāo)識(shí)符(UserTagIdentifier)5一般測(cè)試要求5.1測(cè)試項(xiàng)目選擇本文件包含的測(cè)試項(xiàng)目分為實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下的基礎(chǔ)性能測(cè)試以及現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境下的應(yīng)用性能測(cè)試兩基礎(chǔ)性能測(cè)試采用測(cè)試儀器對(duì)標(biāo)簽或讀寫器進(jìn)行測(cè)試，得出標(biāo)簽或讀寫器的性能參數(shù)，具體包含以下測(cè)試項(xiàng)目：——讀寫器抗擾度；——標(biāo)簽環(huán)境適應(yīng)性；——堆垛標(biāo)簽性能。應(yīng)用性能測(cè)試采用標(biāo)簽和讀寫器進(jìn)行互測(cè)，得出整體系統(tǒng)的性能參數(shù)，具體包含以下測(cè)試項(xiàng)目：——密集讀寫器互擾；——堆垛標(biāo)簽性能；——典型應(yīng)用場(chǎng)景下的多標(biāo)簽訪問能力；——典型應(yīng)用場(chǎng)景下的移動(dòng)速度。5.2標(biāo)準(zhǔn)大氣條件除非另有規(guī)定，應(yīng)在下列標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下進(jìn)行測(cè)試：a)溫度：15℃~35℃;b)相對(duì)濕度：25%～75%;5.3預(yù)處理測(cè)試對(duì)象應(yīng)在測(cè)試環(huán)境中存放24h后再進(jìn)行測(cè)試。5.4默認(rèn)允差除非另有規(guī)定，所給出量值的默認(rèn)允差為±5%。5.5測(cè)量不確定度應(yīng)對(duì)測(cè)量結(jié)果進(jìn)行不確定度分析。5.6識(shí)別測(cè)試測(cè)試過程中以讀寫器獲取標(biāo)簽UID為準(zhǔn)。5.7讀寫測(cè)試測(cè)試數(shù)據(jù)采用0xAA和0x55分別進(jìn)行。除非另有要求，讀寫操作對(duì)標(biāo)簽用戶區(qū)第一個(gè)地址和最后一個(gè)地址進(jìn)行。如對(duì)其他存儲(chǔ)地址進(jìn)行測(cè)試，應(yīng)在測(cè)試記錄中注明。測(cè)量時(shí)標(biāo)簽宜粘接于與其匹配的3介質(zhì)材料上，且在測(cè)試記錄中注明介質(zhì)材料。若測(cè)量時(shí)將標(biāo)簽置于周圍分布有干擾物體的環(huán)境下，在測(cè)試記錄中應(yīng)注明干擾物體的位置、排列等。5.8通信參數(shù)測(cè)試過程中應(yīng)依據(jù)GB/T29768—2013對(duì)測(cè)試對(duì)象的通信參數(shù)進(jìn)行配置。5.9標(biāo)簽排列當(dāng)采用兩個(gè)以上的標(biāo)簽進(jìn)行測(cè)試時(shí)，這組標(biāo)簽構(gòu)成標(biāo)簽群。標(biāo)簽群的幾何排列可以是一維、二維和三維，分別見圖1、圖2和圖3。在規(guī)定的幾何排列中標(biāo)簽的間距應(yīng)是一致的。標(biāo)簽的間距應(yīng)是相鄰標(biāo)簽幾何中心之間的距離。標(biāo)簽的最小間距應(yīng)不小于標(biāo)簽天線長(zhǎng)度最大值的2倍。圖1—維標(biāo)簽排列L—一圖2二維標(biāo)簽排列圖3三維標(biāo)簽排列45.10長(zhǎng)度采樣步長(zhǎng)距離和范圍測(cè)試應(yīng)對(duì)系統(tǒng)的識(shí)別過程、讀數(shù)據(jù)過程和寫數(shù)據(jù)過程分別進(jìn)行。為了控制采樣點(diǎn)的數(shù)量，縮短測(cè)試時(shí)間，可對(duì)不同的系統(tǒng)選取合適的采樣步長(zhǎng)，參考數(shù)值見表1。表1采樣步長(zhǎng)標(biāo)簽與讀寫器天線之間的距離(D)參考步長(zhǎng)值D≤5cm20cm<D≤1mD>10m5.11速度采樣步長(zhǎng)移動(dòng)速度測(cè)試應(yīng)對(duì)系統(tǒng)的識(shí)別過程、讀數(shù)據(jù)過程和寫數(shù)據(jù)過程分別進(jìn)行。為了控制采樣點(diǎn)的數(shù)量，縮短測(cè)試時(shí)間，可對(duì)不同的系統(tǒng)選取合適的速度初始值和速度步長(zhǎng)值，參考數(shù)值見表2。表2速度初始值和步長(zhǎng)值速度初始值(建議)參考速度步長(zhǎng)值0.1m/s0.1m/s5.12移動(dòng)方向標(biāo)簽幾何中心的原始位置與讀寫器天線的相對(duì)運(yùn)動(dòng)方向定義如圖4所示，本文件采用X、Y、Z三個(gè)方向作為特征測(cè)試方向。對(duì)于實(shí)際應(yīng)用場(chǎng)景中的不規(guī)則方向，可根據(jù)應(yīng)用需要采用合適的運(yùn)動(dòng)方向。ZZ方向標(biāo)簽兒何中心的Y方向讀寫器x方向天線圖4標(biāo)簽移動(dòng)方向示意圖5.13測(cè)試報(bào)告測(cè)試報(bào)告應(yīng)至少包括如下信息：5e)附加說明：標(biāo)簽數(shù)量、標(biāo)簽群排列形式、標(biāo)簽方向和貼附材料等。6讀寫器抗擾度6.1測(cè)試目的本測(cè)試規(guī)定了在工業(yè)環(huán)境中的連續(xù)、暫態(tài)、傳導(dǎo)和輻射騷擾以及包括靜電放電情況下工作的讀寫器的抗擾度試驗(yàn)要求。6.2測(cè)試布置受試設(shè)備(EUT)應(yīng)在符合正常使用的最敏感的工作方式下進(jìn)行試驗(yàn)。應(yīng)變動(dòng)受試設(shè)備的布置以獲得與典型使用和實(shí)際裝置一致的最大敏感度。如果設(shè)備是系統(tǒng)的一部分，或者可以連接輔助設(shè)備，那么設(shè)備在進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)應(yīng)連接數(shù)量最少且有代表性的輔助設(shè)備。如果制造商的技術(shù)規(guī)范特別要求外部保護(hù)裝置或措施，并已在用戶使用手冊(cè)中明確做出規(guī)定，則應(yīng)在具有外部保護(hù)裝置或措施的情況下進(jìn)行試驗(yàn)。試驗(yàn)期間的布置和工況都應(yīng)準(zhǔn)確地記錄在試驗(yàn)報(bào)告中。對(duì)設(shè)備的每一項(xiàng)功能未必都能進(jìn)行試驗(yàn)，在這種情況下，要選擇最關(guān)鍵的工況來試驗(yàn)。如果設(shè)備有許多類似的端口，或許多端口有類似的連接，那么應(yīng)選擇足夠數(shù)量的端口來模擬實(shí)際工作狀態(tài)，以保證涉及所有不同類型的終端。應(yīng)在產(chǎn)品規(guī)定的溫度、濕度和氣壓范圍內(nèi)，以額定電源電壓進(jìn)行試驗(yàn)，除非基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)另有規(guī)定。讀寫器抗擾度試驗(yàn)布置如圖5所示。外殼端口信號(hào)端山AC電源端口功能接地端口DC電源端口圖5讀寫器抗擾度試驗(yàn)布置6.3測(cè)試步驟本項(xiàng)測(cè)試的步驟如下。a)被測(cè)樣品在測(cè)試前應(yīng)保證功能和性能正常。b)在無干擾狀態(tài)下測(cè)量被測(cè)設(shè)備讀寫標(biāo)簽的效率。c)被測(cè)設(shè)備處于連續(xù)讀寫標(biāo)簽狀態(tài)，按照表3、表4、表5、表6和表7測(cè)試要求進(jìn)行測(cè)試，試驗(yàn)應(yīng)以單個(gè)的試驗(yàn)依次逐項(xiàng)進(jìn)行，試驗(yàn)順序是任意的。測(cè)量試驗(yàn)期間被測(cè)設(shè)備的讀/寫標(biāo)簽效率。d)試驗(yàn)結(jié)束后，測(cè)量被測(cè)設(shè)備讀/寫標(biāo)簽效率。e)計(jì)算被測(cè)設(shè)備讀/寫標(biāo)簽效率的變化范圍。6表3外殼端口抗擾度試驗(yàn)序號(hào)環(huán)境現(xiàn)象測(cè)試要求單位遵循標(biāo)準(zhǔn)注釋附加性能判據(jù)1工頻磁場(chǎng)A/m應(yīng)該在適當(dāng)?shù)墓╇婎l率下進(jìn)行試驗(yàn)，當(dāng)打算只在具有其中一個(gè)頻率供電的區(qū)域中使用設(shè)備時(shí)，則僅對(duì)該頻率進(jìn)行試驗(yàn)"A2射頻調(diào)幅電磁場(chǎng)MHz規(guī)定的試驗(yàn)值是未調(diào)制的載波的有效值3靜電放電接觸放電±4(充電電壓)接觸放電適用于導(dǎo)體外殼，空氣放電適用于絕緣體外殼空氣放電±8(充電電壓)只應(yīng)用于設(shè)備中包含有對(duì)磁場(chǎng)敏感的裝置。附加性能判據(jù)為A:在試驗(yàn)期間和試驗(yàn)之后，設(shè)備應(yīng)能按預(yù)定方式連續(xù)運(yùn)行。當(dāng)設(shè)備按預(yù)定方式使用時(shí)，其性能降低或功能喪失不應(yīng)低于無干擾的正常讀寫效率的50%。附加性能判據(jù)為B:在試驗(yàn)之后，設(shè)備應(yīng)能按預(yù)定方式連續(xù)運(yùn)行。當(dāng)設(shè)備按預(yù)定方式使用時(shí)，其性能降低或功能喪失不應(yīng)低于無干擾的正常讀寫效率的50%。在試驗(yàn)期間，允許性能降低，但實(shí)際工作狀態(tài)或存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)不允許改變。表4信號(hào)端口抗擾度試驗(yàn)序號(hào)環(huán)境現(xiàn)象測(cè)試要求單位遵循標(biāo)準(zhǔn)注釋附加性能判據(jù)1射頻共模MHzVGB/T17626.6—2017規(guī)定的試驗(yàn)值是未效值n,b2快速瞬變±1(充電電壓)5(重復(fù)頻率)GB/T17626.4—2018使用容性藕合夾3浪涌(沖擊)線-地±1(開路電壓)’僅適用于連接有電纜地端口，根據(jù)制造商地功能技術(shù)規(guī)范，那些電纜的總長(zhǎng)度可超過3m。僅適用于連接有電纜地端口，根據(jù)制造商地功能技術(shù)規(guī)范，那些電纜的總長(zhǎng)度可超過30m。附加性能判據(jù)為A:在試驗(yàn)期間和試驗(yàn)之后，設(shè)備應(yīng)能按預(yù)定方式連續(xù)運(yùn)行。當(dāng)設(shè)備按預(yù)定方式使用時(shí)，其性能降低或功能喪失不應(yīng)低于無干擾的正常讀寫效率的50%。附加性能判據(jù)為B:在試驗(yàn)之后，設(shè)備應(yīng)能按預(yù)定方式連續(xù)運(yùn)行。當(dāng)設(shè)備按預(yù)定方式使用時(shí)，其性能降低或功能喪失不應(yīng)低于無干擾的正常讀寫效率的50%。在試驗(yàn)期間，允許性能降低，但實(shí)際工作狀態(tài)或存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)不允許改變。7表5直流電源輸入、輸出抗擾度試驗(yàn)序號(hào)環(huán)境現(xiàn)象測(cè)試要求單位遵循標(biāo)準(zhǔn)注釋附加性能判據(jù)1射頻共模MHzV規(guī)定的試驗(yàn)值是未效值*2快速瞬變±2(充電電壓)5(重復(fù)頻率)h3浪涌(沖擊)線-地線-線士0.5(開路電壓)±0.5(開路電壓)b適用于打算與蓄電池或者充電時(shí)應(yīng)從設(shè)備移開或斷開的充電電池相連接的輸入端口對(duì)打算與交直流電源適配器一起使用的帶有直流輸入端口的設(shè)備，應(yīng)對(duì)制造商規(guī)定的交直流電源適配器的交流電源輸入端口進(jìn)行試驗(yàn)，而在沒有做這樣規(guī)定的地方，使用一個(gè)典型的交一直流電源適配器。本測(cè)試不適用于打算長(zhǎng)度小于10m的電纜固定連接的直流電源輸入端口。附加件性能判據(jù)為A:在試驗(yàn)期間和試驗(yàn)之后，設(shè)備應(yīng)能按預(yù)定方式連續(xù)運(yùn)行。當(dāng)設(shè)備按預(yù)定方式使用時(shí)，其性能降低或功能喪失不應(yīng)低于無干擾的正常讀寫效率的50%。附加件性能判據(jù)為B:在試驗(yàn)之后，設(shè)備應(yīng)能按預(yù)定方式連續(xù)運(yùn)行。當(dāng)設(shè)備按預(yù)定方式使用時(shí)，其性能降低或功能喪失不應(yīng)低于無干擾的正常讀寫效率的50%。在試驗(yàn)期間，允許性能降低，但實(shí)際工作狀態(tài)或存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)不允許改變。表6交流電源輸入、輸出抗擾度試驗(yàn)序號(hào)環(huán)境現(xiàn)象測(cè)試要求單位遵循標(biāo)準(zhǔn)注釋附加性能判據(jù)1射頻共模MHzV規(guī)定的試驗(yàn)值是未效值"2快速瞬變士2(充電電壓)5(重復(fù)頻率)bB3浪涌(沖擊)線-地線-線士2(開路電壓)士1(開路電壓)2019第5章第3段B4電壓暫降30(減少)0.5(周期)%電壓在過零處變動(dòng)'周期60(減少)5(周期)60(減少)50(周期)%C50個(gè)周期8序號(hào)環(huán)境現(xiàn)象測(cè)試要求單位遵循標(biāo)準(zhǔn)注釋附加性能判據(jù)5電壓中斷>95(減少)250(周期)%C’僅適用于輸入端口，允許亮度短時(shí)變化。附加性能判據(jù)為A:在試驗(yàn)期間和試驗(yàn)之后，設(shè)備應(yīng)能按預(yù)定方式連續(xù)運(yùn)行。當(dāng)設(shè)備按預(yù)定方式使用時(shí)，其性能降低或功能喪失不應(yīng)低于無干擾的正常讀寫效率的50%。附加性能判據(jù)為B:在試驗(yàn)之后，設(shè)備應(yīng)能按預(yù)定方式連續(xù)運(yùn)行。當(dāng)設(shè)備按預(yù)定方式使用時(shí)，其性能降低或功能喪失不應(yīng)低于無干擾的正常讀寫效率的50%。在試驗(yàn)期間，允許性能降低，但實(shí)際工作狀態(tài)或存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)不準(zhǔn)許改變。附加性能判據(jù)為C:允許暫時(shí)喪失功能，只要這種功能可自行恢復(fù)或者可以通過操作控制器來恢復(fù)。對(duì)于RFID系統(tǒng)，允許通過復(fù)位、重新加電操作來恢復(fù)原始功能。表7功能接地抗擾度試驗(yàn)序號(hào)環(huán)境現(xiàn)象測(cè)試要求單位遵循標(biāo)準(zhǔn)注釋附加性能判據(jù)1射頻共模MHzV規(guī)定的試驗(yàn)值是未效值“2快速瞬變士1(充電電壓)5(重復(fù)頻率)使用容性耦合夾”B僅適用于連接有電纜的端口，根據(jù)制造商的功能技術(shù)規(guī)范，那些電纜的總長(zhǎng)度可超過3m。附加性能判據(jù)為A:在試驗(yàn)期間和試驗(yàn)之后，設(shè)備應(yīng)按預(yù)定方式連續(xù)運(yùn)行。當(dāng)設(shè)備按預(yù)定方式使用時(shí)，其性能降低或功能喪失不應(yīng)低于無干擾的正常讀寫效率的50%。附加性能判據(jù)為B:在試驗(yàn)之后，設(shè)備應(yīng)按預(yù)定方式連續(xù)運(yùn)行。當(dāng)設(shè)備按預(yù)定方式使用時(shí)，其性能降低或功能喪失不應(yīng)低于無干擾的正常讀寫效率的50%。在試驗(yàn)期間，允許性能降低，但實(shí)際工作狀態(tài)或存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)不準(zhǔn)許改變。6.4測(cè)試報(bào)告測(cè)試報(bào)告應(yīng)至少包括如下信息：b)測(cè)試條件、附加性能判據(jù)；c)讀標(biāo)簽和寫標(biāo)簽的效率。7密集型讀寫器互擾7.1測(cè)試目的本項(xiàng)測(cè)試用于評(píng)估多讀寫器分布時(shí)相鄰信道干擾和相鄰位置干擾的情況。97.2測(cè)試布置將至少兩個(gè)相同讀寫器依照生產(chǎn)制造實(shí)際現(xiàn)場(chǎng)場(chǎng)景放置，讀寫器天線方向應(yīng)依據(jù)實(shí)際應(yīng)用需要放置，讀寫器a和標(biāo)簽的距離依據(jù)實(shí)際應(yīng)用需要放置。簡(jiǎn)要放置圖如圖6。圖6讀寫器互擾測(cè)試布置7.3測(cè)試步驟本項(xiàng)測(cè)試的步驟如下：a)將讀寫器a作為被測(cè)讀寫器，讀寫器b作為干擾讀寫器；b)讀寫器b固定工作在中間信道f?(中心頻率為842.625MHz或者922.625MHz),連續(xù)發(fā)送調(diào)制信號(hào)，發(fā)射功率S可根據(jù)實(shí)際工作功率設(shè)置，默認(rèn)讀寫器最大發(fā)射功率為33dBm;c)被測(cè)讀寫器a固定工作在相鄰信道f?,連續(xù)進(jìn)行讀標(biāo)簽或?qū)憳?biāo)簽操作，發(fā)送功率為S;d)在發(fā)射功率S不變的條件下，分別設(shè)置讀寫器a工作頻率f?=f?±250n(n=1,2,3,4,5),記錄此時(shí)讀寫器a讀標(biāo)簽或?qū)憳?biāo)簽的成功率(讀或?qū)憳?biāo)簽測(cè)試不少于1000次);e)在工作頻率f?不變的條件下，分別設(shè)置兩個(gè)讀寫器發(fā)射功率為S±m(xù)(m=1,2,3…33),記錄讀寫器a讀標(biāo)簽和或?qū)憳?biāo)簽的成功率(讀或?qū)憳?biāo)簽測(cè)試不少于1000次)。注：測(cè)試時(shí)可根據(jù)實(shí)際需要選擇遍歷參數(shù)n和m。7.4測(cè)試報(bào)告測(cè)試報(bào)告應(yīng)記錄發(fā)射功率S,工作頻率f?、f?,以及讀標(biāo)簽或?qū)憳?biāo)簽的成功率，標(biāo)簽與讀寫器的距離D?、D,讀寫器之間的距離D。。測(cè)試報(bào)告還應(yīng)記錄讀標(biāo)簽或?qū)憳?biāo)簽成功率從100%降低到50%以下時(shí)的工作頻率和發(fā)射功率。依據(jù)表8的互擾等級(jí)要求，報(bào)告還應(yīng)記錄不同參數(shù)條件下的互擾等級(jí)。表8讀寫器互擾成功率等級(jí)序號(hào)等級(jí)讀/寫標(biāo)簽成功率(P)1AP≥95%2B80%≤P<95%3C50%≤P<80%4DP<50%8標(biāo)簽環(huán)境適應(yīng)性8.1測(cè)試目的測(cè)量不同溫濕度條件下，標(biāo)簽反向鏈路速率的偏差。8.2測(cè)試布置將被測(cè)標(biāo)簽和測(cè)試用天線放置于溫濕度箱內(nèi)，天線通過射頻饋線引出到反向鏈路速率測(cè)試儀。測(cè)試用天線和被測(cè)標(biāo)簽的距離應(yīng)保證反向鏈路信號(hào)的功率足夠進(jìn)行測(cè)量。8.3測(cè)試步驟本項(xiàng)測(cè)試步驟如下：a)溫濕度箱溫度相對(duì)濕度設(shè)置為25℃、40%;b)將被測(cè)標(biāo)簽放置于該環(huán)境下至少30min;c)驅(qū)動(dòng)被測(cè)標(biāo)簽分別工作在64kHz、137.14kHz、174.55kHz、320kHz、128kHz、274.29kHz、349.09kHz、640kHz反向鏈路速率條件下，測(cè)量標(biāo)簽的反向鏈路速率，并計(jì)算偏差；d)將溫濕度箱溫度和相對(duì)濕度設(shè)置為A℃、B%,重復(fù)步驟b)、c)。e)除非另有規(guī)定，試驗(yàn)的溫度A、相對(duì)濕度B從表9中選擇。表9溫度濕度條件序號(hào)溫度相對(duì)濕度1234試驗(yàn)推薦的持續(xù)時(shí)間為12h、16h、24h、2d、4d、10d、21d或56d。測(cè)試報(bào)告應(yīng)記錄測(cè)量的溫度條件A、濕度條件B,以及對(duì)應(yīng)條件下的標(biāo)簽反向鏈路速率并計(jì)算9堆垛標(biāo)簽性能9.1測(cè)試目的測(cè)量放置在特定貼附模型的堆垛中特定位置的標(biāo)簽的識(shí)別、讀取、寫入標(biāo)簽的靈敏度和標(biāo)簽反向散射功率。9.2測(cè)試布置測(cè)試布置圖如圖7所示。將被測(cè)堆垛放置于轉(zhuǎn)臺(tái)上，每個(gè)貼附模型上粘貼一張標(biāo)簽。貼附模型材料和堆垛放置方式可根據(jù)實(shí)際應(yīng)用需要選擇，測(cè)試天線應(yīng)為線極化天線，天線中心應(yīng)距離被測(cè)標(biāo)簽至少天線天線堆垛口轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)旋轉(zhuǎn)方向圖7堆垛標(biāo)簽性能測(cè)試布置9.3測(cè)試步驟本項(xiàng)目測(cè)試步驟如下：a)測(cè)試開始前，記錄堆垛不同對(duì)應(yīng)位置處的標(biāo)簽UID,并保證標(biāo)簽UID的惟一性；測(cè)試時(shí)0.5GHz至2GHz周圍的噪聲電平應(yīng)不高于—90dBm/10kHz,其他頻率范圍應(yīng)不高于—60dBm/100kHz;b)選擇被測(cè)位置的標(biāo)簽，并記錄被測(cè)標(biāo)簽的UID,選擇0°位置的天線；c)應(yīng)使用GB/T29768—2013中的適當(dāng)命令序列僅對(duì)被測(cè)標(biāo)簽進(jìn)行識(shí)讀，讀寫器發(fā)射功率應(yīng)選用標(biāo)簽?zāi)軌虺晒?zhí)行命令序列的特定功率；d)不斷降低天線發(fā)射功率，直至標(biāo)簽不返回響應(yīng)，測(cè)量該標(biāo)簽識(shí)讀靈敏度和標(biāo)簽反向散射功率；注：現(xiàn)場(chǎng)實(shí)驗(yàn)中具體天線角度以實(shí)際布置為準(zhǔn)。測(cè)試報(bào)告應(yīng)記錄天線位置、轉(zhuǎn)臺(tái)角度、天線中心與轉(zhuǎn)臺(tái)中心的距離、被測(cè)標(biāo)簽在堆垛中的位置以及堆垛材料等基本情況，還應(yīng)記錄上述條件下被測(cè)標(biāo)簽識(shí)讀靈敏度和標(biāo)簽反向散射功率。10典型應(yīng)用場(chǎng)景下的多標(biāo)簽訪問能力10.1測(cè)試目的通過測(cè)試確定典型場(chǎng)景下讀寫器天線前方的多標(biāo)簽訪問能力，包括識(shí)別、讀和寫一組靜態(tài)標(biāo)簽的能力。根據(jù)實(shí)際需要應(yīng)選取附錄A中的典型應(yīng)用場(chǎng)景布置。本項(xiàng)測(cè)試的步驟如下：a)讀寫器發(fā)出識(shí)別命令(或讀命令或?qū)懨?,分別記錄識(shí)別(或讀取或?qū)懭?到的標(biāo)簽個(gè)數(shù)為80%、90%和100%時(shí)所用的時(shí)間；b)如果標(biāo)簽識(shí)別(或讀取或?qū)懭?到的標(biāo)簽個(gè)數(shù)不到100%,則測(cè)試應(yīng)在5To或預(yù)定時(shí)間后停止?！癟so”表示識(shí)別(或讀取或?qū)懭?到的標(biāo)簽個(gè)數(shù)為80%時(shí)所用的時(shí)間。測(cè)試應(yīng)根據(jù)應(yīng)用要求對(duì)標(biāo)簽群在不同的位置、各種幾何排列形式、各種方向等情況重復(fù)進(jìn)行。測(cè)試報(bào)告應(yīng)記錄最大識(shí)別率及所用時(shí)間，并根據(jù)實(shí)際情況分別給出識(shí)別(或讀取或?qū)懭?到的標(biāo)簽個(gè)數(shù)為80%、90%和100%時(shí)所用時(shí)間，記錄標(biāo)簽數(shù)量、位置、排列和方向等參數(shù)。11典型應(yīng)用場(chǎng)景下的移動(dòng)速度11.1測(cè)試目的通過測(cè)試確定典型場(chǎng)景下讀寫器天線前方標(biāo)簽可被識(shí)別、讀和寫時(shí)的最大移動(dòng)速度。根據(jù)實(shí)際需要應(yīng)選取附錄A中的典型應(yīng)用場(chǎng)景布置。本項(xiàng)測(cè)試的步驟如下：a)讀寫器連續(xù)發(fā)出識(shí)別命令(或讀命令或?qū)懨?,并驗(yàn)證讀寫器能夠正確識(shí)別(或讀或?qū)?標(biāo)簽；b)將標(biāo)簽加速至表2中規(guī)定的初始速度，穿過識(shí)別范圍(或讀范圍或?qū)懛秶?,驗(yàn)證讀寫器能夠正確識(shí)別(或讀或?qū)?標(biāo)簽，重復(fù)5次；c)如果5次讀寫器均能夠正確識(shí)別(或讀或?qū)?標(biāo)簽，則記錄此時(shí)的速度；如果有1次識(shí)別(或讀或?qū)?標(biāo)簽失敗，或已達(dá)到應(yīng)用要求的速度，則測(cè)試停止；d)按表2規(guī)定的步長(zhǎng)增加標(biāo)簽移動(dòng)速度后重復(fù)b)。測(cè)試可根據(jù)應(yīng)用要求對(duì)標(biāo)簽群在不同的位置、排列形式和不同方向重復(fù)進(jìn)行。測(cè)試報(bào)告應(yīng)給出測(cè)試結(jié)果的最大值作為移動(dòng)識(shí)別速度(或移動(dòng)讀速度或移動(dòng)寫速度),并記錄標(biāo)簽大線大線(規(guī)范性)典型應(yīng)用場(chǎng)景A.1讀寫器天線部署方式A.1.1手持式部署對(duì)于采用手持式讀寫器進(jìn)行標(biāo)簽信息采集的場(chǎng)景，按照?qǐng)DA.1方式進(jìn)行部署，完成RFID系統(tǒng)的測(cè)試。讀寫器通信范圍讀寫器天線標(biāo)簽群天線圖A.1手持式設(shè)備天線部署方式示意圖手持式設(shè)備要求讀寫器與天線一體式設(shè)計(jì)，采用單天線方式。測(cè)試標(biāo)簽群的排列方式根據(jù)實(shí)際應(yīng)用場(chǎng)景按照5.9中的要求排列，天線與標(biāo)簽群的相對(duì)方位宜采用實(shí)際應(yīng)用場(chǎng)景或最佳覆蓋方式。標(biāo)簽群采用固定方式或運(yùn)動(dòng)方式應(yīng)按照實(shí)際應(yīng)用場(chǎng)景設(shè)計(jì)，測(cè)試距離按照5.10要求，測(cè)試時(shí)天線與標(biāo)簽群相對(duì)移動(dòng)速度按照5.11要求。相關(guān)測(cè)試部署要求應(yīng)記錄在測(cè)試報(bào)告中，測(cè)試報(bào)告記錄內(nèi)容見附錄B。A.1.2單點(diǎn)式部署對(duì)于采用單一讀寫器進(jìn)行標(biāo)簽信息采集的場(chǎng)景，按照?qǐng)DA.2方式進(jìn)行部署，完成RFID系統(tǒng)的測(cè)試。讀寫器標(biāo)簽群讀寫器圖A.2單點(diǎn)式設(shè)備天線部署方式示意圖單點(diǎn)式部署要求采用單天線方式。讀寫器與天線采用線纜連接，測(cè)試標(biāo)簽群的排列方式根據(jù)實(shí)際應(yīng)用場(chǎng)景按照5.9中的要求排列，天線與標(biāo)簽群的相對(duì)方位宜采用實(shí)際應(yīng)用場(chǎng)景或最佳覆蓋方式。標(biāo)簽群采用固定方式或運(yùn)動(dòng)方式應(yīng)按照實(shí)際應(yīng)用場(chǎng)景設(shè)計(jì)，測(cè)試距離按照5.10要求，測(cè)試時(shí)天線與標(biāo)簽群相對(duì)移動(dòng)速度按照5.11要求，相對(duì)移動(dòng)方向按照5.12的要求。相關(guān)測(cè)試部署要求應(yīng)記錄在測(cè)試報(bào)告中，測(cè)試報(bào)告記錄內(nèi)容見附錄B。A.1.3流水線式部署對(duì)于采用流水線式部署進(jìn)行標(biāo)簽信息采集的場(chǎng)景，按照?qǐng)DA.3方式進(jìn)行部署，完成RFID系統(tǒng)的測(cè)試。天線天線通信范圍讀寫器標(biāo)簽群流水線天線天線天線圖A.3流水線式設(shè)備天線部署方式示意圖流水線部署可以采用單天線方式或多天線方式，天線數(shù)量根據(jù)實(shí)際應(yīng)用場(chǎng)景選擇。讀寫器與天線采用線纜連接，測(cè)試標(biāo)簽群的排列方式根據(jù)實(shí)際應(yīng)用場(chǎng)景按照5.9中的要求排列，天線與標(biāo)簽群的相對(duì)方位宜采用實(shí)際應(yīng)用場(chǎng)景或最佳覆蓋方式。標(biāo)簽群采用靜止方式或運(yùn)動(dòng)方式應(yīng)按照實(shí)際應(yīng)用場(chǎng)景設(shè)計(jì)，測(cè)試距離按照5.10要求，測(cè)試時(shí)標(biāo)簽群速度按照5.11要求，標(biāo)簽群相對(duì)移動(dòng)方向同流水線移動(dòng)方向。相關(guān)測(cè)試部署要求應(yīng)記錄在測(cè)試報(bào)告中，測(cè)試報(bào)告記錄內(nèi)容見附錄B。A.1.4門式部署對(duì)于采用門式部署進(jìn)行標(biāo)簽信息采集的場(chǎng)景，按照?qǐng)DA.4方式進(jìn)行部署，完成RFID系統(tǒng)的測(cè)試。天線犬線天線天線犬線天線犬線天線天線圖構(gòu)天線通信范圍讀寫器圖A.4門式設(shè)備天線部署方式示意圖門式部署可以采用單天線方式或多天線方式，天線數(shù)量根據(jù)實(shí)際應(yīng)用場(chǎng)景選擇。讀寫器與天線采用線纜連接，測(cè)試標(biāo)簽群的排列方式根據(jù)實(shí)際應(yīng)用場(chǎng)景按照5.9中的要求排列，天線與標(biāo)簽群的相對(duì)方位宜采用實(shí)際應(yīng)用場(chǎng)景或最佳覆蓋方式。標(biāo)簽群采用靜止方式或運(yùn)動(dòng)方式應(yīng)按照實(shí)際應(yīng)用場(chǎng)景設(shè)計(jì)，測(cè)試距