51單片機原理及應用實驗指導書

51試驗指導書天津大學仁愛學院201010月一、預習要求試驗前認真閱讀試驗教程中有關內(nèi)容，明確試驗目的和試驗任務。每次試驗前應有預習報告，未預習者不允許參與試驗。3．預習報告中：對軟件試驗，要求畫出程序流程圖，編好上機程序。二、試驗要求試驗是學習“匯編語言程序設計”這門課程的重要環(huán)節(jié)，試驗課請勿遲到，缺席。疼惜設備，保持清潔，不隨便更換設備。認真完成試驗任務，試驗結(jié)果經(jīng)教師檢查，教師對試驗內(nèi)容提問，對完成者做記錄。做試驗時，發(fā)生事故，應馬上切斷電源，并馬上向教師報告，檢查緣由，吸取教訓。試驗完畢，請整理試驗設備，再離開試驗室。三、報告要求每次試驗后，應遞交一份試驗報告，報告中應包括以下內(nèi)容：試驗名稱、試驗人姓名、學號、班級、所用的設備號。試驗目的、任務。程序流程圖、程序清單〔應加適量注釋。記錄和分析試驗結(jié)果。依據(jù)試驗目的認真做小結(jié) 51單片機試驗指導書 第一章51單片機試驗系統(tǒng)簡介試驗系統(tǒng)的特點EL-MUT-III型單片機/設備，系統(tǒng)具有以下特點：1、CPU80C31、8086、中任一種CPU,系統(tǒng)功能齊全，涵蓋了微機/單片機教學試驗課程的大局部內(nèi)容〔80C31CPU〕2、系統(tǒng)承受開放式模塊化構(gòu)造設計，通過兩組相對獨立的總線最多可同時擴展2塊應用試驗板，用戶可依據(jù)需要購置相應試驗板，降低了本錢，提高了敏捷性，便于升級換代。3、配有兩塊可編程器件：EPM7128EPM7032兩塊器件皆可JTAG。使用格外便利。4、敏捷的電源接口：配有PC機電源插座，可由PC關電源，供給所需的+5V，±12V220V5、系統(tǒng)的聯(lián)機運行模式DOS版和WINDOWS版兩種，均為中文多窗口界面。調(diào)試程序時可以同時翻開存放器窗口、內(nèi)存窗口、變量窗口、反匯編窗口、波形顯示窗口等等，極大地便利了用戶的程序調(diào)試。該軟件集源程序編輯、編譯、鏈接、調(diào)試與一體，每項功能均為中文下拉菜單，簡明易學。常常使用的功能均備有熱鍵，這樣可以提高程序的調(diào)試效率。8051調(diào)試軟件不僅支持匯編語言，C6、系統(tǒng)的單機運行模式：即系統(tǒng)在沒有與計算機連接的狀況下，自動運行在單機模式，在此模式下，用戶可通過鍵盤輸入運行程序〔機器碼信息及操作的結(jié)果在LED7、系統(tǒng)功能齊全，可擴展性強。本試驗系統(tǒng)不僅完全能滿足教學大綱規(guī)定的根本接口芯片試驗，其敏捷性和可擴展性〔數(shù)據(jù)總線、地址總線、掌握總線為用戶開放〕亦能輕松滿足其課程設計、畢業(yè)設計使用等。１系統(tǒng)概述系統(tǒng)的根本構(gòu)造64KB64KBROMRAMI/O……I/OA/DD/A8051DBABCB816EL-MUT-III型微機/單片機教學試驗系統(tǒng)是以微處理器8051為核心構(gòu)成的微64KB64KBROMRAMI/O……I/OA/DD/A8051DBABCB816圖1-1 試驗系統(tǒng)的根本構(gòu)造1、微處理器：i80c31，它的P1P32、時鐘頻率：6.0MHz3、存儲器：程序存儲器與數(shù)據(jù)存儲器統(tǒng)一編址，最多可達64k.２圖1-2 PC機和試驗系統(tǒng)的根本連接存儲器根本地址安排EL-MUT-III型單片機/微機教學試驗系統(tǒng)的存儲器容量：板載ROM(監(jiān)控程序27C256)12k；在程序存儲器中，0000H----2FFFH存儲器區(qū)。RAM1(程序存儲器6264)8k供用戶下載試驗程序，可擴展達32k；用戶可用，4000H 5FFFHRAM26264)8k32k6000H----7FFFH，供用戶試驗程序使用。(RAM程序存儲器與數(shù)據(jù)存儲器不行同時擴至32k，〔1-3：存儲器組織圖。I/OFFFFHI/OD000HCFEFHI/O空間I/OCFBFHRAM28000H7FFFH用戶試驗程序區(qū)供用戶下載試驗程序6000H5FFFHRAM區(qū)5000H4FFFHRAM14000H3FFFH數(shù)據(jù)區(qū)2000H３2FFFH2FFFHROM〔12kB〕系統(tǒng)監(jiān)控程序區(qū)ROM區(qū)0000H1-3：存儲器組織圖留意：因戶試驗程序區(qū)位于4000H 5FFFH，用戶在編寫試驗程序時要留意，程4000H，所用的中斷入口地址均應在原地址的根底上，加4000H。確認需連接的目標文件的源文件名全部包含在當前已翻開的工程文件之中，假設沒有，則需要重建立或翻開的工程文件，并包含源文件。ICSEGATXXXXHPC=0000H4100H8051CSEGat0000H ;LJMPstart;CSEGat4100H ;start：movsp,60H ;?END;II、在源程序為高級語言時，程序定位的方法只能使用在此參數(shù)項中輸入?yún)?shù)來解決。III、堆棧大小參數(shù)，該選項只有在高級源程序連接時才有效，在匯編語言中，堆棧的大小和位置可直接用偽指令在源程序說明。DSEGatXXh(位置)stack1: DSXXh(長度)在源程序中包含如下語句：?movsp,#stack1;?或者：?ldsp,#stack1;４?在高級語言中，輸入堆棧的或許長度，堆棧的位置由RAM參數(shù)確定。用戶中斷入口地址安排0的原中斷入口為0003H04003H1-1。1-1：用戶中斷程序入口表中斷名稱 8051原中斷程序入口 用戶試驗程序響應程序入口外中斷0 0003H 4003H定時器0中斷 000BH 400BH外中斷1 0013H 4013H定時器1中斷 001BH 401BH串行口中斷 0023H 4023H存儲器的資源安排本系統(tǒng)承受可編程規(guī)律器件〔CPLD〕EPM7128做地址的編譯碼工作，可通過芯片的JTAG接口與PCCPLD，完成系統(tǒng)器件，如監(jiān)控程序存儲器、用戶程序存儲器、數(shù)據(jù)存儲器、系統(tǒng)顯示掌握器、系統(tǒng)串行通訊掌握器等的地址譯碼功能，同時也由局部地址單元經(jīng)譯碼后輸出〔插孔CS0---CS5〕給用戶使用，他們的地址固定，用戶不行轉(zhuǎn)變。具體的對應關系見表1-2。另一局部為CPLD，它完全對用戶開放，用戶可在肯定的地址范圍內(nèi)，進展編譯碼，LCS0LCS71—2。５留意，用戶的地址不能與系統(tǒng)相沖突，否則將導致錯誤。５地址范圍輸出孔/映射器件性質(zhì)〔系統(tǒng)/用戶〕0000H---2FFFH監(jiān)控程序存儲器系統(tǒng)*3000H---3FFFH數(shù)據(jù)存儲器系統(tǒng)*4000H---7FFFH用戶程序存儲器系統(tǒng)*8000H---CFDFHLCS0---LCS7用戶CFE0HPC8250系統(tǒng)*CFE8H8279系統(tǒng)CFA0H---CFA7HCS0系統(tǒng)CFA8H---CFAFHCS1系統(tǒng)CFB0H---CFB7HCS2系統(tǒng)CFB8H---CFBFHCS3系統(tǒng)CFC0H---CFC7HCS4系統(tǒng)CFC8H---CFCFHCS5系統(tǒng)CFD0H---FFFFHLCS0 LCS7用戶注：系統(tǒng)地址中，除帶“*”用戶既不行用，也不行改外，其他系統(tǒng)地址用戶可用但不行改。1—2：CPLD2、8051〔I/O〕試驗室的試驗板的地址的安排可用圖1-2所示。地址范圍輸出孔/映射器件性質(zhì)〔系統(tǒng)/用戶〕CFA0H---CFA7HCS0系統(tǒng)CFA8H---CFAFHCS1系統(tǒng)CFB0H---CFB7HCS2系統(tǒng)CFB8H---CFBFHCS3系統(tǒng)CFC0H---CFC7HCS4系統(tǒng)CFC8H---CFCFHCS5系統(tǒng)CFD0H---FFFFHLCS0 LCS7用戶CFE0HPC8250系統(tǒng)*CFE8H8279系統(tǒng)8051的供給的根本試驗為了提高教學試驗質(zhì)量，提高試驗效率，在該系統(tǒng)的試驗板上，除微處理器外、程序存儲器、數(shù)據(jù)存儲器外，還增加了8255825082798253A/DD/A輸出電路等模塊，各局部電路既相互獨立、又可敏捷組合，能滿足各類學校，不同層次微機試驗與培訓要求?？晒┙o的試驗如下：、8051P1、簡潔的擴展輸入、輸出試驗、8051/計數(shù)器試驗６電源系統(tǒng)、8051、8279LED、8255、8253/計數(shù)器試驗、8259、串行口通訊試驗、ADC0809A/D、DAC0832D/A、存儲器擴展試驗、交通燈控試驗該系統(tǒng)的電源供給了兩種解決方案：1、利用PCPC機內(nèi)引出一組電源，從CPU板的+5V、+12V、—12V2、外接220V本系統(tǒng)只需更換不同的cpu8051、8086、80196試驗。附錄:511、最小系統(tǒng):根本的I/OP0,P1,P2,P381-451７其次章 根本電路介紹單片機/PCB簡介PCBEL-MUT-III型微機教學試驗系統(tǒng)由電源、系統(tǒng)板、CPU機串口通訊線、JTAG通訊線及通用連接線組成。試驗板的實物照片見圖2-1，試驗板的2-2和鍵盤和簡潔I/O2-3EL-MUT-III微機教學試驗系統(tǒng)外形美觀，具有優(yōu)良的電特性、物理特性，便于安裝，運行穩(wěn)定，可擴展性強。試驗板上的插孔供學生試驗時，插入電路芯片引腳電路的各種連接線使用。一、硬件資源1825528250芯片一個，系統(tǒng)與主機通訊用，用戶不行用。單片機的串行口，可供用戶使用。3LED8279CFE8H、CFE9H。硬件系統(tǒng)要求編碼掃描顯示。4LED5ADC0809A/D1—86DAC0832D/A7874LS244874LS273開放。8889106.0MHz進展1〔CLK二分頻CLK(CLK2(CLK3CLK〕輸出方波。11、配有一路0---5V連續(xù)可調(diào)模擬量輸出AN。12、配有可編程定時器8253一個，其地址、三個定時器的門控輸入、掌握輸出均對用戶開放。138259一個，其中斷IRQ14、22８15、配有兩塊可編程器件EPM7064，一塊被系統(tǒng)占用。另一塊供用戶試驗用。兩塊器件皆可通過JTAG９ 51單片機試驗指導書 圖2-1 試驗系統(tǒng)的電路板照片１０圖2-2 試驗板的功能區(qū)１１圖2-3 試驗板的鍵盤和簡潔I/O區(qū)的電路板照片１２ 51單片機試驗指導書 1316、敏捷的電源接口：配有PC機電源插座，可與PC電源直接接駁。另外還配有外接開關電源，供給所需的+5V，±12V，220V5151P0,端口P2DB0-DB地址總線AB0---AB15,由端口P3的WR,RD/EA,/PSEN圖2-4 EL-MUT-III型單片機試驗箱的地址譯碼電路的參考電路圖地址總線AB15—A0的高位地址，經(jīng)地址譯碼器74LS138產(chǎn)生了芯片的選通信號。其中/CS0,/CS1,/CS2………就是芯片的片選信號。試驗板的調(diào)試和測試1-2所示的PC機和試驗系統(tǒng)的根本連接，進展系統(tǒng)的連接。接通溝通電源。接通試驗箱的電源開關，試驗箱通電。當系統(tǒng)上電后，數(shù)碼管顯示，TX發(fā)光二極管閃耀，假設沒運行系統(tǒng)軟件與上位機〔PC〕連接則3秒后數(shù)碼管顯示P_，假設與上位機建立連接則顯示C_。此時系統(tǒng)監(jiān)控單元27C25、通訊單元825MAX23、顯示單元827，7545，74LS24、系統(tǒng)總線、系統(tǒng)CPLD正常。假設特別則按以下步驟進展排解：1234RX、TX8279RXTX8250晶振信號，斷電調(diào)換通訊單元芯片。5用通信電纜將EL-MUT-III型單片機教學試驗系統(tǒng)側(cè)面的 RS232接口與PC機的COM口相連接。啟動EL-MUT-III型單片機教學試驗系統(tǒng)的電源開關， EL-MUT-III型單片機教學試驗系統(tǒng)面板上的LED顯示“199502，幾秒后顯示P-。雙擊桌面MCS511-1511-2。圖1-1 圖1-2如需轉(zhuǎn)變串口和波特率，在相應列表框中修改。點擊“確定”按鈕后，馬上試驗系PRESELEDCPC51EL〔80C51〕1-3。圖1-3 51EL型〔80C51〕教學試驗環(huán)境地面通過“文件菜單建或翻開匯編語言文件，也可通過工具按鈕建匯編文件建匯編文件的擴展名為.ASM。用“編譯”菜單下的匯編命令或工具按鈕對匯編文件進展匯編。如有錯誤，對文件重編輯，直至匯編無錯誤為止。用“調(diào)試”菜單下的“調(diào)試”命令或工具按鈕進入“調(diào)試”界面，如圖1-4。圖1-4 “調(diào)試”界面用“調(diào)試”菜單下各調(diào)試命令，如圖 1-5對匯編文件進展調(diào)試，或用工具按鈕對匯編文件進展調(diào)試。工具按鈕的功能如圖1-6。1-51-6第三章上機指導試驗一P1口試驗〔一〕一、試驗目的：學習P1口作為輸出口的使用方法。延時子程序的編寫和使用。二、試驗設備：EL-MUT-III型單片機試驗箱、8051CPU模塊。三、試驗原理：2-1-1。圖2-1-1 P1口輸出試驗電路P1口的使用方法P1口為準雙向口，每一位都能獨立地定義為輸入位或輸出位。作為輸入位時，必需向89S510延時程序的實現(xiàn)統(tǒng)時間允許的狀況下可以承受后一種方法。6.0MHZ12÷6us=2us。0.1s的程序如下：MOVR7，#X 〔1〕DEL1：MOVR6，#200 〔2〕DEL2：DJNZR6，DEL2 〔3〕DJNZR7，DEL1 〔4〕程序中X為延時值。指令MOV、DJNZ需兩個機器周期，所以每執(zhí)行一條指令需要4us。延時程序中X值應滿足下式：4 + X( 4 + 200×4 + 4 〕=0.1×106指令〔1〕時間 指令〔2〕時間 指令〔3〕時間 指令〔4〕時間故X=123.75D=7CH將X=123.75D=7CH代入上式，得到實際延時時間約為0.1002S。3．程序流程圖：程序流程圖見圖2-1-22-1-3。 圖2-1-2 點亮發(fā)光二極管程序流程圖 圖2-1-3左移循環(huán)點亮發(fā)光二極管程序流程圖四、試驗內(nèi)容與步驟試驗內(nèi)容：P1口做輸出口，接八只發(fā)光二極管，依據(jù)程序流程圖2-1-2，編寫程序使P1口8個發(fā)光二極管同時熄滅-----延時 點亮。1-3，編寫程序使P18個發(fā)光二極管每隔一個左移循環(huán)點亮。試驗步驟：將P1.0～P1.7分別連接發(fā)光二極管L1～L8。按流程圖2-1-2編寫程序，對程序進展編輯、匯編直至無語法錯誤。調(diào)試程序：單步調(diào)試，觀看并記錄相應存放器內(nèi)容及發(fā)光二極管L1～L8的狀態(tài)。全速運行程序，觀看并記錄發(fā)光二極管L1～L8的狀態(tài)。4〕2、32的試驗。五、試驗報告寫出訪P1口8個發(fā)光二極管同時熄滅-----延時 點亮源程序清單，并對每條指令賜予注解。P18LED每隔一個〔或二個〕左移循環(huán)點亮源程序清單，并對每條指令賜予注解。六、思考題轉(zhuǎn)變延時常數(shù)，重做試驗。修改程序，使LED發(fā)光方式、方向等轉(zhuǎn)變。七、編寫程序：8LED程序清單循環(huán)點亮LED程序清單試驗二P1口試驗〔二〕一、試驗目的：P1口作為輸入口的使用方法。把握數(shù)據(jù)輸入、輸出程序的設計方法。二、試驗設備：EL-MUT-III型單片機試驗箱、8051CPU模塊三、試驗原理：P12-2-1圖2-2-1 P1口作為輸入口試驗電路程序流程圖：程序流程圖見圖2-2-2。四、試驗內(nèi)容與步驟：

圖2-2-2 顯示P1口狀態(tài)程序流程圖試驗內(nèi)容：P12-2-P1口的P1.0-P1.8分別接8個單刀雙鄭開關K1~K74LS273做輸出口接八個LED，編寫程序讀取開關K1-K8狀態(tài)，并在LED上顯示出來。試驗步驟：2-2-1連線，CS273接CS0。2-2-2編寫相應程序，對程序進展編輯、匯編直至無語法錯誤。調(diào)試程序，撥動開關K1-K8，觀看并記錄程序運行結(jié)果。五、試驗報告仿照試驗一，寫出相應的試驗報告。六、思考題2-2-174LS273的作用是什么？2-2-1LED1800，電路和程序如何修改？七、編寫程序：LED將P1口的狀態(tài)顯示試驗三中斷試驗一、試驗目的：外部中斷技術的根本使用方法。中斷處理程序的編程方法。中斷嵌套處理程序的編程方法。二、試驗設備：EL-MUT-III型單片機試驗箱、8051CPU模塊三、試驗原理：2-4-1。圖2-4-1 外部中斷試驗電路程序流程圖：程序流程圖見圖2-4-2。四、試驗內(nèi)容與步驟：

圖2-4-2 K1中斷掌握LED程序流程圖試驗內(nèi)容：單一外部中斷掌握：按K1INT0端產(chǎn)生中斷信號，從而使P18LED同時閃耀5次。〔中斷嵌套K18LEDK2LED13次。試驗步驟：2-4-1連接線路。依據(jù)程序流程圖編寫程序，編輯程序并進展匯編。運行程序，觀看并記錄LED顯示狀況。22-3步驟。觀看并記錄程序運行結(jié)果。五、試驗報告1內(nèi)容寫出相應的試驗報告。2的程序框圖對程序語句加以注解。六、思考題如何在程序中實現(xiàn)INT1的中斷優(yōu)先權高于INT0中斷優(yōu)先權？七、參考程序：;試驗四;INT0中斷試驗程序;8LED熄滅，等待INT0中斷試驗四定時器/計數(shù)器試驗〔一〕一、試驗目的：89S51內(nèi)部定時器、計數(shù)器的使用和編程方法。定時器中斷處理程序的編程方法。二、試驗設備：EL-MUT-III型單片機試驗箱、8051CPU模塊三、試驗原理：2-5-1。2-5-1定時器試驗電路定時常數(shù)確實定承受定時器中斷方法可實現(xiàn)時間延時，延時時間由主頻和定時器方式來確定。本試驗中時鐘頻率為6.0MHZ，其延時時間最大值約為0.13s〔方式一下。假設要產(chǎn)生0.5秒延時時間，需承受定時器定時和軟件計數(shù)的方法來實現(xiàn)。為此我們可在主程序中設置初值〔R0〕為05H0.1s的定時器。這樣定時器每隔0.1s產(chǎn)生一次中斷，CPU響應中斷后將R00.5s延時。定時器時間常數(shù)確實定方法如下：機器周期=12÷晶振頻率=12/(6×106)=2〔us〕=2×10-6〔s〕定時器工作于方式一，設計數(shù)初值為X，則有〔216-X〕×2×10-6s=0.1s，由此可求得X=15536D=3CB0H。故初始值為TH=3CH，TL=B0H初始化程序IP、IE、TCON、TMOD的相應位進展正確的設置，并將時間常數(shù)送入定時器中。設計中斷效勞程序和主程序次中斷做預備。主程序則用來掌握發(fā)光二極管按要求挨次燃滅。程序流程圖：程序流程圖見圖2-5-2。圖2-5-2 定時器T0中斷掌握LED程序流程圖四、試驗內(nèi)容與步驟：1．試驗內(nèi)容：10.5LED1～LED8閃耀。2．試驗步驟：2-5-1連接線路。依據(jù)程序流程圖編寫程序，編輯程序并進展匯編。運行程序，觀看并記錄LED顯示狀況。五、試驗報告依據(jù)試驗內(nèi)容寫出相應的試驗報告〔變化把戲可自行設計六、思考題02，能否實現(xiàn)本試驗功能？如能，修改程序并調(diào)試。2-5-3，編寫用T0中斷掌握LED5次的程序。七、編寫程序：

圖2-5-3 定時器T0中斷掌握LED閃耀5次程序流程圖試驗五定時器定時0.5S中斷試驗，LED閃耀，R0：0.5s延時循環(huán)次數(shù)試驗五定時器/計數(shù)器試驗〔二〕——倒計時試驗一、試驗目的：進一步把握定時器的使用和編程方法。了解七段數(shù)碼顯示數(shù)字的原理。把握用一個段鎖存器，一個位鎖存器同時顯示多位數(shù)字的技術。二、試驗設備：EL-MUT-III型單片機試驗箱、8051CPU模塊三、試驗原理：2-6-1。圖2-6-1 計數(shù)器試驗電路〔掃描8031CPU的P174LS273段鎖存器，供給動態(tài)顯示的段碼。四、試驗題目利用定時器1定時中斷，掌握電子鐘走時，利用試驗箱上的六個數(shù)碼管顯示分、秒，做成一個電子鐘。顯示格式為： 60 秒定時時間常數(shù)計算方法為：11，6MHZ，故預置值Tx〔2+16-Tx〕x12x1/〔6x10+6〕=0.1sTx=15535D=3CAFHTH1=3CH，TL1=AFH五、試驗電路：六、試驗接線：本試驗用P174L273組成。P1P1.0～P1.5LED6～LED1,74LS273O0～O7與LED～LEDDp的段碼相連,片選信號CS273與CS0相連〔CFA0接。七、程序流程圖：六、思考題02，能否實現(xiàn)本試驗功能？如能，修改程序并調(diào)試。承受查詢方式編寫程序，實現(xiàn)外部脈沖進展計數(shù)掌握LED。七、參考程序：試驗六鍵盤掃描試驗一、試驗目的：1把握按鍵的構(gòu)造及編程方法。二、試驗設備：EL-MUT-III型單片機試驗箱、8051CPU模塊三、試驗原理：2-7-1。圖2-7-1 8255A接口試驗電路四、試驗內(nèi)容步驟：試驗內(nèi)容：編寫程序讀取按鍵的值開關狀態(tài)，在數(shù)碼管上顯示出來。試驗步驟：2-7-1連接線路。編寫程序，編輯程序并進展匯編。運行程序，按下按鍵，觀看并記錄數(shù)碼管顯示狀況。五、試驗報告依據(jù)試驗內(nèi)容寫出相應的試驗報告。六、編寫程序：試驗七8A/DADC0809接口試驗一、試驗目的：了解A/D轉(zhuǎn)換器ADC0809的工作原理。把握ADC080989S51接口電路設計方法。把握A/D轉(zhuǎn)換程序編程方法。二、試驗設備：EL-MUT-III型單片機試驗箱、8051CPU模塊、數(shù)字萬用表三、試驗原理：2-8-1。圖2-8-1 89S51與ADC0809接口電路A/DA/D轉(zhuǎn)換的軟件設計方也不同。常用的掌握方式有程序查詢、定是采樣和中斷方式。2-8-2。四、試驗內(nèi)容與步驟試驗內(nèi)容從ADIN0輸入模擬信號VIN〔0～5V，間隔為0.25V〔即0V、0.25V0.5V、0.75V 5V〕用萬用表電壓檔測量該模擬信號的大小。啟動A/D轉(zhuǎn)換。用轉(zhuǎn)換后數(shù)字量與萬用表測量結(jié)果進展比較。用模擬電壓作橫坐標，轉(zhuǎn)換后的數(shù)字量作縱坐標作D-VADC0809的數(shù)字D〔換算為十進制叔VINA/D轉(zhuǎn)換的線性度。試驗步驟：2-8-1連線。ADIN0接AN0，參考程序承受查詢法，因此ADC0809EOC引腳不連接。通過“V.ARJIN00V0.25V。輸入程序。對每個電壓值，運行程序。轉(zhuǎn)換后的數(shù)字量保存于20H開頭的單元。20H開頭的單元中的數(shù)據(jù)，并填入表格。VIN〔V〕VOUT(H)0.000.250.500.751.001.251.501.752.002.25VOUT(D)VIN〔V〕VOUT(H)2.502.753.003.253.503.754.004.254.504.755.00VOUT(D)圖2-8-2 A/D轉(zhuǎn)換試驗流程圖五、試驗報告依據(jù)試驗內(nèi)容寫出相應的試驗報告。用模擬電壓作橫坐標，轉(zhuǎn)換后的數(shù)字量作縱坐標作D-VADC0809的數(shù)字D〔換算為十進制叔VINA/D轉(zhuǎn)換的線性度。六、思考題假設程序承受中斷法，電路應如何連接？畫出中斷法流程圖，修改程序，重做試驗。七、參考程序：試驗八A/D采樣程序試驗八8D/ADAC0832接口試驗一、試驗目的：了解D/A轉(zhuǎn)換器DAC0832的工作原理。把握DAC083289S51接口電路設計方法。把握D/A轉(zhuǎn)換程序編程方法。二、試驗設備：EL-MUT-III型單片機試驗箱、8051CPU模塊三、試驗原理：2-9-1。圖2-9-1 89S51與DAC0832接口電路D/A轉(zhuǎn)換是把數(shù)字量轉(zhuǎn)換成模擬量的變換，從D/A輸出的是模擬電壓信號。產(chǎn)生鋸齒波和三角波只需由A存放的數(shù)字量的增減來掌握。MOVDPTR，#PORT；輸入存放器端口地址送DPTRMOVA，#DATA；轉(zhuǎn)換初值MOVX@DPTR，A；送數(shù)據(jù)到輸入存放器鎖存INCDPTR；DAC存放器端口地址送DPTRMOVX@DPTR，A；送數(shù)據(jù)到DAC存放器鎖存并進展D/A轉(zhuǎn)換圖2-9-1為雙緩沖接口電路，數(shù)據(jù)要經(jīng)過輸入存放器和DAC存放器兩級緩沖后才能進D/ADACA1MOVDPTR，#PORT；輸入存放器端口地址送DPTRMOVA，#DATA；轉(zhuǎn)換初值MOVX@DPTR，A；送數(shù)據(jù)到輸入存放器鎖存INCDPTR；DAC存放器端口地址送DPTRMOVX@DPTR，A；送數(shù)據(jù)到DAC存放器鎖存并進展D/A轉(zhuǎn)換其中其次次I/O寫是一個虛擬寫過程，其目的只是產(chǎn)生一個WR信號，來啟動D/A。程序流程圖：四、試驗內(nèi)容與步驟試驗內(nèi)容利用DAC0832，編制程序產(chǎn)生鋸齒波、三角波程序。試驗步驟：DAC0832的片選CS0832接CS0，輸出端DAOUT、GND接示波器探頭。2-9-1DS1、2短路。編寫鋸齒波、三角波程序，并運行程序。記錄示波器顯示的圖形。五、試驗報告依據(jù)試驗內(nèi)容寫出相應的試驗報告，畫出鋸齒波、三角波程序流程圖。六、思考題設計產(chǎn)生方波、階梯波、正弦波的程序。提示：要產(chǎn)生正弦波，較簡潔的方法是建立一張正弦數(shù)字量表。取值范圍為一個周期，采樣點越多，精度就越高。七、編寫程序：試驗九1 鋸齒波輸出程序試驗九2 三角波的輸出程序試驗九串行口試驗一、試驗目的：

———單機串行通信試驗80311把握串行通訊中波特率的設置，了解MCS-51單片機串行口〔UART〕的構(gòu)造。在給定通訊波特率的狀況下，會計算定時時間常數(shù)。二、試驗設備：EL-MUT-III8051CPU三、試驗原理：MCS-51單片機串行通訊的波特率隨串行口工作方式選擇的不