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峰值電流限流的優(yōu)化方案電子設(shè)計應(yīng)用摘要:通過采用峰值電流限流的方法,電流限制功能可以使電感電流在超出閾值時抑制電源轉(zhuǎn)換器的升關(guān)電流。但是,由于比較器延時,有效閾值削減問題通常難以避免。本文將針對這一問題,介紹一種峰值電流限流的優(yōu)化方案。引言電流限制是升關(guān)式電源轉(zhuǎn)換器的一個重要保護(hù)功能,它可以在電流限制模式下限制可用的輸出電流,以防止出現(xiàn)系統(tǒng)故障。峰值電流限制是目前業(yè)內(nèi)普遍采用的電流限制方法。每當(dāng)電感的電流IL超出閾值IV時,電源轉(zhuǎn)換器的升關(guān)(如圖1所示)便會關(guān)斷,以制止電流從輸入電壓源VIN注入,直至IL小于IV時,升關(guān)才會重新開通。由于輸出電流IOUT總是等于IL的平均值(在工作期間IL呈線型紋波),故在電流限制模式下的IOUT(CL,DES)為:崩一―章滓空 (1)式中的IL(RIPPLE)是IL紋波的峰峰值。一般而言,通常采用比較器來檢測IL是否超出IV,以決定關(guān)斷或重新開通??墒?,比較器會帶來延時tD,影響閾值的有效值。如圖2所示,比較器在t1時刻檢測到IL<p>V,可是偶遇延時tD,升關(guān)會在t2時刻被恢復(fù)?;谶@個原因,有效閥值IN便會低于IV,這樣,實際的輸出IOUT(CL)為:二匚⑴―"?.一必.[.,頃... (2)當(dāng)IN<>V時,上述數(shù)值便會小于IOUT(CL,DES)。結(jié)果,在比較器中的tD會消減IOUT(CL)。進(jìn)一步研究,可發(fā)現(xiàn)IN會受電感L的影響??紤]到IL的電流變化率為:-(3)由一L式中的t是時間,而VOUT是電源轉(zhuǎn)換器(如圖1所示)的輸出電壓。當(dāng)L減小時,便會相應(yīng)減少。?由于tD不會受ILS、L和VOUT影d*響,并且VOUT也不受L影響,所以IN會隨著L而下降。這種關(guān)系可用下式表示:圖1降壓電源轉(zhuǎn)換器從式(4)中可清楚地看到IN-IV由增大L或減少tD來降低??墒歉呒夒娫崔D(zhuǎn)換器為減少元件尺寸,已傾向于朝著高頻化發(fā)展。因此,預(yù)計L會比較小。另一方面,tD的減少會導(dǎo)致比較器的轉(zhuǎn)換速率增大,這會增加功率的損耗,從而降低整體的轉(zhuǎn)換效率。再者,工作頻率有可能超出1MHz,使升關(guān)周期達(dá)至1ms。毫無疑問,tD的減少意味著比較器的帶寬很高,這在現(xiàn)實中很難實現(xiàn)。由此可以看出,在這種情況下,較小的L會被使用,加上tD也與升關(guān)周期相匹配,所以IN將會在工作頻率較高時降低。結(jié)果,IOUT(CL)會在工作頻率較高時明顯小于IOUT(CL,DES),并會在低工作頻率時維持正常水平。盡管IV可設(shè)定為較高值,以確保IOUT(CL)可達(dá)到IOUT(CL,DES),但這種超常的設(shè)計會為MOSFET帶來一些問題。比如說,為了在電流限制模式下處理更多的電流,需要更大的電感和電路板尺寸。前者將會增加整體電路的大小和成本,而后者則會增加電路的生產(chǎn)成本。圖2電感器電流波形(檢測到IL優(yōu)化方案要減少IOUT(CL)的下降,建議使用一個可變的IV來取代一個固定的IV。IV的變化取決于IL(RIPPLE)的平均值:即輸出電流IOUT。在電流限制模式下,假如IOUT(CL)由于tD而減少,那么IV將會增加,直至IOUT(CL)達(dá)到ILR參考值。這樣,IOUT(CL)將不會再受到tD的影響。優(yōu)化提案的框圖如圖3所示。當(dāng)中采用一個低通濾波器(LPF)來均化IL及其輸出,并且給出一個誤差放大器的ILR參考值。采用一個積分器,通過誤差放大器的輸出可以產(chǎn)生一個可變IV。結(jié)果,I可達(dá)到一個令I(lǐng)OUT(CL)與ILR相等的值,而IOUT(CL)也可脫離tD的影響。

圖3改良方案的模塊圖圖4傳統(tǒng)方案的模擬結(jié)果圖5改良方案的模擬結(jié)果為了說明這個方案,圖1中的降壓轉(zhuǎn)換器會采用這些配置:L=20mH、COUT=47mF、RL值在2.64W(正常模式)~1.1W(電流限制模式)間轉(zhuǎn)換,并會使用一個tD=100ns的比較器,而IOUT(CL,DES)和IL(RIPPLE)分別是2.5A和0.3A。不過,如果使用傳統(tǒng)的峰值電流限制方法,那么式(1)中的IV便會設(shè)定為2.35A,傳統(tǒng)方法的模擬結(jié)果如圖4所示。由此可以看到,IOU

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