標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 2423.22-2002 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化》與《GB 2423.22-1981》相比,在內(nèi)容上進(jìn)行了多方面的更新和補(bǔ)充,主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面:

首先,標(biāo)準(zhǔn)的編號(hào)從GB變更為GB/T,表明該標(biāo)準(zhǔn)由強(qiáng)制性國家標(biāo)準(zhǔn)調(diào)整為推薦性國家標(biāo)準(zhǔn)。這種變更意味著其適用范圍更加靈活,鼓勵(lì)企業(yè)根據(jù)自身情況進(jìn)行采納。

其次,在試驗(yàn)條件方面,《GB/T 2423.22-2002》對(duì)溫度變化速率、保持時(shí)間等關(guān)鍵參數(shù)給出了更明確的規(guī)定,并增加了不同類型產(chǎn)品的具體要求,使得試驗(yàn)更具針對(duì)性和實(shí)用性。例如,對(duì)于某些敏感電子元件或設(shè)備,新標(biāo)準(zhǔn)可能設(shè)定了更為嚴(yán)格的溫度變化速率限制以確保測試的有效性和安全性。

再者,新版標(biāo)準(zhǔn)中引入了更多關(guān)于如何進(jìn)行試驗(yàn)準(zhǔn)備工作的指導(dǎo)信息,包括樣品選擇原則、預(yù)處理步驟以及詳細(xì)的試驗(yàn)程序描述等內(nèi)容,旨在幫助使用者更好地理解和執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)要求。同時(shí),還加強(qiáng)了對(duì)試驗(yàn)過程中可能出現(xiàn)的問題及解決方法的說明,提高了實(shí)際操作中的可操作性和準(zhǔn)確性。


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  • 2002-06-13 頒布
  • 2003-01-01 實(shí)施
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GB/T 2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)N:溫度變化-免費(fèi)下載試讀頁

文檔簡介

ICS19.040K04C中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T2423.22-2002/IEC60068-2-14:1984代替GB/T2423.22-1987電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)N;溫度變化Environmentaltestingforlectricandelectronicproducts-Part2:TestmethodsTestN:Changeoftemperature(IEC60068-2-14:1984,BasicenvironmentaltestingproceduresPart2:Tests-TestN:Changeoftemperature.IDT)2002-06-13發(fā)布2003-01-01實(shí)施中華:人民共和愛布國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

GB/T2423.22-2002/1EC60068-2-14:1984前言試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)的歷史概況試驗(yàn)Na:規(guī)定轉(zhuǎn)換時(shí)間的快速溫度變化1.1目的1.2試驗(yàn)的一般說明1.3試驗(yàn)設(shè)備的說明1.4嚴(yán)酷等級(jí)1.5初始檢測1.6條件試驗(yàn)1.7恢復(fù)1.8最后檢測1.9)相關(guān)規(guī)范應(yīng)給出的信息2試驗(yàn)Nb:規(guī)定溫度變化速率的溫度變化2.1目的2.2試驗(yàn)的一般說明2.3試驗(yàn)設(shè)備的說明2.4嚴(yán)酷等級(jí)2.5初始檢測2.6條件試驗(yàn)2.7恢復(fù)2.8最后檢測2.9相關(guān)規(guī)范應(yīng)給出的信息3試驗(yàn)Nc:兩液槽法溫度快速變化3.1目的······*3.2試驗(yàn)的一般說明3.3試驗(yàn)設(shè)備說明3.4嚴(yán)酷等級(jí)3.5初始檢測3.6條件試驗(yàn)3.7恢復(fù)3.8最后檢測3.9相關(guān)規(guī)范應(yīng)給出的信息

GB/T2423.22-2002/IEC60068-2-14:1984前GB/T2423的本部分等同采用IEC60068-2-14:1984(原IEC68-2-14:1984英文版)《基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)N:溫度變化》及其修正件1:1986。修正件見50B(中央辦公室)259號(hào)文本部分中標(biāo)雙豎線處是IEC60068-2-14:1984修正件1:1986的修正處本部分代替GB/T2423.22—1987《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程!第2部分:試驗(yàn)方法式驗(yàn)N:溫度變化》。本部分與GB/T2423.22—1987主要有下列差異:為與GB/T2423電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)方法系列標(biāo)準(zhǔn)的名稱協(xié)調(diào)一致,本部分名稱為《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)N:溫度變化》。GB/T2423.22—1987試驗(yàn)方法是等效采用國際標(biāo)準(zhǔn)IEC60068-2-14《基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)N:溫度變化》1984年版)及其修正件1:1986。在編寫格式與表達(dá)方式上與IEC60068-2-14:1984有差異根據(jù)GB/T1.1—2000《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部分:標(biāo)準(zhǔn)的結(jié)構(gòu)和編寫規(guī)則)4.7中采用國際標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定“對(duì)于等同采用國際標(biāo)準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)文本.其結(jié)構(gòu)應(yīng)與被采用的國際標(biāo)準(zhǔn)一致”原則,本部分在技術(shù)內(nèi)容、文本結(jié)構(gòu)和措辭、編寫方法和順序等方面與IEC60068-2-14:1984相同。本部分在編寫格式上僅作個(gè)別編輯性修改。本部分是GB/T2423電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)方法系列標(biāo)準(zhǔn)之一,本部分涉及到與IEC出版物相對(duì)應(yīng)的國家標(biāo)準(zhǔn)有:GB/T2423.1—2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)A:低溫(idtIEC60068-2-1:1990)電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)GB/T2423.2—2001試驗(yàn)B:高溫(idtIEC60068-2-2:1974)GB/T2424.13—2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則(idtIEC60068-2-33:1971)本部分由中國電器工業(yè)協(xié)會(huì)提出。本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(CSBTS/TC89)歸口本部分起草單位:廣州電器科學(xué)研究所。本部分起草人:章蓄英。本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為:GB2423.22—1981、GB2423.22-1987

GB/T2423.22-2002/IEC60068-2-14:1984試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)的歷史概況第一版1954僅包含一個(gè)程序,試驗(yàn)Na:快速溫度變化.兩箱法。第二版1960等同于上述的試驗(yàn)Na:但轉(zhuǎn)換時(shí)間為(2~3)min代替最大5min.第三版1969介紹:試驗(yàn)Na-兩箱法,等同于上述的試驗(yàn)Na,把30min試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間的選擇方案加到3h,且選取較高和較低溫度以代替試驗(yàn)A和試驗(yàn)B的強(qiáng)迫限制。試驗(yàn)Nb-一箱法。試驗(yàn)NC兩水槽法第四版1974介紹:試驗(yàn)Na——-兩箱法,等同于以前的試驗(yàn)Na.但增加了對(duì)某些箱子的要求,并包括了散熱試驗(yàn)樣品的試驗(yàn)。試驗(yàn)NC一-兩水槽法·無變化第五版1984介紹:試驗(yàn)Na一-具有規(guī)定轉(zhuǎn)換時(shí)間的快速溫度變化,等同于以前的試驗(yàn)Na,但給出的轉(zhuǎn)換時(shí)間規(guī)定得更精確,并有較長的暴露時(shí)間:試驗(yàn)小b—-具有規(guī)定變化速率的溫度變化,等同于以前的試驗(yàn)Nb.但規(guī)定了溫度變化速率,并給出了較長的暴露時(shí)間。試驗(yàn)Ne——快速溫度變化兩液槽法,等同于以前的試驗(yàn)Ne.但試驗(yàn)時(shí)不再限制用水量.并更精確地規(guī)定了持續(xù)時(shí)間參數(shù)

GB/T2423.22-2002/IEC60068-2-14:1984電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)N:溫度變化引高溫度變化試驗(yàn)適用于確定一次或連續(xù)多次溫度變化對(duì)試驗(yàn)樣品的影響。本試驗(yàn)不能用來考核僅由高溫或低溫所引起的影響,對(duì)這種影響,應(yīng)使用高溫或低溫試驗(yàn)方法影響溫度變化試驗(yàn)的主要參數(shù)是:-溫度變化范圍的高溫和低溫溫度值;試驗(yàn)樣品在高溫和低溫下的保持時(shí)間;低溫到高溫或高溫到低溫之間溫度變化的速率:條件試驗(yàn)循環(huán)數(shù);試驗(yàn)樣品吸收或放出之總熱量。有關(guān)選擇適用的試驗(yàn)參數(shù)的導(dǎo)則,見GB/T2424.13—2002《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則》該導(dǎo)則應(yīng)和本部分一起使用試驗(yàn)Na:規(guī)定轉(zhuǎn)換時(shí)間的快速溫度變化11目的確定元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品經(jīng)受環(huán)境溫度迅速變化的能力。。所需的暴露時(shí)間,取決于試驗(yàn)樣品的性質(zhì)1.2試驗(yàn)的一般說明將試驗(yàn)樣品交替暴露于低溫和高溫空氣(或合適的情性氣體)中,使其經(jīng)受溫度快速變化的影響。1.3試驗(yàn)設(shè)備的說明1.3.1試驗(yàn)箱1.3.1.1備有兩臺(tái)試驗(yàn)箱,一臺(tái)低溫箱,一臺(tái)高溫箱.兩箱放置位置應(yīng)能使試驗(yàn)樣品于規(guī)定時(shí)間內(nèi)從-個(gè)箱轉(zhuǎn)移到另一個(gè)箱。轉(zhuǎn)換方法可以用手動(dòng)或白動(dòng)。1.3.1.2試驗(yàn)箱中放置試驗(yàn)樣品的任一區(qū)域內(nèi)應(yīng)能保持試驗(yàn)所規(guī)定的空氣溫度。1.3.1.3箱內(nèi)空氣的絕對(duì)濕度不應(yīng)超過20g/m2水汽。1.3.1.4高溫箱箱壁溫度不應(yīng)超過試驗(yàn)規(guī)定溫度(按開爾文溫度計(jì))的3%,低溫箱箱壁溫度不應(yīng)超過試驗(yàn)規(guī)定溫度(按開爾文溫度計(jì))的8%。這一要求適用于整個(gè)試驗(yàn)箱內(nèi)壁.且試驗(yàn)樣品不應(yīng)受到不符合上述要求的任何加熱或冷卻元件的直接輻射。1.3.1.5試驗(yàn)箱

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