標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 17574-1998 半導(dǎo)體器件 集成電路 第2部分:數(shù)字集成電路》作為中國國家標(biāo)準(zhǔn),規(guī)定了數(shù)字集成電路的分類、命名規(guī)則、型號命名方法及部分技術(shù)要求。然而,您提供的信息中并未直接給出另一個具體的標(biāo)準(zhǔn)或版本以進(jìn)行詳細(xì)的變更對比。不過,我可以基于此類標(biāo)準(zhǔn)更新的一般趨勢和常見變動方向,概述可能包含的幾類變更內(nèi)容,盡管這些不針對某個特定的前一版或后續(xù)版標(biāo)準(zhǔn)。
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分類方法更新:新標(biāo)準(zhǔn)可能會根據(jù)技術(shù)發(fā)展和產(chǎn)品創(chuàng)新,對數(shù)字集成電路進(jìn)行更精細(xì)或重新組織的分類,以適應(yīng)市場上新型集成電路的涌現(xiàn)。
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命名規(guī)則調(diào)整:為了提高命名的統(tǒng)一性和識別度,新標(biāo)準(zhǔn)可能會修訂集成電路的命名規(guī)則,包括增加新的字母或數(shù)字編碼來表示特定的功能、性能指標(biāo)或制造工藝等。
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型號命名方法優(yōu)化:隨著技術(shù)演進(jìn),型號命名方法可能會被簡化或擴(kuò)展,以更好地反映器件的特性和兼容性,便于用戶快速識別和選用合適的集成電路產(chǎn)品。
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技術(shù)要求增補(bǔ)或修改:新標(biāo)準(zhǔn)會根據(jù)行業(yè)進(jìn)步和技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的提升,對數(shù)字集成電路的關(guān)鍵性能參數(shù)提出新的要求或測試方法,如功耗限制、速度等級、工作溫度范圍等,確保產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。
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兼容性與國際標(biāo)準(zhǔn)接軌:為了促進(jìn)國際貿(mào)易和國際間的互認(rèn),新標(biāo)準(zhǔn)可能會參考或采納國際標(biāo)準(zhǔn)中的相關(guān)內(nèi)容,增強(qiáng)國內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)與國際標(biāo)準(zhǔn)的一致性。
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環(huán)境保護(hù)和安全要求:隨著對環(huán)保和電子產(chǎn)品安全性的重視增加,新標(biāo)準(zhǔn)可能會新增關(guān)于材料使用、有害物質(zhì)限制、以及產(chǎn)品廢棄處理等方面的規(guī)定。
由于沒有具體的對比標(biāo)準(zhǔn),以上僅為一般性推測,實(shí)際的具體變更內(nèi)容需要依據(jù)與之相對應(yīng)或前后版本的詳細(xì)比較才能確定。
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 1998-11-17 頒布
- 1999-06-01 實(shí)施
文檔簡介
ICS31.200L55中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T.17574-1998idtIEC748-2:1985半導(dǎo)體器件集成電路第2部分:數(shù)字集成電路SemiconductordevicesIntegratedcircuitsPart2:Digitalintegratedcircuits1998-11-17發(fā)布1999-06-01實(shí)施國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布
GB/T17574-1998二次前言IEC前言IEC序言第I篇總則引言范圍第I篇術(shù)語和文字符號組合和時序集成電路的術(shù)語1.1通用術(shù)語·1.2與功能有關(guān)的術(shù)語1.3電路類型…·1.4與額定值和特性有關(guān)的術(shù)語1.5鎖定術(shù)語·…2示例………………·3存儲器集成電路的術(shù)語·3.1通用術(shù)語………3.2與存儲器功能和結(jié)構(gòu)有關(guān)的術(shù)語·3.3存儲器的類型……心3.4與額定值和特性有關(guān)的術(shù)語·3.5靜態(tài)讀/寫存儲器的典型波形283.6存儲器測試圖形的術(shù)語和說明……4微處理器集成電路的術(shù)語…5電荷轉(zhuǎn)移器件的術(shù)語…組合電路和時序電路的文字符號…6347時序電路(包括存儲器)動態(tài)參數(shù)的文字符號…34R數(shù)字集成電路附加術(shù)語和定義……AA第亞篇基本額定值和電特性第1節(jié)數(shù)字集成電路通用部分電路的識別和說明…·451.1標(biāo)志和類型·451.2工藝·······451.3封裝識別·45
GB/T17574-19982功能說明…….2.1框圖……2.2功能說明·2.3復(fù)雜結(jié)構(gòu)·3定值(極限值)3.1連續(xù)電壓和連續(xù)電流…·3.2非連續(xù)電壓和非連續(xù)電流·3.3溫度·······3.4承受短路的能力…·4推薦工作條件(在規(guī)定的工作溫度范圍內(nèi))5雙極型集成電路的靜態(tài)電特性·5.1數(shù)字電壓信號的基本特性………5.2輸入籍位電壓(適用時)5.3輸入和輸出電流的基本特性·45.4最壞情況的條件·5.5鎖定特性………….…………….6MOS集成電路靜態(tài)和準(zhǔn)靜態(tài)電特性6.1數(shù)字電壓信號的基本特性………·6.2電流的基本特性…6.3鎖定特性………………7動態(tài)電特性……7.1引言?……····7.2表征電路響應(yīng)的時間·7.3保證正確操作順序的輸入要求…7.4輸入和輸出阻抗……電源總功率或電流·………9電源總電流(動態(tài)工作)10指令脈沖資料(適用時)絕緣電阻12機(jī)械額定值、特性和其他資料………5613補(bǔ)充資料·5613.1:輸出負(fù)載能力……………5613.2噪聲容限5613.3數(shù)字集成電路的互連5614注意事項56第1節(jié)的附錄、特性規(guī)范56第2節(jié)存儲器集成電路靜態(tài)和動態(tài)讀/寫存儲器和只讀存儲器電路的識別和說明………
CB/T17574-19982功能說明……572.1572.2功功能描述……57顏定值(極限值)574推薦工作條件(在規(guī)定的工作溫度范圍)57雙極型存儲器的靜態(tài)電特性·576MOS存儲器的靜態(tài)電特性577動態(tài)電特性…………….……·587.1表表征電路響應(yīng)的時間…587.2保保持正確操作順序的輸入端要求…587.3瑜入和輸出電容…………·62電電源功率或電源電流(靜態(tài)工作)……8電源功率或電源電流(動態(tài)工作)10機(jī)械額定值、特性和其他資料….補(bǔ)充資料11.1瑜出負(fù)載能力…………….11.2噪聲容限………6211.3相似單元的互連6211.4輸出電路的類型6211.5與其他類型電路的互連6312注意事項。····69現(xiàn)場可編程只讀存儲器電路的識別和說明……6.32功能說明……….632.1框圖……2.2引出端的識別632.3功能說明·····633顏定值(極限值)·讀方式……4.1椎薦工作條件(在規(guī)定的工作溫度范圍)4.2靜態(tài)電特性……4.3動態(tài)電特性…4.4定定時要求……5;編程方式……655.1編程步驥·655.2推薦的編程條件·655.3定時要求…656擦除方式(適用時)656.1電可擦存儲器…·65
GB/T17574-19986.2紫外線可擦存儲器……………編程一擦除循環(huán)數(shù)…….6n數(shù)據(jù)保存資料……….66.電源功率或電源電流(靜態(tài)工作)66電源功率或電源電流(動態(tài)工作)1066機(jī)械額定值、特性和其他資料··67補(bǔ)充資料6713住意事項6內(nèi)部可尋址存儲器(CAM)電路的識別和說明·67功能說明…6T2.1672.2功能描述·6R2.3指令系統(tǒng)…682.4操作模式…6:3;額定值(極限值)69推薦工作條件(在規(guī)定的工作溫度范圍)6S雙極存儲器的靜態(tài)電特性………MOS存儲器的靜態(tài)電特性65動態(tài)電特性……….…….……………·…·697.1表征電路的響應(yīng)時間·6S7.2保持正確操作順序的輸入端要求?657.3輸入和輸出電容…6S8電源功率和電源電流(靜態(tài)工作)7電源功率和電源電流(動態(tài)工作)機(jī)械額定值、特性和其他資料………….10補(bǔ)充資料12注意事項770第3節(jié)微處理器集成電路電路的識別和說明·7701.1電兼容性…702功能說明·702.1框圖……702.2功能說明……702.3指令系統(tǒng)·712.4指令的結(jié)構(gòu)·712.5輸入和輸出信號·713額定值(極限值)...79
GB/T17574-19983.1電極限值…723.23.3功耗·4推薦工作條件(在規(guī)定的工作溫度范圍內(nèi))724.1電源電壓…·時鐘輸入……….4.24.3輸入電壓(不包括時鐘輸入)瑜出電流…………·外部元件(適用時)4.54.6建立時間和保持時間………734.7控制順序的定時圖·735電特性………··……··……··735.11靜態(tài)特性……735.2動態(tài)特性……746機(jī)械額定值、特性和其他資料補(bǔ)充資料………………747.1出負(fù)載能力…747.2聲容限……747.3應(yīng)用數(shù)據(jù)·747.4其他資料………75注意事項……R75第W篇測試方法第1節(jié)總基本要求……752特殊要求………········75靜態(tài)和動態(tài)測試的一般要求·2.12.2靜態(tài)特性的規(guī)定條件………752.3動態(tài)特性的規(guī)定條件…763測試方法應(yīng)用表格·…·76第2節(jié)態(tài)特性的測試方法輸出高電平電壓和輸出低電平電壓(Vom和Vo)3716輸入高電平電流和輸人低電平電流(Im和7u)38]2ooooooooooooooooo783輸出短路電流(7os)4078靜態(tài)條件下的電源電流L417……479(輸入)闊值電壓和浦后電壓[48)5806輸入籍位電壓(Vr)94]82輸出高阻態(tài)電流(/oz)95鎖定特性[967……………···84
GB/T17574-19988.1正向鎖定的輸入/輸出的電壓或電流848.2負(fù)向鎖定的輸入/輸出的電壓或電流86鎖定電源電壓或電流…8.3898.4鎖定態(tài)(電源)電壓或電流…………918.5預(yù)防措施……·92試驗后測量………8.693第3節(jié)動態(tài)測試的測試方法動態(tài)條件下的總電源電流[12通過時鐘線所提供的功率[2】943輸入阻抗和輸出阻抗6,11795電流測試:大信號工作時的輸入和輸出電容63.13.2電壓測試:等效輸入和輸出電容、等效輸入和輸出電阻「1174表征電路的時間·……004.1傳傳輸時間37.77…10延退時間和轉(zhuǎn)換時間41,5·4.21044.3建立時間8和保持時間9106分辨時間36」··4.41084.5輸出允許時間和禁止時間(對于三態(tài)輸出兒49】110存儲器的特定時間[50~[54……4.6112時序電路的轉(zhuǎn)換頻率101·5116數(shù)數(shù)字集成電路的功能檢驗方法117第V篇接收和可靠性第1節(jié)電耐久性試驗一般要求特殊要求19
GB/T17574-1998本標(biāo)準(zhǔn)等同采用國際電工委員會標(biāo)準(zhǔn)IEC748-2:1985《半導(dǎo)體器件集成電路第2部分:數(shù)字集成電路》及修改單(1993)進(jìn)行編寫。本標(biāo)準(zhǔn)的編制將促進(jìn)我圍半導(dǎo)體數(shù)字集成電路的國際貿(mào)易、技術(shù)和經(jīng)濟(jì)交流。本標(biāo)準(zhǔn)引用的GB/T17573《半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路第1部分總則》和GB/T16464一1996《半導(dǎo)體器件集成電路第1部分總則》分別等同采用IC747-1:1983及1993年的修訂和IEC748-1:1984及1993年的兩次修訂。本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國電子工業(yè)部提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國集成電路標(biāo)準(zhǔn)化分技術(shù)委員會歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:電子工業(yè)部標(biāo)準(zhǔn)化研究所。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:李燕榮、張宏圖。
GB/T17574-1998IEC前言1)IEC(國際電工委員會)在技術(shù)問題上的正式?jīng)Q議或協(xié)議,是由對這些問題特別關(guān)切的國家委員會參加的技術(shù)委員會制定的,對所涉及的問題盡可能地代表了國際上的一致意見。2)這些決議或協(xié)議,以推薦標(biāo)準(zhǔn)的形式供國際上使用,并在此意義上為各國家委員會所認(rèn)可。3)為了促進(jìn)國際上的統(tǒng)一,IEC希望各國家委員會在本國條件許可的情況下,采用IEC標(biāo)準(zhǔn)的文本作為其國家標(biāo)準(zhǔn)。IEC標(biāo)準(zhǔn)與相應(yīng)國家標(biāo)準(zhǔn)之間的差異,應(yīng)盡可能在國家標(biāo)準(zhǔn)中指明。亞C序言本標(biāo)準(zhǔn)由IECTC47半導(dǎo)體器件制訂IEC748-2構(gòu)成了集成電路通用標(biāo)準(zhǔn)IEC748的第二部分。本標(biāo)準(zhǔn)與IEC747-1和IEC748-1通用標(biāo)準(zhǔn)構(gòu)成了數(shù)字集成電路的標(biāo)準(zhǔn)TC471982年9月在倫敦召開會議,批準(zhǔn)了將標(biāo)準(zhǔn)IEC147和IEC148按器件分類,重新編排整理的方案。因為所有組成部分預(yù)先已經(jīng)按照六個月法或兩個月程序表決批準(zhǔn),不再重新表決標(biāo)準(zhǔn)IEC147和IEC148中涉及集成電路的內(nèi)容已包括在IEC747-1和IEC748標(biāo)準(zhǔn)中標(biāo)準(zhǔn)IEC147-5和IEC147-5A中涉及機(jī)械和氣候測試方法的內(nèi)容已包括在IEC749標(biāo)準(zhǔn)中由于TC47的工作連續(xù)性以及考惠集成電路領(lǐng)域的發(fā)展,通過修訂和補(bǔ)充文件以保證標(biāo)準(zhǔn)的先進(jìn)本標(biāo)準(zhǔn)完全替代IEC147-1D和IEC147-2L標(biāo)準(zhǔn)的內(nèi)容
中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)半導(dǎo)體器件集成電路GB/T17574-1998第2部分:數(shù)字集成電路1dtIEC748-2:1985SemiconductordevicesIntegratedcircuitsPart2:Digitalintegratedcircuits第I篇總1引言通常,本標(biāo)準(zhǔn)需要與GB/T17573—1998和GB/T16464一1996標(biāo)準(zhǔn)一起使用.在GB/T17573和GB/T16464標(biāo)準(zhǔn)中,可查到下列的全部基本資料:術(shù)語;一·文字符號;-基本額定值和特性:-測試方法;接收和可靠性2范田本標(biāo)準(zhǔn)給出了下列各類或各分類器件的標(biāo)準(zhǔn):組合和時序數(shù)字電路;存儲器集成電路;-微處理器集成電路;-電荷轉(zhuǎn)移器件、
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