標(biāo)準(zhǔn)解讀
GB/T 20515-2006是一項中國國家標(biāo)準(zhǔn),專注于半導(dǎo)體器件中的集成電路領(lǐng)域,特別是針對半定制集成電路的規(guī)范。此標(biāo)準(zhǔn)分為多個部分,而第五部分專門詳細(xì)闡述了半定制集成電路的設(shè)計、生產(chǎn)、檢驗及質(zhì)量要求等方面的具體規(guī)定。
標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容概覽:
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范圍:首先明確了該部分標(biāo)準(zhǔn)的應(yīng)用范疇,即規(guī)定了半定制集成電路的設(shè)計原則、參數(shù)定義、測試方法及驗收條件等,適用于集成電路設(shè)計者、制造商和用戶。
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術(shù)語和定義:為確保文檔的一致性和理解度,列出了相關(guān)專業(yè)術(shù)語及其定義,如半定制集成電路、可編程邏輯器件、ASIC(特定應(yīng)用集成電路)等基礎(chǔ)概念。
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設(shè)計要求:闡述了半定制集成電路在設(shè)計階段應(yīng)遵循的原則和要求,包括電路功能、性能指標(biāo)、兼容性、可測試性設(shè)計(DFT)及可制造性設(shè)計(DFM)等方面。
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工藝技術(shù)要求:涉及集成電路制造過程中采用的工藝技術(shù)標(biāo)準(zhǔn),如晶圓材料、光刻精度、摻雜濃度、金屬化層的材料與厚度等,確保成品的可靠性和一致性。
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測試與檢驗:詳細(xì)說明了半定制集成電路的測試項目、測試方法、測試條件及合格判定準(zhǔn)則,包括功能測試、參數(shù)測試、可靠性測試等,確保產(chǎn)品符合預(yù)定性能和質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)。
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標(biāo)志、包裝、運輸和儲存:規(guī)定了集成電路產(chǎn)品的標(biāo)識信息、包裝方式、運輸條件及儲存環(huán)境要求,以防止在流通和存儲過程中對集成電路造成損害。
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文檔與資料:要求提供完整的技術(shù)文檔和用戶手冊,包括設(shè)計說明書、測試報告、使用指南等,以便用戶正確理解和應(yīng)用半定制集成電路。
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2006-10-10 頒布
- 2007-02-01 實施
文檔簡介
ICS31.200L56中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T20515-2006/IEC60748-5:1997半導(dǎo)體器件集成電路第5部分;半定制集成電路Semiconductordevices-integratedcircuitsPart5:Semicustomintegratedcircuits(IEC60748-5:1997,IDT)2006-10-10發(fā)布2007-02-01實施中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
GB/T20515-2006/IEC60748-5:1997三前言引言1總則1.1范圍1.2規(guī)范性引用文件2術(shù)語和圖形符號2.1總則2.2半定制集成電路的相關(guān)術(shù)語2.3半定制集成電路圖形符號3承制方提供的半定制集成電路的基本資料3.1總則……………3.2電電路識別和類型3.3應(yīng)用的相關(guān)描述3.4庫單元功能描述的規(guī)定3.5極限值(絕對最大額定值體系)3.6推薦工作條件(在規(guī)定工作溫度范圍內(nèi))3.7庫單元電特性3.8附加資料4側(cè)試方法4.1總則·····4.2特殊要求4.3靜態(tài)特性4.4動態(tài)特性5接收和可靠性5.1電耐久性試驗5.2環(huán)境試驗·5.3失效分析程序6設(shè)計方面…………6.2庫(由承制方批準(zhǔn))6.3計算機(jī)輔助工程(CAE)設(shè)計硬件6.4CAE設(shè)計軟件………·…………·……·7用戶/承制方接口……………7.1用戶/承制方設(shè)計接口的概念7.2用戶/承制方典型接口文件…8半定制集成電路交付生產(chǎn)的基本數(shù)據(jù)……8.18.2應(yīng)用相關(guān)描述……11設(shè)計方面……8.312附錄A(資料性附錄)用戶/承制方接口活動所用的格式
GB/T20515-2006/IEC60748-5:1997半導(dǎo)體器件集成電路系列標(biāo)準(zhǔn)包括如下標(biāo)準(zhǔn):GB/T16464一1996半導(dǎo)體器件集成電路第1部分:總則(idtIEC60748-1:1984);GB/T16465—1996膜集成電路和混合膜集成電路分規(guī)范(采用能力批準(zhǔn)程序)(idtIEC60748-22:1992;-GB/T17574-1998半導(dǎo)體器件集成電路第2部分:數(shù)字集成電路(idtIEC60748-2:1985):-GB/T17940-2000半導(dǎo)體器件:集成電路第3部分:模擬集成電路(idtIEC60748-3:1986);IEC60748-4半導(dǎo)體器件集成電路第4部分:接口集成電路:GB/T20515—2006半導(dǎo)體器件集成電路第5部分:半定制集成電路;IEC60748-11半導(dǎo)體器件集成電路第11部分:半導(dǎo)體集成電路分規(guī)范(不包括混合電路):-IEC6O748-20膜集成電路和混合膜集成電路總規(guī)范;IEC60748-21膜集成電路和混合膜集成電路分規(guī)范(采用鑒定批準(zhǔn)程序)本標(biāo)準(zhǔn)為第5部分,等同采用IEC60748-5:1997《半導(dǎo)體器件集成電路第5部分:半定制集成路》英文版)。為便于使用,本標(biāo)準(zhǔn)做了如下編輯性修改:a)刪除國際標(biāo)準(zhǔn)中的前言。b)已經(jīng)等同轉(zhuǎn)化為國家標(biāo)準(zhǔn)的引用國家標(biāo)準(zhǔn),否則引用IEC原文.本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國信息產(chǎn)業(yè)部提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所(CESI)本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:王琪
GB/T20515-2006/IEC60748-5:1997作為一個準(zhǔn)則,在本標(biāo)準(zhǔn)涉及到的時候,引用GB/T17573—1998和GB/T16464—1996是十分必要的。在本標(biāo)準(zhǔn)中,用戶將會發(fā)現(xiàn)所有基本信息:術(shù)語:-圖形符號:-基本額定值和特性:功能描述:測試方法:接收和可靠性;設(shè)計方面:用戶/承制方接口。條款順序?qū)?yīng)于GB/T17573—1998,第山篇.2.1分款
GB/T20515-2006/IEC60748-5:1997半導(dǎo)體器件集成電路第5部分:半定制集成電路總則1.1范范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了下列集成電路(IC)分類體系樹(見圖1)中有關(guān)半定制集成電路子類的標(biāo)準(zhǔn)注:這個體系樹是不封團(tuán)的.可以在需要時拓展。集成電路(用戶參半定制專用1門陣列CSiC電與設(shè)計)(包括軟宏單元)標(biāo)準(zhǔn)單元(包括軟宏單元)全定制電路(承制方設(shè)計)專用標(biāo)準(zhǔn)IC(ASSP)通用IC非現(xiàn)場可數(shù)字IC編程IC存儲器RAMROM微處理器·微控制器市元(MCU)模擬IC微處理器單元(MPU)-接口IC現(xiàn)場可現(xiàn)場可編現(xiàn)場可編賽件(PLD)陣列(PLA)現(xiàn)場可編程-現(xiàn)場可縮ROM程門陳列(PROM)(PGA)現(xiàn)場可編程微控制器單元包括PROMCPMCU富:半定創(chuàng)IC分美圖1集成電路體系樹1.2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件.其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn).然而,鼓勵根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。GB/T4728.1
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