GB/T 17554.7-2010識(shí)別卡測試方法第7部分：鄰近式卡

ICS3524015

L64..

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T175547—2010

.

識(shí)別卡測試方法

第7部分鄰近式卡

:

Identificationcards—Testmethods—

Part7Vicinitcards

:y

(ISO/IEC10373-7:2008,MOD)

2010-12-01發(fā)布2011-04-01實(shí)施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T175547—2010

.

目次

前言…………………………

Ⅰ

范圍………………………

11

規(guī)范性引用文件…………………………

21

術(shù)語和定義縮略語和符號(hào)………………

3、1

適用于測試方法的默認(rèn)條款……………

42

靜電測試…………………

52

測試裝置和測試電路……………………

63

的功能測試………………………

7VICC6

的功能測試…………………………

8VCD7

的工作場強(qiáng)測試…………………

9VICC8

附錄規(guī)范性附錄測試天線……………………

A()VCD9

附錄資料性附錄測試天線調(diào)諧……………

B()VCD11

附錄規(guī)范性附錄傳感線圈…………

C()13

附錄規(guī)范性附錄用于功率測試的參考……………

D()VCDVICC15

附錄資料性附錄用于負(fù)載調(diào)制測試的參考………………

E()VICC17

附錄資料性附錄頻譜計(jì)算程序……………………

F()18

GB/T175547—2010

.

前言

在識(shí)別卡測試方法總標(biāo)題下目前分為如下個(gè)部分

GB/T17554《》,7:

第部分一般特性測試

———1:;

第部分磁條卡

———2:;

第部分帶觸點(diǎn)的集成電路卡及其相關(guān)接口設(shè)備

———3:;

第部分無觸點(diǎn)集成電路卡

———4:;

第部分光記憶卡

———5:;

第部分接近式卡

———6:;

第部分鄰近式卡

———7:。

本部分為的第部分本部分使用重新起草法修改采用國際標(biāo)準(zhǔn)

GB/T175547。,ISO/IEC10373-

識(shí)別卡測試方法第部分鄰近式卡英文版

7:2008《7:》()。

本部分與相比增加和修改了下列內(nèi)容并在相應(yīng)條款的外側(cè)頁邊空白處

ISO/IEC10373-7:2008,,

用單垂線標(biāo)示

:

為了使標(biāo)準(zhǔn)更加清晰易懂增加了縮略語

a),PCB;

為了便于引用做了編輯性修改

b),8.1.2;

為了避免實(shí)際應(yīng)用中可能出現(xiàn)在規(guī)定的工作區(qū)域內(nèi)不能正常工作的情況增加第章

c)VICC,9

工作場強(qiáng)測試

。

本部分的附錄附錄和附錄是規(guī)范性附錄

A、CD。

本部分的附錄附錄和附錄是資料性附錄

B、EF。

本部分由全國信息技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口

(SAC/TC28)。

本部分起草單位中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所東信和平智能卡股份有限公司

:、。

本部分主要起草人馮敬高林袁理金倩黃小鵬耿力趙子淵

:、、、、、、。

Ⅰ

GB/T175547—2010

.

識(shí)別卡測試方法

第7部分鄰近式卡

:

1范圍

規(guī)定了符合識(shí)別卡特性的測試方法每一測試方法交叉引用一個(gè)或多

GB/T17554GB/T14916。

個(gè)基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)這些基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)可以是或一個(gè)或多個(gè)定義了用于識(shí)別卡應(yīng)用的信息存儲(chǔ)技術(shù)

,GB/T14916

的補(bǔ)充標(biāo)準(zhǔn)

。

注接收準(zhǔn)則不包含在本部分中而是在以上提及的國家標(biāo)準(zhǔn)中

1:,。

注描述的若干測試方法可單獨(dú)實(shí)施規(guī)定的卡不要求順序地通過所有測試

2:GB/T17554。。

的本部分規(guī)定了無觸點(diǎn)集成電路卡技術(shù)鄰近式卡的測試方法第部分規(guī)定了為

GB/T17554()。1

一種或多種卡技術(shù)所共用的測試方法其他部分則規(guī)定了各個(gè)專項(xiàng)技術(shù)的測試方法

;。

除非另有規(guī)定本部分中的測試僅適用于和中定義的鄰近式卡

,GB/T22351.1GB/T22351.2。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過的本部分的引用而成為本部分的條款凡是注日期的引用文

GB/T17554。

件其隨后所有的修改單不包括勘誤的內(nèi)容或修訂版均不適用于本部分然而鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)

,(),,

議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本凡是不注日期的引用文件其最新版本適用于本部分

。,。

識(shí)別卡物理特性

GB/T14916(GB/T14916—2006,ISO/IEC7810:2003,IDT)

電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗(yàn)

GB/T17626.2(GB/T17626.2—2006,

IEC61000-4-2:2001,IDT)

識(shí)別卡無觸點(diǎn)集成電路卡鄰近式卡第部分物理特性

GB/T22351.11:(GB/T22351.1—

2008,ISO/IEC15693-1:2000,IDT)

識(shí)別卡無觸點(diǎn)集成電路卡鄰近式卡第部分空中接口和初始化

GB/T22351.2—20102:

(ISO/IEC15693-2:2000,IDT)

識(shí)別卡無觸點(diǎn)集成電路卡鄰近式卡第部分防沖突和傳輸協(xié)議

GB/T22351.33:

(GB/T22351.3—2008,ISO/IEC15693-3:2001,IDT)

對度量不確定性表達(dá)的指南版

ISBN92-67-10188-9,ISO,1993

3術(shù)語和定義縮略語和符號(hào)

、

31術(shù)語和定