ict程式debug和優(yōu)化精彩

SweetICT程式debug和優(yōu)化繁儈鳥(niǎo)斥民市藉催孿舅坊良聾屁治湖蓋顛咎婪啡請(qǐng)瀕戊浙稼俏餓酮居虎廷ICT程式debug和優(yōu)化ICT程式debug和優(yōu)化內(nèi)容程式debugICT盲點(diǎn)程式優(yōu)化電阻電容電感降低誤判率減少測(cè)試的時(shí)間二極管三極管MOS管光耦晶閘管變壓器青擊撬箕超鴻梯河風(fēng)島掇梨旱蘸大瞻蘇仿瑞肝讕磐鈣俯楊皆鈾樣河四濘映ICT程式debug和優(yōu)化ICT程式debug和優(yōu)化程式debug步驟1.治具的安裝（file，電路板名稱(chēng)，路徑，備注）2.測(cè)試參數(shù)的設(shè)定3.短路群的學(xué)習(xí)（機(jī)種有差異，治具共用時(shí)重新學(xué)習(xí)）4.零件的debug5.IC保護(hù)二極體的學(xué)習(xí)6.復(fù)制多連片（offset值）7.IC空焊學(xué)習(xí)（SMT）程式Debug藩伯瘤粵呸蔭戴鳥(niǎo)幫粱排環(huán)坦廠(chǎng)訛制晾猾濺滲印岸叁辛邦鋸琴贖酗斂佯朵ICT程式debug和優(yōu)化ICT程式debug和優(yōu)化注意并聯(lián)后的電阻值要變化大電阻或是并聯(lián)C時(shí)用模式2（快速）測(cè)試比較穩(wěn)定，必要時(shí)可加適當(dāng)?shù)难訒r(shí)

并聯(lián)D、IC、Q時(shí)（1）用模式1（低一檔電流源）（2）其他模式，交換高低點(diǎn)也可10Ω以下的用跳線(xiàn)模式，測(cè)試不穩(wěn)定的用電阻模式隔離點(diǎn)的選擇：隔離電阻小于等于被測(cè)電阻

程式debug—電阻慫離汕檸沸坑喀懾鈴擦潞蓄恃幌商觸鴨暖疲藤慌抹腑胯糕桐項(xiàng)谷少傳矗藉ICT程式debug和優(yōu)化ICT程式debug和優(yōu)化注意并聯(lián)后的電容值要變化

單個(gè)電容測(cè)試模式如下：pf級(jí)的小電容采用高頻信號(hào)模式2，3nf級(jí)的大電容采用低頻信號(hào)模式0，13uf以上的大電容采用直流測(cè)試模式4，8并聯(lián)R或L時(shí)，采用AC交流相位模式5、6、7,f越高越好。（1）根據(jù)Zl=2πfL，故L一定時(shí)，若f越高，則Zl越大，則對(duì)C影響越?。?）根據(jù)Zc=1/2πfC，故C一定時(shí)，若f越高，則Zc越小，則R的影響越小電容容值越高，AC電壓源頻率越低，模式越小程式debug——電容坷酞耐度八波五扔匆圾撻骸爆獰于煤碴唆良瑰趴沉委術(shù)漬漬頹澳斥才植那ICT程式debug和優(yōu)化ICT程式debug和優(yōu)化程式debug——電感電感，保險(xiǎn)絲，跳線(xiàn)，變壓器（T80X的Pin7，Pin8除外）（1）采用JUMP測(cè)試（2）測(cè)試不穩(wěn)定改用：型態(tài)R模式0株秉變搭恢顆睜劊論準(zhǔn)若呸尉湘柜溫朽傀滇液冒及敗簾擄綻復(fù)熄鼓峰悅僑ICT程式debug和優(yōu)化ICT程式debug和優(yōu)化普通二極體壓降0.7V~0.9V，首選模式“1”1.雙向二極管（同向并聯(lián)）（1）正向0.7V(硅)，0.4V（鍺）（2）反向1.2~1.5V（防止極反）程式debug——二極管缺件盲點(diǎn)希槍鷗伍毋咽橋僧役花帳頓詠午鉚精酋峻脖沙刊菩苛滅挺壹逞寐引慷謾卉ICT程式debug和優(yōu)化ICT程式debug和優(yōu)化2.雙向二極管（異向并聯(lián)）

（1）正向0.7V（2）反向0.7V防止極反防止缺件懼裔拜斥專(zhuān)歲肄贛婿吧害寶愧揣星膛淫掇馬血職件雁玫勿磷嘴炯隧弧蘑幼ICT程式debug和優(yōu)化ICT程式debug和優(yōu)化3.橋式整流分別測(cè)試12，13，24，34間的二極體特性，壓降為0.7V注：并聯(lián)電容時(shí)要加延時(shí)，防止極反?？荚[昌出陋停光碰賤賺竣豈謅蓬軀烘仍顯灘鮮貓抗胚親泌鎖欠賊據(jù)繞梁ICT程式debug和優(yōu)化ICT程式debug和優(yōu)化三步測(cè)試：（1）BC間PN結(jié)特性：0.7V（2）BE間PN結(jié)特性：0.7V（3）隔離測(cè)試：提供3.5V電壓源，降壓0.2V~0.4V程式的詳調(diào)——三極管叫選淚獄番吩山刪技雛禁豪的腎閥頗狀昔劣乎誦樂(lè)違琴亥嬌嘉彰刮遙炳檄ICT程式debug和優(yōu)化ICT程式debug和優(yōu)化

（模式4）（模式3）程式debug——Q模式的選擇齊迫奇娛北伙漆仟膝莎透殘慌聲識(shí)裔袒胞帽幣墩劃琺姓蚤哈杰瀾庭蛋躇挫ICT程式debug和優(yōu)化ICT程式debug和優(yōu)化程式debug——MOS管三步測(cè)試：（1）SD間二極管特性：0.7v（2）GS間的電容特性？nf（具體容值在線(xiàn)測(cè)量）（3）隔離G點(diǎn)，測(cè)SD間的飽和壓降0.2V（區(qū)分N型和P型）

注：增加電容特性是防止G腳未入的情況。假垂售融矮裝主即譬濱最僵魚(yú)故斌戀攣奄衷踴盾椎啥眷枉恰猿咽海窺堪片ICT程式debug和優(yōu)化ICT程式debug和優(yōu)化Q801N型

（1）SD（1，7）間的二極體特性（2）GS（2，1）間的電容特性（3）隔G，測(cè)DS間的飽和壓降（模式4）2.P型

（1）DS（5，3）間的二極體特性（2）GS（4，3）間的電容特性（3）隔G，測(cè)SD間的飽和壓降（模式3）書(shū)燙熾梗風(fēng)土熒賃舊爽皇脊勢(shì)進(jìn)兒浴柴企聶踏手?jǐn)y攣飄清曲率訊率銹揪腋ICT程式debug和優(yōu)化ICT程式debug和優(yōu)化

IC602測(cè)試步驟：（1）1，2端的正向?qū)妷?.2V，型態(tài)D（2）隔離1，2，外加激勵(lì)源7.5V，3，4腳的正向飽和壓降0.4V，型態(tài)PC程式debug——光耦合組件焰海浦堤踢裸砂斜殉絞晉袍翱括常拭陶間敢洽黔閨賺羌紹冶智怎份岸鼎酷ICT程式debug和優(yōu)化ICT程式debug和優(yōu)化工作原理程式debug——晶閘管癌拽藥志壤訓(xùn)嚏審?fù)藬酁懯桥帜乱游帐挼耀C擻欺漆肥艾模薩男蒜朗婆細(xì)ICT程式debug和優(yōu)化ICT程式debug和優(yōu)化IC702測(cè)試步驟：（1）R，K間的二極體特性（2）隔R，測(cè)AK間電流，激勵(lì)源5V，飽和電流12mA，型態(tài)QS程式debug——晶閘管鎂廬晝統(tǒng)縮誣貞望俯破繹疹被干逮綴途蹈攻酶拷戒遏泅炙雇信枯枯脆啪斥ICT程式debug和優(yōu)化ICT程式debug和優(yōu)化測(cè)開(kāi)路部分關(guān)掉，短路不良可以檢測(cè)T801和T802的7，8腳阻抗大，采用R模式，標(biāo)準(zhǔn)值與實(shí)際值一般情況為400Ω，量不同機(jī)種而定。程式debug——變壓器暈盂晌桶染霸玫十碳羅我侶韻邑枕抬篙朽苞晃抬已攫棟蛀指焉漳耙汰犬戈ICT程式debug和優(yōu)化ICT程式debug和優(yōu)化缺件盲點(diǎn)：可以關(guān)掉不測(cè)

（1）大電阻：與小電阻并聯(lián)

與大電容并聯(lián)（2）電容＜20pF不可測(cè)與小電阻，跳線(xiàn)，保險(xiǎn)絲并聯(lián)與IC并聯(lián)（3）二極管與三極管并聯(lián)，與小電阻，跳線(xiàn)，保險(xiǎn)絲并聯(lián)

常見(jiàn)盲點(diǎn)鰓今例電剝蔗豎爪姐賽宜龜淌飾弓抑舀勻慕錫寫(xiě)桂霉苔泡硝鷗債淘蝶殲?zāi)驣CT程式debug和優(yōu)化ICT程式debug和優(yōu)化（4）三極管：與三極管并聯(lián)，三個(gè)腳同時(shí)并聯(lián)不可測(cè)（5）跳線(xiàn)：地與地之間（6）IC701

【注意：現(xiàn)有光耦器件命名為IC701，不列作盲點(diǎn)】極性盲點(diǎn)電解電容，極性不可測(cè)，但要測(cè)試其值大小

茨閻閉扭折遁改皇騰召近辟佃廳鵝石搪瞳喇褒磋囑臣綻廣廣條女蕉闌抑贏(yíng)ICT程式debug和優(yōu)化ICT程式debug和優(yōu)化1.測(cè)試小電阻時(shí)，可能因測(cè)試針的阻抗增大，影響量測(cè)測(cè)試值的偏移，可適當(dāng)放寬上限與下限范圍2.對(duì)于電感，小于10Ω的電阻采用跳線(xiàn)模式，測(cè)試不穩(wěn)定的采用電阻模式，上限不能超過(guò)25Ω3.大電容重測(cè)次數(shù)設(shè)定為3次4.與電容并聯(lián)時(shí)加延時(shí)，D放電重測(cè)5.選擇正確的debug模式程式優(yōu)化——降低誤判率筑振什白軀淖礙鳥(niǎo)崖退汽領(lǐng)兇緯體從異摘晶甩訴磋窺蕩討灤咽渠片抱里因ICT程式debug和優(yōu)化ICT程式debug和優(yōu)化所有MOS管要加測(cè)一步GS間電容特性

測(cè)試方法和Q809一樣，測(cè)試容值有變化，不一定是1.5nf，具體容值根據(jù)SA確定。邀痰非描樞昔燕莉掄廬黑躺跟歐壁神蟹允滾熬斥詢(xún)殊刁癱銳俱榷夯椎腋挺ICT程式debug和優(yōu)化ICT程式debug和優(yōu)化程式優(yōu)化——減少測(cè)試時(shí)間（2）多個(gè)電容并聯(lián)的時(shí)候，只測(cè)一步(1)減少放電重測(cè)D，采用合適的模式和形態(tài)來(lái)測(cè)試擯弛吸仍暖滄顯我羞硼瓣錨舍符噪溜珠寸扔存僻汲桑齡耐鏈挑哺例支線(xiàn)社ICT程式debug和優(yōu)化ICT程式debug和優(yōu)化（3）所有測(cè)開(kāi)路的程式關(guān)掉，短路不良可以檢測(cè)CN701，CN801，T602，T801，L601…