集成電路設(shè)計(jì)課件：3 RFID智能卡芯片原理與設(shè)計(jì)

1、RFID智能卡芯片原理與設(shè)計(jì)高安全領(lǐng)域低成本領(lǐng)域射頻識別技術(shù)（RFID）豐富的應(yīng)用金融身份認(rèn)證物流商品流通交通醫(yī)療教育行李包裹防偽溯源12IBM RFID芯片廣告3RFID基本原理RFID基本原理TAGTAGTAG4RFID頻段劃分智能卡工作頻率5RFID標(biāo)準(zhǔn)6高頻RFID標(biāo)簽芯片理論基礎(chǔ)7高頻RFID標(biāo)簽芯片成本分析結(jié)論：單顆芯片總面積越小，價(jià)格越低。設(shè)計(jì)目標(biāo)：滿足設(shè)計(jì)需求前提下，盡最大可能降低電路面積。成本計(jì)算公式：8英寸wafer舉例說明：假設(shè)芯片面積Area=2mm*1.5mm，一片8英寸的wafer可制造出10132顆芯片假設(shè)芯片良率y=95%，那么良好的芯片就有9625顆假設(shè)一片w

2、afer價(jià)格為6000元人民幣，那么單顆芯片制造成本約為0.63元如果芯片設(shè)計(jì)的不好，面積上升到Area=2mm*2mm，一片wafer只能制造出7892顆芯片假設(shè)芯片良率y=95%，那么良好的芯片就只有7497顆，此時(shí)單顆芯片制造成本約為0.8元1000萬顆芯片多增加1000（0.8-0.63）=170萬元的成本8高頻RFID標(biāo)簽芯片功耗分析結(jié)論：采用Smic 0.18um/0.13um工藝，漏電流可忽略。設(shè)計(jì)目標(biāo)：盡最大可能降低開關(guān)功耗。功耗計(jì)算公式：功耗模型門控時(shí)鐘操作數(shù)隔離低電壓設(shè)計(jì)9高頻RFID標(biāo)簽芯片結(jié)構(gòu)101 射頻模擬電路11天線接口天線PAD12天線接口Q值和諧振頻率Q值負(fù)載電

3、流I結(jié)論： Q值對提高帶負(fù)載能力貢獻(xiàn)不大，諧振頻率則可顯著提高負(fù)載能力。設(shè)計(jì)目標(biāo)：Q值應(yīng)盡量小，增加帶寬；諧振頻率可適當(dāng)提高到14.5MHZ。握奇NFC明華CM500ZD諧振頻率f(MHZ)13.612.512.51314.7Q值46336872140ISO 15693ISO 14443-AISO 14443-B12.5MHZ 16MHZ13整流整流電路：將天線上的交變電壓轉(zhuǎn)換成直流電壓天線ant1為高時(shí)，ant2為低，MN1和MN4打開天線ant1為低時(shí)，ant2為高，MN2和MN3打開為什么要整流？天線接口耦合過來的電壓信號是交流信號，而芯片內(nèi)部只能處理直流信號傳統(tǒng)的二極管整流不能直接應(yīng)用

4、于芯片14限幅為什么要限幅？天線接口耦合過來的電壓幅值可能高達(dá)十幾伏甚至上百伏，可能擊穿內(nèi)部電路15ESDPAD前級驅(qū)動后級驅(qū)動SMIC 標(biāo)準(zhǔn)IO，靜電保護(hù)能力2KV國家標(biāo)準(zhǔn)4KV面積大、靜電保護(hù)能力弱4.5KV ESD保護(hù)電路可重復(fù)利用于：整流和限幅16LDO穩(wěn)壓為什么要LDO穩(wěn)壓？ASK解調(diào)期間出現(xiàn)2-3s的凹槽，無任何電源；大峰值數(shù)字電路工作期間電壓不穩(wěn)17LDO穩(wěn)壓為什么要LDO穩(wěn)壓？有了LDO穩(wěn)壓，凹槽期間、大峰值數(shù)字電路工作期間、負(fù)載調(diào)制期間，電壓穩(wěn)定18100%ASK解調(diào) 解調(diào)：恢復(fù)閱讀器發(fā)送過來的調(diào)制信號 調(diào)制深度問題：為了使閱讀器能夠解調(diào)出標(biāo)簽發(fā)送的數(shù)據(jù)，標(biāo)簽天線上的調(diào)制深度

5、必須滿足一定的要求，如果調(diào)制深度過深會導(dǎo)致時(shí)鐘產(chǎn)生電路工作異常，時(shí)鐘消失進(jìn)而數(shù)據(jù)發(fā)送速率改變，高精度調(diào)制解調(diào)電路是保證智能RFID芯片進(jìn)行正常數(shù)據(jù)通信的關(guān)鍵。 凹槽識別問題：在100% ASK解調(diào)過程中會出現(xiàn)凹槽，凹槽的存在使解碼變得更加困難。如果凹槽不能準(zhǔn)確識別或者識別率不高，則會造成解碼失敗，嚴(yán)重影響RFID的正常通信。19100%ASK解調(diào)106Kbit/s速度下100%ASK調(diào)制信號理論波形圖20100%ASK解調(diào) 本文采用的簡單包絡(luò)檢波法解調(diào)100% ASK調(diào)制信號,低通濾波電路如上圖所示。該低通濾波器的時(shí)間常數(shù)選取必須遵循 100%ASK調(diào)制包絡(luò)基本上相當(dāng)于輸入信號的全擺幅變化，高

6、低電壓差較大，包絡(luò)變化明顯，可直接采用低通濾波器進(jìn)行濾波，然后再對信號進(jìn)行放大整形即可。電路設(shè)計(jì)21100%ASK解調(diào)理論波形圖22負(fù)載調(diào)制為什么要負(fù)載調(diào)制？智能卡芯片處理完命令后，需要返回應(yīng)答信號給閱讀器，通過負(fù)載調(diào)制發(fā)送出去23負(fù)載調(diào)制24負(fù)載調(diào)制25時(shí)鐘和上電復(fù)位信號為什么要時(shí)鐘和復(fù)位？數(shù)字電路采用同步電路設(shè)計(jì)，需要時(shí)鐘來同步；復(fù)位信號將電路置于初始狀態(tài)26下電復(fù)位基于帶隙基準(zhǔn)源的下電復(fù)位電路為什么要下電復(fù)位？當(dāng)芯片遠(yuǎn)離讀寫器時(shí)，場強(qiáng)隨之減小，電壓降低到工作范圍外，產(chǎn)生不穩(wěn)定狀態(tài)272 數(shù)字電路28TypeA解碼信號14443-A：改進(jìn)型密勒編碼10開始29TypeA解碼信號才 在128

7、個(gè)時(shí)鐘周期內(nèi)，凹槽出現(xiàn)的位置不同將代表不同的改進(jìn)型密勒編碼信號。當(dāng)凹槽出現(xiàn)的時(shí)候，時(shí)鐘將消失，只有凹槽消失后時(shí)鐘才會再出現(xiàn)。正常情況下，凹槽開始后以及結(jié)束之前，時(shí)鐘是不存在的，但在實(shí)際電路中，凹槽開始后以及結(jié)束之前都會有殘留的時(shí)鐘，這些時(shí)鐘的存在會引起錯(cuò)誤的解碼，因此必須將這些殘留的時(shí)鐘過濾掉，而在一般的同步電路中，是不能解決這些問題的。凹槽識別30TypeA解碼信號所述第一級異步復(fù)位同步器，其主要用途是用來同步上電復(fù)位信號，采用異步復(fù)位同步釋放的方法，使用兩級采樣電路。第二級信號同步器，其主要用途是用來同步異步輸入信號din，采用改進(jìn)后的兩級采樣方法，并展寬輸入信號。信號同步TypeA解碼信

8、號解碼電路改進(jìn)型密勒解碼電路包括八位計(jì)數(shù)器，用于計(jì)算兩個(gè)凹槽期間出現(xiàn)的時(shí)鐘數(shù)；解碼狀態(tài)機(jī)，用于控制解碼過程中的信號狀態(tài)轉(zhuǎn)換；B狀態(tài)脈沖產(chǎn)生，能夠?qū)o凹槽的編碼信號用一個(gè)脈沖來表示，方便檢測；數(shù)據(jù)檢測，檢測出8位計(jì)數(shù)器或B狀態(tài)脈沖代表的編碼信號；數(shù)據(jù)寄存，用于保存數(shù)據(jù)檢測出來的當(dāng)前信號和上一次檢測信號；出錯(cuò)處理，用于處理數(shù)據(jù)檢測和計(jì)數(shù)過程中出現(xiàn)的錯(cuò)誤；串并轉(zhuǎn)換，能夠?qū)⒔獯a出來的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成九比特的輸出；輸出控制，能夠輸出接收結(jié)束信號、輸出允許信號和輸出比特?cái)?shù)。TypeA解碼信號解碼方法10開始檢測出下降沿，確定幀的開始時(shí)鐘計(jì)數(shù)，確定速率大小及同步比特周期凹槽檢測判斷0比特判斷1比特TypeA解碼信

9、號解碼方法判斷起始位 寄存解碼結(jié)果 判斷結(jié)束位短幀解碼REQA尋卡命令WUPA喚醒命令標(biāo)準(zhǔn)幀格式解碼判斷起始位 寄存解碼結(jié)果 寄存奇偶標(biāo)志 寄存解碼結(jié)果 判斷結(jié)束位3334TypeB解碼信號14443-B協(xié)議幀的開始SOF一個(gè)下降沿10個(gè)比特連01個(gè)上升沿2-3比特邏輯1后續(xù)發(fā)送幀格式35TypeB解碼信號14443-B協(xié)議幀格式起始位：用邏輯0表示8比特?cái)?shù)據(jù)位，最低有效位LSB優(yōu)先發(fā)送結(jié)束位：用邏輯1表示36TypeB解碼信號14443-B協(xié)議幀結(jié)束一個(gè)下降沿10個(gè)比特連01個(gè)上升沿TypeB解碼信號解碼方法檢測出下降沿時(shí)鐘計(jì)數(shù)檢測出上升沿 2比特高電平在比特中間產(chǎn)生正脈沖，判斷是否起始位寄

10、存解碼結(jié)果判斷幀是否結(jié)束檢測出下降沿時(shí)鐘計(jì)數(shù)檢測出上升沿37TypeB解碼信號解碼電路可以保證NRZ編碼的穩(wěn)定接收，可避免信號邊沿誤觸發(fā)毛刺帶來的接收問題，采用的計(jì)數(shù)值配置方法使得4種通信速率均采用一個(gè)電路實(shí)現(xiàn)，大幅度節(jié)省功耗和面積。解碼電路38TypeA編碼信號39TypeA在106K速率下采用曼徹斯特編碼每一位的中間有一個(gè)跳變。位中間的跳變既作為時(shí)鐘，又作為數(shù)據(jù)：從高到低的跳變表示1，從低到高的跳變表示0.曼徹斯特碼也是一種歸零碼。曼徹斯特編碼編碼采用副載波：頻率為fc/168個(gè)時(shí)鐘周期TypeA編碼信號40TypeA在212/424/848K速率下采用NRZ-L非歸零編碼32個(gè)副載波反相

11、，邏輯0相位與邏輯1相位相同212/424/848K速率下1個(gè)比特周期共有4/2/1個(gè)副載波互相反相互相反相互相反相反相，邏輯0相位反相，邏輯0相位TypeB編碼信號41閱讀器與標(biāo)簽之間編碼的時(shí)序關(guān)系幀格式TypeB編碼信號4214443-B協(xié)議幀的開始SOF14443-B協(xié)議幀結(jié)束TypeB編碼信號43TypeB所有速率均采用NRZ-L非歸零編碼64個(gè)時(shí)鐘內(nèi)無調(diào)制106/212/424/848K速率下1個(gè)比特周期共有8/4/2/1個(gè)副載波80個(gè)副載波時(shí)鐘定義邏輯1相位互相反相TR0TR144CRC循環(huán)冗余校驗(yàn)可靠性快速性可靠性快速性在數(shù)字通信系統(tǒng)中可靠與快速往往是矛盾的。如何合理地解決可靠與

12、速度這一對矛盾呢？ CRC產(chǎn)生背景45CRC循環(huán)冗余校驗(yàn)CRC的主要特點(diǎn)檢錯(cuò)能力極強(qiáng)開銷很小易于實(shí)現(xiàn)應(yīng)用范圍廣46CRC循環(huán)冗余校驗(yàn)發(fā)送方接收方設(shè) xr M(x) 除以 G(x) 的商和余數(shù)分別為 Q(x) 和 R(x)。則有: xrM(x) = G(x) Q(x) + R(x)即：接收方收到帶CRC校驗(yàn)和的幀多項(xiàng)式T(x) = xr M(x) + R(x)。由于模2加減相當(dāng)于異或運(yùn)算,于是接收方模2除后商Q(x),余數(shù)0.得證！47CRC循環(huán)冗余校驗(yàn)（1）發(fā)送數(shù)據(jù)110011；（2）生成多項(xiàng)式G(x)= x4 + x3 + 1；（3）將要發(fā)送的數(shù)據(jù)系列左移4位，新的序列為 110011000

13、0；（4）按模2算法，將生成的新序列除以生成多項(xiàng)式序列；（5）將余數(shù)多項(xiàng)式比特序列加到新的序列中即得發(fā)送端傳送序列。下面。 1 0 0 0 0 11 1 0 0 1 1 1 0 0 1 1 0 0 0 0 1 1 0 0 1 1 0 0 0 01 0 0 1 1 1 0 0 1 1100111001舉例48CRC循環(huán)冗余校驗(yàn)CRC-12 ：x12+x11+x3+x2 +x+1CRC-32 ：x32+x26+x23+x22+x16+x12CRC-8 : x8+x2+x+1CRC-10 : x10+x9+x5+x4+x2+1CRC-16 ：x16+x15+x2+1+ x11+x10+x8+x7+

14、x5+ x4+ x2+x+1CRC-CCITT ：x16+x12+x5+1生成多項(xiàng)式 G(x) 的國際標(biāo)準(zhǔn)49CRC循環(huán)冗余校驗(yàn)CRC循環(huán)冗余校驗(yàn)編碼對標(biāo)準(zhǔn)幀的數(shù)據(jù)進(jìn)行校驗(yàn)CRC字節(jié)14443協(xié)議關(guān)于CRC定義50CRC循環(huán)冗余校驗(yàn)CRC循環(huán)冗余校驗(yàn)編碼電路G(X)51防沖突解決無源標(biāo)簽芯片識別率問題當(dāng)有多個(gè)電子標(biāo)簽進(jìn)入一個(gè)或多個(gè)閱讀器的感應(yīng)區(qū)域的時(shí)候，閱讀器與多個(gè)電子標(biāo)簽的同時(shí)通信會使得無線通信信號相互干擾，以致閱讀器無法接收到正確的信息，這種情況叫沖突。為了避免沖突的影響，RFID系統(tǒng)定義了一系列當(dāng)沖突發(fā)生時(shí)的操作，以實(shí)現(xiàn)選擇性地對單個(gè)電子標(biāo)簽進(jìn)行操作，基于這些操作的方法被稱為防沖突算法（

15、Anticollision algorithms）。TAGTAGTAG52防沖突53防沖突548051處理器55COS操作系統(tǒng)為什么要COS？提供底層硬件接口，使得上層應(yīng)用程序能夠調(diào)用；COS管理芯片內(nèi)部所有應(yīng)用56COS操作系統(tǒng)COS573 片上安全58解決無源標(biāo)簽芯片安全問題非接觸式RFID芯片內(nèi)部是無源的，在實(shí)現(xiàn)高安全的同時(shí)要考慮低功耗策略。另外，芯片要擁有低成本的優(yōu)勢，就要采取面積優(yōu)化策略。因此，在RFID標(biāo)簽芯片上集成安全模塊的時(shí)候就要平衡芯片面積、功耗和安全性三者之間的關(guān)系，既要實(shí)現(xiàn)RFID的基本功能，實(shí)現(xiàn)小面積以及低功耗，還要在這基礎(chǔ)上實(shí)現(xiàn)高安全，這就對設(shè)計(jì)者提出了巨大的挑戰(zhàn)。5

16、9Mifare卡破解60Mifare卡破解61RFID片上安全問題設(shè)計(jì)出一模一樣的芯片相同的命令、功能、協(xié)議ICODE2存儲卡的破解62RFID片上安全問題Zdmicros RFID memory card, compliant with ICODE2:ISO/IEC1569313.56MHz1/256 or 1/4 codingCRCAnti-collisionSupport AFISupport DSFIDSupport EAS64bit UID1Kbit EEPROM存儲卡的破解63RFID片上安全問題To hack the chip, Nohl and Plotz reverse-en

17、gineered the cryptography on the MiFare chip through a painstaking process.Henryk Plotz, a German researcher, and Karsten Nohl, a doctoral candidate in computer science at the University of Virginia邏輯加密卡的破解64RFID片上安全問題Side channel attack:SPADPACPAEMA智能卡的破解65RFID片上安全問題Equipment used for contact smart

18、 card智能卡的破解66RFID片上安全問題智能卡的破解For contactless smart cardA famous side channel attack equipment: SASEBODESIGNED BY JAPAN67安全認(rèn)證系統(tǒng)加密算法認(rèn)證協(xié)議 基于認(rèn)證協(xié)議和加密技術(shù)的安全機(jī)制被認(rèn)為是安全性較高并容易實(shí)現(xiàn)的一種方案，設(shè)計(jì)者可以靈活采用各種認(rèn)證協(xié)議和加密算法。本文提出了一種智能RFID安全認(rèn)證系統(tǒng)，采用相互認(rèn)證機(jī)制確保芯片的安全性，引入了隨機(jī)密鑰的加密方法。整個(gè)安全認(rèn)證系統(tǒng)硬件設(shè)計(jì)在0.18um工藝下成功流片，樣片測試結(jié)果顯示功耗、面積，得到最優(yōu)化的結(jié)果，安全認(rèn)證的硬件面

19、積低于0.1mm2，功耗10uA。如何增強(qiáng)RFID片上安全？68RFID片上安全相互認(rèn)證機(jī)制ISO/IEC 9798-2協(xié)議中的三重相互認(rèn)證內(nèi)部認(rèn)證流程69RFID片上安全安全算法安全算法安全算法對稱加密算法：DES/AES非對稱加密算法：RSA/ECC國密算法：SM1/SM2/SM3/SM4/SM5/SM7/SSF33邏輯解密算法：CRYPTO1、流加密70RFID片上安全安全攻擊安全攻擊側(cè)信道攻擊算法功耗攻擊算法：SPA/DPA及高階算法電磁輻射攻擊：EMA安全傳感器：電壓、頻率、光照、溫度激光錯(cuò)誤注入探針攻擊存儲加密、總線加密71RFID片上安全安全算法：DES3DES硬件協(xié)處理器關(guān)鍵電

20、路數(shù)據(jù)通路DES數(shù)據(jù)加密流程72RFID片上安全安全算法：DES各個(gè)模塊面積和功耗值功能模塊面積(um2)所占總面積比例功耗（uw）所占總面積比例總電路27500100%2.21100%des31842967%1.6976.5sbox 111784.3%0.06442.9sbox210373.8%0.05962.7sbox310974.0%0.06202.8sbox411244.1%0.06162.8sbox511444.1%0.06593.0sbox611974.4%0.06833.1sbox711074.0%0.06382.9sbox811874.3%0.07253.3不同算法硬件實(shí)現(xiàn)代價(jià)

21、DES算法硬件比較結(jié)果73RFID片上安全隨機(jī)數(shù)產(chǎn)生器基于電容反饋和環(huán)形振蕩器的真隨機(jī)數(shù)產(chǎn)生電路亞穩(wěn)態(tài)原理74RFID片上安全隨機(jī)數(shù)產(chǎn)生器環(huán)形振蕩器輸出頻率q0q1q2q3頻率f（MHZ）工藝：ss-25C頻率f（MHZ）工藝：ff85C11115.784.5811108.066.6711016.765.4110010.28.610116.214.9101097.510017.355.91100011.610.701116.024.7801108.627.0901016.95.65010010.99.3400116.495.1500109.058.200018.86.25000012.6911

22、.2875RFID片上安全隨機(jī)數(shù)產(chǎn)生器隨機(jī)源硬件測試平臺示意圖隨機(jī)數(shù)仿真波形隨機(jī)源硬件測試平臺及相應(yīng)芯片76RFID片上安全隨機(jī)數(shù)產(chǎn)生器隨機(jī)性檢測標(biāo)準(zhǔn)測試結(jié)果NO.隨機(jī)性測試項(xiàng)目P-value結(jié)果1Frequency0.376696PASS2BlockFrequency0.803761PASS3Runs0.498544PASS4LongestRunOfOnes0.368223PASS5Rank0.334449PASS6DiscreteFourierTransform0.317188PASS7NonOverlappingTemplateMatchings0.461849PASS8Overlapp

23、ingTemplateMatchings0.683080PASS9Universal0.048996PASS10LempelZivCompression0.061457PASS11LinearComplexity0.104989PASS12Serial0.327178PASS13ApproximateEntropy0.068039PASS14CumulativeSums0.364936PASS15RandomExcursions0.862087PASS16RandomExcursionsVariant0.482825PASS77RFID片上安全安全算法RSA現(xiàn)有RSA電路功耗5-10mA運(yùn)行R

24、SA時(shí)芯片讀寫距離短78RFID片上安全安全算法RSARSA加解密操作：C=Me mod n79RFID片上安全安全算法RSA時(shí)間復(fù)雜度就為O(2s2)時(shí)間復(fù)雜度就為O(s2)80RFID片上安全安全算法RSARSA硬件協(xié)處理器架構(gòu)814 可靠性82可靠性芯片存在掉電可能慢速下電電壓波形快速下電電壓波形83可靠性一旦掉電，內(nèi)部數(shù)據(jù)可能寫錯(cuò)84可靠性下電復(fù)位85可靠性下電復(fù)位基于反相器閾值的下電復(fù)位信號實(shí)測波形圖（1001）樣片實(shí)測（基于反相器閾值電壓下電復(fù)位電路）基于帶隙基準(zhǔn)源的下電復(fù)位信號實(shí)測波形圖cfg_pdf3:0最低電壓（V）最高電壓（V）樣片實(shí)測值01011.611.941.71V0

25、1101.672.001.77V10011.541.871.64V10101.591.921.68V10111.281.611.39V01111.321.651.49V快速下電1.64V快速下電1.61V慢速下電1.65V慢速下電1.61V86可靠性防拔插87可靠性防拔插測試885 芯片設(shè)計(jì)RFID標(biāo)簽芯片設(shè)計(jì)模擬電路設(shè)計(jì)流程流程算法設(shè)計(jì)（Algorithm Optimization）RTL設(shè)計(jì)（RTL Design）綜合（Synthesis）后端設(shè)計(jì)（Back-end Design）版圖后仿真（Post-layout Simulation）測試（Test）需求分析（Requirement）結(jié)

26、構(gòu)設(shè)計(jì)(Architecture Exploration)RTL驗(yàn)證（RTL Verification）門級驗(yàn)證（Gate-level Verification）電路參數(shù)提取（Circuit Extraction）制造（Manufacture）數(shù)據(jù)形式與工具M(jìn)atlab，C/C+SC/SV/C/C+VHDL，VerilogSystemVerilog綜合數(shù)據(jù)庫SystemVerilog后端數(shù)據(jù)庫SystemVerilogCadence SPWSynopsys CoCentric文本編輯器Synopsys Leda/Atrenta SpyGlassVCS/VSS/NC/QuestasimSynop

27、sys DC、PTCadence PKS/BuildGatesMAGMA Blast RTLVCS/VSS、NC、QuestaSimSynopsys Astro、ICCHercules，JupiterdpStar-RCxt，PrimePower/power compilerPT、formality，LEC邏輯物理RFID標(biāo)簽芯片設(shè)計(jì)數(shù)字電路設(shè)計(jì)流程如何處理數(shù)?；旌想娐?？模擬電路數(shù)字電路存儲電路COS操作系統(tǒng)RFID標(biāo)簽芯片設(shè)計(jì)RFID標(biāo)簽芯片設(shè)計(jì) 32KB ROMSRAMMOS管電容數(shù)字電路，包括3DES/RNG天線PAD模擬電路8KB EEPROM芯片面積：2*1.5mm2功耗：1mA頻率：

28、13.56MHZ安全：3DES/RNG 唯一UID COS安全機(jī)制片上安全：高安全算法：DES/3DES/RSA/ECC/SM系列高安全防護(hù)：側(cè)信道攻擊（DPA/SPA/EMA） 激光錯(cuò)誤注入 探針攻擊 存儲器加密 溫度/頻率/電壓傳感器芯片最終版圖93相關(guān)研究成果：(1), 非接觸IC卡芯片；(2), IC卡芯片內(nèi)的COS操作系統(tǒng)；(3), IC卡測試驗(yàn)證平臺；(4), 指紋電路模塊；(5),雙界面IC卡芯片；(6), RFID標(biāo)簽芯片及天線封裝。(1)(2)(3)(4)(5)(6)RFID標(biāo)簽芯片設(shè)計(jì)945 芯片制造95RFID標(biāo)簽芯片制造96RFID標(biāo)簽芯片制造多項(xiàng)目晶圓MPW（multi-project wafer)技術(shù)服務(wù)是一種國際科研和大學(xué)計(jì)劃的流行方式。MPW技術(shù)把幾到幾十種工藝上兼容的芯片拼裝到一個(gè)宏芯片（Macro-Chip）上然后以步進(jìn)的方式排列到一到多個(gè)晶圓上，制版和硅片加工費(fèi)用由幾十種芯片分擔(dān)，極大地降低芯片研