SPC管制圖講義ppt課件

1、控制圖 : SPC的一個(gè)根本工具,一種品質(zhì)圖解記錄,在圖上設(shè)有兩個(gè)控制界線,用以監(jiān)視製程品質(zhì)狀態(tài)1.測(cè)定製程 2.當(dāng)問題被偵測(cè)到時(shí),找出非機(jī)遇緣由3.消弭問題,立刻改善 4.重複此一循環(huán),持續(xù)監(jiān)控控制圖的目的 :.控制圖的功用 :1.決定製造工程所能夠達(dá)到之目標(biāo)或標(biāo)準(zhǔn) 2.被用為達(dá)到目標(biāo)之工具 3.可藉此判斷能否已達(dá)到目標(biāo) 可應(yīng)用於三個(gè)階段中設(shè)計(jì)設(shè)計(jì)產(chǎn)品規(guī)格時(shí)參考用製造控制品質(zhì)能否一致的工具 檢驗(yàn)作為品質(zhì)判斷的標(biāo)準(zhǔn).名詞解釋:群體, Population N 吾人用以斷定一群類似的項(xiàng)目數(shù)量。 樣品, Sample n 由一群類似的項(xiàng)目中隨機(jī)抽取代表性的小部份數(shù)量規(guī)格界線 : 品質(zhì)特性之最大許可

2、值控制界線 : 探討製程變異之準(zhǔn)則機(jī)遇緣由 : 不可防止之緣由,非人為緣由,不易控制之緣由非機(jī)遇緣由 : 可防止之緣由,人為緣由,異常緣由,特殊緣由,可控制緣由.平均值, Mean (Average) X-bar 抽樣中,其一切讀數(shù)的總和除以其共有多少讀數(shù) 規(guī)格中心 Mean of specification, 設(shè)計(jì)者之理想(規(guī)格中心)值標(biāo)準(zhǔn)差, Standard Deviation (Sigma) 一種(與群體)平均值所產(chǎn)生的平均偏向 2變異數(shù), Variance V= 偏向平方和的平均數(shù)(標(biāo)準(zhǔn)差的平方) 全距, Range R 最大讀值與最小讀值的差值 .控制圖與常態(tài)分配,型 ,型誤差 :

3、控制圖之型誤差 : 當(dāng)製程實(shí)際為控制內(nèi),卻誤判為控制外控制圖之型誤差 : 當(dāng)製程實(shí)際為控制外,卻誤判為控制內(nèi) .控制圖之種類:依用途來分類:控制用控制圖-維持製程在穩(wěn)定狀態(tài)中解析用控制圖-調(diào)查製程能否處於穩(wěn)定狀態(tài)依數(shù)據(jù)性質(zhì)來分類:計(jì)量值控制圖(Control Charts for Variables) 數(shù)據(jù)由量具實(shí)際量測(cè)而得,數(shù)值為連續(xù)性的計(jì)數(shù)值控制圖(Control Charts for Attributes) 數(shù)據(jù)由單位計(jì)數(shù)而得,數(shù)值為離散性的.控制圖的源起 : P11910年 美國 Ronald Fisher 爵士所發(fā)展出來的統(tǒng)計(jì)理論 1924年 美國品管大師 W.A. Shewhart

4、 博士於貝爾試驗(yàn)室研討時(shí)發(fā)明1932年 英國邀請(qǐng) W.A. Shewhart 博士到英國主講控制圖,提高了英國將統(tǒng)計(jì)方法應(yīng)用到製造業(yè)二次大戰(zhàn)期間(19411942年)美國制定三種強(qiáng)制性的戰(zhàn)時(shí)標(biāo)準(zhǔn): Z1-1-1941 Guide of Quality Control Z1-2-1941 Control Chart Method for Analysing Data Z1-3-1941 Control Chart Method for Control Quality During Production.控制圖的源起 : P21950年 W.E.Deming 博士到日本舉行八日品質(zhì)管理講習(xí)會(huì)後,由

5、日本發(fā)揚(yáng)光大1979年 美國NBC 製作一部日天性,為何我們不能,在美國引起震憾,喚醒汽車工業(yè)起而效尤國內(nèi)於民國42年(1953 年) 自美國引進(jìn)控制圖後,即為企業(yè)界廣泛的應(yīng)用至今經(jīng)濟(jì)部中央標(biāo)準(zhǔn)局亦於民國53至56年間(19641967),將控制圖法訂定公佈為國家標(biāo)準(zhǔn): CNS 2311 Z45 品質(zhì)控制指南 CNS 2312 Z46 分析數(shù)據(jù)用之控制圖法 CNS 2580 Z79 生產(chǎn)過程中控制品質(zhì)用之控制圖法.控制圖建立步驟 :1.選擇品質(zhì)特性2.決定控制圖之種類3.決定樣本大小,抽樣頻率和抽樣方式4.搜集數(shù)據(jù)5.計(jì)算控制參數(shù)(上,下控制界線等)6.持續(xù)搜集數(shù)據(jù),利用控制圖監(jiān)視製程.計(jì)量值

6、控制圖 平均值與全距控制圖 ( X-bar -R )平均值與標(biāo)準(zhǔn)差控制圖 ( X-bar S ) 中位值與全距控制圖 ( X -R )個(gè)別值與移動(dòng)全距控制圖 ( X -Rm )計(jì)數(shù)值控制圖 不良率控制圖 ( p -chart ) 不良數(shù)控制圖 ( np -chart ) 缺點(diǎn)數(shù)控制圖 ( c -chart ) 單位缺點(diǎn)數(shù)控制圖 ( u -chart ) .控制圖運(yùn)用時(shí)機(jī):.控制圖之判讀法 :區(qū)間測(cè)試法則 : (Zone Tests) (1958 Western Electric)(1) 一點(diǎn)落在A區(qū)以外(超出控制界線)(2) 連續(xù)三點(diǎn)中有二點(diǎn)落在A區(qū)或A區(qū)以外(3) 連續(xù)五點(diǎn)中有四點(diǎn)落在B區(qū)或

7、B區(qū)以外(4) 連續(xù)八點(diǎn)在中心線之同一側(cè)連串測(cè)試法則 : (Run Tests) (1988 Grant&Leavenworth)(1) 連續(xù)七點(diǎn)落在控制中心線之同一側(cè)(2) 連續(xù)十一點(diǎn)中有十點(diǎn)落在控制中心線之同一側(cè)(3) 連續(xù)十四點(diǎn)中有十二點(diǎn)落在控制中心線之同一側(cè)(4) 連續(xù)十七點(diǎn)中有十四點(diǎn)落在控制中心線之同一側(cè)(5) 連續(xù)二十點(diǎn)中有十六點(diǎn)落在控制中心線之同一側(cè).控制圖之判讀法 :Nelson 8個(gè)法則 : (1984,1985) (1) 一點(diǎn)落在A區(qū)以外(2) 連續(xù)九點(diǎn)在C區(qū)或C區(qū)以外(3) 連續(xù)六點(diǎn)持續(xù)地上升或下降(4) 連續(xù)十四點(diǎn)交互著上下跳動(dòng)(5) 連續(xù)三點(diǎn)有兩點(diǎn)落在A區(qū)或A區(qū)以外(

8、6) 連續(xù)五點(diǎn)有四點(diǎn)落在B區(qū)或B區(qū)以外(7) 連續(xù)十五點(diǎn)在控制中心線上下兩側(cè)之C區(qū)(8) 連續(xù)八點(diǎn)在控制中心兩側(cè)但無點(diǎn)在C區(qū).製程才干 ( Process Capability ) 對(duì)於穩(wěn)定製程所持有之特定成果,指能夠合理達(dá)成之才干界限製程準(zhǔn)確度 ( Capability of accuracy ) 平均值與規(guī)格中心值其間偏向的程度製程精細(xì)度 ( Capability of precision ) 規(guī)格公差範(fàn)圍與製程變異寬度兩者之間相差的程度製程才干指數(shù) ( Cpk ) 綜合Ca與Cp指數(shù)來代表製程的綜合才干.製程才干調(diào)查之步驟 : 確切了解要調(diào)查的品質(zhì)特性與調(diào)查範(fàn)圍並搜集數(shù)據(jù)確定製程是處於穩(wěn)

9、健的狀態(tài)計(jì)算製程才干指數(shù)判斷製程才干能否足夠,如缺乏時(shí),則加以改善 .製程才干指標(biāo) Ca製程準(zhǔn)確度 ( Capability of accuracy ) 平均值 規(guī)格中心值 Ca= - = - 規(guī)格公差 (雙邊規(guī)格時(shí)) (= )Ca 愈小品質(zhì)愈好, Ca= 0 表示 平均值與規(guī)格中心完全一致 .製程才干指標(biāo) Cp製程精細(xì)度 ( Capability of precision ) 規(guī)格公差 Cp= - = - (雙邊規(guī)格時(shí)) 6 倍標(biāo)準(zhǔn)差 規(guī)格上限平均值 Cp= - = - (單邊規(guī)格時(shí)) 3 倍標(biāo)準(zhǔn)差 3 平均值規(guī)格下限 或 Cp= - = - 3 倍標(biāo)準(zhǔn)差 3Cp 愈大品質(zhì)愈好, 表示 製程的變異寬度愈小於規(guī)格公差.製程才干指標(biāo) Cpk製程才干指數(shù) ( Cpk ) Cpk= Mi