SPC 初級教材ppt課件

1、 SPCSTATISTICAL PROCESS CONTROL統(tǒng) 計 制 程 管 制 初 級 教 育 訓 練 教 材. 何謂SPC?定義: SPC: 即統(tǒng)計制程控制(Statistical Process Control),是利用統(tǒng)計方法達到制程控制的技術.目的: 改進並確保品質,使得由于被拒收或其它緣由而導致的制程本錢降至最低. 控制圖的種類:分類 計量值控制圖 計數(shù)值控制控制圖的種類:計量值控制圖平均值與全距控制圖 : X-R Chart中位值與全距控制圖 : X-R Chart個別值與移動全距控制圖: X-Rm Chart平均值與標準差控制圖: X-S Chart.計數(shù)值控制圖 不良率控

2、制圖 P chart 不良數(shù)控制圖 Pn chart 缺點數(shù)控制圖 C Chart單位缺點數(shù)控制圖 U chartG-COM廠內控制圖之運用位置:.控制圖之計算方式: X-R Chart 之計算 n=5 D4 = 2.114 D3 = 0 A2 = 0.577 X:上月(歷史資料)統(tǒng)計結果R:上月(歷史資料)統(tǒng)計結果X:每次量測之平均值R:每次量測之全距.作業(yè)方式: (1). 錫膏印刷機操機員或專人每小時(或更換機種時)取四片PCB(二 片為前/左刮,二片為后/右刮), 量測5個重要位置, 算出 X及R, 將數(shù)據(jù)填寫于兩份控制圖上(一份為前/左刮,一份為后/右刮),分機種制造. (2).SMT

3、 Profile測試員每天每班(或更換機種時)應對回焊爐進行量測,并將控制圖,分機種制造. (3).每月月底檢討該月生產狀況,算出每種錫膏厚度規(guī)格的 X 、 R及控制上下限,來判斷控制標準能否需做進一步修正. U Chart 之計算.U :上月歷史資料統(tǒng)計結果(平均單位缺點數(shù))C: 每 2 小時之缺點數(shù)n: 每 2 小時之生產目檢數(shù)量U: 單位缺點數(shù) U = c/n*1000000 DPPM注:下限值為 0 ,U & UCL之單位均為DPPM作業(yè)方式: (1). 領班於該線生產中,統(tǒng)計出該線這 2 小時所目視檢查之數(shù)量、缺點總數(shù),算出其 U、UCL,繪於控制圖上. (2). 控制圖分班別,機種

4、別制造. (3). 每月月底統(tǒng)計出該月之平均單位缺點數(shù) U ,來判斷控制標準能否需做進一步修正.P Chart 之計算:.P: 上月歷史資料統(tǒng)計結果(平均不良率)d: 每2個小時生產之不良數(shù)n: 每2小時測試數(shù)量P: 不良率 P = d/n * 1000000 DPPM注:下限值為 0 , P & UCL之測量單位均為DPPM.作業(yè)方式: (1).領班每2小時統(tǒng)計其所測試之數(shù)量、不良數(shù),算出其 P、UCL, 繪於控制圖上. (2). 控制圖應分班別, 機種別制造. (3). 每月月底統(tǒng)計出該月之平均不良率 P ,以判斷控制標準是否需做進一步修正. X - Rm Chart 之計算: n=2 E2 = 2.66 D3 = 0 D4 = 3.267X(bar): 上月歷史資料統(tǒng)計結果 Rm = Xi - Xi+1Rm = (上月歷史資料統(tǒng)計結果)Rm :移動全距K : 樣本組數(shù)n : 一次取用的測定值個數(shù)Rm/ K-n+1.作業(yè)方式: (1). 錫爐操作員每 4 小時量一次或換機種時量測一次,算出其 移動全距rR后, 將X及R繪於控制圖上. (2). 每月月底統(tǒng)計出該月之 X 及 Rm ,以判斷控制標準能否需 進一步修正.控制圖之異常型態(tài): 作業(yè)人員在執(zhí)行控制圖時,需留意以下異?，F(xiàn)象,以判斷制程是 否異常,而做進一步的更正與處置. 異常現(xiàn)象:.制程才干Ca - 制