物化探查證及剖面測(cè)量規(guī)范

1、物探、化探異常查證要求和考核標(biāo)準(zhǔn)物探、化探異常查證屬于整個(gè)地質(zhì)礦產(chǎn)普查第一階段 （礦產(chǎn)發(fā)現(xiàn)階段） 的工作，實(shí)踐證明，它是發(fā)現(xiàn)礦產(chǎn)的一條捷徑。為提高物探、化探異常查證工作的質(zhì)量和效果，在總結(jié)近年來(lái)異常查 證經(jīng)驗(yàn)的基礎(chǔ)上，特制定本物探、化探異常查證要求和考核標(biāo)準(zhǔn)（簡(jiǎn)稱“要求和考核標(biāo)準(zhǔn)”）。本要求和考核標(biāo)準(zhǔn)作為對(duì)物化探 生產(chǎn)技術(shù)管理制度（1983年）的重要補(bǔ)充，是各地礦局（廳）、大 隊(duì)和分隊(duì)考核驗(yàn)收各類異常查證工作的標(biāo)準(zhǔn)。并可作為各類物探、化 探異常查證項(xiàng)目費(fèi)用核算的依據(jù)。一、異常查證階段劃分：1、異常查證工作，按其查證的詳細(xì)程度劃分為三個(gè)階段：踏勘檢查（即三級(jí)查證）詳細(xì)檢查（即二級(jí)查證）工程驗(yàn)證（

2、即一級(jí)查證）2、異常查證的工作的流程及在整個(gè)物探、化探工作中所處的位置及 作用見框圖。圖中將物探、化探工作按比例尺劃分為兩個(gè)階段，即1:10萬(wàn)或更小比例尺物探、化探工作；1: 5萬(wàn)一1: 2.5萬(wàn)物探、化探 工作。針對(duì)不同比例尺的物探、化探工作，其異常查證工作的流程也 略有不同。 、對(duì)于小比例尺的物探、化探工作，圈定了異常區(qū)并對(duì)異常進(jìn)行篩 選之后，即進(jìn)入首次的異常踏勘檢查工作（三級(jí)查證）。查證結(jié)果有 以下三種情況：a、發(fā)現(xiàn)了具有進(jìn)一步工作價(jià)值的礦化、礦體。此時(shí)可直接進(jìn)入異常 的二級(jí)查證階段。b、小比例尺工作圈出較大的異常區(qū)（帶）或大型局部異常，踏勘檢 查后，未能找到局部異常的最佳部位，地表也未

3、見礦化、礦體，但從 異常所處的地質(zhì)背景和異常特征分析，區(qū)內(nèi)成礦條件有利或個(gè)別異常 見有意義的礦化。此時(shí)就需統(tǒng)一布置 1: 5萬(wàn)（或1: 2.5萬(wàn)）物探、 化探普查工作，以期進(jìn)一步圈定、分解異常。1: 5萬(wàn)（或1: 2.5萬(wàn)） 圈出的局部進(jìn)行篩選后，還需對(duì)所選定的異常進(jìn)行踏勘檢查 （也就是 第二次異常三級(jí)查證）。而后再視情況進(jìn)入異常二級(jí)查證階段。c、地表未見有意義的礦化、礦體，從異常所處的地質(zhì)背景和異常特 征分析，異常區(qū)成礦條件不利，或已查明異常為非地質(zhì)因素引起，進(jìn) 一步工作已無(wú)必要?？蓪惓簳r(shí)放置。由以上分析，可以看出小比例尺的物、化探工作，異常三級(jí)檢查的重 復(fù)進(jìn)行是重要的物征之一。 、對(duì)于

4、直接布置的1: 5萬(wàn)一1: 2.5萬(wàn)物探、化探工作，由于比例 尺相對(duì)來(lái)說(shuō)已經(jīng)較大，圈出的異常范圍小，踏勘檢查后容易找到局部 異常的最佳部位或發(fā)現(xiàn)礦化、礦體，因此，在見礦化、礦體和認(rèn)為成 礦條件有利的異常區(qū)內(nèi)，可直接布置異常二級(jí)查證工作。異常查證一般應(yīng)遵循先三級(jí)查證， 后二級(jí)查證，然后再一級(jí)查證的順 序。特殊情況下可跨越某個(gè)階段進(jìn)行。二、異常的篩選與異常查證項(xiàng)目立項(xiàng)1、異常篩選原則：異常篩選工作要在充分收集已有物探、化探、地質(zhì)、礦產(chǎn)、遙感等各種資料的基礎(chǔ)上，認(rèn)真綜合分析、研究、對(duì)比， 根據(jù)目標(biāo)物、目的物的識(shí)別準(zhǔn)則和發(fā)現(xiàn)標(biāo)志，對(duì)異常進(jìn)行科學(xué)的分類、 歸并與排序。在運(yùn)用已有識(shí)別準(zhǔn)則和發(fā)現(xiàn)標(biāo)志時(shí)， 要

5、避免地區(qū)局限性，要充分尊重 異?？陀^存在的事實(shí)，要準(zhǔn)備有新的發(fā)現(xiàn)和突破原有的認(rèn)識(shí)及局部的 規(guī)律。異常篩選和發(fā)現(xiàn)新的找礦靶區(qū)，以推動(dòng)地質(zhì)找礦工作。2、異常查證工作，應(yīng)在逐級(jí)篩選的基礎(chǔ)上進(jìn)行，一般情況下通過初步篩選確定三級(jí)查證的異常；同樣，二級(jí)查證的異常一般應(yīng)是在三級(jí) 查證后的異常中篩選，一級(jí)查證的異常一般應(yīng)在二級(jí)查證后的異常中 篩選。3、二級(jí)查證與一級(jí)查證均需單獨(dú)立項(xiàng)。三級(jí)查證一般也要單獨(dú)立項(xiàng)， 也可含于中小比例尺物探、化探工作項(xiàng)目中。4、?。▍^(qū)、市）地礦局（廳）級(jí)單位安排異常工程驗(yàn)證項(xiàng)目時(shí)，需 將配套的地下物探、化探和驗(yàn)證工作同時(shí)列入計(jì)劃，并落實(shí)執(zhí)行單位。5、單獨(dú)立項(xiàng)的異常查證項(xiàng)目，須編寫單獨(dú)

6、設(shè)計(jì)：三級(jí)查證的設(shè)計(jì)內(nèi)容： 目的任務(wù)； 異常查證工作區(qū)的位置及坐標(biāo)； 異常區(qū)的地質(zhì)、地球物理與地球化學(xué)特征； 異常解釋推斷初步意見； 異常查證工作方法用選擇依據(jù)、工作量及質(zhì)量要求； 地質(zhì)、物探、化探配合方案； 人員、設(shè)備、資金預(yù)算及施工安排; 有關(guān)附圖。一級(jí)查證的設(shè)計(jì)內(nèi)容： 目的任務(wù)、施工依據(jù)； 工程的種類、工作量及質(zhì)量要求； 物探、化探配合方案（含地下物探與測(cè)井、驗(yàn)證后再解釋）； 人員、設(shè)備、資金預(yù)算及施工安排； 有關(guān)附圖。三、異常查證各階段的任務(wù)、要求和考核標(biāo)準(zhǔn)：異常查證各階段因其任務(wù)的不同，各階段的要求及考核標(biāo)準(zhǔn)也有所不同。對(duì)異常查證項(xiàng)目考核的依據(jù)應(yīng)是本標(biāo)準(zhǔn)和項(xiàng)目設(shè)計(jì)書。具體以下表說(shuō)明：

7、查證級(jí)別查證任務(wù)查證要求考核標(biāo)準(zhǔn)踏勘檢查三級(jí) 復(fù)核異常是否存在。 進(jìn)一步確定異常的確切位置。 了解異常所處的地質(zhì)環(huán)境。 初步查明由淺部地質(zhì)體引起異常的起因， 對(duì)異常的找礦遠(yuǎn)景作出初步評(píng)價(jià)，提出是否進(jìn)一步工作的具體意見。應(yīng)大致確定異常的范圍，至少有三條物探、化探剖面反映異常。 查證方法以原方法為主，并可適當(dāng)選擇其它方法。物探異常要作為 必要的化探工作；物探、化探異常都應(yīng)進(jìn)行地質(zhì)剖面測(cè)量工作。 對(duì)淺覆蓋區(qū)內(nèi)有找礦意義的異常，應(yīng)進(jìn)行少量的槽探揭露。 檢查結(jié)束后，應(yīng)提交查證工作簡(jiǎn)報(bào)，提出是否詳細(xì)檢查的建議。全面檢查是否符合本階段的查證要求。重點(diǎn)考核： 初步查明了由淺部地質(zhì)體引起異常的起因。 對(duì)異常的找

8、礦意義做出了有依據(jù)的評(píng)價(jià)。詳細(xì)檢查二級(jí) 詳細(xì)圈定異常范圍。 詳細(xì)了解異常區(qū)的地質(zhì)和地球物理、地球化學(xué)特征。 對(duì)異常的找礦意義做出評(píng)價(jià)。 對(duì)有找礦意義的異常提出工程查證的具體建議。 應(yīng)做大比例尺的面積性物探、化探工作；工區(qū)大小應(yīng)以能完整反映 主要異常形態(tài)為準(zhǔn)；測(cè)網(wǎng)的密度，應(yīng)以能充分反映異常的主要細(xì)節(jié)為 原則。 應(yīng)測(cè)地質(zhì)、物探、化探的典型剖面，測(cè)制地質(zhì)草圖。 對(duì)淺覆蓋區(qū)有找礦意義的異常應(yīng)進(jìn)行一定量的山地工程，揭露淺部異常體。 對(duì)需要進(jìn)行鉆探驗(yàn)證的異常，要進(jìn)行定量、半定量的推斷，提出異 常驗(yàn)證方案及驗(yàn)證建議書。提出異常檢查報(bào)告。全面檢查是否符合本 階段的查證要求。重點(diǎn)考核： 在確定異常起因方面提供了

9、更充分的依據(jù)。 對(duì)建議驗(yàn)證的異常源形態(tài)和參數(shù)做出了較為可靠的推斷。工程驗(yàn)證一級(jí) 查明由地表下地質(zhì)因素引起異常的地質(zhì)起因， 或查明礦化向深部延 伸的變化情況，大致了解礦化規(guī)模、產(chǎn)狀、分布特征。 提出可否作為進(jìn)一步開展地質(zhì)礦產(chǎn)普查評(píng)價(jià)的具體意見。 實(shí)施合理、有效的驗(yàn)證工程。 對(duì)鉆孔必須進(jìn)行井中物探、化探工作。 查證過程中應(yīng)有物探、化探組配合，以便及時(shí)調(diào)整驗(yàn)證工程和做補(bǔ) 充性物探、化探工作。 查證結(jié)束后，應(yīng)提出是否進(jìn)行地質(zhì)普查的意見，提交查證報(bào)告。全面檢查是否符合本階段的查證要求。重點(diǎn)考核： 工程中見到了異常源。 對(duì)異常的找礦價(jià)值做出了有依據(jù)的結(jié)論。四、對(duì)異常查證報(bào)告的要求：1、對(duì)異常踏勘檢查結(jié)束后

10、應(yīng)編寫簡(jiǎn)報(bào)。如異常需進(jìn)一步進(jìn)行詳細(xì)檢查，應(yīng)提出詳查立項(xiàng)建議書。簡(jiǎn)報(bào)內(nèi)容包括：（三級(jí)查證） 工作目的和任務(wù)完成情況； 異常區(qū)地質(zhì)、地球物理和地球化學(xué)特征各簡(jiǎn)況； 工作方法； 主要成果，有意義異常需重點(diǎn)闡述； 提出進(jìn)一步工作的具體意見； 附異常分布圖、地質(zhì)草圖、檢查成果圖。2、異常詳細(xì)檢查結(jié)束后必須編寫成果報(bào)告。凡建議進(jìn)行深部工程驗(yàn) 證時(shí)，應(yīng)提出工程驗(yàn)證建議書。報(bào)告內(nèi)容包括：（二級(jí)查證） 工作目的、異常區(qū)經(jīng)濟(jì)交通情況、任務(wù)完成情況； 異常區(qū)地質(zhì)、地球物理和地球化學(xué)特征； 工作方法技術(shù)與質(zhì)量； 主要成果，異常解釋推斷異常是否具有找礦意義， 存在問題及下一 步建議； 結(jié)論與建議，重點(diǎn)確定異常是否具有找

11、礦意義，存在問題及下一步 建議； 附地質(zhì)草圖和物探、化探成果平面圖與剖面圖、綜合異常圖、工程 綜合編錄圖、實(shí)際材料圖。2、異常工程驗(yàn)證工作結(jié)束后，必須編寫驗(yàn)證成果報(bào)告，成果報(bào)告應(yīng)由地質(zhì)、物探、化探技術(shù)人員共同編寫。報(bào)告內(nèi)容包括：（一級(jí)查證） 工程驗(yàn)證的目的任務(wù)，工作完成情況； 工作區(qū)地質(zhì)特征、異常特征； 驗(yàn)證手段以及質(zhì)量情況； 驗(yàn)證主要成果，異常解釋推斷和異常找礦前景的評(píng)價(jià)意見； 結(jié)論與建議。重點(diǎn)反映工程驗(yàn)證是否達(dá)到預(yù)期目的、存在問題、下 一步建議。 附地質(zhì)、工程分布圖（含綜合異常圖），鉆孔綜合柱狀圖（含物性與測(cè)井圖），工程驗(yàn)證綜合剖面圖，井中物探、化探圖等。剖面測(cè)制及1:2000、1:100

12、00地質(zhì)測(cè)量第一講 剖面測(cè)制一、測(cè)制剖面的目的剖面制是區(qū)域地質(zhì)和礦區(qū)地質(zhì)測(cè)量工作中的基礎(chǔ)工作，一般放在地質(zhì) 填圖工作的初始階段即設(shè)計(jì)階段進(jìn)行，個(gè)別放在后期階段進(jìn)行，應(yīng)依測(cè) 區(qū)實(shí)際情況而定，按需要補(bǔ)測(cè)一定數(shù)量的剖面。地質(zhì)普查和區(qū)域地質(zhì)調(diào)查中的地質(zhì)剖面可分為：（一）地層剖面：其目的是通過研究巖石物質(zhì)及礦物成分、結(jié)構(gòu)構(gòu)造、 古生物特征及組合關(guān)系、含礦性、標(biāo)準(zhǔn)層、沉積建造、地層組合、變 質(zhì)程度等。建立地層層序、查清厚度及其變化，接觸關(guān)系，確定填圖 單位。（二）構(gòu)造剖面：是著重研究區(qū)內(nèi)地層及巖石在外力作用下產(chǎn)生的形 變，如褶皺、斷裂、節(jié)理、劈理、糜棱巖帶（韌剪帶）的特征、類型、 規(guī)模、產(chǎn)狀、力學(xué)性質(zhì)和序

13、次、組合及復(fù)合關(guān)系。對(duì)研究區(qū)域構(gòu)造的 剖面，要通過主干構(gòu)造及典型的構(gòu)造單元。（三）侵入巖剖面：主要是研究侵入巖的礦物成分、含量及組合、結(jié) 構(gòu)構(gòu)造、含礦性、同化混染、接觸蝕變作用、原生及次生構(gòu)造、侵入 體與圍巖的接觸關(guān)系、巖相變化特征、侵入期次、時(shí)代及侵入體與成 礦的關(guān)系。確定侵入體中單元?jiǎng)澐?。（四）第四系剖面：研究第四紀(jì)沉積物的特征、成因類型及含礦性、時(shí)代、地層厚度及變化特征、新構(gòu)運(yùn)動(dòng)及其表現(xiàn)形式（五）火山巖剖面：研究火山巖的巖性特征、與上、下地層的接觸關(guān) 系、火山巖中沉積夾層的建造、生物特征；火山巖的噴發(fā)旋回、噴發(fā) 韻律，火山巖的原生構(gòu)造和次生構(gòu)造，確定火山巖的噴發(fā)的形式、火山 機(jī)構(gòu)和構(gòu)造。

14、礦區(qū)勘探線剖面：分鉛直剖面和水平剖面，此處僅指鉛直剖面。在布設(shè) 勘探剖面時(shí)，要照顧到整個(gè)礦床的各個(gè)地段 ，或兼顧相鄰礦床。剖面 線垂直礦體（床）走向線，間距一般與勘探網(wǎng)度一致?？碧骄€剖面主要 反映礦體與圍巖之間的界限，礦體中各種礦石白然類型和工業(yè)品級(jí)的 界線，各種巖石之間的界線，各種構(gòu)造界線；礦體的數(shù)量、分布、形 狀、大小、產(chǎn)狀、厚度、礦石的白然類型和工業(yè)品級(jí)；構(gòu)造控制和構(gòu) 造破壞等。剖面上標(biāo)出探礦工程的種類、數(shù)量、位置、取樣資料，從而可反映出勘探工作的工程控制程度、 礦體圈定的合理程度、各地段 的儲(chǔ)量類別。二、剖面選擇和布置原則地層剖面選擇:應(yīng)選在地層發(fā)育完整、基巖露頭良好、構(gòu)造簡(jiǎn)單（構(gòu)造變

15、動(dòng)較小）、變質(zhì)程度淺、標(biāo)志層發(fā)育的地段。若露頭不好或因構(gòu)造影響，致使地 層不全、界限不清時(shí)，可測(cè)制補(bǔ)充性的小輔助剖面。控制要點(diǎn)：巖層出露好、構(gòu)造簡(jiǎn)單、標(biāo)志層。注意事項(xiàng)：正確確定標(biāo) 志層。責(zé)任者：項(xiàng)目負(fù)責(zé)剖面布置：應(yīng)基本垂直區(qū)域地層走向。地質(zhì)構(gòu)造復(fù)雜地區(qū)，剖面線方向和地層走向夾角應(yīng)不小于 60度。若地層產(chǎn)狀平緩，其剖面宜布置 在地形陡坡處?？刂埔c(diǎn)：剖面方位。責(zé)任者：項(xiàng)目負(fù)責(zé)三、測(cè)制剖面的基本方法和要求（一）剖面踏勘：在剖面基本選定之后，應(yīng)沿線進(jìn)行踏勘，了解露頭 連續(xù)狀況、構(gòu)造形態(tài)、巖性特征、地層組合、侵入巖的分布、種類、 巖性巖相變化、接觸關(guān)系，初步了解地層單元及填圖單元的劃分位置、 化石層位

16、、重要樣品米集地點(diǎn)等、在此基礎(chǔ)上確定總導(dǎo)線方位、剖面 測(cè)制中導(dǎo)線通過的具體位置，需平移的地段和必須工程揭露的地區(qū)， 以及工作的住地和各住站的時(shí)間。控制要點(diǎn)：地層單元及填圖單元的劃分位置。責(zé)任者：項(xiàng)目負(fù)責(zé)（二）剖面測(cè)制中人員分工野外工作一般需要4-6人.人員大致分工為：地質(zhì)勘察.分層兼記錄1人做白然剖面.掌平面圖（航片）1人前測(cè)手兼填記錄表、GPS定點(diǎn)1人后測(cè)手兼標(biāo)本采集、GPS定點(diǎn)1人若人員充足時(shí)，記錄和樣品采集均可由專人負(fù)責(zé)。 若測(cè)制古生物地層 剖面，最好古生物鑒定人員參加，變質(zhì)巖地層剖面最好巖礦鑒定人員 參加，以指導(dǎo)化石.薄片的采集工作?！皩?shí)測(cè)剖面”測(cè)量應(yīng)由項(xiàng)目負(fù)責(zé)人親白主持，全體填圖人員

17、參加（至 少一條），以統(tǒng)一分層，統(tǒng)一野外巖石定名，統(tǒng)一技術(shù)要求，統(tǒng)一工 作方法，統(tǒng)一圖例，并對(duì)一些主要地質(zhì)現(xiàn)象取得初步一致的看法。同 時(shí)米取系統(tǒng)標(biāo)本，進(jìn)行鑒定?？刂埔c(diǎn)：五“統(tǒng)一”。責(zé)任者：項(xiàng)目負(fù)責(zé)（三）剖面比例尺的選擇及有關(guān)精度要求1. 剖面比例：根據(jù)剖面所要研究的內(nèi)容、目的、巖性復(fù)雜程度等， 精度要求視實(shí)際情況具體對(duì)待。一般情況下比例尺為1/500-10000。2 .剖面上分層精度的要求：原則上在相應(yīng)比例尺圖面上達(dá)1毫米的單 位（厚度）均需表示。但一些重要或具特殊意義的地質(zhì)體，如標(biāo)志層、 化石層、含礦層、火山巖中的沉積夾層等，其厚度在圖上雖不足1毫 米，也應(yīng)放大到1毫米表示，并在文字記錄中

18、說(shuō)明。分層間距按斜距 丈量。3. 剖面的平移：剖面通過區(qū)如遇有大片復(fù)蓋、天然障礙或因構(gòu)造破壞 造成測(cè)制意義不大的地段，則需要平移。平移應(yīng)依一定的標(biāo)志層或?qū)?測(cè)的順層追索為準(zhǔn)。一般平移距離不大于100米，否則應(yīng)分開另行測(cè) 制剖面。控制要點(diǎn)：剖面線平移時(shí)巖層層位銜接。責(zé)任者：項(xiàng)目負(fù)責(zé)（四）剖面的具體施測(cè)1. 地形剖面線的測(cè)量：有儀器法和半儀法兩種，儀器法由測(cè)量人員負(fù)責(zé) 測(cè)制；半儀器法由地質(zhì)人員測(cè)制，以羅盤測(cè)量導(dǎo)線方位和坡度，以皮 尺或測(cè)繩丈量斜距。注意將皮尺或測(cè)繩盡量拉緊。方向和坡角要用前、 后測(cè)手測(cè)量的平值，且要求兩人測(cè)量數(shù)據(jù)差值不能過大。2. 將測(cè)量數(shù)據(jù)和分層位置及時(shí)記入剖面記錄表，并表示在平

19、面圖上，二者互相對(duì)照互相吻合。剖面記錄表見表1-13. 根據(jù)剖面測(cè)制的目的，按需要配合以物探、化探工作。4. 剖面上樣品采集工作：應(yīng)根據(jù)剖面研究的目的，系統(tǒng)采集巖石薄片 樣、各類標(biāo)本、巖石化學(xué)、人工重砂、古生物樣等。特別注意礦化地 段樣品的采集，嚴(yán)防漏礦現(xiàn)象發(fā)生。5. 沿剖面線用定地質(zhì)點(diǎn)的方法控制剖面起點(diǎn)、終點(diǎn)、轉(zhuǎn)折點(diǎn)、重要地 質(zhì)界線、接觸關(guān)系、構(gòu)造關(guān)鍵部位和礦化有利地段等。地質(zhì)點(diǎn)和分層 號(hào)、化石及主要樣品應(yīng)用紅漆在實(shí)地標(biāo)記，并準(zhǔn)確標(biāo)繪在圖上。6. 居民點(diǎn)、河流、地形制高點(diǎn)、主要地物及深礦工程等，應(yīng)適當(dāng)標(biāo)注 于平面圖和剖面圖上。7. 在剖面通過部位，遇到有意義的地質(zhì)現(xiàn)象應(yīng)畫素描圖或拍照地質(zhì)照

20、片，并在記錄上記明地點(diǎn)、時(shí)間和要說(shuō)的內(nèi)容。遇到構(gòu)造、特別是可 說(shuō)明大褶皺構(gòu)造的次級(jí)褶皺構(gòu)造，應(yīng)在小構(gòu)造具體出現(xiàn)位置的剖面圖 上方，用特寫方式附上小構(gòu)造形態(tài)特征素描圖，如圖 1-1控制要點(diǎn)：巖層層位劃分、接觸關(guān)系、礦化地段樣品的采集。注意事 項(xiàng)：剖面起止點(diǎn)要反復(fù)交匯檢查。責(zé)任者：項(xiàng)目負(fù)責(zé)、地質(zhì)組長(zhǎng)。（五）剖面圖的繪制剖面圖的繪制常用的有展開法和投影法兩種。 當(dāng)導(dǎo)線方位比較穩(wěn)定多 用展開法，當(dāng)導(dǎo)線方位多變、轉(zhuǎn)折較多時(shí)宜用投影法。1.展開法：展開法是將各次所拉的不同方向的導(dǎo)線按其水平長(zhǎng)度移成 統(tǒng)一方向的直線，也就是說(shuō)將不同方向?qū)Ь€沿線觀察的地質(zhì)現(xiàn)象。當(dāng)成是整個(gè)在一條統(tǒng)一直線剖面線上的觀測(cè)。如圖 1-

21、2具體作法是據(jù)斜距和坡角（±° ）把各段導(dǎo)線圓滑連接而成。在導(dǎo)線 方向與地層走向不完全垂直（交角小于 75° ）時(shí)，需要將真傾角換 成視傾角在剖面圖上表示。此法宜用于導(dǎo)線方位變化不大，比較穩(wěn)定 的情況下。其優(yōu)點(diǎn)：比較簡(jiǎn)單，便于在野外繪制，剖面地形形態(tài)與野外 地貌相似。缺點(diǎn)：是將轉(zhuǎn)折的導(dǎo)線展開，在剖面圖上夸大地質(zhì)體的實(shí) 際寬度，以至歪曲了地質(zhì)構(gòu)造的實(shí)際形態(tài)；剖面資料與平面圖對(duì)比不 方便，不能作布置工程之用，而地層厚度只能用公式計(jì)算求得。在作 剖面中，每次導(dǎo)線方位應(yīng)在剖面上方予以表示。 剖面下的展開導(dǎo)線沒 有多少意義，成圖中可不表示。2. 投影法:首先繪出導(dǎo)線平面圖，

22、并把各地質(zhì)要素標(biāo)繪到相應(yīng)的位置上， 構(gòu)成路線地質(zhì)圖。投影基線方位與總導(dǎo)線方位 （剖面總方位）一致。將 地層沿走向延長(zhǎng)到投影基線上，形成各地質(zhì)要素與投影基線的交點(diǎn)，再 將各交點(diǎn)垂直投影到基線相平行的剖面圖上，即為剖面上各地質(zhì)要素 的界線點(diǎn)，如圖1-3。地形線是將各導(dǎo)線點(diǎn)位投影到基線上，再以基線 的某己知高程據(jù)各導(dǎo)線點(diǎn)的累計(jì)高程勾繪而成。此法有人稱作二次投 影法。在導(dǎo)線方位轉(zhuǎn)折不大，每條導(dǎo)線方向和剖面總方向基本一致，也就是說(shuō) 和地層走向接近垂直，則可將平面圖上地質(zhì)界線與導(dǎo)線交匯點(diǎn)直接投 影到剖面圖上，進(jìn)行剖面繪制。此法也稱一次投影法。投影法繪制剖面圖較展開法復(fù)雜，但仍可在野外繪制，成圖后剖面上的

23、地層厚度基本上反映了地層真厚度，構(gòu)造要素和形態(tài)特征基本符合實(shí) 際。其優(yōu)點(diǎn)：剖面圖與平面圖上起點(diǎn)和終點(diǎn)之間長(zhǎng)度相同，便于平、剖面圖對(duì)比。缺點(diǎn)：是剖面地形輪廓線有所歪曲，壓縮了原實(shí)測(cè)剖面 長(zhǎng)度，作圖時(shí)必須投影換算出水平距。關(guān)于投影基線的確定方法，在投影基線與剖面線總體方位相一致，即垂 直或基本垂直地層走向的原則下，其常用方法有以下幾種：(1) 投影基線通過各條主要導(dǎo)線.見圖1-4(1)(2) 導(dǎo)線起點(diǎn)的連線.但必須是測(cè)量導(dǎo)線較均勻地分布在投影基線兩側(cè)。見圖1-4 (2)(3) 導(dǎo)線加權(quán)平均法求投影基線方位：公式：0 =L1. 0 1+L2. 0 2+, .+Ln 0 nn E L式中：0為投影基線

24、方位角L1.Ln為各導(dǎo)線長(zhǎng)度n為導(dǎo)線條數(shù)EL為導(dǎo)線長(zhǎng)度和在求得投影基線方位角9值后，在選擇投影基線通過主要導(dǎo)線的位置， 并按0角值標(biāo)定投影基線.(4) 幾何作圖法：依次連接各導(dǎo)線的中點(diǎn)，再連第一次連線中點(diǎn)，第二次 連線的中點(diǎn)，最后形成一條直線，再通過該直線中點(diǎn)畫一條垂直地層走 向的直線，即為投影基線，見圖1-4 (3)。次法適宜于導(dǎo)線轉(zhuǎn)折多變的剖 面，作法較繁雜，但正確性高。次法投影基線選定方法，以(1)(3)最常用, 作圖者可依據(jù)所測(cè)剖面導(dǎo)線分布情況和地質(zhì)實(shí)際白行選用?？刂埔c(diǎn)：剖面投影基準(zhǔn)線方位的選定。注意事項(xiàng)：導(dǎo)線測(cè)量誤差校 正。責(zé)任者：地質(zhì)組長(zhǎng)。3. 地層厚度換算 采用地層厚度換算公式

25、計(jì)算D=L(Sina*Cos 3 *Sinr+Cosa*Sin 3 )式中-巖層真厚度L-斜坡距a-巖層真傾角6 -地層坡度角r-剖面線與地層走向線的夾角地形坡向與巖層傾向相反時(shí)用+相同時(shí)用-地層厚度應(yīng)分層計(jì)算。比例尺小于1:1000的剖面，分層厚度取整數(shù)，大于1:1000的剖面，厚度數(shù)值取小數(shù)點(diǎn)后一位。地層厚度計(jì)算時(shí)應(yīng)注意的問題：(1) 產(chǎn)狀的有效控制距離要求在野外實(shí)施測(cè)過程中，根據(jù)實(shí)際情況加以確定，以便室內(nèi)計(jì)算厚度用。(2) 脈巖的剔除：一般情況下，在圖上出露寬度1毫米的脈巖不必剔除 其影響厚度；超過1毫米時(shí)，則應(yīng)剔去，采用巖脈兩側(cè)分別代表的厚度。若有一地段巖脈雖小，但很發(fā)育,且對(duì)此地段地

26、層厚度影響較大，可依 據(jù)脈巖在地層中含量比(線統(tǒng)計(jì)法：脈巖厚度與整個(gè)統(tǒng)計(jì)線段長(zhǎng)度的比 值)，按比率求地層厚度。(3) 同一向、背斜中，地層厚度采用地層較發(fā)育的一翼進(jìn)行計(jì)算(柱狀圖中可表示巖性相變或說(shuō)明厚度的變化，不可采用兩翼巖層中較大厚 度的單層建立柱狀圖)。4. 地層真傾角換算為視傾角在剖面圖中，地層走向與剖面線方向不垂直時(shí)，在剖面圖上地層產(chǎn)狀以視傾角表示，見傾角換算表(表1-2)。其產(chǎn)狀數(shù)字表示仍為真傾向、傾 角。5. 實(shí)測(cè)剖面圖中表示的主要內(nèi)容(1) 導(dǎo)線平面圖表示內(nèi)容：導(dǎo)線、導(dǎo)線點(diǎn)、地質(zhì)點(diǎn)、產(chǎn)狀(可選擇表示)、 地質(zhì)界線、地質(zhì)代號(hào)、含礦層、斷層、主要地物等(平面圖寬度 3-5 cm)。

27、導(dǎo)線長(zhǎng)度以平距表示。(2) 剖面上表示內(nèi)容：巖性(以花紋表示)、產(chǎn)狀(花紋表示視傾角，下方數(shù) 字表示真產(chǎn)狀)地質(zhì)點(diǎn)、導(dǎo)線點(diǎn)、樣品代號(hào)、層號(hào)及地層代號(hào)、斷層、 褶皺、居民點(diǎn)及山峰水系名稱等，在剖面上方按需要附構(gòu)造特寫素描 圖。分層界線可適當(dāng)劃長(zhǎng)。產(chǎn)狀指引線應(yīng)指在量取產(chǎn)狀的實(shí)際位置處。(3) 剖面圖必須和投影基線相平行。(4) 剖面圖擺法：剖面的左端應(yīng)為西、北西、南西、南。相應(yīng)在右端為東、南東、北東、北。(5) 如剖面經(jīng)平移，則導(dǎo)線平面圖上按平移的方向、距離另作起點(diǎn)。而 剖面圖僅按兩點(diǎn)的高差決定起點(diǎn)的標(biāo)高，水平方向酌情斷開1-2厘米, 以作圖方便互不重疊為原則。(6) 如剖面測(cè)制中并進(jìn)行有電、磁測(cè)

28、量、伽瑪測(cè)量等工作 ，若種類少，或 僅一種，可在剖面圖上部作曲線圖表示，了為減輕圖面負(fù)擔(dān)，這些曲線 圖可另作圖表示，但圖中地質(zhì)剖面圖應(yīng)相互一致。剖面圖圖面布局可參照?qǐng)D1-5。剖面需輸入計(jì)算機(jī)制圖時(shí)，尚需填寫如下表：剖面線測(cè)量記錄表1-3, 剖面線地質(zhì)記錄表1-4,剖面采樣記錄表1-5。平面圖與剖面圖相距10-15 cm。(六)剖面地質(zhì)小結(jié)(總結(jié))內(nèi)容提綱1. 前言剖面測(cè)制的目的。(2) 剖面線位置、方向、座標(biāo)、長(zhǎng)度、測(cè)制方法。(3) 工作起始、完成日期、工作單位及主要工作人員。(4) 完成主要工作量：剖面長(zhǎng)度、工程工作量、標(biāo)本xx件、樣品xx件。2. 地質(zhì)成果(1) 簡(jiǎn)述剖面測(cè)制區(qū)的區(qū)域構(gòu)造部

29、位及地層、構(gòu)造特征。(2) 依不同時(shí)代，由老到新分別對(duì)剖面所見地層進(jìn)行敘述。每一時(shí)代中地層可按地層組合單元總述其組合特征，再按不同巖性層詳述其巖性、顏色、礦物成分、結(jié)構(gòu)構(gòu)造等巖石巖性特征，應(yīng)詳細(xì)述明巖層之間的關(guān)系，特別是不整合接觸關(guān)系。(3) 巖漿巖及脈巖的描述。(4) 構(gòu)造:斷裂構(gòu)造、褶皺構(gòu)造。分別描述其類型、性質(zhì)、規(guī)模、形態(tài)特征、斷層對(duì)地層連續(xù)性的影響控礦構(gòu)造特征。(5) 礦產(chǎn):對(duì)礦產(chǎn)應(yīng)詳述。(6) 新進(jìn)展、新發(fā)現(xiàn)和新見解。3.存在問題。地質(zhì)測(cè)量采用中-大（1/1萬(wàn)-1/1千）比例尺地質(zhì)填圖（地質(zhì)測(cè)量）。根據(jù)不同 工作階段對(duì)工作程度要求的不同，進(jìn)一步可分為：地質(zhì)草測(cè)、地質(zhì)簡(jiǎn) 測(cè)、地質(zhì)精測(cè)。

30、具體工作方法：分兩步進(jìn)行。第一步進(jìn)行填圖單元的確定。利用1-3條較大比例尺的橫穿測(cè)區(qū)的實(shí) 測(cè)地質(zhì)剖面進(jìn)行系統(tǒng)控制，根據(jù)填圖比例尺的要求詳細(xì)確定正式填圖 單元（地層單元、構(gòu)造單元）和非正式填圖單元（巖脈、礦化蝕變體、 斷裂破碎帶等）。第二步填圖。以填圖單元為依據(jù)，利用路線穿越、走向追索、地質(zhì)點(diǎn) 控制的方法進(jìn)行地質(zhì)填圖。對(duì)第四系覆蓋大的部位可用露頭圈定法進(jìn) 行填圖。第二講 1:2000地質(zhì)測(cè)量一、目的任務(wù)1/2000地質(zhì)測(cè)量在礦床詳查或勘探期間進(jìn)行，其主要任務(wù)是全面研究 礦床的詳細(xì)地質(zhì)構(gòu)造、礦體形態(tài)、規(guī)模及產(chǎn)狀、礦石質(zhì)量、礦石類型 及其空間分布、礦體與圍巖的關(guān)系及其圍巖蝕變，為探礦工程的布置、 資

31、源/儲(chǔ)量估算，為礦山設(shè)計(jì)和建設(shè)提供地表地質(zhì)資料。測(cè)量范圍通常 局限于礦體和近礦圍巖的分布地段，至少要囊括工程布設(shè)范圍。二、地質(zhì)測(cè)量的基本方法（一）露頭圈定法1. 適用條件(1) 適宜于地質(zhì)條件復(fù)雜地區(qū)；(2) 適宜在露頭發(fā)育較好至很好的礦區(qū)；(3) 大比例尺地質(zhì)填圖中可采用工程揭露露頭。2. 該方法優(yōu)缺點(diǎn)此方法是在詳細(xì)研究并綜合聯(lián)系每一個(gè)露頭的基礎(chǔ)上，達(dá)到全面了解 全區(qū)地質(zhì)構(gòu)造的目的。優(yōu)點(diǎn)是能夠精確地觀察測(cè)區(qū)的所有露頭，不致遺漏業(yè)己出露的任何地質(zhì)現(xiàn)象。不足之處是工作量大，當(dāng)測(cè)區(qū)面積較大時(shí)，單獨(dú)使用此方法難以獲得整體概念，且在露頭不良時(shí)須配合系 統(tǒng)的工程揭露。3. 露頭圈定原則各個(gè)大小露頭范圍內(nèi)

32、的地質(zhì)界線均以實(shí)線表示，小塊露頭群密集分布，相互間掩蓋部分在圖上不大于1-2厘米時(shí)并且不屬于斷層或夾層 所致時(shí)，可連為一個(gè)大露頭。如果復(fù)蓋甚廣，露頭零星細(xì)小圖上不易表 示時(shí)可適當(dāng)省略。4. 工作工作程序與工作方法準(zhǔn)備工作：(1) 先將地形底圖裁成30 X 30-40X 40平方厘米大小的方塊，作野外用 手圖。(2) 根據(jù)測(cè)區(qū)露頭發(fā)育情況、地質(zhì)情況及地形特點(diǎn)，事先規(guī)劃填圖區(qū) 的次序及大致路線，訂出工作計(jì)劃。野外工作：(1) 每天出工前，應(yīng)對(duì)當(dāng)天工作地段進(jìn)行概略的了解。(2) 按順序逐一對(duì)單露頭進(jìn)行全面詳細(xì)研究，并注意相鄰露頭之間的 地質(zhì)聯(lián)系。(3) 每個(gè)地質(zhì)點(diǎn)均應(yīng)打樁、編號(hào)，并將點(diǎn)位上圖，同時(shí)以

33、目測(cè)法在地形 底圖上圈劃出每個(gè)露頭的形態(tài)及實(shí)測(cè)地質(zhì)、構(gòu)造界限，繪出草圖，作 為日后聯(lián)圖及測(cè)量的依據(jù)。(4) 如果地質(zhì)與測(cè)量同步進(jìn)行，可當(dāng)即測(cè)繪出露頭界線和地質(zhì)界線。每個(gè)露頭測(cè)完后當(dāng)即核對(duì)檢查，若二者不同步，則應(yīng)將前述地質(zhì)草圖交測(cè)量人員作為找點(diǎn)依據(jù)或由地質(zhì)人員帶領(lǐng)測(cè)量人員實(shí)地找點(diǎn)。(二) 剖面法1. 適用條件(1) 礦床地質(zhì)條件簡(jiǎn)單、巖(礦)層層位穩(wěn)定的礦床或相變不大的沉積變質(zhì)礦床。(2) 不論露頭發(fā)育如何均可使用，當(dāng)掩蓋較廣時(shí)應(yīng)通過主干及輔助槽探的揭露進(jìn)行剖面測(cè)量，并配合一定數(shù)量的人工露頭點(diǎn)的觀察。2. 此法優(yōu)、缺點(diǎn)剖面法實(shí)質(zhì)是對(duì)礦區(qū)按一定間距布設(shè)的垂直走向的剖面進(jìn)行研究，并用聯(lián)接相鄰剖面來(lái)了

34、解全區(qū)的地質(zhì)構(gòu)造。優(yōu)點(diǎn)是研究得比較系統(tǒng)，能 及時(shí)獲得礦床和礦區(qū)的整體概念， 工作量少；缺點(diǎn)是不能精確地研究 礦床沿走向的變化，在條件復(fù)雜地區(qū)不宜單獨(dú)使用。用剖面法填圖，并非每條線必須作剖面圖，一般要求“實(shí)測(cè)剖面圖”1-3條?？刂破拭鎴D，利用剖面長(zhǎng)度展示法(不作導(dǎo)線平面圖，直接以 實(shí)測(cè)長(zhǎng)度和坡度作圖)作在野外記錄本上。路線平面圖，直接填繪在 地形底圖上。3. 工作程序和方法(1) 根據(jù)地質(zhì)構(gòu)造特征確定各剖面線的位置及方向。條件允許時(shí)應(yīng)先 踏勘，方向應(yīng)大體垂直于巖層走向，剖面間距原則上以使相鄰兩剖面 的地質(zhì)情況能夠?qū)Ρ葹橐恕?2) 將預(yù)定的剖面線用鉛筆大致畫在地形底圖上并編號(hào)。(3) 確定地質(zhì)點(diǎn)的

35、編號(hào)原則，一般按剖面及觀察先后為序編號(hào)。4. 野外工作(1) 剖面起點(diǎn)位置在現(xiàn)場(chǎng)用儀器法或手持 GPS、半儀器確定，并應(yīng)打樁 編號(hào)，或設(shè)標(biāo)志點(diǎn)。(2) 沿剖面線進(jìn)行野外觀察研究，各個(gè)地質(zhì)點(diǎn)位均需打樁、編號(hào)、并 進(jìn)行詳細(xì)地質(zhì)記錄，同時(shí)，隨剖面線的測(cè)制畫出野外剖面草圖。(3) 剖面線要基本垂直地層走向，相鄰剖面大體平行。若遇掩蓋無(wú)法查明地質(zhì)現(xiàn)象及界線時(shí)，可沿走向向兩側(cè)追索以便推測(cè)，重要地質(zhì)界 線處要進(jìn)行必要的揭露。(4) 在野外用圖上，正確標(biāo)記出點(diǎn)位和編號(hào)，在野外實(shí)際勾繪地質(zhì)界線。(三) 地質(zhì)界線追索法1. 地質(zhì)界線追索法是根據(jù)對(duì)礦床中的主要地質(zhì)界線及構(gòu)造線的追索研究，來(lái)了解礦床的全部地質(zhì)結(jié)構(gòu)。其

36、適應(yīng)條件如下：(1) 一般復(fù)雜至簡(jiǎn)單的礦床均可使用。適用于各種比例尺。(3) 一般只作鋪助之用，只是在構(gòu)造非常簡(jiǎn)單，單層厚度很大，特別是圍巖為單巖相的礦床中，或礦體厚度不大的礦體地質(zhì)測(cè)測(cè)量中，才能作為主要方法來(lái)應(yīng)用。適宜于研究體和近礦圍巖沿走向的巖相和構(gòu)造上的變化，特別是業(yè)已開采的礦區(qū)。(5) 露頭發(fā)育不好的地區(qū)不常使用。2. 工作程序與工作方法(1)準(zhǔn)備工作，事先要很好地研究巖層的層序或火成巖與變質(zhì)巖的分帶，找出主要的地層界線、構(gòu)造線或標(biāo)志層。(2) 野外工作沿選定的主要地層界限或構(gòu)造線的走向進(jìn)行觀察和研究，每隔一定的間隔設(shè)一個(gè)地質(zhì)觀察點(diǎn)。地質(zhì)界線追索法，經(jīng)常需和剖面法合用?？傊?，1/200

37、0地質(zhì)測(cè)量多用露頭圈定法，配合剖面法或地質(zhì)界線追索法。三、地質(zhì)測(cè)量精度要求(一) 必須表示的地質(zhì)體規(guī)模1. 寬度小于1米的礦體有意義地質(zhì)或標(biāo)志層均需放大表示.2. 一般地質(zhì)體寬度 2米3. 蝕變體寬度 2米4. 各種構(gòu)造形跡.線狀地質(zhì)體長(zhǎng)度20米.（二）地質(zhì)界線實(shí)測(cè)允許誤差1.礦體界線1-2米2 .一般地質(zhì)體2-4米3. 地質(zhì)點(diǎn)精度：點(diǎn)位誤差在圖上小于1毫米，轉(zhuǎn)點(diǎn)誤差小于0.5毫米（三）觀測(cè)點(diǎn)密度（個(gè)/平方公里）簡(jiǎn)單區(qū)500-600中等區(qū)600-700復(fù)雜區(qū)700-800四、填圖要求（一）對(duì)三大巖石按比例尺要求，將不同巖性進(jìn)行劃分、圈定，詳細(xì)描。（二）構(gòu)造1. 查明礦區(qū)構(gòu)造的產(chǎn)狀、規(guī)模、形態(tài)特

38、征及其控礦作用。2. 查明各構(gòu)造帶的組合、分布規(guī)律，研究劃分構(gòu)造形式或體系。3. 區(qū)分不同級(jí)別、不同序次構(gòu)造對(duì)礦體的控制作用。4. 查明韌性剪切帶及其控礦作用。5. 對(duì)成礦有關(guān)的構(gòu)造，在一定距離內(nèi)應(yīng)有工程控制，揭露其形態(tài)、規(guī) 模、產(chǎn)狀、充填物特征等。6. 對(duì)破壞礦體的斷層，應(yīng)查明其性質(zhì)、規(guī)模、產(chǎn)狀及斷距。（三）蝕變圍巖1. 詳細(xì)查明蝕變帶的種類、蝕變強(qiáng)度、礦物組合、規(guī)模、形態(tài)，查明 蝕變圍巖的性質(zhì)。2. 詳細(xì)圈定蝕變帶的范圍，按蝕變強(qiáng)度與礦物組合進(jìn)一步細(xì)分，研究 蝕變體與巖漿熱液活動(dòng)、變質(zhì)作用的關(guān)系。3. 詳細(xì)研究蝕變作用與成礦作用的關(guān)系。（四）礦化及礦體1. 用槽、井探，物化探系統(tǒng)控制礦化帶

39、和礦體。2. 確定礦化帶的礦化類型、規(guī)模、產(chǎn)狀、礦物種類及礦物質(zhì)量。3. 查明礦體的規(guī)模、產(chǎn)狀、形態(tài)、礦石白然類型等變化特點(diǎn)和分布規(guī) 律，對(duì)礦石物質(zhì)成分等進(jìn)行研究，對(duì)礦床成因類型與工業(yè)類型作出判 斷。4. 用工程控制主礦體及上、下盤小礦體，查明礦體邊界。5. 系統(tǒng)查明礦體有用成分含量及變化。五、線路觀測(cè)記錄及格式（一）觀測(cè)人員在觀測(cè)過程中要多跑、多敲、多看、多記、多想，做 到連續(xù)觀測(cè)、連續(xù)記錄、連續(xù)制圖。（二）路線觀測(cè)過程中，既要重視基礎(chǔ)地質(zhì)資料的收集，又要重視直接 找礦標(biāo)志及礦產(chǎn)線索的觀測(cè)，把問題解決在實(shí)地，重點(diǎn)現(xiàn)象要詳細(xì)記 錄，整個(gè)路線記錄要有連續(xù)性，重點(diǎn)路線要有信手剖面和路線地質(zhì)小 結(jié)。

40、（三）每一個(gè)觀測(cè)點(diǎn)，在記錄中必須有詳細(xì)的位置、露頭特征、點(diǎn)位性 質(zhì)、點(diǎn)處地質(zhì)現(xiàn)象及路線地質(zhì)現(xiàn)象。（四）采用剖面圖、素描圖與文字描述相結(jié)合，凡是重要的地質(zhì)現(xiàn)象應(yīng)當(dāng)進(jìn)行素描和照像。(五) 記錄格式1. 路線:2. 點(diǎn)號(hào)：3位置：4. 點(diǎn)性：5. 露頭：6. 地質(zhì)描述(1) 巖性:巖石名稱、顏色、結(jié)構(gòu)構(gòu)造、礦物成分，巖層的組合特征，地層產(chǎn)狀等。構(gòu)造:按前“四(二)”的內(nèi)容描述。(3) 礦化及礦產(chǎn)特征。(4) 圍巖蝕變特征，蝕變范圍，礦體與圍巖關(guān)系。(5) 標(biāo)本:編號(hào)、巖性、位置。(6) 注意點(diǎn)間的觀察和描述。7. 素描圖、照片、信手剖面等。六、地質(zhì)觀察點(diǎn)的布設(shè)和測(cè)定(一) 點(diǎn)位的布置：根據(jù)野外地質(zhì)實(shí)

41、際情況，以能有效地控制各種地質(zhì)界 線和地質(zhì)要素為原則。(二) 一般要布置在地質(zhì)界線上，(不同巖石接觸處、構(gòu)造、蝕變帶、礦 體界線、重要化石點(diǎn)、標(biāo)志層、代表性產(chǎn)狀要素測(cè)量點(diǎn)、取樣點(diǎn)、山 地工程以及其它有意義的地質(zhì)現(xiàn)象部位)。（三）地質(zhì)點(diǎn)的測(cè)定一般地質(zhì)點(diǎn)位測(cè)定，巖性控制點(diǎn)用手持 GPS或半儀器法測(cè)定，界線點(diǎn)及重要的觀察點(diǎn)，需用儀器法測(cè)定。其精度要求允許誤差在圖上不超過1毫米。七、地質(zhì)界線的標(biāo)繪及需注意的問題（一）野外現(xiàn)場(chǎng)及時(shí)聯(lián)圖，嚴(yán)禁在室內(nèi)回憶記錄和勾繪。（二）各種地質(zhì)界線，必須用實(shí)、虛線條區(qū)分不同精度。實(shí)際觀測(cè)到的 用實(shí)線，推測(cè)或不準(zhǔn)切的應(yīng)用虛線表示。（三）圖上所表示的內(nèi)容，線條要清晰，文字要端

42、正、簡(jiǎn)練，要分清主 次，合理避讓，避免繁雜混亂。如產(chǎn)狀可適當(dāng)避讓點(diǎn)位、點(diǎn)號(hào)等。（四）所表示的各種內(nèi)容在野外用2H-3H鉛筆勾劃，當(dāng)天必須上墨。（五）各種內(nèi)容的表示必須嚴(yán)格按照規(guī)定。（六）聯(lián)圖時(shí)注意地形與地質(zhì)體的關(guān)系（V字型法則）。（七）聯(lián)接斷層要注意先后關(guān)系，被斷層錯(cuò)開或錯(cuò)斷的地質(zhì)界線不要跨 斷層而相連。（八）不同巖漿建造的火成巖不能聯(lián)成同一巖體。（九）聯(lián)圖時(shí)要注意三大巖類區(qū)不同的地質(zhì)特征。（十）聯(lián)圖時(shí)要有整體概念，不能僅憑一點(diǎn)之見。不顧全局。（十一）一般1/2000礦區(qū)填圖在最后成圖時(shí)，圖面不呈現(xiàn)第四紀(jì)復(fù)蓋沉 積物（第四系地貌圖除外）。八、室內(nèi)整理及填圖總結(jié)1. 整理各類標(biāo)本、樣品，并及時(shí)登

43、記送出2. 檢查素描圖，按規(guī)定填繪花圖例和各種代號(hào)注記，發(fā)現(xiàn)問題及時(shí)檢 查校對(duì)。經(jīng)檢查修改后進(jìn)行著墨。3. 文圖對(duì)照，核對(duì)野外記錄和圖件是否一致，若發(fā)現(xiàn)問題，均需回到現(xiàn)場(chǎng)查校，任何情況下不能憑臆斷修改原始編錄，不允許涂抹或擦掉, 只能進(jìn)行批注、補(bǔ)充。4. 為了隨時(shí)進(jìn)行綜合研究，除利用實(shí)測(cè)剖面外，必要時(shí)可以圖切剖面。5認(rèn)真整理野外草圖，清繪野外地質(zhì)清圖。6. 不斷進(jìn)行總結(jié)研究，發(fā)現(xiàn)問題及時(shí)糾正，野外工作結(jié)束時(shí)應(yīng)及時(shí)提 交文字總結(jié)。控制要點(diǎn)：己獲資料的綜合分析研究。注意事項(xiàng)：各種圖件、表格要 采取逐步完善，不能填圖工作結(jié)束后算總帳，對(duì)礦體及其他重要地質(zhì) 體的形態(tài)、產(chǎn)狀要充分利用地表及地下工程，從三

44、維空間進(jìn)行研究。責(zé)任者：地質(zhì)組長(zhǎng)。(二)填圖總結(jié)文字提綱1概況(1)目的任務(wù)(2) 交通位置和白然地理(3) 以往地質(zhì)工作評(píng)述(4) 完成實(shí)物工作量2. 測(cè)區(qū)地質(zhì)地層構(gòu)造(3) 變質(zhì)巖(4) 巖漿巖(5) 圍巖石變(6) 礦床3. 工作方法及質(zhì)量評(píng)述4結(jié)語(yǔ)(1)主要成果存在問題(3)進(jìn)一步工作建議九、提交成果及檢查驗(yàn)收1. 在原始資料檢查驗(yàn)收的基礎(chǔ)上編繪提交實(shí)際材料圖、實(shí)測(cè)地質(zhì)剖面 圖。2. 在原始資料檢查驗(yàn)收的基礎(chǔ)上編繪提交 1/2000礦區(qū)地形地質(zhì)圖。3. 提交各種觀測(cè)手薄、卡片記錄表格、素描圖、照片等。4. 提交各種樣品測(cè)試、樣品分析報(bào)告、成果登記及各種測(cè)試數(shù)據(jù)的統(tǒng) 計(jì)計(jì)算及處理結(jié)果。5

45、. 主管機(jī)關(guān)審查驗(yàn)收。6. 根據(jù)審查意見補(bǔ)充、修改、完善、提交成圖清繪。7. 提交填圖總結(jié)報(bào)告。控制要點(diǎn)：原始資料的野外檢查驗(yàn)收及成果檢查驗(yàn)收。注意事項(xiàng)：根 據(jù)礦區(qū)地質(zhì)特征及需要還應(yīng)編繪礦區(qū)構(gòu)造綱要圖、礦區(qū)巖漿巖分布 圖、火山機(jī)構(gòu)圖、沉積巖相圖。責(zé)任者：地質(zhì)組長(zhǎng)、項(xiàng)目負(fù)責(zé) 第三講1:10000地質(zhì)測(cè)量1:10000地質(zhì)測(cè)量一般在礦區(qū)普、詳階段或在礦床勘探期間的礦床外 圍進(jìn)行，目的在于闡明地質(zhì)構(gòu)造和成礦地質(zhì)條件，用以擴(kuò)大遠(yuǎn)景，同 時(shí)在評(píng)價(jià)異常的地質(zhì)找礦階段、 及對(duì)脈型礦田、礦帶的追脈找礦工作 中，也可布1:10000地質(zhì)測(cè)量。填圖范圍一般包括有地質(zhì)聯(lián)系的礦（化） 點(diǎn)，各種找礦手段的綜合異常范圍，

46、或有利找礦標(biāo)志的分布范圍和成 礦區(qū)劃等。一、地質(zhì)測(cè)量前準(zhǔn)備工作（一）搜集資料主要應(yīng)收集中、小比例尺區(qū)域地質(zhì)調(diào)查資料、測(cè)區(qū)和鄰區(qū)各種礦產(chǎn)普 查、勘探資料及測(cè)區(qū)的地層、重砂測(cè)量和物化探等資料，收集符合精 度要求的與工作比例尺相應(yīng)的地形圖、航空照片等。控制要點(diǎn)：資料的可利用性分析。注意事項(xiàng)：己有成果資料的評(píng)審意 見、研究資料的可信度。責(zé)任者：地質(zhì)組長(zhǎng)、項(xiàng)目負(fù)責(zé)。（二）填圖準(zhǔn)備工作學(xué)習(xí)研究設(shè)計(jì)明確填圖工作任務(wù)、 要求，按設(shè)計(jì)要求以相同比例尺的 地形圖作底圖；利用己有資料編制礦區(qū)地質(zhì)礦產(chǎn)草圖； 對(duì)己有資料進(jìn) 行認(rèn)真分析研究、恰當(dāng)評(píng)價(jià)，掌握礦區(qū)的工作重點(diǎn)及要解決的主要問 題；根據(jù)設(shè)計(jì)任務(wù)要求結(jié)合礦區(qū)地質(zhì)特

47、征的實(shí)際情況，制定填圖工作計(jì)劃?？刂埔c(diǎn)：有針對(duì)性的編制礦區(qū)地質(zhì)礦產(chǎn)草圖。注意事項(xiàng)：明確填圖 工作任務(wù)、要求，研究解決的主要問題。責(zé)任者：地質(zhì)組長(zhǎng)、項(xiàng)目負(fù)（三）地質(zhì)踏勘依據(jù)測(cè)區(qū)的地質(zhì)礦產(chǎn)研究程度和存在的主要問題有目的地對(duì)其外圍 進(jìn)行初步踏勘調(diào)查，以了解測(cè)區(qū)的地層，巖石基本特征和主要構(gòu)造輪 廓。踏勘開始時(shí)應(yīng)組織主要地質(zhì)人員踏勘 1-2條路線，路線布置以穿越法 為主，盡可能通過主要地層、構(gòu)造、巖體和礦產(chǎn)地。踏勘結(jié)束后應(yīng)進(jìn) 行認(rèn)真討論，作好路線小結(jié)，基本上做到統(tǒng)一分層、統(tǒng)一野外巖石定 名，統(tǒng)一填圖方法和要求，統(tǒng)一圖式圖例。（四）剖面測(cè)量正式填圖前，一般需測(cè)制1-3條完整的地質(zhì)剖面，在地質(zhì)條件復(fù)雜區(qū)

48、測(cè)3-4條。目的在于查明測(cè)區(qū)地層層序、厚度、接角關(guān)系、巖性變化, 沉積韻律、化石、礦產(chǎn)、標(biāo)志層，侵入體和時(shí)代等，根據(jù)實(shí)測(cè)剖面結(jié) 果，編制代表測(cè)區(qū)地層特點(diǎn)的綜合地層柱狀圖，確定填圖單元，以作 為測(cè)區(qū)統(tǒng)一分層對(duì)比的依據(jù)。實(shí)測(cè)剖面的比例尺1/2000-1/200, 一般采用1/1000,剖面測(cè)制方法詳 見第一節(jié)剖面測(cè)制?？刂埔c(diǎn)：正確劃分填圖單元。注意事項(xiàng)：實(shí)測(cè)剖面比例尺應(yīng)是填圖 比例尺的2-5倍。責(zé)任者：地質(zhì)組長(zhǎng)、項(xiàng)目負(fù)責(zé)。二、礦區(qū)地質(zhì)測(cè)量的基本方法 礦區(qū)地質(zhì)測(cè)量應(yīng)在踏勘、研究剖面、統(tǒng)一填圖單元及工作方法以后才正式填圖，1/10000礦區(qū)地質(zhì)測(cè)量多用剖面法，配合地質(zhì)界線追索法、穿越法、露頭圈定法(

49、一) 剖面法此方法既垂直礦體、礦化帶或異常軸作若干成直線的剖面，剖面間距 在圖上不小于3-5厘米，通常采用等距離或按整倍數(shù)放稀或加密。主 剖面應(yīng)布置在主礦體或異常中部等典型地段。 在條件復(fù)雜的地區(qū)不宜 單獨(dú)使用。野外工作方法為：(1) 剖面起點(diǎn)位置在現(xiàn)場(chǎng)以手持 GPS或目測(cè)法、半儀器法確定并應(yīng)打 樁編號(hào)、或設(shè)置標(biāo)志。(2) 沿每一條剖面進(jìn)行野外觀察研究，并進(jìn)行地質(zhì)點(diǎn)記錄，各點(diǎn)位需 打樁或在穩(wěn)固的基巖上標(biāo)注編號(hào)。勾畫出野外剖面草圖、比例尺不限。(3) 剖面要基本上保持一條直線，并與相鄰剖面大體平行。若因剖面線通過處被覆蓋而無(wú)法查出地質(zhì)現(xiàn)象和界線時(shí)， 可沿走向向兩側(cè)追索 以便推測(cè)，最大推測(cè)距離不超

50、過剖面間距的一半。(4) 在野外用圖上標(biāo)出點(diǎn)位和編號(hào)，并標(biāo)出地質(zhì)體代號(hào)，且在野外連圖。(二) 露頭圈定法由于礦區(qū)大比例尺填圖要求全面研究所有的露頭，在地質(zhì)情況復(fù)雜或 露頭不多的情況下，采用此法填圖。根據(jù)露頭大小，每個(gè)露頭設(shè)一個(gè) 或幾個(gè)基點(diǎn)，用儀器將基點(diǎn)測(cè)在圖上。然后用羅盤、皮尺以基點(diǎn)為起 點(diǎn)進(jìn)行測(cè)量，將露頭范圍按比例尺繪在圖上并進(jìn)行編錄，連接成圖。(三) 地質(zhì)界線追索法用順走向追索主要地質(zhì)及結(jié)構(gòu)界線的方法。 此法的優(yōu)點(diǎn)是所填地質(zhì)圖 的界線較準(zhǔn)確，能夠詳細(xì)研究礦體地質(zhì)條件的走向變化。此法不宜單獨(dú)使用，一般只在需要時(shí)作為輔助手段，適宜于研究礦體 和近礦圍巖沿走向的巖相和結(jié)構(gòu)上的變化，特別是已開采的

51、礦區(qū)。上述幾種測(cè)量方法，各有其優(yōu)點(diǎn)，在實(shí)際工作中幾種方法相互配合，以某一種為主，互補(bǔ)不足。控制要點(diǎn)：正確詳細(xì)的測(cè)定礦體（礦層）、礦（化）帶或含礦層的形 態(tài)、產(chǎn)狀及分布。注意事項(xiàng)：對(duì)一般地質(zhì)體在查清形態(tài)、產(chǎn)狀、分布 及其相互關(guān)系的前提下不要只強(qiáng)調(diào)點(diǎn)線密度， 切忌無(wú)實(shí)測(cè)資料的推測(cè) 界線，推斷構(gòu)造性質(zhì)和推斷相互關(guān)系：地質(zhì)組長(zhǎng)。三、地質(zhì)觀察點(diǎn)的布設(shè)和測(cè)定地質(zhì)觀察點(diǎn)的布設(shè)應(yīng)遵循三個(gè)原則：（一）點(diǎn)位的布置以能有效的控制各種地質(zhì)界線和地質(zhì)要素為原則。（二）在地層分界線上、不同巖石接觸處、巖相變化處、構(gòu)造點(diǎn)、蝕 變帶、礦化及礦點(diǎn)、重要化石點(diǎn)、標(biāo)志層、代表性產(chǎn)狀要素測(cè)量點(diǎn)、取樣點(diǎn)、山地工程以及其它有意義的地質(zhì)現(xiàn)

52、象觀察部位，必須布設(shè)地 質(zhì)觀察點(diǎn)。（三）按地質(zhì)實(shí)際情況，適當(dāng)布設(shè)巖性控制點(diǎn)，一般巖性控制點(diǎn)不超過總地質(zhì)點(diǎn)數(shù)的30%,切記機(jī)械的等距離布點(diǎn)。地質(zhì)觀察點(diǎn)位測(cè)定可用手持 GPS或半儀器法標(biāo)繪在圖上，重要的觀 察點(diǎn)，如主要的地質(zhì)構(gòu)造、含礦層、礦體露頭等則需用儀器法測(cè)定。四、觀察點(diǎn)記錄內(nèi)容及格式觀察記錄是一項(xiàng)十分重要的基礎(chǔ)性工作，因此應(yīng)根據(jù)各點(diǎn)的具體情況 詳盡描述，重點(diǎn)突出，強(qiáng)調(diào)連續(xù)觀察、連續(xù)記錄、嚴(yán)肅認(rèn)真，充分收 集第一性資料，切記簡(jiǎn)單化、主觀隨意、孤點(diǎn)記錄。（一）地質(zhì)觀察點(diǎn)記錄的內(nèi)容如下1. 沉積巖地區(qū)：首先搞清地層層序，然后對(duì)具體巖石進(jìn)行描述 （顏色、 結(jié)構(gòu)、構(gòu)造、礦物成分、粒度、巖石命名、風(fēng)化巖

53、外貌特征、次生變 化等），對(duì)地層厚度變化、化石層、含礦層、標(biāo)志層應(yīng)詳盡描述。2. 變質(zhì)巖石區(qū)：記錄描述巖石的產(chǎn)出狀態(tài)、顏色、構(gòu)造、主要及次要礦物含量，不同礦物的排列方式及不同巖性的相互關(guān)系， 尤其是特征礦 物（白云母、黑云母、鐵鋁榴石、十字石、藍(lán)閃石、矽線石等 ）的出現(xiàn) 與否，原生層理及片麻理的產(chǎn)狀、構(gòu)造的疊加與否，有無(wú)混合巖及脈體情況、巖層厚度沿走向的變化情況及次生變化和風(fēng)化外貌，特別要注意收集說(shuō)明地層是否倒轉(zhuǎn)或正常的依據(jù)。3. 侵入巖地區(qū)（1）巖石的顏色和風(fēng)化色（2）巖石的結(jié)構(gòu)類型對(duì)花崗巖進(jìn)行一期結(jié)構(gòu)、二期結(jié)構(gòu)、微花崗結(jié)構(gòu)、碎裂結(jié)構(gòu)、改造結(jié)構(gòu)描述。（3）巖石的顆粒大小極粗（大于8毫米）、粗

54、粒（5-7毫米）、中粒（2-5毫米）、細(xì)粒（0.5-2毫米）、 微粒（法于0.5毫米）。要具體定出肉眼觀察而估計(jì)的粒級(jí)，然后根據(jù)薄片校正注解 斑狀結(jié)構(gòu)和似斑狀（巨晶）結(jié)構(gòu)。在一期結(jié)構(gòu)花崗巖中用似斑狀結(jié)構(gòu)；在二期結(jié)構(gòu)及微花崗結(jié)構(gòu)花崗巖 中用斑狀結(jié)構(gòu)。要分出含斑（5%以下）、少斑（10%以下）、斑狀（30%）、多斑（30%以上）及巨斑等。等粒結(jié)構(gòu)和不等粒結(jié)構(gòu)。（4）巖石的礦物成分及百分含量，礦物結(jié)構(gòu)特征：先描述鐵鎂質(zhì)礦物，如黑云母、角閃石、白云母等；然后描述長(zhǎng)英質(zhì) 礦物，如鉀長(zhǎng)石、斜長(zhǎng)石和石英。描述內(nèi)容A）礦物的百分含量B）礦物的平無(wú)粒徑和變化范圍C）礦物的顏色D）礦物定向排列情況E）礦物白形程度F）礦物的晶形G）礦物中的包體H）礦物產(chǎn)出方式：?jiǎn)蝹€(gè)晶體、晶體集合體，兩個(gè)世代的礦物團(tuán)塊。I）斑晶的大小和豐度，斑晶的形狀、特征和包裹體等，斑晶和基質(zhì)的 關(guān)系，斑晶與基質(zhì)必須分開描述。J）副礦物的種類K）葉理和定向構(gòu)造：先描述有與無(wú)，發(fā)育情況如何，產(chǎn)狀L）捕擄體及包體：百分含量，大小范圍、巖性、有無(wú)巨晶，有無(wú)鎂鐵質(zhì)，是同源還是異源。形態(tài)（棱角狀、圓狀橢圓狀、透鏡狀、扁平狀）.M