標(biāo)準(zhǔn)解讀

《JJF 1179-2007 集成電路高溫動態(tài)老化系統(tǒng)校準(zhǔn)規(guī)范》是針對集成電路高溫動態(tài)老化系統(tǒng)進(jìn)行校準(zhǔn)的技術(shù)文件。該標(biāo)準(zhǔn)由中國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布，旨在確保此類設(shè)備的測量結(jié)果準(zhǔn)確可靠。根據(jù)這份規(guī)范，主要涉及了以下幾個方面：

首先，定義了術(shù)語和計量單位，明確了“集成電路高溫動態(tài)老化系統(tǒng)”的概念及其組成部分，包括加熱裝置、溫度控制系統(tǒng)以及用于監(jiān)測溫度變化的傳感器等。

其次，詳細(xì)描述了校準(zhǔn)條件，包括環(huán)境溫度、濕度的要求，以及對電源穩(wěn)定性的要求。這些條件對于保證校準(zhǔn)過程的有效性和準(zhǔn)確性至關(guān)重要。

接著，指定了校準(zhǔn)項目與方法，如溫度均勻性測試、溫度波動度測試等，并給出了具體的測試步驟及所需儀器設(shè)備清單。此外，還提供了如何處理數(shù)據(jù)的方法指導(dǎo)，比如通過特定公式計算不確定度。

然后，規(guī)定了校準(zhǔn)結(jié)果表達(dá)方式，要求記錄所有相關(guān)參數(shù)值，并按照一定格式編寫校準(zhǔn)證書或報告。這有助于用戶了解其設(shè)備當(dāng)前狀態(tài)是否符合預(yù)期性能指標(biāo)。

最后，提出了復(fù)校時間間隔建議，基于設(shè)備使用頻率、工作環(huán)境等因素綜合考慮后給出推薦周期，以保持長期穩(wěn)定性。

該規(guī)范為從事集成電路高溫動態(tài)老化系統(tǒng)設(shè)計、制造、使用及相關(guān)檢測工作的人員提供了重要參考依據(jù)，有助于提高產(chǎn)品質(zhì)量控制水平。


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  • 2007-06-14 頒布
  • 2007-09-14 實(shí)施
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文檔簡介

中華人民共和國國家計量技術(shù)規(guī)范 JJF11792007 集成電路高溫動態(tài)老化系統(tǒng)校準(zhǔn)規(guī)范 CalibrationSpecificationofHighTemperature DynamicICBurn-inSystem 2007-06-14發(fā)布 2007-09-14實(shí)施 國 家 質(zhì) 量 監(jiān) 督 檢 驗 檢 疫 總 局 發(fā) 布 中 華 人 民 共 和 國 國 家 計 量 技 術(shù) 規(guī) 范集成電路高溫動態(tài)老化系統(tǒng)校準(zhǔn)規(guī)范 JJF11792007 國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布 * 中 國 質(zhì) 檢 出 版 社 出 版 發(fā) 行 北京市朝陽區(qū)和平里西街甲 號 2 (100013) 北京市西城區(qū)復(fù)外三里河北街 號 16 (100045) 網(wǎng)址 : 服務(wù)熱線 年 月第 版 2007 8 1 * 書號 :155026J-2262 版權(quán)專有 侵權(quán)必究 JJF11792007 集成電路高溫動態(tài)老化系統(tǒng) 校 準(zhǔn) 規(guī) 范 JJF1179 2007 CalibrationSpecificationofHigh TemperatureDynamicICBurn-inSystem 本 規(guī) 范 經(jīng) 國 家 質(zhì) 量 監(jiān) 督 檢 驗 檢 疫 總 局 年 月 日 批 準(zhǔn) 并 自 2007 6 14 , 年 月 日起實(shí)施2007 9 14 。 歸口單位:全國無線電計量技術(shù)委員會 起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所 本規(guī)范由全國無線電計量技術(shù)委員會負(fù)責(zé)解釋 JJF11792007本規(guī)范主要起草人: 王 酣 信息產(chǎn)業(yè)部電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所 ( ) 吳京燕 信息產(chǎn)業(yè)部電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所 ( ) 陳大為 信息產(chǎn)業(yè)部電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所 ( ) 參加起草人: 郭守君 桂林電子科技大學(xué) ( ) JJF11792007 目 錄 范圍1 (1) 引用文獻(xiàn)2 (1) 概述3 (1) 計量特性4 (1) 溫度性能4.1 (1) 數(shù)字驅(qū)動信號特性參數(shù)4.2 (2) 模擬驅(qū)動信號特性參數(shù)4.3 (2) 老化板器件電源參數(shù)4.4 (2) 校準(zhǔn)條件5 (2) 環(huán)境條件5.1 (2) 校準(zhǔn)用計量標(biāo)準(zhǔn) 儀表設(shè)備5.2 、 (2) 校準(zhǔn)項目及校準(zhǔn)方法6 (2) 設(shè)備工作正常性檢查6.1 (2) 高溫試驗箱校準(zhǔn)6.2 (3) 數(shù)字驅(qū)動信號單元特性參數(shù)校準(zhǔn)6.3 (4) 模擬驅(qū)動信號單元特性參數(shù)校準(zhǔn)6.4 (5) 老化區(qū)器件電源單元電壓設(shè)置校準(zhǔn)6.5 (6) 校準(zhǔn)結(jié)果的表述7 (7) 復(fù)校時間間隔8 (7)附錄 集成電路高溫動態(tài)老化系統(tǒng)校準(zhǔn)證書格式 A (8) JJF11792007 集成電路高溫動態(tài)老化系統(tǒng)校準(zhǔn)規(guī)范1 范圍 本規(guī)范適用于集成電路高溫動態(tài)老化系統(tǒng)的校準(zhǔn) 。2 引用文獻(xiàn) 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 總則 GB/T5170.11995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備 GB/T5170.21996 注:使用本規(guī)范時,應(yīng)注意使用上述引用文獻(xiàn)的現(xiàn)行有效版本。3 概述 集成電路高溫動態(tài)老化系統(tǒng)用于對集成電路進(jìn)行高溫動態(tài)老化試驗 主要由控制 ,機(jī) 高溫試驗箱 器件電源單元 信號驅(qū)動單元等部分組成 系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖見圖 所 、 、 、 , 1示 。 圖 集成電路高溫動態(tài)老化系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖 1 老化系統(tǒng)中的高溫試驗箱用于提供集成電路高溫動態(tài)老化的高溫環(huán)境 電源單元即 。老化電源 采用二級電源方式 其中一級老化電源用于提供足夠功率的正負(fù)一次電壓 , , ,二級老化電源以一級電源作為輸入 參照集成電路器件老化規(guī)范要求為老化器件提供電 ,源 老化系統(tǒng)通常分為 個工作區(qū) 由 個獨(dú)立的程控電源為整個系統(tǒng)提供器件電 。 34 , 4源和信號電源 信號驅(qū)動單元是集成電路動態(tài)老化的核心子系統(tǒng) 其主要功能是通過主 。 ,控計算機(jī)的編程 產(chǎn)生待老化

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