GB/T 5170.1-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則

UDC621.3.08K04中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T5170.1-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總InspectionmethodsforbasicSparametersofenvironmentaltestingequipmentsforelectricandelectronicproductsGeneral1995-04-06發(fā)布1996-01-01實(shí)施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法CB/T5170.1-1995總代替GB5170.1-85InspectionmethodsforbasicparametersofenvironmentaltestingcquipmentsforelectricandelectronicproductsGeneral1主題內(nèi)客與適用范圍1.1主題內(nèi)容本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備(以下簡(jiǎn)稱“設(shè)備")基本參數(shù)檢定方法所用術(shù)語、檢定條件、檢定儀器、檢定周期、檢定負(fù)載及檢定結(jié)果處理等基本要求。1.2適用范圍本標(biāo)淮適用于電工電子產(chǎn)品進(jìn)行環(huán)境試驗(yàn)所用設(shè)備基本參數(shù)的檢定，其他產(chǎn)品進(jìn)行環(huán)境試驗(yàn)所用設(shè)備基本參數(shù)的檢定亦可參照使用。2引用標(biāo)準(zhǔn)電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程GB2421總則GB11158高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件3術(shù)語3.1通用術(shù)語3.1.1環(huán)境條件environmentalcondition設(shè)備所經(jīng)受的周圍物理、化學(xué)和生物的條件、3.1.2環(huán)境參數(shù)environmentalparameters表征環(huán)境條件的一個(gè)或幾個(gè)物理、化學(xué)和生物的特性參數(shù)(如溫度、濕度、加速度等)。3.1.3綜合試驗(yàn)設(shè)備combinedtestingequipments能同時(shí)模擬兩種或多種環(huán)境參數(shù)試驗(yàn)的設(shè)備。3.1.4組合試驗(yàn)設(shè)備compositetestingequipments能依次連續(xù)模擬兩種或多種環(huán)境參數(shù)試驗(yàn)的設(shè)備3.1.5標(biāo)稱值nominalvalue當(dāng)檢定環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備時(shí),按試驗(yàn)方法要求所規(guī)定的環(huán)境參數(shù)值或按需要預(yù)先確定的環(huán)境參數(shù)值3.1.6特定負(fù)載specifiedload利