ie工業(yè)工程_ie工業(yè)工程的試驗(yàn)方法指引

目 錄IEC 68-2-1 試驗(yàn)方法 A：冷3附錄：生熱試件以強(qiáng)制空氣對(duì)流方式執(zhí)行試驗(yàn)之方法6IEC 68-2-2 試驗(yàn)方法B：乾熱7附錄：生熱試件以強(qiáng)制空氣對(duì)流方式執(zhí)行試驗(yàn)之方法10IEC 68-2-3 試驗(yàn)方法 Ca：穩(wěn)態(tài)濕熱11IEC 68-2-5 試驗(yàn)方法 Sa：地面太陽輻射模擬12IEC 68-2-6 試驗(yàn)方法Fc及指引：正弦振動(dòng)14IEC 68-2-7 試驗(yàn)方法Ga及指引：穩(wěn)態(tài)加速度21IEC 68-2-9 太陽輻射試驗(yàn)指引22IEC 68-2-10 試驗(yàn)方法J及指引：黴菌32IEC 68-2-11 試驗(yàn)方法 Ka：鹽霧37IEC 68-2-13 試驗(yàn)方法 M：低壓39IEC 68-2-14 試驗(yàn)方法 N ：溫度變化41IEC 68-2-17 試驗(yàn)方法 Q：密封性45IEC 68-2-18 試驗(yàn)方法R及指引：水57IEC 68-2-20 試驗(yàn)方法 T：錫焊73IEC 68-2-21 試驗(yàn)方法 U：端子強(qiáng)韌性及整體固定裝置完整性85IEC 68-2-27 試驗(yàn)方法 Ea：衝擊90附 錄：衝擊試驗(yàn)指引93IEC 68-2-28 濕熱試驗(yàn)指引97IEC 68-2-29 試驗(yàn)方法 Eb及指引：顛簸102附 錄：顛簸試驗(yàn)指引105IEC 68-2-30 試驗(yàn)方法 Db：濕熱溫度循環(huán)109IEC 68-2-31 試驗(yàn)方法 Ec：跌落與傾倒，主要針對(duì)裝備層次產(chǎn)品111IEC 68-2-32 試驗(yàn)方法 Ed：自由跌落113IEC 68-2-33 溫度變化試驗(yàn)指引115IEC 68-2-34 試驗(yàn)方法 Fd：寬頻隨機(jī)振動(dòng)通則120IEC 68-2-38 試驗(yàn)方法 Z/AD：組合溫度、濕度循環(huán)試驗(yàn)124IEC 68-2-39 試驗(yàn)方法 Z/AMD：低溫、低壓與濕熱、低壓序列複合試驗(yàn)128IEC 68-2-40 試驗(yàn)方法Z/AM：低溫/低壓複合試驗(yàn)130IEC 68-2-41 試驗(yàn)方法 Z/BM：乾熱/低壓複合試驗(yàn)132IEC 68-2-42 試驗(yàn)方法 Kc：觸點(diǎn)及連接物的二氧化硫試驗(yàn)134IEC 68-2-43 試驗(yàn)方法 Kd：觸點(diǎn)及連接物的硫化氫試驗(yàn)136IEC 68-2-44 試驗(yàn)方法T之技術(shù)指引：錫焊138附錄:可焊性-表面固定元件之耐鎔與耐錫焊熱143IEC 68-2-45 試驗(yàn)方法XA及指引：浸入清潔溶液150IEC 68-2-46 試驗(yàn)方法Kd之指引：觸點(diǎn)及連接物的硫化氫試驗(yàn)153IEC 68-2-47 元件、裝備與其他產(chǎn)品動(dòng)態(tài)試驗(yàn) (包括衝擊、顛簸、振動(dòng)及穩(wěn)態(tài)加速度)之固定方法及指引158附錄：固定方法指引160IEC 68-2-48：IEC 68儲(chǔ)存效應(yīng)模擬試驗(yàn)之應(yīng)用指引163IEC 68-2-49 試驗(yàn)方法Kc之指引：觸點(diǎn)及連接物的二氧化硫試驗(yàn)167IEC 68-2-50 試驗(yàn)方法 Z/AFc：對(duì)於生熱及不生熱試件之低溫、 正弦振動(dòng)複合試驗(yàn)172IEC 68-2-51 試驗(yàn)方法 Z/BFc：對(duì)於生熱及不生熱試件之乾熱、 正弦振動(dòng)複合試驗(yàn)179IEC 68-2-52 試驗(yàn)方法 Kb：循環(huán)式鹽霧186IEC 68-2-53 溫度(低溫、乾熱) 振動(dòng)(正弦)複合試驗(yàn)指引188IEC 68-2-54 試驗(yàn)方法 Ta：錫焊以潤濕力平衡法進(jìn)行可焊性試驗(yàn)190IEC 68-2-55 試驗(yàn)方法Ee及指引: 跳動(dòng)194IEC 68-2-56 試驗(yàn)方法 Cb：裝備穩(wěn)態(tài)濕熱197IEC 68-2-57 試驗(yàn)方法 Ff：振動(dòng)時(shí)域法200IEC 68-2-58 試驗(yàn)方法 Td：表面安裝元件之可焊性、耐熱性、 金屬塗覆耐融性試驗(yàn)209IEC 68-2-59 試驗(yàn)方法Fe：振動(dòng)正弦頻擊法212IEC 68-2-60 試驗(yàn)方法 Ke：人造低濃度污染氣體腐蝕試驗(yàn)220IEC 68-2-61 試驗(yàn)方法 Z/ABDM：氣候序列222IEC 68-2-62 試驗(yàn)方法 Ef：擺錘式撞擊226IEC 68-2-63 試驗(yàn)方法 Eg：彈簧鎚撞擊229IEC 68-2-64 試驗(yàn)方法 Fh：寬頻隨機(jī)振動(dòng)(數(shù)位控制)及指引233IEC 68-2-65 試驗(yàn)方法 Fg：音響衍生振動(dòng)242附錄：音響衍生振動(dòng)試驗(yàn)指引244IEC 68-2-66 試驗(yàn)方法 Cx：穩(wěn)態(tài)濕熱(不飽和加壓蒸氣)249IEC 68-2-68 試驗(yàn)方法 ：砂塵253附錄A：一般指引264附錄B：試驗(yàn)方法La指引265附錄C：試驗(yàn)方法Lb指引269附錄D：試驗(yàn)方法Lc指引272IEC 68-2-1 試驗(yàn)方法 A：冷前言本試驗(yàn)法之目的在決定元件、裝備或其他產(chǎn)品於低溫環(huán)境下操作及儲(chǔ)存之能力。範(fàn)圍本試驗(yàn)法同時(shí)適用於生熱(heat-dissipating)及不生熱(non heat- dissipating) 試件，並依試驗(yàn)方法之不同可區(qū)分為溫度驟變(sudden change of temperature)及溫度漸變(gradual change of temperature)兩種，其中溫度驟變?cè)囼?yàn)主要在於節(jié)省試驗(yàn)時(shí)間。本試驗(yàn)法可區(qū)分為： 試驗(yàn)方法Aa：不生熱試件之溫度驟變法 試驗(yàn)方法Ab：不生熱試件之溫度漸變法 試驗(yàn)方法Ad：生熱試件之溫度漸變法 限制1. 本試驗(yàn)法不適用於評(píng)估試件在溫度改變過程中，可能產(chǎn)生之影響，若欲評(píng)估此種情況，請(qǐng)參考IEC 68-2-14試驗(yàn)方法N：溫度變化。 2. 本試驗(yàn)法中之溫度驟變?cè)囼?yàn)在採用之前，必須先確定此溫度變化不會(huì)對(duì)試件產(chǎn)生破壞。 3. 本試驗(yàn)法中之溫度驟變?cè)囼?yàn)不適用於試件功測(cè)線帶組裝困難或突然置入櫃內(nèi)會(huì)起霧之試件。 測(cè)試步驟試驗(yàn)方法Aa：不生熱試件之溫度驟變法1. 試件於試驗(yàn)前應(yīng)依相關(guān)規(guī)範(fàn)之規(guī)定執(zhí)行目視檢查、電性及機(jī)械檢驗(yàn)。 2. 先將櫃溫降至相關(guān)規(guī)範(fàn)所規(guī)定之溫度值，再將試件置入。 3. 試件溫度達(dá)穩(wěn)定後，依規(guī)定之駐留時(shí)間加以保溫。 4. 試驗(yàn)櫃內(nèi)周遭溫度條件及試件溫度穩(wěn)定時(shí)間之監(jiān)測(cè)，必須依下列規(guī)定實(shí)施： 5. 周遭溫度指試件周圍空氣溫度。 6. 溫度穩(wěn)定則指試件上各點(diǎn)之溫度差不超過3。 7. 若相關(guān)規(guī)範(fàn)有所規(guī)定，則應(yīng)於試驗(yàn)中執(zhí)行功能測(cè)試及各項(xiàng)量測(cè)工作。 8. 試驗(yàn)後應(yīng)將試件置於標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下，直到完全除霧為止，在移轉(zhuǎn)過程中試件應(yīng)不加電。 9. 在室溫下，允許於短時(shí)間內(nèi)以手搖動(dòng)或鼓風(fēng)機(jī)移去試件上之水滴。 10. 將試件置於標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下，以回復(fù)原來狀況(最少1小時(shí)，最多為溫度穩(wěn)定時(shí)間加1小時(shí))。相關(guān)規(guī)範(fàn)規(guī)定之所有量測(cè)需求，應(yīng)於溫度穩(wěn)定後之期間內(nèi)執(zhí)行完畢。 11. 俟試件回復(fù)至原來狀況後，應(yīng)執(zhí)行目視檢查、電性及機(jī)械檢驗(yàn)。 試驗(yàn)方法Ab：不生熱試件之溫度漸變法1. 試件於試驗(yàn)前應(yīng)依相關(guān)規(guī)範(fàn)之規(guī)定執(zhí)行目視檢查、電性及機(jī)械檢驗(yàn)。 2. 將試件以室溫條件下置入櫃內(nèi)，再將櫃溫以每分鐘不超過1之溫變率降至相關(guān)規(guī)範(fàn)所規(guī)定之溫度值。 3. 試件溫度達(dá)穩(wěn)定後，依規(guī)定之駐留時(shí)間加以保溫。 4. 試驗(yàn)櫃內(nèi)周遭溫度條件及試件溫度穩(wěn)定時(shí)間之監(jiān)測(cè)，必須依下列規(guī)定實(shí)施： 5. 周遭溫度指試件周圍空氣溫度。 6. 溫度穩(wěn)定則指試件上各點(diǎn)之溫度差不超過3。 7. 若相關(guān)規(guī)範(fàn)有所規(guī)定，則應(yīng)於試驗(yàn)中執(zhí)行功能測(cè)試及各項(xiàng)量測(cè)工作。 8. 試件於試驗(yàn)後應(yīng)留於櫃內(nèi)，並將櫃溫以每分鐘不超過1之溫變率，回復(fù)至標(biāo)準(zhǔn)大氣條件，在變溫期間試件應(yīng)不加電。 9. 在室溫下，允許於短時(shí)間內(nèi)以手搖動(dòng)或鼓風(fēng)機(jī)移去試件上之水滴。 10. 將試件置於標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下，以回復(fù)原來狀況(最少1小時(shí)，最多為溫度穩(wěn)定時(shí)間加1小時(shí))。相關(guān)規(guī)範(fàn)規(guī)定之所有量測(cè)需求，應(yīng)於溫度穩(wěn)定後之期間內(nèi)執(zhí)行完畢。 11. 俟試件回復(fù)至原來狀況後，應(yīng)執(zhí)行目視檢查、電性及機(jī)械檢驗(yàn)。 試驗(yàn)方法Ad：生熱試件之溫度漸變法1. 試件於試驗(yàn)前應(yīng)依相關(guān)規(guī)範(fàn)之規(guī)定執(zhí)行目視檢查、機(jī)械及電性檢驗(yàn)。 2. 將試件以室溫條件下置入櫃內(nèi)，再將櫃溫以每分鐘不超過1之溫變率降至相關(guān)規(guī)範(fàn)所規(guī)定之溫度值。 3. 試件溫度達(dá)穩(wěn)定後，依規(guī)定之駐留時(shí)間加以保溫。 4. 試驗(yàn)櫃內(nèi)周遭溫度條件及試件溫度穩(wěn)定時(shí)間之監(jiān)測(cè)，必須依下列規(guī)定實(shí)施： 5. 周遭溫度指在試件底面下050mm之平面上數(shù)點(diǎn)的平均空氣溫度。這些點(diǎn)可以取距離試件1m或試件與櫃壁距離之半，兩者中較小者。 6. 溫度穩(wěn)定則指連續(xù)兩次3溫度變化所需時(shí)間的比值必須大於1.7(後者比前者)。 7. 若相關(guān)規(guī)範(fàn)有所規(guī)定，則應(yīng)於試驗(yàn)中執(zhí)行功能測(cè)試及各項(xiàng)量測(cè)工作。 8. 試件於試驗(yàn)後應(yīng)留於櫃內(nèi)，並將櫃溫以每分鐘不超過1之溫變率，回復(fù)至標(biāo)準(zhǔn)大氣條件，在變溫期間試件應(yīng)不加電。 9. 在室溫下，允許於短時(shí)間內(nèi)以手搖動(dòng)或鼓風(fēng)機(jī)移去試件上之水滴。 10. 將試件置於標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下，以回復(fù)原來狀況(最少1小時(shí)，最多為溫度穩(wěn)定時(shí)間加1小時(shí))。相關(guān)規(guī)範(fàn)規(guī)定之所有量測(cè)需求，應(yīng)於溫度穩(wěn)定後之期間內(nèi)執(zhí)行完畢。 11. 俟試件回復(fù)至原來狀況後，應(yīng)執(zhí)行目視檢查、電性及機(jī)械檢驗(yàn)。 測(cè)試條件 測(cè)試條件可由下選擇適當(dāng)之溫度條件及試驗(yàn)時(shí)間或依相關(guān)規(guī)範(fàn)之規(guī)定。 溫度：-65, -55, -40, -25, -10, -5, +5。 駐留時(shí)間：2, 16, 72, 96小時(shí)。 溫變率：每分鐘不超過1(5分鐘內(nèi)之平均值)。 試驗(yàn)容差：3。 試驗(yàn)設(shè)置 試驗(yàn)櫃內(nèi)壁上各點(diǎn)之溫度值須在試驗(yàn)溫度(以oK表示)之8%以內(nèi)，以避免熱輻射問題。 對(duì)於生熱之試件，試件應(yīng)儘量置於試驗(yàn)櫃之中央，且試件與櫃壁、試件與試件之距離應(yīng)大於15公分，試驗(yàn)櫃與試件體積之比應(yīng)大於5:1。 對(duì)於生熱之試件，若使用強(qiáng)制空氣對(duì)流方式執(zhí)行試驗(yàn)，則空氣流速應(yīng)儘量保持在最小之速度。 其他1. 生熱之試件係指當(dāng)試件加電後溫度達(dá)穩(wěn)定時(shí)(無強(qiáng)制空氣對(duì)流之大氣環(huán)境下)，試件表面最熱點(diǎn)之溫度與空氣溫度相差在5以上者。 2. 對(duì)於不生熱之試件一般以非操作之狀況執(zhí)行試驗(yàn)(無需連續(xù)加電，僅功測(cè)時(shí)需要)，此時(shí)強(qiáng)制空氣對(duì)流方式可適用於此類試驗(yàn)。 3. 對(duì)於生熱之試件不宜使用強(qiáng)制空氣對(duì)流方式，除非櫃內(nèi)溫度無法達(dá)到所要求之溫度條件。此時(shí)試驗(yàn)櫃須依附錄規(guī)定之方法或方法先行確認(rèn)是否適用。若試件於試驗(yàn)中須加電一段時(shí)間，則應(yīng)確認(rèn)周遭空氣溫度是否仍在規(guī)定之容差範(fàn)圍內(nèi)。 4. 對(duì)於生熱之試件若使用(或本身具有)氣冷式冷卻系統(tǒng)，則冷卻空氣中應(yīng)避免含油質(zhì)之成份，且必須十分乾燥，以免引起濕度問題。如果冷卻空氣由櫃外導(dǎo)入試件且與櫃內(nèi)空氣隔離，則可選擇無強(qiáng)制空氣對(duì)流或參照附錄中方法之試驗(yàn)方式執(zhí)行試驗(yàn)。如果冷卻試件之空氣直接由櫃內(nèi)抽取，則除須選擇無強(qiáng)制空氣對(duì)流或參照附錄中方法之試驗(yàn)方式執(zhí)行試驗(yàn)外，並應(yīng)監(jiān)測(cè)進(jìn)入試件之冷卻空氣是否在規(guī)定之容差範(fàn)圍內(nèi)。 5. 試件應(yīng)以無包裝、不加電之使用型態(tài)置於試驗(yàn)櫃內(nèi)。若試件在實(shí)際使用狀況下，有特定之夾持裝置，則應(yīng)視為試件之一部份。若實(shí)際之夾具特性不可知，則使用之夾具須具高熱傳導(dǎo)特性。 6. 若試驗(yàn)中有量測(cè)需求時(shí)，應(yīng)於櫃內(nèi)進(jìn)行量測(cè)，不可將試件移出櫃外。若在回復(fù)至標(biāo)準(zhǔn)大氣條件前，有量測(cè)需求時(shí)，則應(yīng)先將試件移出櫃外，於執(zhí)行量測(cè)後，再置入櫃內(nèi)，不可於試驗(yàn)中進(jìn)行。 7. 試件於試驗(yàn)後回復(fù)至原來狀況期間，可依相關(guān)規(guī)範(fàn)之規(guī)定將試件加電或不加電。 附錄：生熱試件以強(qiáng)制空氣對(duì)流方式執(zhí)行試驗(yàn)之方法方法A範(fàn)圍：試驗(yàn)櫃夠大時(shí)適用。步驟：1. 將試件置入櫃內(nèi)並加電，此時(shí)櫃內(nèi)不降溫。 2. 俟試件溫度穩(wěn)定後，量測(cè)試件表面上各點(diǎn)，並記錄溫度上升狀況。 3. 將櫃內(nèi)加強(qiáng)制空氣對(duì)流後，此時(shí)櫃內(nèi)亦不降溫，並量測(cè)試件表面上各點(diǎn)，若兩次各點(diǎn)量得之溫度差小於3，表示此空氣流速可用於執(zhí)行試驗(yàn)。 4. 降溫執(zhí)行低溫試驗(yàn)，並以此空氣流速作為強(qiáng)制空氣對(duì)流。 方法B(如圖2)範(fàn)圍：試驗(yàn)櫃不夠大時(shí)適用。步驟：1. 將試件置於實(shí)驗(yàn)室內(nèi)並加電。 2. 俟試件溫度穩(wěn)定後，量測(cè)試件表面上各點(diǎn)，並記錄溫度上升狀況。 3. 若溫度上升值小於25，則此試件可直接置入櫃內(nèi)執(zhí)行試驗(yàn)。 4. 若溫度上升值介於2580，則依圖3決定Ts(試件在試驗(yàn)溫度下加電其表面溫度值)，並以該點(diǎn)溫度為控制點(diǎn)執(zhí)行試驗(yàn)。 5. 若溫度上升值大於80，則不適用。 周遭溫度修正圖使用說明：1. 由實(shí)驗(yàn)室周遭溫度(Tai)與量測(cè)所得之試件表面溫度(Tsi)連成之直線與Pivot線交於Tr 2. 再由規(guī)定之試驗(yàn)溫度(Tao)與Tr之連線相交於試件表面溫度於Tso 3. 此Tso即為試件在試驗(yàn)溫度下加電，其表面溫度值 IEC 68-2-2 試驗(yàn)方法B：乾熱前言本試驗(yàn)法之目的在決定元件、裝備或其他產(chǎn)品於高溫環(huán)境下操作及儲(chǔ)存之能力。範(fàn)圍本試驗(yàn)法可同時(shí)適用於生熱(heat-dissipating) 及不生熱(non heat- dissipating)試件，並依試驗(yàn)方法之不同可區(qū)分為溫度驟變(sudden change of temperature)及溫度漸變(gradual change of temperature)兩種，其中溫度驟變?cè)囼?yàn)主要在於節(jié)省試驗(yàn)時(shí)間。本試驗(yàn)法可區(qū)分為： 試驗(yàn)方法Ba：不生熱試件之溫度驟變法 試驗(yàn)方法Bb：不生熱試件之溫度漸變法 試驗(yàn)方法Bc：生熱試件之溫度驟變法 試驗(yàn)方法Bd：生熱試件之溫度漸變法 限制1. 本試驗(yàn)法不適用於評(píng)估試件在溫度改變過程中，可能產(chǎn)生之影響，若欲評(píng)估此種情況，請(qǐng)參考IEC 68-2-14試驗(yàn)方法N：溫度變化。 2. 本試驗(yàn)法中之溫度驟變?cè)囼?yàn)在採用之前，必須先確定此溫度變化不會(huì)對(duì)試件產(chǎn)生破壞。 3. 本試驗(yàn)法中之溫度驟變?cè)囼?yàn)不適用於試件功測(cè)線帶組裝困難之試件。 測(cè)試步驟試驗(yàn)方法Ba：不生熱試件之溫度驟變法1. 試件於試驗(yàn)前應(yīng)依相關(guān)規(guī)範(fàn)之規(guī)定執(zhí)行目視檢查、電性及機(jī)械檢驗(yàn)。 2. 先將櫃溫升至相關(guān)規(guī)範(fàn)所規(guī)定之溫度值，再將試件置入。 3. 試件溫度達(dá)穩(wěn)定後，依規(guī)定之駐留時(shí)間加以保溫。 4. 試驗(yàn)櫃內(nèi)周遭溫度條件及試件溫度穩(wěn)定時(shí)間之監(jiān)測(cè)，必須依下列規(guī)定實(shí)施： 5. 周遭溫度指試件周圍空氣溫度。 6. 溫度穩(wěn)定則指試件上各點(diǎn)之溫度差不超過5。 7. 若相關(guān)規(guī)範(fàn)有所規(guī)定，則應(yīng)於試驗(yàn)中執(zhí)行功能測(cè)試及各項(xiàng)量測(cè)工作。 8. 將試件置於標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下，以回復(fù)原來狀況(最少1小時(shí)，最多為溫度穩(wěn)定時(shí)間加1小時(shí))。相關(guān)規(guī)範(fàn)規(guī)定之所有量測(cè)需求，應(yīng)於溫度穩(wěn)定後之期間內(nèi)執(zhí)行完畢。 9. 俟試件回復(fù)至原來狀況後，應(yīng)執(zhí)行目視檢查、電性及機(jī)械檢驗(yàn)。 試驗(yàn)方法Bb：不生熱試件之溫度漸變法1. 試件於試驗(yàn)前應(yīng)依相關(guān)規(guī)範(fàn)之規(guī)定執(zhí)行目視檢查、電性及機(jī)械檢驗(yàn)。 2. 將試件以室溫條件下置入櫃內(nèi)，再將櫃溫以每分鐘不超過1之溫變率升至相關(guān)規(guī)範(fàn)所規(guī)定之溫度值。 3. 試件溫度達(dá)穩(wěn)定後，依規(guī)定之駐留時(shí)間加以保溫。 4. 試驗(yàn)櫃內(nèi)周遭溫度條件及試件溫度穩(wěn)定時(shí)間之監(jiān)測(cè)，必須依下列規(guī)定實(shí)施： 5. 周遭溫度指試件周圍空氣溫度。 6. 溫度穩(wěn)定則指試件上各點(diǎn)之溫度差不超過5。 7. 若相關(guān)規(guī)範(fàn)有所規(guī)定，則應(yīng)於試驗(yàn)中執(zhí)行功能測(cè)試及各項(xiàng)量測(cè)工作。 8. 試件於試驗(yàn)後應(yīng)留於櫃內(nèi)，並將櫃溫以每分鐘不超過1之溫變率，回復(fù)至標(biāo)準(zhǔn)大氣條件，在變溫期間試件應(yīng)不加電。 9. 將試件置於標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下，以回復(fù)原來狀況(最少1小時(shí)，最多為溫度穩(wěn)定時(shí)間加1小時(shí))。相關(guān)規(guī)範(fàn)規(guī)定之所有量測(cè)需求，應(yīng)於溫度穩(wěn)定後之期間內(nèi)執(zhí)行完畢。 10. 俟試件回復(fù)至原來狀況後，應(yīng)執(zhí)行目視檢查、電性及機(jī)械檢驗(yàn)。 試驗(yàn)方法Bc：生熱試件之溫度驟變法1. 試件於試驗(yàn)前應(yīng)依相關(guān)規(guī)範(fàn)之規(guī)定執(zhí)行目視檢查、電性及機(jī)械檢驗(yàn)。 2. 先將櫃溫升至相關(guān)規(guī)範(fàn)所規(guī)定之溫度值，再將試件置入。 3. 試件溫度達(dá)穩(wěn)定後，依規(guī)定之駐留時(shí)間加以保溫。 4. 試驗(yàn)櫃內(nèi)周遭溫度條件及試件溫度穩(wěn)定時(shí)間之監(jiān)測(cè)，必須依下列規(guī)定實(shí)施： 5. 周遭溫度指在試件底面下050mm之平面上數(shù)點(diǎn)的平均空氣溫度。這些點(diǎn)可以取距離試件1m或試件與櫃壁距離之半，兩者中較小者。 6. 溫度穩(wěn)定則指連續(xù)兩次5溫度變化所需時(shí)間的比值必須大於1.7(後者比前者)。 7. 若相關(guān)規(guī)範(fàn)有所規(guī)定，則應(yīng)於試驗(yàn)中執(zhí)行功能測(cè)試及各項(xiàng)量測(cè)工作。 8. 將試件置於標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下，以回復(fù)原來狀況(最少1小時(shí)，最多為溫度穩(wěn)定時(shí)間加1小時(shí))。相關(guān)規(guī)範(fàn)規(guī)定之所有量測(cè)需求，應(yīng)於溫度穩(wěn)定後之期間內(nèi)執(zhí)行完畢。 9. 俟試件回復(fù)至原來狀況後，應(yīng)執(zhí)行目視檢查、電性及機(jī)械檢驗(yàn)。 試驗(yàn)方法Bd：生熱試件之溫度漸變法1. 試件於試驗(yàn)前應(yīng)依相關(guān)規(guī)範(fàn)之規(guī)定執(zhí)行目視檢查、電性及機(jī)械檢驗(yàn)。 2. 將試件以室溫條件下置入櫃內(nèi)，再將櫃溫以每分鐘不超過1之溫變率升至相關(guān)規(guī)範(fàn)所規(guī)定之溫度值。 3. 試件溫度達(dá)穩(wěn)定後，依規(guī)定之駐留時(shí)間加以保溫。 4. 試驗(yàn)櫃內(nèi)周遭溫度條件及試件溫度穩(wěn)定時(shí)間之監(jiān)測(cè)，必須依下列規(guī)定實(shí)施： 5. 周遭溫度指在試件底面下050mm之平面上數(shù)點(diǎn)的平均空氣溫度。這些點(diǎn)可以取距離試件1m或試件與櫃壁距離之半，兩者中較小者。 6. 溫度穩(wěn)定則指連續(xù)兩次5溫度變化所需時(shí)間的比值必須大於1.7(後者比前者)。 7. 若相關(guān)規(guī)範(fàn)有所規(guī)定，則應(yīng)於試驗(yàn)中執(zhí)行功能測(cè)試及各項(xiàng)量測(cè)工作。 8. 試件於試驗(yàn)後應(yīng)留於櫃內(nèi)，並將櫃溫以每分鐘不超過1之溫變率，回復(fù)至標(biāo)準(zhǔn)大氣條件，在變溫期間試件應(yīng)不加電。 9. 將試件置於標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下，以回復(fù)原來狀況(最少1小時(shí)，最多為溫度穩(wěn)定時(shí)間加1小時(shí))。相關(guān)規(guī)範(fàn)規(guī)定之所有量測(cè)需求，應(yīng)於溫度穩(wěn)定後之期間內(nèi)執(zhí)行完畢。 10. 俟試件回復(fù)至原來狀況後，應(yīng)執(zhí)行目視檢查、電性及機(jī)械檢驗(yàn)。 測(cè)試條件 測(cè)試條件可由下選擇適當(dāng)之溫度條件及試驗(yàn)時(shí)間或依相關(guān)規(guī)範(fàn)之規(guī)定。 溫度：1000, 800, 630, 500, 400, 315, 250, 200, 175,155, 125, 100, 85, 70, 55, 40, 30。 絕對(duì)濕度：每立方公尺空氣所含蒸氣需低於20公克(相當(dāng)於35時(shí)50%相對(duì)濕 度)。測(cè)試溫度低於35時(shí)，需低於50%相對(duì)濕度。 駐留時(shí)間：2, 16, 72, 96小時(shí)。 溫變率：每分鐘不超過1(5分鐘內(nèi)之平均值)。 試驗(yàn)容差：溫度低於200之容差為2。 溫度於2001000之容差為測(cè)試溫度之2%。 若試驗(yàn)櫃尺寸大小無法達(dá)到上述容差要求，容差可放寬溫度低於100之容差為3，溫度於100200之容差為5。(容差放寬需於報(bào)告中註明)。 試驗(yàn)設(shè)置 試驗(yàn)櫃內(nèi)壁上各點(diǎn)之溫度值須在試驗(yàn)溫度(以K表示)之3%以內(nèi)，以避免熱輻射問題。 對(duì)於生熱之試件，試件應(yīng)儘量置於試驗(yàn)櫃之中央，且試件與櫃壁、試件與試件之距離應(yīng)遵循下列原則： 試件體積小於1立方公寸以下，且生熱量為低於50瓦特時(shí)距離需大於10公分以上。 試件體積小於1立方公寸以下，且生熱量50100瓦特時(shí)，距離需大於20公分以上。 試件體積大於1立方公寸以上，距離應(yīng)大於10公分或依圖1試件生熱量與體積選定適當(dāng)距離(兩者取較大者)。試驗(yàn)櫃與試件體積之比應(yīng)大於5:1。 對(duì)於生熱之試件，若使用強(qiáng)制空氣對(duì)流方式執(zhí)行試驗(yàn)，則空氣流速應(yīng)儘量保持在最小之速度(每秒低於0.5m)。 其他 生熱之試件係指當(dāng)試件加電後溫度達(dá)穩(wěn)定時(shí)(無強(qiáng)制空氣對(duì)流之大氣環(huán)境下)，試件表面最熱點(diǎn)之溫度與空氣溫度相差在5以上者。 對(duì)於不生熱之試件一般以非操作之狀況執(zhí)行試驗(yàn)(無需連續(xù)加電，僅功測(cè)時(shí)需要)，此時(shí)強(qiáng)制空氣對(duì)流方式可適用於此類試驗(yàn)。 對(duì)於生熱之試件不宜使用強(qiáng)制空氣對(duì)流方式，除非櫃內(nèi)溫度無法達(dá)到所要求之溫度條件。此時(shí)試驗(yàn)櫃須依附錄規(guī)定之方法或方法先行確認(rèn)是否適用。若試件於試驗(yàn)中須加電一段時(shí)間，則應(yīng)確認(rèn)周遭空氣溫度是否仍在規(guī)定之容差範(fàn)圍內(nèi)。 對(duì)於生熱之試件若使用(或本身具有)氣冷式冷卻系統(tǒng)，則冷卻空氣中應(yīng)避免含油質(zhì)之成份，且必須十分乾燥，以免引起濕度問題。如果冷卻空氣由櫃外導(dǎo)入試件且與櫃內(nèi)空氣隔離，則可選擇無強(qiáng)制空氣對(duì)流或參照附錄中方法之試驗(yàn)方式執(zhí)行試驗(yàn)。如果冷卻試件之空氣直接由櫃內(nèi)抽取，則除須選擇無強(qiáng)制空氣對(duì)流或參照附錄中方法之試驗(yàn)方式執(zhí)行試驗(yàn)外，並應(yīng)監(jiān)測(cè)進(jìn)入試件之冷卻空氣是否在規(guī)定之容差範(fàn)圍內(nèi)。 試件應(yīng)以無包裝、不加電之使用型態(tài)置於試驗(yàn)櫃內(nèi)。若試件在實(shí)際使用狀況下，有特定之夾持裝置，則應(yīng)視為試件之一部份。若實(shí)際之夾具特性不可知，則使用之夾具須具高熱傳導(dǎo)特性。 若試驗(yàn)中有量測(cè)需求時(shí)，應(yīng)於櫃內(nèi)進(jìn)行量測(cè)，不可將試件移出櫃外。若在回復(fù)至標(biāo)準(zhǔn)大氣條件前，有量測(cè)需求時(shí)，則應(yīng)先將試件移出櫃外，於執(zhí)行量測(cè)後，再置入櫃內(nèi)，不可於試驗(yàn)中進(jìn)行。 試件於試驗(yàn)後回復(fù)至原來狀況期間，可依相關(guān)規(guī)範(fàn)之規(guī)定將試件加電或不加電。 附錄：生熱試件以強(qiáng)制空氣對(duì)流方式執(zhí)行試驗(yàn)之方法方法A範(fàn)圍：試驗(yàn)櫃夠大時(shí)適用。步驟：1. 將試件置入櫃內(nèi)並加電，此時(shí)櫃內(nèi)不升溫。 2. 俟試件溫度穩(wěn)定後，量測(cè)試件表面上各點(diǎn)，並記錄溫度上升狀況。 3. 將櫃內(nèi)加強(qiáng)制空氣對(duì)流後，此時(shí)櫃內(nèi)亦不升溫，並量測(cè)試件表面上各點(diǎn)，若兩次各點(diǎn)量得之溫度差小於5，表示此空氣流速可用於執(zhí)行試驗(yàn)。 4. 升溫執(zhí)行高溫試驗(yàn)，並以此空氣流速作為強(qiáng)制空氣對(duì)流。 方法範(fàn)圍：試驗(yàn)櫃不夠大時(shí)適用。步驟：1. 將試件置於實(shí)驗(yàn)室內(nèi)並加電。 2. 俟試件溫度穩(wěn)定後，量測(cè)試件表面上各點(diǎn)，並記錄溫度上升狀況。 3. 若溫度上升值小於25，周遭溫度變化小於30，則此試件可直接置入櫃內(nèi)執(zhí)行試驗(yàn)。 4. 若溫度上升值介於2580，周遭溫度變化介於3065，則依圖4決定Ts(試件在試驗(yàn)溫度下加電其表面溫度值)，並以該點(diǎn)溫度為控制點(diǎn)執(zhí)行試驗(yàn)。 5. 若溫度上升值大於80，周遭溫度變化大於65，則不適用。 IEC 68-2-3 試驗(yàn)方法 Ca：穩(wěn)態(tài)濕熱前言 本試驗(yàn)法之目的在決定元件、裝備或其他產(chǎn)品於定溫(constant temperature)、高相對(duì)濕度環(huán)境下操作及儲(chǔ)存的適應(yīng)性。 範(fàn)圍 本試驗(yàn)法可同時(shí)適用於生熱(heat-dissipating)及不生熱(non heat -dissipating)試件。 限制 無限制。 測(cè)試步驟1. 試件於試驗(yàn)前應(yīng)依相關(guān)規(guī)範(fàn)之規(guī)定執(zhí)行目視檢查、電性及機(jī)械檢驗(yàn)。 2. 試件放入試驗(yàn)櫃中之情況必須符合相關(guān)規(guī)範(fàn)，試件入櫃後為避免在試件上形成水珠，最好事先將試件溫度預(yù)熱至試驗(yàn)櫃中之溫度條件。 3. 試件依規(guī)定之駐留加以保溫。 4. 若相關(guān)規(guī)範(fàn)有所規(guī)定，則應(yīng)於試驗(yàn)中或試驗(yàn)後執(zhí)行功能測(cè)試及各項(xiàng)量測(cè)工作，執(zhí)行功能測(cè)試時(shí)必須按照規(guī)範(fàn)中所要求之週期來進(jìn)行，且試件不得搬出試驗(yàn)櫃。 5. 試驗(yàn)後試件必須置於標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下至少一小時(shí)，最多兩小時(shí)以回復(fù)原來狀況。 6. 依試件之特性或?qū)嶒?yàn)室能量之不同，可將試件移出或保留在試驗(yàn)櫃中等待恢復(fù)，若要移出則時(shí)間以愈短愈佳，最好不超過五分鐘，若維持在櫃中則濕度必須在三十分鐘內(nèi)降至73%77% R.H.，同時(shí)溫度也必須在三十分鐘內(nèi)達(dá)到實(shí)驗(yàn)室溫度之1範(fàn)圍內(nèi)。 測(cè)試條件1. 試驗(yàn)溫度：試驗(yàn)櫃中溫度應(yīng)控制在402範(fàn)圍內(nèi)。 2. 相對(duì)濕度：試驗(yàn)櫃中濕度應(yīng)控制在93(+2/-3)% R.H.範(fàn)圍內(nèi)。 3. 駐留時(shí)間：駐留時(shí)間可選擇4天，10天，21天或56天。 4. 試驗(yàn)容差：溫度容差為2，包含量測(cè)之絕對(duì)誤差、溫度之緩慢變化及溫度櫃中溫度差異。然而為了便利維持濕度在一定範(fàn)圍內(nèi)，因此試驗(yàn)櫃中任何兩點(diǎn)之溫度在任何時(shí)間都應(yīng)盡可能維持在最小範(fàn)圍內(nèi)。若溫差超過1則濕度變化將超過容許範(fàn)圍。因此即使短時(shí)間之溫度變化也可能需要控制在1內(nèi)。 試驗(yàn)設(shè)置1. 試驗(yàn)櫃內(nèi)必須安裝溫度及濕度感應(yīng)裝置以監(jiān)測(cè)櫃內(nèi)溫度與濕度。 2. 試驗(yàn)櫃內(nèi)頂端或牆壁不得有凝結(jié)水滴在試件上。 3. 試驗(yàn)櫃內(nèi)凝結(jié)之水份必須不斷排出，除非淨(jìng)化(re-purified)否則不得再使用。 4. 當(dāng)試驗(yàn)櫃內(nèi)濕度使用噴射方式即以水氣噴入試驗(yàn)櫃中達(dá)成時(shí)，其水份電阻係數(shù)不得低於500Wm. 其他 試驗(yàn)櫃內(nèi)之溫濕度等條件必須均勻，並且與溫濕度感應(yīng)器周遭附近之條件相近。 試件加電或功能測(cè)試時(shí)不得改變?cè)囼?yàn)櫃內(nèi)之溫濕度條件。 相關(guān)規(guī)範(fàn)中須詳述在消除試件表面濕氣時(shí)應(yīng)注意事項(xiàng)。 IEC 68-2-5 試驗(yàn)方法 Sa：地面太陽輻射模擬前言本試驗(yàn)法之目的為決定元件及裝備在地球表面暴露於太陽輻射環(huán)境時(shí)產(chǎn)生之效應(yīng)(包括熱、機(jī)械、化學(xué)、電性等)。範(fàn)圍本試驗(yàn)法所模擬環(huán)境之主要特徵為控制溫度條件下之太陽光譜能量分布及吸收的能量強(qiáng)度，以決定元件及裝備暴露於太陽輻射環(huán)境時(shí)產(chǎn)生之效應(yīng)。本試驗(yàn)法包括三個(gè)試驗(yàn)程序： 程序：適用於熱效應(yīng)之評(píng)估。 程序：適用於退化效應(yīng)之評(píng)估。 程序：適用於光化學(xué)效應(yīng)之評(píng)估。 限制無限制。測(cè)試步驟1. 試件於試驗(yàn)前應(yīng)依相關(guān)規(guī)範(fàn)之規(guī)定執(zhí)行目視檢查、電性及機(jī)械檢驗(yàn)。 2. 將試件擺置在試驗(yàn)箱(enclosure)內(nèi)升高的支架或已知熱傳導(dǎo)率及熱容之特定支撐材料上，並與其他試件保持距離以免輻射源被遮蔽或二次輻射熱產(chǎn)生。 3. 整個(gè)試驗(yàn)過程中，試驗(yàn)箱內(nèi)之輻射、溫度、濕度以及其他環(huán)境條件，必須維持在相關(guān)規(guī)範(fàn)之試驗(yàn)程序所規(guī)定之適當(dāng)位準(zhǔn)(level)。 4. 依規(guī)定之循環(huán)數(shù)執(zhí)行試驗(yàn)。 5. 試件在試驗(yàn)期間是否操作依相關(guān)規(guī)範(fàn)之規(guī)定執(zhí)行。 6. 試驗(yàn)後試件應(yīng)依相關(guān)規(guī)範(fàn)之規(guī)定執(zhí)行目視檢查、電性及機(jī)械檢驗(yàn)。 測(cè)試條件試件必須依據(jù)相關(guān)規(guī)範(fàn)規(guī)定之時(shí)間暴露在下述三個(gè)試驗(yàn)程序之一：1. 程序 每循環(huán)24小時(shí)，其中8小時(shí)連續(xù)照射，16小時(shí)保持黑暗，依需求重複執(zhí)行(此程序提供之全輻射量為每日循環(huán)8.96 kWh/m2，約近似於自然條件之最嚴(yán)厲狀況)。2. 程序 每循環(huán)24小時(shí)，其中20小時(shí)連續(xù)照射，4小時(shí)保持黑暗，依需求重複執(zhí)行(此程序提供之全輻射量為每日循環(huán)22.4 kWh/m2)。3. 程序 依需求連續(xù)照射。 在輻射照射過程中，試驗(yàn)箱內(nèi)溫度必須以接近線性的速率上升，且需維持在40或55。在程序，試驗(yàn)箱內(nèi)溫度需在照射週期前2小時(shí)開始上升。在程序及的黑暗週期，試驗(yàn)箱內(nèi)溫度則需以接近線性的速率下降，並維持在25。 試驗(yàn)時(shí)間依相關(guān)規(guī)範(fàn)的要求，一般較常採用下述三者之一 3循環(huán)(3天)。 10循環(huán)(10天)。 56循環(huán)(56天)。 溫度之容差為2，輻照度(irradiance)容差如表1所示。試驗(yàn)設(shè)置1. 執(zhí)行試驗(yàn)之試驗(yàn)箱在預(yù)設(shè)之輻射量測(cè)平面上，需能提供1.120 kW/m210% 之輻照度，且其光譜分布(spectral distribution)需如表1所示。在此所規(guī)定之輻照度(1.120 kW/m2)係包括試驗(yàn)中試驗(yàn)箱之反射及試件之吸收，但不包括試驗(yàn)箱放出之長波紅外線輻射。 2. 必須提供試驗(yàn)箱內(nèi)溫度、氣流及濕度維持在規(guī)定條件之方法。 3. 試驗(yàn)箱內(nèi)之溫度量測(cè)點(diǎn)需在預(yù)設(shè)之輻射量測(cè)平面下050mm之平面上這些點(diǎn)可以取距離試件1m或試件與箱壁距離之半，兩者中較小者。 其他若本試驗(yàn)法須控制濕度環(huán)境，則相關(guān)規(guī)範(fàn)必須說明此濕度之控制係在輻射照射週期或在黑暗週期或整個(gè)試驗(yàn)時(shí)間。表1：光譜能量分布與允許容差 光譜範(fàn)圍 紫外線 B 紫外線 A 可 見 光 紅外線 波長範(fàn)圍 0.28mm 0.32mm 0.32mm 0.40mm 0.40mm 0.52mm 0.52mm 0.64mm 0.64mm 0.78mm 0.78mm 3.00mm 輻照度 5 W/m2 63 W/m2 200 W/m2 186 W/m2 174 W/m2 492 W/m2 容 差 35% 25% 10% 10% 10% 20% IEC 68-2-6 試驗(yàn)方法Fc及指引：正弦振動(dòng)前言本試驗(yàn)法之目的在提供一標(biāo)準(zhǔn)之正弦振動(dòng)試驗(yàn)程序，以確定試件遭遇簡諧(harmonic)振動(dòng)的機(jī)械弱點(diǎn)所在，及特定功能退化情形。本試驗(yàn)法亦可用於決定試件結(jié)構(gòu)整體性及(或)動(dòng)態(tài)特性研究。範(fàn)圍 本試驗(yàn)法適用於運(yùn)輸或使用過程中遭遇簡諧振動(dòng)之元件、裝備或其他產(chǎn)品。 本試驗(yàn)法包括正弦掃描耐久(endurance by sine sweeping)及固定頻率耐久(endurance at fixed frequency)試驗(yàn)。 限制本試驗(yàn)法不適用於使用過程遭遇隨機(jī)振動(dòng)(random vibration)之試件。測(cè)試步驟 試件於試驗(yàn)前應(yīng)依相關(guān)規(guī)範(fàn)之規(guī)定執(zhí)行目視檢查、電性及機(jī)械檢驗(yàn)。 按規(guī)格執(zhí)行試驗(yàn)，且須在完成一軸向所有試驗(yàn)工作後，才能進(jìn)行另一軸向之試驗(yàn)（軸向定義及試驗(yàn)位準(zhǔn)(test level)、時(shí)間均詳列於相關(guān)規(guī)範(fàn)中）。 若相關(guān)規(guī)範(fàn)有所規(guī)定，則應(yīng)於試驗(yàn)中執(zhí)行功能測(cè)試及各項(xiàng)量測(cè)工作。 試驗(yàn)終止。 俟試件回復(fù)至試驗(yàn)前相同之狀態(tài)後，應(yīng)執(zhí)行目視檢查、電性及機(jī)械檢驗(yàn)。 測(cè)試條件 試驗(yàn)位準(zhǔn) 本試驗(yàn)相關(guān)之頻率範(fàn)圍、位移、振幅與加速度值，請(qǐng)參考表1表3及圖1所示。 試驗(yàn)時(shí)間 正弦掃描耐久試驗(yàn)以掃描循環(huán)數(shù)表示，建議值：1, 2, 5, 10, 20, 50, 100循環(huán)，在不降低試驗(yàn)應(yīng)力之前題下，可分段執(zhí)行。 關(guān)鍵頻率耐久(endurance at critical frequency)試驗(yàn) 10分 0.5分30分 1分90分 1分10時(shí) 5分 預(yù)定頻率耐久(endurance at predetermined frequency)試驗(yàn) 預(yù)期考量試件在操作歷程中所遭遇振動(dòng)之總時(shí)間，而以107次往復(fù)為上限。 試驗(yàn)容差 振幅參考點(diǎn)(reference point)參考點(diǎn)控制信號(hào)：15。相關(guān)規(guī)範(fàn)?wèi)?yīng)說明採用單點(diǎn)或多點(diǎn)控制。多點(diǎn)控制者應(yīng)說明上述容差限制對(duì)象是多點(diǎn)之平均值或特定單點(diǎn)值。檢查點(diǎn)(check point)任一檢查點(diǎn)試驗(yàn)方向之容差：500Hz以下 25500Hz以上 50未能符合上述規(guī)定者，宜於相關(guān)文件上指明採用容差或替代方法。任一檢查點(diǎn)非試驗(yàn)方向之容差：檢查點(diǎn)之側(cè)向(垂直試驗(yàn)軸向)振幅，在頻率低於500Hz時(shí)不得大於試驗(yàn)軸向50，高於500Hz時(shí)不得大於100。相關(guān)規(guī)範(fàn)有特別需求者得限制為25。未能符合上述規(guī)定者應(yīng)於相關(guān)規(guī)範(fàn)指明採用標(biāo)示不符規(guī)定部份並登錄文件或側(cè)向運(yùn)動(dòng)不予監(jiān)測(cè)何項(xiàng)要求。頻率參考點(diǎn)0.25Hz以下 0.05Hz0.25Hz5Hz 205Hz50Hz 1Hz50Hz以上 2振動(dòng)響應(yīng)調(diào)查之頻率容差0.5Hz以下 0.05Hz0.5Hz5Hz 105Hz100Hz 0.5Hz100Hz以上 0.5掃描速率掃描速率每分鐘一倍頻1oct/min10?；兞?distortion)在參考點(diǎn)監(jiān)測(cè)加速度畸變量，應(yīng)涵蓋至5000Hz或驅(qū)動(dòng)頻率之五倍，取大者?；兞坎坏贸?5，但為控制基本頻率(fundamental frequency)加速度振幅之信號(hào)維持在規(guī)定值的情況下，允許暫時(shí)性之超出25。未能符合上述規(guī)定者，畸變量應(yīng)標(biāo)示且登錄於文件中。試驗(yàn)設(shè)置試件應(yīng)依IEC 68-2-47規(guī)定固定於試驗(yàn)平臺(tái)。夾持點(diǎn)、控制點(diǎn)皆應(yīng)依相關(guān)規(guī)範(fàn)之規(guī)定裝置。裝有振動(dòng)隔離器之試件請(qǐng)參考7.(3)說明。其他名詞定義：有關(guān)之名詞請(qǐng)參考ISO Standard 2041：振動(dòng)及衝擊詞彙，然其中兩名詞在本標(biāo)準(zhǔn)另具特定意義： 掃描循環(huán)(sweep cycle) 在任一軸向上掃描歷經(jīng)之頻率範(fàn)圍。如從10Hz至150Hz再回至10Hz。 畸變量(distortion) a1 ：某驅(qū)動(dòng)頻率加速度均方根值(root mean square) atot：振動(dòng)機(jī)輸出之總加速度均方根值(包括 a1) 在ISO Standard 2041中未定義之名詞如下述： 夾持點(diǎn)(fixing point) 試件與夾具或振動(dòng)臺(tái)接合之點(diǎn)位，此點(diǎn)位為常態(tài)使用時(shí)固定試件之位置。若有取用試件實(shí)際固定結(jié)構(gòu)之部份為夾具者，夾持點(diǎn)為此部份結(jié)構(gòu)之夾持點(diǎn)位，而非試件與固定結(jié)構(gòu)之接合點(diǎn)位。 量測(cè)點(diǎn)(measuring point) 進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)，應(yīng)於指定點(diǎn)位蒐集數(shù)據(jù)。所謂指定點(diǎn)位主要有二類，但以評(píng)估動(dòng)態(tài)行為為目的之試件內(nèi)部量測(cè)點(diǎn)，不屬本文所稱之量測(cè)點(diǎn)。 檢查點(diǎn) 夾具上、振動(dòng)平臺(tái)或試件上，很靠近夾持點(diǎn)之堅(jiān)固位置 檢查點(diǎn)用以確保試驗(yàn)滿足需求。夾持點(diǎn)少於四點(diǎn)時(shí)每一點(diǎn)皆為檢查點(diǎn)。夾持點(diǎn)多於四點(diǎn)時(shí)，應(yīng)於相關(guān)規(guī)範(fàn)中定義具代表性之四個(gè)點(diǎn)位為檢查點(diǎn)。特殊情形，如大型試件或複合試件，若有非接近夾持點(diǎn)之檢查點(diǎn)者，應(yīng)明定於相關(guān)之規(guī)範(fàn)中。若單一夾具接合許多試件或小試件而具眾多夾持點(diǎn)者，且夾具之最低共振頻率遠(yuǎn)大於試驗(yàn)之最高頻率時(shí)，可選用單一檢查點(diǎn)(即參考點(diǎn))為振動(dòng)控制之用。 參考點(diǎn) 檢查點(diǎn)中作為振動(dòng)控制用之點(diǎn)位，須符合本標(biāo)準(zhǔn)之需求。 控制點(diǎn)(control point) 單點(diǎn)控制利用參考點(diǎn)上轉(zhuǎn)能器(transducer)信號(hào)達(dá)成保持此點(diǎn)在既定之振動(dòng)位準(zhǔn)。多點(diǎn)控制利用每一檢查點(diǎn)上轉(zhuǎn)能器信號(hào)達(dá)成振動(dòng)控制之目的。多點(diǎn)信號(hào)依相關(guān)規(guī)範(fàn)規(guī)定為持續(xù)之算術(shù)平均或?yàn)闄?quán)衡比較。g：地球表之標(biāo)準(zhǔn)重力加速度值。 振動(dòng)響應(yīng)調(diào)查(vibration response investigation) 因振動(dòng)造成試件功能不良、退化、引起機(jī)械共振或其他響應(yīng)效應(yīng)(如顫震)時(shí)，應(yīng)蒐尋關(guān)鍵頻率。利用正弦掃描耐久試驗(yàn)方式執(zhí)行，唯掃描速率及振幅皆較低。特定情況下可要求耐久試驗(yàn)後之振動(dòng)響應(yīng)調(diào)查與試驗(yàn)前之調(diào)查結(jié)果作比對(duì)，比對(duì)結(jié)果頻率若有變異，相關(guān)規(guī)範(fàn)中應(yīng)訂定後續(xù)措施。 裝有振動(dòng)隔離器之試件 i. 通則 通常應(yīng)連同振動(dòng)隔離器進(jìn)行耐久試驗(yàn)，若實(shí)務(wù)上無法連同振動(dòng)隔離器進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)，得考慮隔離器之傳輸比特性，另定單獨(dú)試件之規(guī)範(fàn)。對(duì)試件本體結(jié)構(gòu)最小接收耐震之驗(yàn)證則以單獨(dú)試件為之。ii. 固定頻率耐久試驗(yàn) 規(guī)範(fàn)?wèi)?yīng)明述含振動(dòng)隔離器試件之共振頻率是否引用為試驗(yàn)頻率。iii. 振動(dòng)響應(yīng)調(diào)查分兩階段實(shí)施 無振動(dòng)隔離器之作用，調(diào)查確認(rèn)單獨(dú)試件之關(guān)鍵頻率。調(diào)查振動(dòng)隔離器對(duì)試件之效用，隔離器傳輸比特性。表1：建議之頻率範(fàn)圍(Hz) 1.0 35.0 1.0 100.0 10.0 55.0 10.0 150.0 10.0 500.0 10.0 2000.0 10.0 5000.0 55.0 500.0 55.0 2000.0 55.0 5000.0 100.0 2000.0 表2：建議之位移(頻率範(fàn)圍10Hz以下)mm in 10.0 0.4 35 1.4 75 3.0 100 4.0表3：建議之振幅及位移與加速度值之轉(zhuǎn)折點(diǎn)8Hz9Hz (低轉(zhuǎn)折點(diǎn)) 57Hz62Hz(高轉(zhuǎn)折點(diǎn)) mm (in) m/s2 g mm (in) m/s2 g 0.35 0.014 0.98 0.1 0.035 0.0014 4.9 0.5 0.75 0.03 1.96 0.2 0.075 0.003 9.8 1 1.5 0.06 4.9 0.5 0.15 0.006 19.6 2 3.5 0.14 9.8 1 0.35 0.014 49 5 7.5 0.3 19.6 2 0.75 0.03 98 10 10 0.4 29.4 3 1 0.04 147 15 15 0.6 49 5 1.5 0.06 196 20 2 0.08 294 30 3.5 0.14 490 50 IEC 68-2-7 試驗(yàn)方法Ga及指引：穩(wěn)態(tài)加速度前言本試驗(yàn)法之目的在決定試件因穩(wěn)態(tài)加速度環(huán)境而承受力量時(shí)，對(duì)其結(jié)構(gòu)適應(yīng)性與功能之影響(例如運(yùn)動(dòng)之載具，特別是飛行器、轉(zhuǎn)動(dòng)元件及拋擲物)，或?yàn)榻M件結(jié)構(gòu)完整性評(píng)估試驗(yàn)之一種。範(fàn)圍本試驗(yàn)法適用於運(yùn)動(dòng)載具上之元件、裝備或其他產(chǎn)品。限制本試驗(yàn)法不適用於對(duì)旋轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)敏感之試件。測(cè)試步驟1. 試驗(yàn)前進(jìn)行目視、尺度及功能檢驗(yàn)。 2. 試件固定於離心機(jī)上，依次在試件三主軸上之正、負(fù)兩向，施行加速度試驗(yàn)。 3. 試驗(yàn)後進(jìn)行目視、尺度及功能檢驗(yàn)。 測(cè)試條件 試驗(yàn)位準(zhǔn)：如表1所示。 試驗(yàn)時(shí)間：速度穩(wěn)定後至少10秒。 試驗(yàn)軸向：三軸六向。 容差 切線加速度:試件承受之切線加速度不得大於離心加速度之10。離心加速度:試件尺寸小於10公分，試件不同位置(功測(cè)線除外)之加速度差異量不得大於試驗(yàn)設(shè)定值之10。其餘尺寸試件則為-10+30。試驗(yàn)設(shè)置 本試驗(yàn)係將試件固定於離心機(jī)上，並在試件每一主軸上之正、負(fù)兩向，給予特定之加速度峰值。這些加速度值係依據(jù)試件之操作環(huán)境條件或在某環(huán)境下仍須存活之需求而定。 依據(jù)IEC 68-2-47之相關(guān)規(guī)定將試件固定於試驗(yàn)機(jī)具。 其他檢驗(yàn)需求分四類: 試件功能正常且性能參數(shù)符合產(chǎn)品規(guī)範(fàn)。 試件功能正常但性能參數(shù)不必符合產(chǎn)品規(guī)範(fàn)。 試件結(jié)構(gòu)無損壞且不能產(chǎn)生永久變形，但功能無需正常。 安全性試驗(yàn)，驗(yàn)證試件與載具間之穩(wěn)固程度，在緊急狀況不至影響人員安全，試件可永久變形，但不能潰散。 表1：試驗(yàn)位準(zhǔn)建議值加速度值(m/s2) 30.0 50.0 100.0 200.0 500.0 1,000.0 2,000.0 5,000.0 10,000.0 20,000.0 50,000.0 100,000.0 200,000.0 300,000.0 500,000.0 註:本加速度值可轉(zhuǎn)換為以地表面重力加速度值為計(jì)量單位，此時(shí)以10m/s2 為一重力加速度。 IEC 68-2-9 太陽輻射試驗(yàn)指引前言本指引描述之模擬方法係用來查驗(yàn)位於地球表面之元件及裝備對(duì)太陽輻射的效應(yīng)。在此所模擬環(huán)境的主要特徵為控制溫度條件下之地表太陽光譜能量分布(spectral energy distribution)及吸收的能量強(qiáng)度(intensity of received energy)。太陽輻射(包括天空輻射)與其他環(huán)境如溫度、濕度、空氣速率等的複合亦必須考慮。試驗(yàn)用輻射源之輻照度及光譜分布 輻照度(irradiance) 當(dāng)?shù)厍蛭混度盏仄骄嚯x(mean earth-sun distance)時(shí)，大氣上界與太陽光束相垂直表面上的太陽輻照度，稱為太陽常數(shù)(solar constant)E0。地表之輻照度受太陽常數(shù)及輻射在大氣中衰減與漫射的影響。為了執(zhí)行試驗(yàn)，CIE編號(hào)20之文件對(duì)地表由太陽及天空之全輻射的給定值為1.120 kW/m2，此值係以太陽常數(shù)E0=1.35 kW/m2為基準(zhǔn)所得。 光譜分布(spectral distribution) 本試驗(yàn)規(guī)定之全輻射標(biāo)準(zhǔn)光譜分布(CIE所建議)，請(qǐng)參考IEC 68-2-5之表1。當(dāng)只考慮熱效應(yīng)時(shí)，可使用鎢絲燈泡。但須瞭解鎢絲燈泡與自然太陽輻射之光譜分布並不相同(如圖1所示)，且輻照度必須調(diào)整。 其他光譜分布之輻照度 假如試驗(yàn)使用之輻射源的光譜分布與IEC 68-2-5中表1所給之標(biāo)準(zhǔn)光譜分布不同時(shí)(例如使用鎢絲燈時(shí))，輻照度必須調(diào)整，以使試件所受輻射之熱效應(yīng)與太陽及天空之全輻射所致相同。此外，試件由試驗(yàn)輻射源吸收之輻射須與由太陽及天空吸收之全輻射量相同，即： 其中 Eex ： aex ： 試驗(yàn)輻射源之輻照度 aes ： 試件在試驗(yàn)源輻射下之吸收因子 試件在太陽及天空之全輻射下之吸收因子 試驗(yàn)程序及時(shí)間執(zhí)行本試驗(yàn)時(shí)，必須考量暴露時(shí)間以及應(yīng)該連續(xù)暴露或可間歇暴露。三個(gè)可能的程序如下(參考IEC 68-2-5圖1)： 程序 每循環(huán)24小時(shí)，其中8小時(shí)連續(xù)照射，16小時(shí)保持黑暗，依需求重複執(zhí)行(此程序提供之全輻射量為每日循環(huán)8.96 kWh/m2，約近似於自然條件之最嚴(yán)厲狀況，適用於熱效應(yīng)之評(píng)估)。 程序 每循環(huán)24小時(shí)，其中20小時(shí)連續(xù)照射，4小時(shí)保持黑暗，依需求重複執(zhí)行(此程序提供之全輻射量為每日循環(huán)22.4 kWh/m2，適用於退化效應(yīng)之評(píng)估)。 程序 依需求連續(xù)照射(此程序?yàn)樽詈喕囼?yàn)，當(dāng)循環(huán)式熱應(yīng)力之效應(yīng)不重要及只評(píng)估光化學(xué)效應(yīng)時(shí)適用，亦可用來評(píng)估低熱容試件之加熱效應(yīng))。試驗(yàn)位準(zhǔn)(輻照度)為1.120 kW/m2 10 %。利用提高輻射位準(zhǔn)使試驗(yàn)加速的方式並不適當(dāng)。如前述，程序A配合一天8小時(shí)的標(biāo)準(zhǔn)輻射條件暴露，其模擬之全日輻射量約近似於自然條件之最嚴(yán)厲狀況。也就是說，超過8小時(shí)的暴露時(shí)間就可導(dǎo)致對(duì)自然條件的加速。然而，程序C中的每日連續(xù)暴露24小時(shí)可能會(huì)掩蓋了循環(huán)式熱應(yīng)力的退化效應(yīng)，所以一般並不建議採用此程序。試驗(yàn)時(shí)間視試驗(yàn)?zāi)康亩?。?dāng)關(guān)注焦點(diǎn)僅為加熱效應(yīng)時(shí)，3循環(huán)便足夠(大型裝備可能需要較長時(shí)間以便內(nèi)部達(dá)到最高溫度)。若退化效應(yīng)為評(píng)估重點(diǎn)時(shí)，則需要較長的試驗(yàn)時(shí)間。其他須考慮之環(huán)境因子 試驗(yàn)箱內(nèi)溫度 試驗(yàn)箱內(nèi)溫度在照射及黑暗週期均須依程序(A、B或C)的規(guī)定控制。依據(jù)元件或裝備之未來使用狀況，相關(guān)規(guī)範(fàn)?wèi)?yīng)說明在輻射照射期間溫度需達(dá)到40或55。 濕度