標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 21389-2008 游標(biāo)、帶表和數(shù)顯卡尺》作為一項(xiàng)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),替代了《GB/T 1214.1-1996 游標(biāo)卡尺》、《GB/T 1214.2-1996 帶表卡尺》、《GB/T 6317-1993 數(shù)字顯示卡尺》以及《GB/T 14899-1994 卡尺 檢定規(guī)程》的部分內(nèi)容。這項(xiàng)新標(biāo)準(zhǔn)不僅整合了先前分散的標(biāo)準(zhǔn)條文,還根據(jù)技術(shù)進(jìn)步與市場(chǎng)需求的變化對(duì)原有規(guī)定進(jìn)行了修訂或補(bǔ)充。

在測(cè)量范圍方面,《GB/T 21389-2008》擴(kuò)大了適用性,涵蓋了從0mm到2000mm之間的所有規(guī)格,并且增加了對(duì)特殊用途(如深度測(cè)量)卡尺的具體要求。此外,對(duì)于精度等級(jí)的定義更加細(xì)化,除了原有的0級(jí)和1級(jí)外,新增加了適用于更高精度要求場(chǎng)合的2級(jí)標(biāo)準(zhǔn)。

針對(duì)外觀設(shè)計(jì),《GB/T 21389-2008》提出了更為嚴(yán)格的要求,比如表面處理需光滑無(wú)毛刺、刻度清晰可見等,確保用戶使用時(shí)的安全性和舒適度。同時(shí),也明確了產(chǎn)品標(biāo)識(shí)信息應(yīng)包括制造廠商名稱或商標(biāo)、型號(hào)規(guī)格、出廠編號(hào)及執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)號(hào)等內(nèi)容。

在性能測(cè)試方法上,《GB/T 21389-2008》引入了更多現(xiàn)代化檢測(cè)手段和技術(shù)指標(biāo),例如采用電子設(shè)備進(jìn)行自動(dòng)讀數(shù)校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)以提高效率和準(zhǔn)確性;規(guī)定了環(huán)境溫度變化條件下穩(wěn)定性測(cè)試程序,保證產(chǎn)品在不同工作環(huán)境下仍能保持良好狀態(tài)。


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  • 2008-02-02 頒布
  • 2008-07-01 實(shí)施
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犐犆犛犑 中 華 人 民 共 和 國(guó) 國(guó) 家 標(biāo) 準(zhǔn) 犌犅犜 代替 , 游標(biāo)、帶表和數(shù)顯卡尺 犞犲狉狀犻犲狉,犱犻犪犾犪狀犱犱犻犵犻狋犪犾犱犻狊狆犾犪狔犮犪犾犻狆犲狉狊發(fā)布 實(shí)施 中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 發(fā) 布 中 國(guó) 國(guó) 家 標(biāo) 準(zhǔn) 化 管 理 委 員 會(huì) 書 犌犅犜 前言 本標(biāo)準(zhǔn)是對(duì) 游標(biāo)類卡尺通用技術(shù)條件、游標(biāo)類卡 尺游標(biāo)卡尺、帶 表 卡 尺、電 子 數(shù) 顯 卡 尺和 游標(biāo)類卡尺游標(biāo)卡尺(測(cè)量范圍為、)項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行整合修 訂的。 本標(biāo)準(zhǔn)代替 游標(biāo)類卡尺通用技術(shù)條件、游標(biāo)類卡尺 游標(biāo)卡尺、帶表卡尺、電子數(shù)顯卡尺。 自本標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施之日起,游標(biāo)類卡尺游標(biāo)卡尺(測(cè)量范圍為、)作廢。 本標(biāo)準(zhǔn)與上述項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)相比,主要變化如下: 擴(kuò)展了卡尺)的測(cè)量范圍及形式,增加了卡尺結(jié)構(gòu)基本參數(shù)的遵循原則,修改了卡尺結(jié)構(gòu)基本 參數(shù)的推薦值(的第章、第章;的第章、第章; 的第章、第章;的第章、第章;本標(biāo)準(zhǔn)的第章、 第章); 用“分度值”和“分辨力”術(shù)語(yǔ)代替“讀數(shù)值”和“分辨率”術(shù)語(yǔ) (的第章; 的第章;本標(biāo)準(zhǔn)的第章、表等); 刪除了 “帶表卡尺”、“測(cè)量范 圍”、“示 值 變 動(dòng) 性”、“電 子 數(shù) 顯 卡 尺”和 “分 辨 率”的 術(shù) 語(yǔ) 定 義 (的第章;的第章); 增加了帶臺(tái)階測(cè)量面卡尺的形式示意圖(本標(biāo)準(zhǔn)的圖、圖); 修改了卡尺測(cè)量爪伸出長(zhǎng)度差的要求(放寬),并增加了其檢驗(yàn)方法(的 ;的;的;本標(biāo)準(zhǔn)的和); 修改并 統(tǒng) 一 規(guī) 定 了 卡 尺 測(cè) 量 面 的 表 面 粗 糙 度 犚犪 的 最 大 值 ( 的 ; 的;本標(biāo)準(zhǔn)的); 用“標(biāo)尺 標(biāo) 記 ”術(shù) 語(yǔ) 代 替 “尺 身 刻 線 ”和 “游 標(biāo) 刻 線 ”等 術(shù) 語(yǔ),并 引 入 “零 值 誤 差 ”術(shù) 語(yǔ) (的、;的、;的; 本標(biāo)準(zhǔn)的和); 用“微視差游標(biāo)卡尺”術(shù)語(yǔ)代替 “無(wú)視差游標(biāo)卡尺”和“同一平面型游標(biāo)卡尺”( 的;本標(biāo)準(zhǔn)的); 增加了對(duì)數(shù)顯卡尺通訊接口的要求(本標(biāo)準(zhǔn)的); 增加了對(duì)數(shù)顯卡尺防護(hù)等級(jí)的要求(本標(biāo)準(zhǔn)的); 增加了對(duì)數(shù)顯卡尺抗靜電能力和電磁干擾能力的要求(本標(biāo)準(zhǔn)的); 修改了卡尺外測(cè)量面平面度的要求 (的;的; 的;的;本標(biāo)準(zhǔn)的); 修改并統(tǒng)一規(guī)定了卡尺兩外測(cè)量面合并間隙的要求及檢驗(yàn)方法(的; 的;本標(biāo)準(zhǔn)的和); 用“最大允許誤差”術(shù)語(yǔ)代替 “示值誤差”術(shù)語(yǔ)對(duì)卡尺示值指標(biāo)做出規(guī)定( 的; 的 、; 的 , 的 )本標(biāo)準(zhǔn)所稱“卡尺”系指“游標(biāo)卡尺”、“帶表卡尺”、“數(shù)顯卡尺”三者的統(tǒng)稱。 書犌犅犜 ;本標(biāo)準(zhǔn)的); 修改并統(tǒng)一規(guī)定了卡尺外測(cè)量的最大允許誤差要求,給出了最大允許誤差的計(jì)算公式,以使標(biāo) 準(zhǔn)的使用更方便、更具指導(dǎo)性,并按測(cè)量范圍上限給出了部分計(jì)算值(的 ;的; 的;的 ;本標(biāo) 準(zhǔn)的); 修改并統(tǒng)一規(guī)定了卡尺刀口內(nèi)測(cè)量爪內(nèi)測(cè)量的最大允許誤差要求及其檢驗(yàn)方法( 的、;的、;的 、;本標(biāo)準(zhǔn) 的和); 修改了數(shù)顯卡尺深度及臺(tái)階測(cè)量的最大允許誤差要求(的;本標(biāo)準(zhǔn)的 ); 增加了檢驗(yàn)卡尺時(shí)平衡溫度時(shí)間的檢驗(yàn)條件(的 ;本標(biāo)準(zhǔn)的第章); 對(duì)卡尺外測(cè)量示值檢定點(diǎn),改為提出對(duì)示值檢測(cè)點(diǎn)的數(shù)量及其分布規(guī)律性的要求,對(duì)示值檢定 點(diǎn)的推 薦 量 塊 尺 寸 作 為 參 考 資 料 在 資 料 性 附 錄 中 給 出 ( 的 ; 的 ;的 ; 的 ;本 標(biāo)準(zhǔn) 的、附錄 ); 修改了卡尺的相互作用(即:移動(dòng)力,移動(dòng)力變化和晃動(dòng)量)的要求及其定量檢驗(yàn)方法,并作為 參考資料 在 資 料 性 附 錄 中 給 出 ( 的 ; 的 ; 的 、;的;本標(biāo)準(zhǔn)的附錄 ); 增加了卡尺兩外測(cè)量面平面度用刀口形直尺檢查的評(píng)定細(xì)則,并作為參考資料在資料性附錄 中給 出,刪 除 了 平 晶 檢 查 法 ( 的; 的 ; 的 ;的;本標(biāo)準(zhǔn)的附錄 )。 本標(biāo)準(zhǔn)的附錄 為規(guī)范性附錄;附錄 、附錄 為資料性附錄。 本標(biāo)準(zhǔn)由中國(guó)機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會(huì)提出。 本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)量具量?jī)x標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)()歸口。 本標(biāo)準(zhǔn)負(fù)責(zé)起草單位:成都工具研究所和桂林量具刃具廠。 本標(biāo)準(zhǔn)參加起草單位:上海量具刃具廠、靖江量具有限公司、哈爾濱量具刃具集團(tuán)有限責(zé)任公司、成 都成量工具有限公司和桂林廣陸數(shù)字測(cè)控股份有限公司。 本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:陳學(xué)仁、趙偉榮、姜志剛、周國(guó)明、楊東順、張偉、于曉霞、李隆勇、彭鳳平。 本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為: ; 、; 、; 。 犌犅犜 游標(biāo)、帶表和數(shù)顯卡尺范圍 本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了游標(biāo)卡尺、帶表卡尺和數(shù)顯卡尺的術(shù)語(yǔ)和定義、形式與基本參數(shù)、要求、試驗(yàn)方法、檢 驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、標(biāo)志與包裝等。 本標(biāo)準(zhǔn) 適 用 于 分 度 值分 辨 力 為 、 、 和 ,測(cè) 量 范 圍 為 () 至() 的游標(biāo)卡尺、帶表卡尺和數(shù)顯卡尺(以下簡(jiǎn)稱“卡尺”)。規(guī)范性引用文件 下列文件中的條款通過(guò)本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有 的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn),然而,鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究 是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。 電工電子產(chǎn)品 基 本環(huán) 境 試驗(yàn) 規(guī)程 試驗(yàn) :恒 定 濕 熱 試 驗(yàn) 方 法(:) 電工電子產(chǎn) 品 環(huán) 境 試 驗(yàn) 第 部 分:試 驗(yàn) 方 法 試 驗(yàn) :溫 度 變 化(:,) 外殼防護(hù)等級(jí)(代碼)(:) 幾何量測(cè)量器具術(shù)語(yǔ)基本術(shù)語(yǔ) 幾何量測(cè)量器具術(shù)語(yǔ)產(chǎn)品術(shù)語(yǔ) 電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 靜 電 放電抗擾 度試驗(yàn)(:) 電 磁 兼 容 試 驗(yàn) 和 測(cè) 量 技 術(shù) 射 頻 電 磁 場(chǎng) 輻 射 抗 擾 度 試 驗(yàn) (:)術(shù)語(yǔ)和定義 、中確立的以及下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)。 響應(yīng)速度狉犲狊狆狅狀狊犲狊狆犲犲犱 數(shù)顯卡尺能正常顯示數(shù)值時(shí),尺框相對(duì)于尺身的最大移動(dòng)速度。 最大允許誤差(犕犘犈)犿犪狓犻犿狌犿狆

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