DL∕T 294.2-2011 發(fā)電機滅磁及轉子過電壓保護裝置技術條件 第2部分：非線性電阻

DL/T294.2—20第2部分：非線性電阻2011-07-28發(fā)布2011-11-01實施國家能源局發(fā)布I Ⅱ 12規(guī)范性引用文件 13.術語和定義 14基本技術要求 3 4 67包裝、運輸和貯存 7Ⅱ1第2部分：非線性電阻GB/T2423.2電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B:高溫GB/T2423.3電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab:恒定濕熱試驗GB/T2423.4電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Db:交變濕熱(12h+12h循環(huán))GB/T2423.6電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Eb和導則：碰撞GB/T2423.10電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Fc:振動(正弦)GB/T311.3—2007絕緣配合第3部分：高壓直流換流站絕緣配合程序C——常數(shù)(即通過1A電流時的電阻值),Ω;2UI指非線性電阻元件或裝置在(25±1)℃室溫條件下受到脈寬不大于1s的三角波電流沖擊20次3相對濕度：(40±2)℃時，濕度小于90%。海拔不超過2000m(超過2000m,有關參數(shù)指標應按表1進行m4得小于80%。相對濕度：小于90%。型式試驗出廠試驗1見4.310片√√210片√√3見4.510片√√4見4.1210片√√5見4.11√√6√7見4.710片√810片√9見4.210片√10片√見4.13√能容量沖擊見4.810片√5的情況，施加電流。用恒流源測試法當每支路或每片壓敏電阻流過的直流電流為10mA時，壓敏電阻非線性電阻閥片和滅磁組件、整套裝置出廠時應該測試壓敏電壓，對于氧化鋅壓敏電阻應該根據(jù)串并聯(lián)的情況，施加電阻閥片的10mA壓敏電壓值的50%電壓下，測取串聯(lián)支路壓敏電阻的泄漏電圖21:1模擬試驗回路先測量標稱壓敏電壓(見本標準5.3.1),然后測壓敏電阻器通過電流為100A時示波器監(jiān)測到的電壓。按4.6中的定義進行計算，結果應符合4.6的規(guī)定。用5.3.4方法對壓敏電阻器進行沖擊?？稍O流過壓敏電阻器電流I?為1A(也可是其他值)時，測得壓敏電阻器兩端的壓降為電壓U?。另設流過壓敏電阻器電流I?為100A,同樣測得壓敏電阻器兩端的壓降為電壓U?。按以下公式計算壓敏電阻器非線性指數(shù)(β),公式如下：U?——參考點壓敏電壓(測試電流1AU?——參考點壓敏電壓(測試電流100A下),V;I?——測試電流1A;I?——測試電流100A。在(25±1)℃室溫條件下，用三角波電流(I)為電源，對壓敏電阻器進行沖擊并記錄壓敏電壓(U)、三角波時間(t)。按下式計算壓敏電阻器所吸收的能量。I——流過壓敏電阻器的電流，A;6儀器測量誤差不大于±5%,三角波時間不大于1s。a)在室溫下[溫度(25±1)℃、相對濕度60%]測量壓敏電壓。b)相對濕度保持在90%,正極限溫度保持120min后，測量兩點壓敏電壓。c)負極限溫度保持120min后，測量兩點壓敏電壓?！獪y量Uo時的實際溫度值，℃。具體試驗方法參見GB2423.2～GB2423.4。穩(wěn)態(tài)濕熱對壓敏電壓變化率影響試驗，可參見本標準5.3.7。根據(jù)本標準3.4計算，其結果應滿足本標準4.2指標。極限溫度耐久性對壓敏電壓變化率影響試驗，可參見本標準5.3.7。根據(jù)本標準3.4計算，其結果應滿足本標準4.2指標。溫度快速變化對壓敏電壓變化率影響試驗，按IEC68-2-14規(guī)定的試驗Na的試驗方法共試驗五個循環(huán)。在每個極限溫度下的暴露時間為45min,然后在正常大氣條件下恢復3h～4h時間，試驗結果應符合本標準4.2的規(guī)定。短時沖擊恢復：標稱能容量試驗后3h～4h時間內，壓敏電壓恢復值使得壓敏電壓變化率不大于長時沖擊恢復：標稱能容量試驗24h后，壓敏電壓恢復值使得壓敏電壓變化率不大于±5%。連續(xù)沖擊恢復：在連續(xù)標稱能容量沖擊2次，每次間隔15min條件下。試驗后6h～8h時間內，壓敏電壓恢復值使得壓敏電壓變化率不大于±10%。將壓敏電阻器的組裝體固定在頻率為10Hz～55Hz,加速度為5g的振動臺上，振動1h。將氧化鋅非線性壓敏電阻的組裝體加速度10g,相應脈沖時間為16ms,脈沖重復頻率40次/min~80次/min,碰撞(1000±10)次，試驗結果應符合本標準4.9的規(guī)定。6技術文件6.2產品合格證明書6.3產品維護調試大綱6.5產品原理接線圖6.6裝置外形圖和安裝圖7發(fā)電機滅磁及