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文檔簡介

半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管

理想MOS結(jié)構(gòu)的表面空間電荷區(qū)4.VG>0,若正偏電壓越來越大,半導(dǎo)體表面的能帶會越來越彎曲,在表面的電子濃度越來越多,當(dāng)表面的電子濃度ns=ni時,稱為弱反型;繼續(xù)增加電壓VG=VT時,ns=NA,表面形成強(qiáng)反型,稱為耗盡-反型的轉(zhuǎn)折點(diǎn)強(qiáng)反型條件;反型條件:

6.1理想MOS結(jié)構(gòu)的表面空間電荷區(qū)

耗盡和反型轉(zhuǎn)折點(diǎn)電荷塊圖能帶圖5.VG>VT時,表面少數(shù)載流子濃度超過多數(shù)載流子濃度,這種情況稱為“反型”。6.1理想MOS結(jié)構(gòu)的表面空間電荷區(qū)

反型電荷塊圖能帶圖6.1理想MOS結(jié)構(gòu)的表面空間電荷區(qū)

n型MOS電容的不同偏置下的能帶圖和對應(yīng)的電荷塊圖n型MOS電容的不同偏置下的能帶圖和對應(yīng)的電荷塊圖6.1理想MOS結(jié)構(gòu)的表面空間電荷區(qū)

結(jié)論

n型襯底VGACC(積累)DEPL(耗盡)INV(反型)0VT0VTACC(積累)DEPL(耗盡)INV(反型)P型6.1理想MOS結(jié)構(gòu)的表面空間電荷區(qū)

結(jié)論

n型(

F<0)

sACC(積累)DEPL(耗盡)INV(反型)02

F0ACC(積累)DEPL(耗盡)INV(反型)P型(

F>0)2

F平帶耗盡-反型過渡點(diǎn)

s6.1理想MOS結(jié)構(gòu)的表面空間電荷區(qū)

例題:兩個理想MOS電容的電荷塊圖分布如下圖所示,對每一種情況:完成以下三個問題:(1)半導(dǎo)體是n型還是p型(2)器件偏置模式是積累、耗盡還是反型?(3)畫出該電荷塊圖對應(yīng)的MOS電容能帶(4)畫出該結(jié)構(gòu)的高頻C-V特性曲線,并在圖中用符號“

”標(biāo)出與該電荷塊圖相對應(yīng)的點(diǎn)(3分)6.1理想MOS結(jié)構(gòu)的表面空間電荷區(qū)

MOS電容的靜電特性1半導(dǎo)體靜電特性的定量描述

目標(biāo):建立在靜態(tài)偏置條件下,理想MOS電容內(nèi)部的電荷,電場E和電勢金屬:M-O界面電荷分布在金屬表面幾?范圍內(nèi)

=δ,E=0,

=常數(shù)絕緣體:=0,E=Eox

,Δ=Eoxx0半導(dǎo)體體內(nèi):體內(nèi)E=0處

=06.1理想MOS結(jié)構(gòu)的表面空間電荷區(qū)

6.1理想MOS結(jié)構(gòu)的表面空間電荷區(qū)

半導(dǎo)體中積累

=(0)

E=0(x>0)=0(x>0)6.1理想MOS結(jié)構(gòu)的表面空間電荷區(qū)

半導(dǎo)體中耗盡層寬度耗盡層中的電荷密度泊松方程電場電勢x=xd處,E(xd)=0,(

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