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文檔簡介

原子發(fā)射光譜第一頁,共五十一頁,編輯于2023年,星期二12.1概述定義:AES是據(jù)每種原子或離子在熱或電激發(fā)下,發(fā)射出特征的電磁輻射而進行元素定性和定量分析的方法。2.

歷史:1859年德國學者Kirchhoff&Bensen——分光鏡;隨后30年——定性分析;1930年以后——定量分析第二頁,共五十一頁,編輯于2023年,星期二3.AES特點1)多元素檢測(multi-element);2)分析速度快:多元素檢測;可直接進樣;固、液樣品均可3)選擇性好:Nb與Ta;Zr與Ha,Rare-elements;4)檢出限低:10-0.1g/g(g/mL);ICP-AES可達ng/mL級;5)準確度高:一般5-10%,ICP可達1%以下;6)

所需試樣量少;7)

線性范圍寬(linearrange),4~6個數(shù)量級;8)無法檢測非金屬元素:O、S、N、X(處于遠紫外);P、Se、Te-----難激發(fā),常以原子熒光法測定)

第三頁,共五十一頁,編輯于2023年,星期二ICP-AES對周期表中元素的檢測能力(陰影面積表示使用的譜線數(shù)目;背景深淺表示檢測限大?。┑谒捻摚参迨豁?,編輯于2023年,星期二12.2基本原理1.原子發(fā)射光譜的產生過程:1)能量(電或熱、光)基態(tài)原子2)外層電子(outerelectron)(低能態(tài)E1高能態(tài)E2)3)外層電子(低能態(tài)E1高能態(tài)E2)4)發(fā)出特征頻率()的光子:E=E2-E1=h=hc/

第五頁,共五十一頁,編輯于2023年,星期二2.幾個概念激發(fā)電位(Excitedpotential):由低能態(tài)--高能態(tài)所需要的能量,以eV表示。每條譜線對應一激發(fā)電位。原子線:原子外層電子的躍遷所發(fā)射的譜線,以I表示,如Na(I)共振線(Resonanceline):由激發(fā)態(tài)到基態(tài)(Groundstate)躍遷所產生的譜線,激發(fā)電位最小—最易激發(fā)—譜線最強。電離電位(Ionizationpotential)和離子線:原子受激后得到足夠能量而失去電子—電離;所需的能量稱為電離電位;離子的外層電子躍遷—離子線。以II,III,IV等表示。第六頁,共五十一頁,編輯于2023年,星期二3.原子能級與能級圖(Energyleveldiagram)原子能級以光譜項符號表示:核外電子的運動狀態(tài)描述:1)單個價電子運動狀態(tài)n

—主量子數(shù),電子能量及距原子核的距離;n=1,2,3,…l

—角量子數(shù),電子角動量大小,及軌道形狀(空間伸展方向)

l=0,1,2,…,(n-1)m

—磁量子數(shù),角動量分量,磁場中電子軌道的空間伸展方向,

m=0,1,2,…,lms

—自旋量子數(shù),電子自旋的方向,1/2n2S+1L2J+1第七頁,共五十一頁,編輯于2023年,星期二2)多個價電子的運動狀態(tài)N—主量子數(shù);L—總角量子數(shù),為l的失量和:L=li,如對于含2個價電子的原子:L=(l1+l2),(l1+l2-1),(l1+l2-2),…,|l1-l2|S—總自旋量子數(shù),為各個ms的失量和:S=ms

其值可?。?,1/2,1,2/3,2,…J—為內量子數(shù),軌道運動與自旋運動的相互作用,即軌道磁距與自旋磁距的相互作用而得出。即J=L+S

具體求法是:J=(L+S),(L+S-1),(L+S-2),…,|L-S|a)

當LS,J=L+S到L-S,有(2S+1)個取值b)

當LS,J=S+L到S-L,有(2L+1)個取值因此:描述多個價電子的運動狀態(tài)可用下列光譜項來表示:n2S+1LJ其中2S+1

稱為光譜的多重性(Multiplet)。第八頁,共五十一頁,編輯于2023年,星期二例如:單價電子或Na:3s1----(3s1,4s,5s….)-(3p,4p,5p…)-(3d,4d,5d…)…S=+1/2或-1/2;L=l=0;J=[L+S,L-S]=0+1/2=1/22S1/2

S=+1/2或-1/2;L=l=1;J=[L+S,L-S]=3/2,1/22P1/2,2P3/2S=+1/2或-1/2;L=l=2;J=[L+S,L-S]=5/2,3/22D3/2,2D5/2產生雙重線(Doublet):如Na,Li,Mg(I)對Na,Mg(I):32S1/2-------32P3/2Na589.0nm(D2線)Mg(I)280.3nm32S1/2------32P1/2Na589.6nm(D1線)Mg(I)279.6nm第九頁,共五十一頁,編輯于2023年,星期二鈉原子及Mg+(I)能級圖第十頁,共五十一頁,編輯于2023年,星期二對能級圖的理解:1)當能量高于約5.2和10.2eV時,Na和Mg(I)的3s電子將電離;2)水平線表示不同原子軌道的能級分布;垂直線表示不同電子層(n)下,相同原子軌道的能級分布。3)p軌道分裂成能量差別不大的兩個p軌道(P1/2和P3/2);d軌道分裂成能差極微的兩個D軌道(D3/2和D5/2,在圖中將其寫成D3/2,5/2);4)較高能態(tài)的單電子原子軌道p,d,f均分裂為兩種狀態(tài),即都產生雙線,與原子是否荷電無關;但不同軌道間的能量差相差較大。spinfieldorbit排斥吸引P3/2P1/2第十一頁,共五十一頁,編輯于2023年,星期二

雙價電子外層電子:3s2

(單重基態(tài))、單重激發(fā)態(tài):、三重激發(fā)態(tài):

S=(1/2-1/2);(1/2+1/2),即0(異向)和1(同向)。光譜多重性為:2S+1=1和3,即產生單線和雙重線a)

自旋方向不同(單重線):S=0當L=0時,2S+1=1;而J=[L+S,L-S],即J取0,光譜項:1S0當L=1時,2S+1=1;而J=[L+S,L-S],即J取1,光譜項:1P1當L=2時,2S+1=1;而J=[L+S,L-S],即J取2,光譜項:1D2b)自旋方向相同(三重線):S=1當L=0時,2S+1=3;而J=[L+S,L-S],即J取1,光譜項:3S1當L=1時,2S+1=3;而J=[L+S,L-S],即J取2,1和0,光譜項:3P2,3P1,3P0當L=2時,2S+1=3;而J=[L+S,L-S],即J取3,2和1,光譜項:3D3,3D2,3D1單重線(Singlet):31S0-----31P1(Mg285.2nm)三重線(Triplet):43S1—33P0;43S1—43P1;43S1—33P2

第十二頁,共五十一頁,編輯于2023年,星期二Mg原子能級圖

第十三頁,共五十一頁,編輯于2023年,星期二那么對于含三個或者多個價電子的原子,其譜線的多重性(2S+1)如何計算呢?請思考。這里給出結果:注意:對于較重的原子,尤其是過渡元素,不能簡單的用能級圖描述,因這些元素原子能級極為復雜,可發(fā)射大量譜線。如,Li-Cs(30~645條);Mg(173)-Ca(662)-Ba(472);Cr(2277)-Fe(4757)-Ce(5755)。第十四頁,共五十一頁,編輯于2023年,星期二4.躍遷定則(Transitionrule)(1)

n=0或任意正整數(shù)(2)

L=1,SP;PD;DF(3)

S=0;(4)

J=0,1

(J=0時,J=0的躍遷為禁戒躍遷)只滿足以上條件的光譜項之間才能發(fā)生躍遷!兩點說明:1)以上定則不是絕對的,但機會極少;如一旦發(fā)生,其譜線強度都很弱;2)每個光譜支項n2S+1L2J+1在磁場中可進一步分裂成2J+1個能級,稱之為Zeemaneffect或譜線的ultra-finestructure.第十五頁,共五十一頁,編輯于2023年,星期二5.AES定性原理量子力學基本理論告訴我們:1)原子或離子可處于不連續(xù)的能量狀態(tài),該狀態(tài)可以光譜項來描述;2)當處于基態(tài)的氣態(tài)原子或離子吸收了一定的外界能量時,其核外電子就從一種能量狀態(tài)(基態(tài))躍遷至另一能量狀態(tài)(激發(fā)態(tài));3)處于激發(fā)態(tài)的原子或離子很不穩(wěn)定,經約10-8秒便躍遷返回到基態(tài),并將激發(fā)所吸收的能量以一定的電磁波輻射出來;4)將這些電磁波按一定波長順序排列即為原子光譜(線狀光譜);5)由于原子或離子的能級很多并且不同元素的結構是不同的,因此對特定元素的原子或離子可產生一系不同波長的特征光譜,通過識別待測元素的特征譜線存在與否進行定性分析—定性原理。

第十六頁,共五十一頁,編輯于2023年,星期二6.AES定量原理(Quantification)1)Boltzmann分布與譜線強度(Intensity)AES分析進行定量測量的基礎就是譜線的強度特性。那么,譜線強度與待測物濃度之間到底有什么樣的關系呢?樣品光源樣品蒸發(fā)基態(tài)原子(N0)等離子體(原子+離子+電子)從整體上看,處于熱力學平衡狀態(tài)!ArcSparkICPFlame激發(fā)態(tài)原子(Ni)樣品激發(fā)E0Ei

第十七頁,共五十一頁,編輯于2023年,星期二當Plasm處于熱力學平衡狀態(tài)時,位于基態(tài)的原子數(shù)N0與位于激發(fā)態(tài)原子數(shù)Ni之間滿足Boltzmann分布:其中,g為統(tǒng)計權重(2J+1);k為Boltzmann常數(shù)(1.3810-23J/oC):電子在i,j能級間躍遷產生的譜線強度I

與躍遷幾率A及處于激發(fā)態(tài)的原子數(shù)Ni成正比,即由于激發(fā)態(tài)原子數(shù)目較少,因此基態(tài)原子數(shù)N0可以近似代替原子總數(shù)N總,并以濃度c代替N總:簡單地,Ic,此式為光譜定量分析的依據(jù)。

第十八頁,共五十一頁,編輯于2023年,星期二更進一步,考慮到譜線的自吸效應系數(shù)b:I

=acb(Schiebe-Lomarkin公式)取對數(shù),上式變?yōu)椋簂ogI=blogc+loga此式為AES分析的最基本的關系式。以logI對logc作圖,得校正曲線。當試樣濃度高時,b<1,工作曲線發(fā)生彎曲。

第十九頁,共五十一頁,編輯于2023年,星期二2)影響譜線強度I

因素:統(tǒng)計權重g(weight);躍遷幾率(probability);激發(fā)電位或激發(fā)能E;譜線的自吸(self-absorption)及自蝕(self-reversal);e)激發(fā)溫度T;f)基態(tài)原子數(shù)N0或濃度c;前三項由待測物原子自身的性質決定,如核電荷數(shù)、外層電子、軌道狀態(tài)等。影響譜線強度及其穩(wěn)定性最重要的的因素是溫度T!第二十頁,共五十一頁,編輯于2023年,星期二12.3AES儀器AES儀器由光源、單色系統(tǒng)、檢測系統(tǒng)三部分組成。此節(jié)重點介紹光源、相板檢測器及相關特性。光源反射鏡準直鏡三透鏡照明系統(tǒng)轉臺入射狹縫光柵物鏡焦面AES儀器略圖第二十一頁,共五十一頁,編輯于2023年,星期二光源電弧電感耦合等離子體,ICP現(xiàn)代光源經典光源火花直流電弧交流電弧火焰激光光源一、AES光源1.光源種類及特點第二十二頁,共五十一頁,編輯于2023年,星期二直流電?。航佑|引燃,二次電子發(fā)射放電

VAELG220~380V5~30AR接觸短路引燃(或高頻引燃);陰極電子與氣體分子和離子相撞產生的離子再沖擊陰極,引起二次電子發(fā)射……電子再撞擊陽極,產生高溫陽極斑(4000K);產生的電弧溫度:4000~7000K直流電弧特點:a)樣品蒸發(fā)能力強(陽極斑)---進入電弧的待測物多---絕對靈敏度高---尤其適于定性分析;同時也適于部分礦物、巖石等難熔樣品及稀土難熔元素定量;b)電弧不穩(wěn)----分析重現(xiàn)性差;c)弧層厚,自吸嚴重;d)安全性差。第二十三頁,共五十一頁,編輯于2023年,星期二A~220Vl1l2G1G2L1C1L2C2B1B2R1R2交流電?。焊哳l高壓引燃、低壓放電。

110~220V(低壓)2~3kV(B1)

C1充電(R2控制充電速度);

C1達到一定能量時,G1擊穿高頻振蕩(回路為C1-L1-G1,G1的間距可調節(jié)振蕩速度,并使每半周只振蕩一次);

上述振蕩電壓10kV(變壓器B2)C2擊穿高壓高頻振蕩引燃分析間隙(L2-C2-G2);

G被擊穿瞬間,低壓電流使G2

放電(通過R1和電流表)電??;不斷引燃電弧不滅。第二十四頁,共五十一頁,編輯于2023年,星期二低壓交流電弧特點:1)蒸發(fā)溫度比直流電弧略低;電弧溫度比直流電弧略高;2)電弧穩(wěn)定,重現(xiàn)性好,適于大多數(shù)元素的定量分析;3)放電溫度較高,激發(fā)能力較強;4)電極溫度相對較低,樣品蒸發(fā)能力比直流電弧差,因而對難熔鹽分析的靈敏度略差于直流電弧。

第二十五頁,共五十一頁,編輯于2023年,星期二高壓火花:高頻高壓引燃并放電。~VCGBLR1DD220V

220V10~25kV(B)C擊穿分析隙G放電;回路L-C-G中高壓高頻振蕩電流,G放電中斷;

下一回合充放電開始火花不滅?;鸹ㄌ攸c:1)放電穩(wěn)定,分析重現(xiàn)性好;2)放電間隙長,電極溫度(蒸發(fā)溫度)低,檢出現(xiàn)低,多適于分析易熔金屬、合金樣品及高含量元素分析;3)激發(fā)溫度高(瞬間可達10000K)適于難激發(fā)元素分析。第二十六頁,共五十一頁,編輯于2023年,星期二電感耦合等離子體組成:ICP高頻發(fā)生器+炬管+樣品引入系統(tǒng)炬管包括:外管—冷卻氣,沿切線引入中管—輔助氣,點燃ICP(點燃后切斷)內管—載氣,樣品引入(使用Ar是因為性質穩(wěn)定、不與試樣作用、光譜簡單)

依具體設計,三管中所通入的Ar總流量為5-20L/min。石英管最大內徑為2.5cm

載氣(Ar)輔助氣冷卻氣絕緣屏蔽載氣Ar+樣品樣品溶液廢液第二十七頁,共五十一頁,編輯于2023年,星期二ICP炬形成過程:1)Tesla線圈高頻交變電流(27-41KHZ,2-4KW)

交變感應磁場;2)火花氬氣

氣體電離少量電荷相互碰撞雪崩現(xiàn)象大量載流子;3)數(shù)百安極高感應電流(渦電流,Eddycurrent)瞬間加熱到10000K等離子體內管通入Ar形成環(huán)狀結構樣品通道樣品蒸發(fā)、原子化、激發(fā)。

第二十八頁,共五十一頁,編輯于2023年,星期二ICP光源特點1)低檢測限:蒸發(fā)和激發(fā)溫度高;2)穩(wěn)定,精度高:高頻電流----趨膚效應(skineffect)---渦流表面電流密度大---環(huán)狀結構---樣品引入通道---火焰不受樣品引入影響----高穩(wěn)定性。3)基體效應小(matrixeffect):樣品處于化學隋性環(huán)境的高溫分析區(qū)----待測物難生成氧化物-----停留時間長(ms級)、化學干擾小;樣品處于中心通道,其加熱是間接的----樣品性質(基體性質,如樣品組成、溶液粘度、樣品分散度等)對ICP影響小。4)背景小:通過選擇分析高度,避開渦流區(qū)。5)自吸效應小:試樣不擴散到ICP周圍的冷氣層,只處于中心通道,即是處于非局部熱力學平衡;6)分析線性范圍寬:ICP在分析區(qū)溫度均勻;自吸及自蝕效應小。7)眾多無素同時測定:激發(fā)溫度高(70多種);不足:對非金屬測定的靈敏度低;儀器昂貴;維持費高。

第二十九頁,共五十一頁,編輯于2023年,星期二2.光源的選擇依據(jù)

a)試樣的性質:如揮發(fā)性、電離電位等b)試樣形狀:如塊狀、粉末、溶液c)含量高低d)光源特性:蒸發(fā)特性、激發(fā)特性、放電穩(wěn)定性(下表)光

蒸發(fā)溫度K

激發(fā)溫度K

穩(wěn)定性

熱性質

分析對象

直流電弧

800~4000(高)

4000~7000

較差

LTE

定性、難熔樣品及元素定量、導體、礦物純物質

交流電弧

4000~7000

較好

LTE

礦物、低含量金屬定量分析

火花

~10000

LTE

難激發(fā)元素、高含量金屬定量分析

ICP

~10000

6000~8000

很好

非LTE

溶液、難激發(fā)元素、大多數(shù)元素

火焰

2000~3000

2000~3000

很好

LTE

溶液、堿金屬、堿土金屬

激光

~10000

~10000

很好

LTE

固體、液體

第三十頁,共五十一頁,編輯于2023年,星期二3.電極和試樣的引入方式電極多由石墨(Graphite)制成:高溶點、易提純、易導電、光譜簡單;固體試樣:金屬或合金直接做成電極(固體自電極);粉末試樣可與石墨粉混合裝樣;溶液試樣:滴在電極上,低溫烘干;使用ICP可直溶液進樣。

對電極(上電極)樣品電極(下電極)第三十一頁,共五十一頁,編輯于2023年,星期二4.試樣的蒸發(fā)與原子激發(fā)AES分析中,試樣中各待測物產生光譜都要經過蒸發(fā)、原子化和激發(fā)等過程。由于試樣中各化合物或元素的性質不同,在蒸發(fā)進入等離子體時的速度不同,產生了所謂的分鎦效應。此外,試樣量、電極形狀及溫度等均會影響待測物的蒸發(fā)形為。以各元素的譜線強度對曝光時間作圖可得到蒸發(fā)曲線:因此在AES分析中必須選擇合適的光源條件和曝光時間。第三十二頁,共五十一頁,編輯于2023年,星期二二、分光系統(tǒng)(略)三、檢測系統(tǒng)、檢測信號與濃度的關系

我們已知譜線強度I與濃度成正比,即:logI=blogc+loga但用什么來表征I?光電檢測:已知光信號產生的電流i與譜線強度I成正比,即在曝光時間t內,檢測到譜線的累積強度(總能量)為測量電壓(電容電壓)為即,譜線強度直接與測量電壓成正比。第三十三頁,共五十一頁,編輯于2023年,星期二2.相板(又稱干板,Plate)待測物發(fā)出的光譜經分光得一系列譜線,這些不同波長的光在感光板上曝光,經顯影、定影后于相板上得到平行排列的譜線(黑線),這些譜線變黑的程度以黑度S來表示:其中,I0,Ii分別為未曝光部分和已曝光部分的光強,T為透過率(%)譜線“黑度”與待測物濃度有關。即S=f(c)那么相板檢測器上譜線的黑度與濃度的具體數(shù)學表達式到底如何呢?第三十四頁,共五十一頁,編輯于2023年,星期二相板定量基礎:1)曝光量H與相板所接受的光強I或照度E及曝光時間t成正比:2)曝光量H與黑度S之間的關系復雜——但可通過“乳劑特性曲線”——得到二者之間的定量關系!S~logHS0logHiEDCBAbcSlogHS0—霧翳黑度;BC—正常曝光段;bc—展度;Hi—惰延量;—直線部分斜率,反襯度

從該曲線中直線部分得:第三十五頁,共五十一頁,編輯于2023年,星期二有關乳劑特性曲線的討論:展度bc:直線BC在橫軸上的投影,它一定程度上決定相板檢測的適宜濃度范圍。反襯度:直線BC的斜率,它表征當曝光量改變時,黑度變化的快慢。

通常展度與反襯度相矛盾:反襯度大,則展度小;反之亦然。惰延量:Hi稱為惰延量,它表征了乳劑的靈敏度。Hi越大,乳劑越不靈敏。與感光材料及其中鹵化銀顆粒度有關。霧翳黑度:乳劑特性曲線下部與S軸的交點所對應的黑度(S0)。它通常由顯、定影所引起的。400350300250,nm

的大小除與乳劑特性、顯影及定影條件有關外,還與譜線波長有關。左圖為光譜分析中常用的未增感的紫外板反襯度隨波長變化情況。第三十六頁,共五十一頁,編輯于2023年,星期二乳劑特性曲線的繪制:

因光強I與照度E或曝光量H及曝光時間t成正比,因此可用S對logI作圖得到乳特性曲線。方法1改變照度法1)Fe譜線組法用測微光度計測量Fe的一系列波長相近的譜線的黑度S(各線強度I已準確測定),以S~logI作圖。2)階梯減光板法階梯減光板是鍍有不同厚度鉑層的石英片,因而每階對光的透過率不同(logT不同),以所測的S對logT作圖。方法2改變曝光時間法(階梯扇板法)

扇板以同步馬達驅動,可得1:2:4:8:18等不同階梯的黑度S,以S對扇板不同缺口的相應曝光時間t的對數(shù)Logt作圖。第三十七頁,共五十一頁,編輯于2023年,星期二特別介紹光電直讀光譜儀:包括多道固定狹縫式(光量計)和單道掃描式兩種。多元素同時檢測入射狹縫出射狹縫凹面光柵R第三十八頁,共五十一頁,編輯于2023年,星期二分光系統(tǒng)特點:a)羅蘭圓(虛圓)上可容納寬的波長范圍(多道);b)無需其它成像系統(tǒng),故無色差及較少光能損失;c)既有分光作用又有聚光作用。直讀光譜儀器特點:

寬波長范圍;

多元素快速分析;

準確度高;

線性范圍寬,可分析高含量;

Slit固定,分析元素固定;

譜線易漂移;第三十九頁,共五十一頁,編輯于2023年,星期二ICP光電直讀光譜儀示意圖第四十頁,共五十一頁,編輯于2023年,星期二12.4定性定量分析方法一、基本概念1.

靈敏線:激發(fā)電位較低的譜線,常為原子線(電弧線),或離子線(火花線)。與實驗條件有關。2.

共振線:從激發(fā)態(tài)到基態(tài)的躍遷所產生的譜線。由最低能級的激發(fā)態(tài)到基態(tài)的躍遷稱為第一共振線。一般也是最靈敏線。與元素的激發(fā)程度難易有關。3.

最后線:或稱持久線。當待測物含量逐漸減小時,譜線數(shù)目亦相應減少,當c接近0時所觀察到的譜線,是理論上的靈敏線或第一共振線。4.

分析線:在進行元素的定性或定量分析時,根據(jù)測定的含量范圍的實驗條件,對每一元素可選一條或幾條最后線作為測量的分析線。5.

自吸線:當輻射能通過發(fā)光層周圍的蒸汽原子時,將為其自身原子所吸收,而使譜線強度中心強度減弱的現(xiàn)象。6.

自蝕線:自吸最強的譜線的稱為自蝕線。第四十一頁,共五十一頁,編輯于2023年,星期二二、定性分析前已提及,由于各元素的原子結構不同,在光源激發(fā)下,試樣中各元素都發(fā)射各自的特征光譜(譜線有多有少),通過識別元素的一條或數(shù)條特征譜線的波長,可以進行元素定性分析。光譜定性分析常采用攝譜法(相板為檢測器)和光電直讀光譜法。現(xiàn)以攝譜法為例。1.鐵光譜比較法(a)(b)(c)樣品三次不同的曝光;(d)Fe譜;(e)(f)為標準圖譜。第四十二頁,共五十一頁,編輯于2023年,星期二

如上圖,將樣品和Fe(直接以鐵棒作電極)攝于同一譜板上。在映譜儀下放大20倍,并與標準Fe譜對照,查找待測元素的特征譜線,若試樣中有譜線與標準圖譜標明的某元素譜線出現(xiàn)的波長位置相同,則試樣中含有該元素。注意:判斷某元素是否存在,必須檢查該元素2條以上不受干擾的最后線或靈敏線。思考:為什么要以Fe譜作標尺?答:Fe譜線豐富(有數(shù)千條)、均勻(強度及間距)、每條譜線波長已知。2.標樣光譜比較法判斷樣品中某元素是否存在,可將該元素的純物質或其化合物與樣品并列攝譜于同一譜板(此時不用鐵譜),于映譜儀上檢查該元素是否存在。第四十三頁,共五十一頁,編輯于2023年,星期二分段曝光法實際工作中,多采用直流電弧作激發(fā)光源。但由于樣品的復雜性(不同元素的激電位不同等),要想獲得準確、完整的定性信息,需采用“分段曝光法”,具體做法:起弧小電流大電流中電流中等激發(fā)元素難激發(fā)元素易激發(fā)元素Hartman光欄(置于狹縫前)t1t2t3注意:一旦起弧,則不要?;?。在一電流值曝光一段時間后,迅速將電流快速增至下一電流值。第四十四頁,共五十一頁,編輯于2023年,星期二三、定量分析前以述及,發(fā)射光譜定量分析關系式為:I=acb

或者logI=blogc+loga由于試樣組成和實驗條件(蒸發(fā)、激發(fā)、試樣組成、感光板特性、顯影條件等)直接影響譜線強度,而這些影響很難完全避免,故以譜線絕對強度來定量往往帶來很大誤差。實際工作中常以分析線和內標線的強度比來進行定量分析,以補償這些難以控制的變化因素的影響。內標法原理:在待測元素譜線中選出一分析線;于基體元素(樣品中的主要元素或)或基體中不存在的外加元素中選一條與分析線均稱的譜線作內標線。二者組成分析線對,以分析線和內標線絕對強度的比值與濃度的關系來進行定量分析。第四十五頁,共五十一頁,編輯于2023年,星期二

內標元素及內標線的選擇原則:內標元素1)外加內標元素在分析試樣品中應不存在或含量極微;如樣品基體元素的含量較穩(wěn)時,亦可用該基體元素作內標。2)內標元素與待測元素應有相近的特性(蒸發(fā)特性);3)同族元素,具相近的電離能;內標線:1)激發(fā)能應盡量相近-均稱線對,不可選一離子線和一原子線為分析對;2)分析線的波長及強度接近;3)無自吸現(xiàn)象且不受其它元素干擾;4)背景應盡量小。第四十六頁,共五十一頁,編輯于2023年,星期二內標法公式:設分析線和內標線強度分別為I,I0;濃度分別為c,c0;自吸系數(shù)分別為b,b0,二者之比可簡化為:取對數(shù)得:

當以相板為檢測器時,該式變?yōu)椋篠=S-S0=blgc+lgA當以光電管為檢測器時,該式為:lgU=lgU-lgU0=blgc+lgA

即以S或lgU對

lgc作圖,可制作標準曲線,并求得濃度

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