GB/T 6255-2001空間電荷控制電子管總規(guī)范

ICS31.100L36中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T6255-2001空間電荷控制電子管總規(guī)范Generalspecificationforspace-chargecontrolledtubes2001-11-02發(fā)布2002-05-01實(shí)施中華：人民共；和國(guó)發(fā)布國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

GB/T6255-2001前言范圍2總則2.1優(yōu)先順序2.2引用標(biāo)準(zhǔn)2.3單位、符號(hào)和術(shù)語(yǔ)·2.4標(biāo)志·……·……·………33質(zhì)量評(píng)定程序3.1初始制造階段3.2結(jié)構(gòu)相似性3.3鑒定批準(zhǔn)程序3.4質(zhì)量一致性檢驗(yàn)3.5小批量或昂貴電子管的抽樣檢查要求3.6不合格批的再提交3.7延期交貨………………·4試驗(yàn)項(xiàng)目和測(cè)試方法4.1替代法·……………4.2標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)條件4.3外觀檢驗(yàn)·……4.4尺寸和外形圖4.5電性能測(cè)試方法4.6環(huán)境試驗(yàn)4.7壽命試驗(yàn)4.8補(bǔ)充的試驗(yàn)方法5包裝、存…·5.1包裝要求5.2裝箱5.3包包裝檢驗(yàn)5.4一存

GB/T6255-2001本標(biāo)準(zhǔn)是根據(jù)國(guó)際電工委員會(huì)IEC102導(dǎo)則《電子元器件質(zhì)量評(píng)定的規(guī)范結(jié)構(gòu)》電子元器件的鑒定批準(zhǔn)及能力批準(zhǔn))1989年版)對(duì)GB/T6255—1986《空間電荷控制電子管總規(guī)范》進(jìn)行修訂的，在編寫(xiě)規(guī)則上與IEC102導(dǎo)則等效：在技術(shù)內(nèi)容上保留了CECC45000《空間電荷控制電子管總規(guī)范》1975年版)的適用部分.并結(jié)合國(guó)內(nèi)情況進(jìn)行了修改。新增加了“高溫"、低溫"、"低氣壓"、"溫度變化"、"燈絲通斷"、"包裝、財(cái)存”等要求和試驗(yàn)方法;刪除了"鑒定批準(zhǔn)補(bǔ)充程序""合格試驗(yàn)記錄"、"非檢驗(yàn)參數(shù)”等不適用的內(nèi)容;將原引用標(biāo)準(zhǔn)IEC410《計(jì)數(shù)檢查抽樣方案》改為GB/T2828—1987《逐批檢查計(jì)數(shù)抽樣程序及抽樣表》適用于連續(xù)批的抽樣)和GB/T2829—1987《周期檢查計(jì)數(shù)抽樣程序及抽樣表》適用于生產(chǎn)過(guò)程穩(wěn)定性的檢查)另外，列出了引用標(biāo)準(zhǔn)的最新版本。本標(biāo)準(zhǔn)從實(shí)施之日起，同時(shí)代替并廢止GB/T6255—1986.本標(biāo)準(zhǔn)由信息產(chǎn)業(yè)部提出并歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所。本標(biāo)準(zhǔn)起草人：馬田慶。本標(biāo)準(zhǔn)1986年4月首次發(fā)布。本標(biāo)準(zhǔn)委托中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所負(fù)責(zé)解釋

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T6255-2001空間電荷控制電子管總規(guī)范代替GB/T6255—1986Generalspecificationforspace-chargecontrolledtubes1范圍本規(guī)范規(guī)定了空間電荷控制電子管的質(zhì)量評(píng)定程序，給出了該類電子管的電性能、機(jī)械、環(huán)境等試驗(yàn)要求及相應(yīng)的測(cè)試方法和試驗(yàn)方法。本規(guī)范適用于各種型號(hào)的空間電荷控制電子管(以下簡(jiǎn)稱電子管或產(chǎn)品）總則2.1優(yōu)先順序無(wú)論何種原因引起矛盾時(shí).應(yīng)按如下順序執(zhí)行：a）詳細(xì)規(guī)范；b）總規(guī)范；c）基礎(chǔ)規(guī)范2.2引用標(biāo)準(zhǔn)下列標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文.通過(guò)在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的條文。本標(biāo)準(zhǔn)出版時(shí)，所示版本均為有效。所有標(biāo)準(zhǔn)都會(huì)被修訂，使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討、使用下列標(biāo)準(zhǔn)最新版本的可能性。GB191—2000包裝儲(chǔ)運(yùn)圖示標(biāo)志(eqvISO780:1997)GB/T787-1974電子管管基尺寸GB/T2423.1—1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法(eqvIEC60068-2-1:1974）GB/T2423.2-1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法（eqvIEC60068-2-2:1974）GB/T2423.3—1993電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程！試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法（eqvIEC60068-2-3:1984）GB/T2423.5-1995第二部分：試驗(yàn)方法電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)武驗(yàn)Ea和導(dǎo)則：沖擊（idtIEC60068-2-27:1987）GB/T2423.10—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法：試驗(yàn)Fe和導(dǎo)則：振動(dòng)(正弦)(idtIEC60068-2-6:1982）電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程GB/T2423.21-1991試驗(yàn)M:低氣壓試驗(yàn)方法(neqIEC60068-2-13:1983）電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程GB/T2423.22—1987試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法（eqvIEC60068-2-14:1984）電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法GB/