GB/T 2423.5-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則：沖擊

UDC.621.3：620.178K04中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T.2423.5-1995idtIEC68-2-27:1987電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則:沖擊EnvironmentaltestingforelectricandelectronicproductsPart2：TestmethodsTestEaandguidance:Shock1995-08-29發(fā)布1996-08-01實(shí)施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

前言IEC前言1目的一般說明定義試驗(yàn)設(shè)備描述5試驗(yàn)嚴(yán)酷等級(jí)6預(yù)處理初始檢測8條件試驗(yàn)恢復(fù)10最后檢測·…11有關(guān)規(guī)范應(yīng)給出的內(nèi)容·附錄A(標(biāo)準(zhǔn)的附錄）導(dǎo)則附錄B(標(biāo)準(zhǔn)的附錄)脈沖波形的沖擊響應(yīng)譜和其他特性附錄C(標(biāo)準(zhǔn)的附錄)各撞擊試驗(yàn)之間的比較

GB/T2423.5-1995第2部分：試驗(yàn)方法本標(biāo)準(zhǔn)等同采用國際電工委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-27“環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則：沖擊”1987年第3版。本標(biāo)準(zhǔn)代替GB2423.5—81“電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ea:沖擊試驗(yàn)方法”和GB2424.3—81“電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程：沖擊試驗(yàn)導(dǎo)則”。GB2423.5-81和GB2424.3—81是參照國際電工委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn)IC68-2-27“基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第2部分:各種試驗(yàn)試驗(yàn)Ea:沖擊"1972年第2版起草的，并將國際電工委員會(huì)的一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)分成了兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)，正文部分成為GB2423.5沖擊試驗(yàn)方法，附錄部分成為GB2424.3沖擊試驗(yàn)導(dǎo)則。這次修訂將試驗(yàn)方法和導(dǎo)則合并在一起,并且和IEC68-2-27第3版一樣，增加了第3章定義，附錄由一個(gè)增加到三個(gè),即附錄A導(dǎo)則;附錄B脈沖波形的沖擊響應(yīng)譜和其他特性;附錄C撞擊試驗(yàn)方法間的比較。放寬了對脈沖波形的容差要求。本標(biāo)準(zhǔn)于1981年首次發(fā)布,1995年8月第一次修訂。自1996年8月1日起實(shí)施自本標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施之日起，原中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB2423.5-81和GB2424.3—81同時(shí)廢止。本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A、附錄B和附錄C都是標(biāo)準(zhǔn)的附錄。本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國電子工業(yè)部提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口本標(biāo)準(zhǔn)主要起草單位：電子工業(yè)部五所。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：徐詠梅、王樹榮。

GB/T2423.5-1995IEC前1）由所有對該問題特別關(guān)切的國家委員會(huì)參加的國際電工委員會(huì)所屬技術(shù)委員會(huì)制定的有關(guān)技術(shù)問題的正式?jīng)Q議或協(xié)議,它盡可能地體現(xiàn)和表達(dá)了國際上對該間題的一致意見。2）這些決議或協(xié)議，以推薦標(biāo)準(zhǔn)的形式供國際上使用，在這種意義上為各國家委員會(huì)所接受，3）為了促進(jìn)國際間的統(tǒng)一，國際電工委員會(huì)希望所有會(huì)員國在制定國家標(biāo)準(zhǔn)時(shí)，只娶國家具體條·件許可，應(yīng)采用國際電工委員會(huì)的推薦標(biāo)準(zhǔn)的內(nèi)容作為他們的國家標(biāo)準(zhǔn)。國際電工委員會(huì)的推薦標(biāo)準(zhǔn)和國家標(biāo)準(zhǔn)之間的任何分歧應(yīng)盡可能地在國家標(biāo)準(zhǔn)中明確地指出。本標(biāo)準(zhǔn)是由國際電工委員會(huì)50技術(shù)委員會(huì)(環(huán)境試驗(yàn))50A分技術(shù)委員會(huì)(沖擊和振動(dòng)試驗(yàn))制定的本IEC68-2-27第三版代替1972年的第二版，其中包括1982年的修正1和1983年的修正2。本標(biāo)準(zhǔn)的文本以下列文件為基礎(chǔ)：六月法投票報(bào)告50A(中辦)16150A(中辦)16850A(中辦)16250A(中辦)169更進(jìn)一步的資料可見上表中的有關(guān)投票報(bào)告

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法GB/T2423.5-1995idtIEC68-2-27:1987試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則：沖擊GB2423.5-81EnvironmentaltestingforelectricandelectronicproductsPart2：TestmethodsTestEaandguidance：Shock1日的提供一種確定樣品承受規(guī)定嚴(yán)酷等級(jí)沖擊能力的標(biāo)準(zhǔn)方法，一般說明本標(biāo)準(zhǔn)是根據(jù)規(guī)定脈沖波形來編寫的，選擇和使用這些脈沖波形的導(dǎo)則見附錄A。各種不同脈沖波形的特性在附錄B中討論。本標(biāo)準(zhǔn)包括了三種脈沖波形,即半正弦形脈沖、后峰鋸齒形脈沖和梯形脈沖。脈沖波形的選擇取決于許多因素，并且進(jìn)行這種選擇的本身是一件困難的事情,所以本標(biāo)準(zhǔn)不給出波形的優(yōu)先順序（A3章)。本試驗(yàn)的目的是用來揭露機(jī)械弱點(diǎn)和(或)性能下降情況，并且利用這些資料，結(jié)合有關(guān)規(guī)范，來決定樣品是否可以接收。在某些情況下，本沖擊試驗(yàn)也可用來確定樣品的結(jié)構(gòu)完好性，或作為質(zhì)量控制的手段(A2章)。本試驗(yàn)主要針對非包裝樣品，以及在運(yùn)輸條件下其包裝可看作產(chǎn)品本身一部分的樣品本標(biāo)準(zhǔn)的沖擊不是用來模擬實(shí)際所遭受到的沖擊?？赡艿脑?，加于樣品的試驗(yàn)嚴(yán)酷等級(jí)和沖擊脈沖波形應(yīng)能模擬樣品將要經(jīng)受到的實(shí)際運(yùn)輸和工作環(huán)境的效應(yīng)?；蛘?，如果試驗(yàn)的目的是為了評(píng)價(jià)結(jié)構(gòu)完好性，則應(yīng)滿足設(shè)計(jì)要求(A2和A4章)。在條件試驗(yàn)期間，樣品應(yīng)直接緊固到臺(tái)面上或通過夾具緊固到臺(tái)面上。為了使用方便,本標(biāo)準(zhǔn)的正文部分列出了所要參閱的附錄A的條目號(hào)，并且附錄A也列入了正文的條目號(hào)。本標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)結(jié)合GB2421—89《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程總則》使用。3定義本標(biāo)準(zhǔn)所使用的術(shù)語一般采用GB/T2298-91《機(jī)械振動(dòng)與沖擊術(shù)語》或GB2421一89的規(guī)定就本標(biāo)準(zhǔn)而言，需使用下列附加的術(shù)語和定義。3.1固定點(diǎn)fixingpoint樣品與夾具或樣品與沖擊試