標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 2423.5-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則:沖擊》相較于之前的《GB 2423.5-1981, GB 2423.3-1981》,在內(nèi)容上進(jìn)行了多方面的調(diào)整與更新,主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面:
首先,在標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)上,《GB/T 2423.5-1995》增加了“T”,表明該標(biāo)準(zhǔn)屬于推薦性國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)而非強(qiáng)制性標(biāo)準(zhǔn)。這一變化反映了國(guó)家對(duì)于某些技術(shù)領(lǐng)域內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用態(tài)度的轉(zhuǎn)變。
其次,《GB/T 2423.5-1995》更加詳細(xì)地定義了沖擊試驗(yàn)的目的、適用范圍以及術(shù)語和定義。新增加或修改了一些關(guān)鍵術(shù)語,使得整個(gè)文檔的語言更加精確,便于理解和執(zhí)行。
再者,關(guān)于試驗(yàn)條件,《GB/T 2423.5-1995》對(duì)沖擊波形的選擇給出了更為具體的要求,并且引入了半正弦波作為可選波形之一。同時(shí),對(duì)于不同類型的設(shè)備如何選擇合適的沖擊參數(shù)(如峰值加速度、脈沖持續(xù)時(shí)間等),也提供了指導(dǎo)性的意見。
此外,《GB/T 2423.5-1995》還加強(qiáng)了對(duì)試驗(yàn)設(shè)備性能的要求,比如規(guī)定了沖擊臺(tái)面的最大允許不平度及重復(fù)性指標(biāo)等,以確保測(cè)試結(jié)果的一致性和可靠性。
最后,新版標(biāo)準(zhǔn)增加了有關(guān)安全防護(hù)措施的內(nèi)容,強(qiáng)調(diào)了操作人員在進(jìn)行沖擊試驗(yàn)時(shí)應(yīng)注意的安全事項(xiàng),體現(xiàn)了以人為本的原則。
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- 被代替
- 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替,建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 2423.5-2019
- 1995-08-29 頒布
- 1996-08-01 實(shí)施





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GB/T 2423.5-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則:沖擊-免費(fèi)下載試讀頁文檔簡(jiǎn)介
UDC.621.3:620.178K04中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T.2423.5-1995idtIEC68-2-27:1987電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則:沖擊EnvironmentaltestingforelectricandelectronicproductsPart2:TestmethodsTestEaandguidance:Shock1995-08-29發(fā)布1996-08-01實(shí)施國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布
前言IEC前言1目的一般說明定義試驗(yàn)設(shè)備描述5試驗(yàn)嚴(yán)酷等級(jí)6預(yù)處理初始檢測(cè)8條件試驗(yàn)恢復(fù)10最后檢測(cè)·…11有關(guān)規(guī)范應(yīng)給出的內(nèi)容·附錄A(標(biāo)準(zhǔn)的附錄)導(dǎo)則附錄B(標(biāo)準(zhǔn)的附錄)脈沖波形的沖擊響應(yīng)譜和其他特性附錄C(標(biāo)準(zhǔn)的附錄)各撞擊試驗(yàn)之間的比較
GB/T2423.5-1995第2部分:試驗(yàn)方法本標(biāo)準(zhǔn)等同采用國(guó)際電工委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-27“環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則:沖擊”1987年第3版。本標(biāo)準(zhǔn)代替GB2423.5—81“電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ea:沖擊試驗(yàn)方法”和GB2424.3—81“電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程:沖擊試驗(yàn)導(dǎo)則”。GB2423.5-81和GB2424.3—81是參照國(guó)際電工委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn)IC68-2-27“基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第2部分:各種試驗(yàn)試驗(yàn)Ea:沖擊"1972年第2版起草的,并將國(guó)際電工委員會(huì)的一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)分成了兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn),正文部分成為GB2423.5沖擊試驗(yàn)方法,附錄部分成為GB2424.3沖擊試驗(yàn)導(dǎo)則。這次修訂將試驗(yàn)方法和導(dǎo)則合并在一起,并且和IEC68-2-27第3版一樣,增加了第3章定義,附錄由一個(gè)增加到三個(gè),即附錄A導(dǎo)則;附錄B脈沖波形的沖擊響應(yīng)譜和其他特性;附錄C撞擊試驗(yàn)方法間的比較。放寬了對(duì)脈沖波形的容差要求。本標(biāo)準(zhǔn)于1981年首次發(fā)布,1995年8月第一次修訂。自1996年8月1日起實(shí)施自本標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施之日起,原中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB2423.5-81和GB2424.3—81同時(shí)廢止。本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A、附錄B和附錄C都是標(biāo)準(zhǔn)的附錄。本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國(guó)電子工業(yè)部提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口本標(biāo)準(zhǔn)主要起草單位:電子工業(yè)部五所。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:徐詠梅、王樹榮。
GB/T2423.5-1995IEC前1)由所有對(duì)該問題特別關(guān)切的國(guó)家委員會(huì)參加的國(guó)際電工委員會(huì)所屬技術(shù)委員會(huì)制定的有關(guān)技術(shù)問題的正式?jīng)Q議或協(xié)議,它盡可能地體現(xiàn)和表達(dá)了國(guó)際上對(duì)該間題的一致意見。2)這些決議或協(xié)議,以推薦標(biāo)準(zhǔn)的形式供國(guó)際上使用,在這種意義上為各國(guó)家委員會(huì)所接受,3)為了促進(jìn)國(guó)際間的統(tǒng)一,國(guó)際電工委員會(huì)希望所有會(huì)員國(guó)在制定國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)時(shí),只娶國(guó)家具體條·件許可,應(yīng)采用國(guó)際電工委員會(huì)的推薦標(biāo)準(zhǔn)的內(nèi)容作為他們的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)。國(guó)際電工委員會(huì)的推薦標(biāo)準(zhǔn)和國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)之間的任何分歧應(yīng)盡可能地在國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)中明確地指出。本標(biāo)準(zhǔn)是由國(guó)際電工委員會(huì)50技術(shù)委員會(huì)(環(huán)境試驗(yàn))50A分技術(shù)委員會(huì)(沖擊和振動(dòng)試驗(yàn))制定的本IEC68-2-27第三版代替1972年的第二版,其中包括1982年的修正1和1983年的修正2。本標(biāo)準(zhǔn)的文本以下列文件為基礎(chǔ):六月法投票報(bào)告50A(中辦)16150A(中辦)16850A(中辦)16250A(中辦)169更進(jìn)一步的資料可見上表中的有關(guān)投票報(bào)告
中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法GB/T2423.5-1995idtIEC68-2-27:1987試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則:沖擊GB2423.5-81EnvironmentaltestingforelectricandelectronicproductsPart2:TestmethodsTestEaandguidance:Shock1日的提供一種確定樣品承受規(guī)定嚴(yán)酷等級(jí)沖擊能力的標(biāo)準(zhǔn)方法,一般說明本標(biāo)準(zhǔn)是根據(jù)規(guī)定脈沖波形來編寫的,選擇和使用這些脈沖波形的導(dǎo)則見附錄A。各種不同脈沖波形的特性在附錄B中討論。本標(biāo)準(zhǔn)包括了三種脈沖波形,即半正弦形脈沖、后峰鋸齒形脈沖和梯形脈沖。脈沖波形的選擇取決于許多因素,并且進(jìn)行這種選擇的本身是一件困難的事情,所以本標(biāo)準(zhǔn)不給出波形的優(yōu)先順序(A3章)。本試驗(yàn)的目的是用來揭露機(jī)械弱點(diǎn)和(或)性能下降情況,并且利用這些資料,結(jié)合有關(guān)規(guī)范,來決定樣品是否可以接收。在某些情況下,本沖擊試驗(yàn)也可用來確定樣品的結(jié)構(gòu)完好性,或作為質(zhì)量控制的手段(A2章)。本試驗(yàn)主要針對(duì)非包裝樣品,以及在運(yùn)輸條件下其包裝可看作產(chǎn)品本身一部分的樣品本標(biāo)準(zhǔn)的沖擊不是用來模擬實(shí)際所遭受到的沖擊??赡艿脑?,加于樣品的試驗(yàn)嚴(yán)酷等級(jí)和沖擊脈沖波形應(yīng)能模擬樣品將要經(jīng)受到的實(shí)際運(yùn)輸和工作環(huán)境的效應(yīng)?;蛘?,如果試驗(yàn)的目的是為了評(píng)價(jià)結(jié)構(gòu)完好性,則應(yīng)滿足設(shè)計(jì)要求(A2和A4章)。在條件試驗(yàn)期間,樣品應(yīng)直接緊固到臺(tái)面上或通過夾具緊固到臺(tái)面上。為了使用方便,本標(biāo)準(zhǔn)的正文部分列出了所要參閱的附錄A的條目號(hào),并且附錄A也列入了正文的條目號(hào)。本標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)結(jié)合GB2421—89《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程總則》使用。3定義本標(biāo)準(zhǔn)所使用的術(shù)語一般采用GB/T2298-91《機(jī)械振動(dòng)與沖擊術(shù)語》或GB2421一89的規(guī)定就本標(biāo)準(zhǔn)而言,需使用下列附加的術(shù)語和定義。3.1固定點(diǎn)fixingpoint樣品與夾具或樣品與沖擊試
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