標準解讀

《GB/T 5170.19-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法 溫度/振動(正弦)綜合試驗設備》與《GB/T 5170.19-1989》相比，在內(nèi)容上進行了多方面的更新和補充，以適應技術(shù)進步及國際標準的變化。主要變更包括但不限于以下幾點：

  1. 術(shù)語定義：新版本對部分術(shù)語進行了修訂或新增了定義，確保與當前行業(yè)標準保持一致，提高了文件的專業(yè)性和準確性。

  2. 試驗條件：針對溫度變化速率、振動頻率范圍等關鍵參數(shù)提出了更具體的要求，旨在提高測試結(jié)果的一致性和可比性。

  3. 測量方法：引入了更為先進的測量技術(shù)和工具，并詳細描述了如何使用這些設備進行精確測量，以保證數(shù)據(jù)的可靠性。

  4. 校準程序：對于試驗設備的校準過程給出了更加詳盡的操作指南，明確了不同條件下應采取的具體步驟，有助于減少人為誤差。

  5. 安全要求：加強了關于操作人員安全以及環(huán)境保護方面的規(guī)定，增加了防止電擊、火災等事故發(fā)生的措施。

  6. 記錄與報告：強調(diào)了試驗過程中所有相關信息（如設置值、實際值等）記錄的重要性，并對最終形成的試驗報告格式做了統(tǒng)一規(guī)范。


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  • 被代替
  • 已被新標準代替，建議下載現(xiàn)行標準GB/T 5170.19-2018
  • 2005-08-26 頒布
  • 2006-04-01 實施
?正版授權(quán)
GB/T 5170.19-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法溫度/振動(正弦)綜合試驗設備_第1頁
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文檔簡介

ICS19.040K04中華人民共和國國家標準GB/T5170.19-2005代格GB/T5170.19-1989電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法溫度/振動(正弦)綜合試驗設備Inspectionmethodsforbasicparametersofenvironmentaltestingequipmentsforelectricandelectronicproducts--Combinedtemperature/vibration(sinusoidal)testingequipments2005-08-26發(fā)布2006-04-01實施中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布中國國家標準化管理委員會

GB/T5170.19—2005三次前言范圍2規(guī)范性引用文件3檢定項目4檢定用主要儀器及要求5檢定條件6測量點數(shù)量及位置7檢定步驥·8數(shù)據(jù)處理與檢定結(jié)果

GB/T5170.19-2005前本部分是GB/T5170《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法》的第19部分本部分代替GB/T5170.19-1989,與GB/T5170.19—1989相比技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化：明確本部分適用于環(huán)境試驗設備在使用期間的周期檢定,以區(qū)別產(chǎn)品的型式檢驗、出廠檢驗等：增加了“規(guī)范性引用文件”一章；在“檢定用主要儀器及要求"一章中.給出了儀器的擴展不確定度(人=2)的要求；在“檢定項目”一章，增加了“頻率指示偏差”；增加了“檢定條件”一章；在“數(shù)據(jù)處理與檢定結(jié)果“中,增加了“溫度場的調(diào)整"和“試驗設備儀表修正值的范圍".并且對限用的范圍給予了必要的說明：刪除了記錄表格本部分由中國電器工業(yè)協(xié)會提出本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境技術(shù)標準化技術(shù)委員會歸口本部分起草單位：信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所本部分主要起草人：謝晨浩、肖建紅、賴文光。本部分所代替標準的歷次版本發(fā)布情況：-GB/T5170.19-1989。

GB/T5170.19-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法溫度/振動(正弦)綜合試驗設備1范圍1T本部分規(guī)定了溫度/振動(正弦)綜合試驗設備在進行周期檢定時的檢定項目、檢定用主要儀器及要求、檢定條件、測量點數(shù)量及位置、檢定步驃、數(shù)據(jù)處理及檢定結(jié)果等內(nèi)容。1.2本部分適用于對GB/T2423.35—1986《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/Afc:散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗方法》和GB/T2423.36—1986(電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BFc:散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗方法》所用試驗設備的周期檢定。1.3溫度/振動(正弦)綜合試驗設備檢定前,其溫度箱(室)和振動臺（含附加臺面)應分別按（B/T5170.2一1996和GB/T5170.13～GB/T5170,15一1985規(guī)定的方法進行檢定。檢定合格后方可進行綜合檢定。本部分也適用于類似試驗設備的周期檢定規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過GB/T5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件.其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵根據(jù)本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件.其最新版本適用于本部分。GB/T2423.1-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A:低溫（idtIEC60068-2-1:1990）GB/T2423.2-2001第2部分：試驗方法電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗武驗B：高溫（idtIEC60068-2-2:1974）GB/T2423.35—1986電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AFc:散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗方法(idtIEC60068-2-50：1983）GB/T2423.36—1986電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BFc:散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗方法(idtIEC60068-2-51:1983)GB/T5170.1—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法總則GB/T5170.2—1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設備GB/T5170.13—1985電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法振動(正弦)試驗用機械振動臺GB/T5170.14-1985電工電子產(chǎn)品環(huán)

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