GB/T 5170.18-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備

ICS19.080K04中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T5170.18—2005代咨GB/T5170.18-1987電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備InspectionmethodsforbasicparametersofenvironmentaltestingequipmentsforelectricandelectronicproductsCompositetemperature/humiditycyclictestingequipments2005-09-19發(fā)布2006-06-01實(shí)施中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局愛布中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T5170.18-2005三次前言范圍2規(guī)范性引用文件3檢定項(xiàng)目4檢定用主要儀器及要求5檢定條件6測(cè)量點(diǎn)數(shù)量及位置7檢定步驥·8數(shù)據(jù)處理與檢定結(jié)果附錄A(規(guī)范性附錄）干濕表法測(cè)量相對(duì)濕度

GB/T5170.18-2005本部分是GB/T5170《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法》的一個(gè)部分本部分是對(duì)GB/T5170.18—1987的修訂與GB/T5170.18—1987相比，技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化：-明確本部分適用于環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備在使用期間的周期檢定,以區(qū)別產(chǎn)品的型式檢驗(yàn)、出廠檢驗(yàn)等：增加了“規(guī)范性引用文件”一章;在檢定項(xiàng)目中.刪除了"工作室內(nèi)壁與工作空間溫差”和"工作室內(nèi)壁輻射系數(shù)”兩個(gè)項(xiàng)目；在"檢定用主要儀器及要求”一章中·給出了儀器的擴(kuò)展不確定度(A=2)的要求：增加了“檢定條件”一章；對(duì)于溫度測(cè)量點(diǎn)數(shù)量，設(shè)備的工作空間容積由“以1m分界"改為“以2m2分界".對(duì)于"大于2m°的設(shè)備",溫度和風(fēng)速的測(cè)量點(diǎn)由21點(diǎn)減少為15點(diǎn)：-周期檢定試驗(yàn)設(shè)備時(shí),溫度偏差、相對(duì)濕度偏差”的測(cè)量時(shí)間縮短為30min:在“數(shù)據(jù)處理與檢定結(jié)果”中，給出了“溫度偏差、溫度波動(dòng)度、溫度均勾度、濕度偏差、溫度變化速率、風(fēng)速”的計(jì)算公式;增加了“環(huán)境參數(shù)場(chǎng)的調(diào)整”和“試驗(yàn)設(shè)備儀表修正值的范圍”,并且對(duì)限用的范圍給予了必要的說明：本部分的附錄中給出"干濕表法測(cè)量相對(duì)濕度”；-刪除了記錄表格。本部分由中國(guó)電器工業(yè)協(xié)會(huì)提出。本部分由全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口本部分起草單位：信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所。本部分主要起草人：謝晨浩、賴文光。本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況GB/T5170.18-1987.

GB/T5170.18-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備范圍1.1本部分規(guī)定了溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備在進(jìn)行周期檢定時(shí)的檢定項(xiàng)目、檢定用主要儀器及要求、檢定條件、測(cè)量點(diǎn)數(shù)量及位置、檢定步驃、數(shù)據(jù)處理及檢定結(jié)果等內(nèi)容。1.2本部分適用于GB/T2423.34—2005《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)方法》所用試驗(yàn)設(shè)備的周期檢定。溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)在同一試驗(yàn)箱內(nèi)進(jìn)行時(shí)（以下簡(jiǎn)稱一箱法）應(yīng)符合本部分的所有規(guī)定：溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)在兩個(gè)獨(dú)立試驗(yàn)箱進(jìn)行時(shí)（以下簡(jiǎn)稱二箱法).濕熱試驗(yàn)箱應(yīng)符合本部分所有規(guī)定;低溫試驗(yàn)箱應(yīng)符合GB/T5170.2—1996《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備》的規(guī)定。本部分也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的周期檢定。規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過GB/T5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件其隨后所有的修改單（不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本部分GB/T2423.34—2005電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)方法（IEC60068-2-38:1974.IDT)GB/T5170.1—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則GB/T5170.2—1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備GB/T6999環(huán)境試驗(yàn)用相對(duì)濕度查算表檢定項(xiàng)目本部分規(guī)定的檢定項(xiàng)目如下：度偏差：相對(duì)濕度偏差：溫度均勺度；溫度波動(dòng)度：升降溫特性：風(fēng)速檢定用主要儀器及要求4.1溫度測(cè)量?jī)x器采用由鉑電阻、熱電偶或其他溫度傳感器組成的溫度測(cè)量系統(tǒng)溫度測(cè)量系統(tǒng)的擴(kuò)展不確定度(A=2)