- 被代替
- 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替,建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 5170.13-2018
- 2005-03-03 頒布
- 2005-08-01 實施
文檔簡介
ICS19.040K04中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T5170.13-2005代替GB/T5170.13-1985電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(正弦)試驗用機械振動臺Inspectionmethodsforbasicparametersofenvironmentaltestingequipmentsforelectricandelectronicproducts-Mechanicalvibratingtypemachinesforvibration(sinusoidaltest2005-03-03發(fā)布2005-08-01實施中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
GB/T5170.13-2005三次前言范圍規(guī)范性引用文件3術(shù)語和定義4檢定項目5檢定用主要儀器及要求6檢定條件7一般規(guī)定8檢定方法9檢定周期附錄A(規(guī)范性附錄)檢定項目的選擇附錄B(規(guī)范性附錄)基本參數(shù)允許誤差
GB/T5170.13—2005GB/T5170《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法》是系列標(biāo)準(zhǔn),分為若干部分GB/T5170.1—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則GB/T5170.2-1996)電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備GB/T5170.5-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法:濕熱試驗設(shè)備電電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法GB/T5170.8-1996:鹽霧試驗設(shè)備GB/T5170.9—1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法太陽輻射試驗設(shè)備GB/T5170.10—1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備GB/T5170.11—1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法腐飩氣體試驗設(shè)備電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法GB/T5170.13-2005振動(正弦)試驗用機械振動臺電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法GB/T5170.14-1985振振動(正弦)試驗用電動振動臺GB/T5170.15-1985電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(正弦)試驗用液壓振動臺電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法GB/T5170.16-1985穩(wěn)態(tài)加速度試驗用離心機GB/T5170.17-1987電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設(shè)備電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法GB/T5170.18-1987溫度/濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備GB/T5170.19-1989電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/振動(正弦)綜合試驗設(shè)備GB/T5170.20—1990電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法水試驗設(shè)備本部分是GB/T5170的第13部分,自實施之日起代替GB/T5170.13—1985.本部分與GB/T5170.13—1985相比,技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化:增加了“規(guī)范性引用文件”一章;增加了“術(shù)語和定義”一章;在“檢定用主要儀器及要求”一章中,給出了檢定用儀器的擴展不確定度(人=2)的要求;增加了“檢定條件”一章;-在"一般規(guī)定"一章,要求檢定用負載"表面光潔度不低于5級"改為"表面粗糙度尺,優(yōu)于5.0m":檢定橫向振動比、加速度波形失真度和臺面位移幅值均勺度時的位移幅值和頻率的規(guī)定由"a.最大位移幅值;頻率范圍下限值。b,頻率范圍上限值上的最大加速度幅值所對應(yīng)的位移幅值;頻率范圍上限值。C.最大位移幅值:最大位移幅值的上限頻率。d最小位移幅值;最小位移幅值與最小加速度幅值對應(yīng)的頻率值.改為:所選頻率點應(yīng)包括上、下限值以及額定位移與額定加速度的交越點;所選位移幅值應(yīng)為該頻率點額定幅值的一半或一半以上";加速度單位由“g”改為"mn/s"";在"檢定方法"一章,橫向振動比(位移)的檢定中,三向加速度計的安裝由“固定在臺面中心及距工作臺面中心最遠的相鄰兩個安裝點上"改為“固定在臺面中心";頻率穩(wěn)定度的檢定中,要
GB/T5170.13-2005求“試驗時間2h",位移幅值穩(wěn)定度的檢定中,要求“試驗時間2h";增加了“檢定周期”一章;在附錄B中,臺面位移幅值均勾度的要求由“臺面面積>1m2時.由供需方商定"改為“臺面面積>1m2.<25%”;定振精度的要求由"10Hz以下由供需方商定"改為"5Hz到上限頻率士3dB”本部分由中國電器工業(yè)協(xié)會提出本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口本部分起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所。本部分主要起草人:肖建紅、鄭術(shù)力.本部分歷次版本發(fā)布情況為:-GB/T5170.13-1985。
GB/T5170.13—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(正弦)試驗用機械振動臺1范圍1.1本部分規(guī)定了振動(正弦)試驗用機械振動臺在進行定型鑒定、出廠檢驗和定期檢定時的檢定項目、檢定用主要儀器及要求、檢定條件、檢定時的一般規(guī)定、檢定方法及檢定結(jié)果等內(nèi)容。1.2本部分適用于對GB/T2423.10《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗規(guī)程第2部分:試驗方法試驗FC:振動(正弦)試驗方法》進行振動試驗用機械振動臺(以下簡稱振動臺)基本參數(shù)的檢定方法。本部分也適用于類似試驗設(shè)備的檢定2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過GB/T5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件·其隨后所有的修改單(不包括誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵根據(jù)本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本部分。第2部分:試驗方法GB/T2423.10電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗Fe和導(dǎo)則:振動(正弦)(GB/T2423.10-1995.idtIEC68-2-6:1982)(B/T5170.1—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則3術(shù)語和定義本部分采用GB/T5170.1規(guī)定的術(shù)語和定義檢定項目本部分規(guī)定的檢定項目如下:額定參數(shù)(最大載荷、
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