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§3長(zhǎng)度測(cè)量基礎(chǔ)幾何精度測(cè)量的基本概念基本內(nèi)容

概述:檢測(cè)的意義、測(cè)量的基本要素、檢測(cè)的一般步驟;

計(jì)量單位與量值傳遞:長(zhǎng)度單位及其基準(zhǔn)、量塊、長(zhǎng)度的量值傳遞;

測(cè)量器具與測(cè)量方法:測(cè)量器具的分類、測(cè)量器具的技術(shù)性能指標(biāo)、測(cè)量方法分類。檢測(cè)的意義“檢測(cè)”就是確定產(chǎn)品是否滿足設(shè)計(jì)要求的過(guò)程,即判斷產(chǎn)品合格性的過(guò)程。檢測(cè)的方法可以分為兩類:定性檢驗(yàn)和定量測(cè)試。定量測(cè)試:是在對(duì)被檢驗(yàn)對(duì)象進(jìn)行測(cè)量后,得到其實(shí)際值并判斷其是否合格的方法。定性檢驗(yàn):的方法只能得到被檢驗(yàn)對(duì)象合格與否的結(jié)論,而不能得到其具體的量值。因其檢驗(yàn)效率高、檢驗(yàn)成本低而在大批量生產(chǎn)中得到廣泛應(yīng)用。§3.1測(cè)量的基本概念“測(cè)量”是以確定量值為目的的全部操作。測(cè)量過(guò)程實(shí)際上就是一個(gè)比較過(guò)程,也就是將被測(cè)量與標(biāo)準(zhǔn)的單位量進(jìn)行比較,確定其比值的過(guò)程。若被測(cè)量為L(zhǎng),計(jì)量單位為E,確定的比值為q,則被測(cè)量可表示為:L=q?E一個(gè)完整的測(cè)量過(guò)程應(yīng)包含被測(cè)量、計(jì)量單位、測(cè)量方法(含測(cè)量器具)和測(cè)量精度等四個(gè)要素。

被測(cè)量(測(cè)量對(duì)象):主要指幾何量,包括長(zhǎng)度、角度、表面粗糙度及形位誤差等。

計(jì)量單位(簡(jiǎn)稱單位):機(jī)械工程中常用的長(zhǎng)度單位有“毫米”、“微米”和“納米”,常用的角度單位是非國(guó)際單位制的單位“度”、“分”、“秒”。在測(cè)量過(guò)程中,測(cè)量單位必須以物質(zhì)形式來(lái)體現(xiàn),能體現(xiàn)計(jì)量單位和標(biāo)準(zhǔn)量的物質(zhì)形式有:光波波長(zhǎng)、精密量塊、線紋尺、各種圓分度盤等。

測(cè)量精度(即準(zhǔn)確度):測(cè)量結(jié)果與真值的一致程度。不考慮測(cè)量精度而得到的測(cè)量結(jié)果是沒(méi)有任何意義的。真值的定義為:當(dāng)某量能被完善地確定并能排除所有測(cè)量上的缺陷時(shí),通過(guò)測(cè)量所得到的量值。

測(cè)量方法:可以理解為測(cè)量原理、測(cè)量器具(計(jì)量器具)和測(cè)量條件(環(huán)境和操作者)的總和。在實(shí)施測(cè)量過(guò)程中,應(yīng)該根據(jù)被測(cè)對(duì)象和被測(cè)參數(shù)的特點(diǎn)選擇測(cè)量方法。檢測(cè)的一般步驟:確定被測(cè)對(duì)象設(shè)計(jì)檢測(cè)方案選擇檢測(cè)器具檢測(cè)前的準(zhǔn)備填報(bào)檢測(cè)結(jié)果數(shù)據(jù)處理采集數(shù)據(jù)§3.2尺寸傳遞1983年第17屆國(guó)際計(jì)量大會(huì)更新了米的定義,規(guī)定:“米”是平面電磁波在真空中1/299792458

s時(shí)間內(nèi)行進(jìn)路程的長(zhǎng)度。光波波長(zhǎng)線紋尺一等量塊被測(cè)物體(工件)光電光波比長(zhǎng)儀激光量塊干涉儀柯氏干涉儀實(shí)物標(biāo)準(zhǔn)光電光波比長(zhǎng)儀激光光波比長(zhǎng)儀實(shí)質(zhì)上就是一個(gè)以激光器作光源的干涉儀,其簡(jiǎn)化結(jié)構(gòu)如圖4.1.2-10,光源1是一臺(tái)單模穩(wěn)頻的氦—氖氣體激光器,它發(fā)出的激光到達(dá)干涉儀中的半透半反鏡M后,被分成兩光束A和B。這兩束光分別經(jīng)全反射鏡MA和MB反射后,匯合到光電倍增管3上。這兩束光所走過(guò)的光程(路程)是不同的,因此產(chǎn)生干涉若把反射鏡MA固定,則光束A的光程不變。鏡MB固定在可移動(dòng)的平臺(tái)8上,它與待測(cè)物體7一起移動(dòng),這樣就改變了光束B的光程。當(dāng)平臺(tái)移動(dòng)半個(gè)波長(zhǎng)(λ/2)時(shí),光束B往返的光程改變了1λ,于涉條紋變化一周期。平臺(tái)連續(xù)移動(dòng),干涉條紋將明暗交替變化,這種明暗變化被光電倍增管3所接收,并轉(zhuǎn)換為電量的變化,再經(jīng)過(guò)計(jì)數(shù)電路4,將干涉條紋的變化數(shù)記錄下來(lái)。這時(shí)待測(cè)物體的長(zhǎng)度可按下式計(jì)算而得

l=N·λ/2

式中l(wèi)——待測(cè)物體的長(zhǎng)度;

λ——光的波長(zhǎng);

N——計(jì)數(shù)器測(cè)得的脈沖數(shù)。§3.2.1量塊及其傳遞系統(tǒng)

量塊(塊規(guī)):一對(duì)平行測(cè)量面間具有精確尺寸,且截面為矩形的長(zhǎng)度測(cè)量工具。其形狀為長(zhǎng)方形平面六面體。有兩測(cè)量面和四個(gè)非測(cè)量面。3740上測(cè)量面工作長(zhǎng)度小于5.5mm的量塊數(shù)字標(biāo)在上測(cè)量面上;大于5.5mm的量塊標(biāo)數(shù)字平面的右側(cè)面為上測(cè)量面,相對(duì)的面為下測(cè)量面。標(biāo)稱長(zhǎng)度(公稱尺寸):兩平行的測(cè)量面之間的距離,即量塊的工作長(zhǎng)度。

量塊的精度(級(jí)):按國(guó)標(biāo)GB6093-2001,量塊按制造精度分6級(jí),即00、0、1、2、3和K級(jí),其中00級(jí)精度最高,3級(jí)最低,K級(jí)為校準(zhǔn)級(jí),主要根據(jù)量塊長(zhǎng)度極限偏差、測(cè)量面的平面度、粗糙度及量塊的研合性等指標(biāo)來(lái)劃分的。有關(guān)技術(shù)要求的部分?jǐn)?shù)值見(jiàn)書中表2-1所示。用戶按“級(jí)”使用量塊(即按量塊的公稱尺寸使用)必然受到量塊長(zhǎng)度制造偏差的影響,將把制造誤差帶入測(cè)量結(jié)果。

量塊的精度(等):國(guó)家計(jì)量局標(biāo)準(zhǔn)JJG146-2003《量塊檢定規(guī)程》規(guī)定了量塊按其檢定精度分為六等,即1、2、3、4、5、6等,其中1等精度最高,6等精度最低,“等”主要依據(jù)量塊中心長(zhǎng)度測(cè)量的極限偏差和平面平行性允許偏差來(lái)劃分的。有關(guān)技術(shù)要求的部分?jǐn)?shù)值見(jiàn)書中表2-2所示。用戶按“等”使用量塊(即按量塊的實(shí)際尺寸使用)時(shí),影響使用精度的是檢定量塊時(shí)的測(cè)量總不確定度。量塊的“級(jí)”與“等”比較量塊的“級(jí)”和“等”是從成批制造和單個(gè)檢定兩種不同的角度出發(fā),對(duì)其精度進(jìn)行劃分的兩種形式。按“級(jí)”使用時(shí),以標(biāo)記在量塊上的標(biāo)稱尺寸作為工作尺寸,該尺寸包含其制造誤差。按“等”使用時(shí),必須以檢定后的實(shí)際尺寸作為工作尺寸,該尺寸不包含制造誤差,但包含了檢定時(shí)的測(cè)量誤差。就同一量塊而言,檢定時(shí)的測(cè)量誤差要比制造誤差小得多。所以,量塊按“等”使用時(shí)其精度比按“級(jí)”使用要高,且能在保持量塊原有使用精度的基礎(chǔ)上延長(zhǎng)其使用壽命。量塊是單值量具,一個(gè)量塊只代表一個(gè)尺寸。根據(jù)規(guī)定,量塊共有17種套別,其中每套數(shù)目分別為91、83、46、38、10、8、6、5等。以83塊一套為例:間隔0.01

mm,從1.01,1.02……到1.49mm,共49塊;間隔0.1

mm,從1.5,1.6……到1.9mm,共5塊;間隔0.5

mm,從2.0,2.5……到9.5mm,共16塊;間隔10

mm,從10,20……到100mm,共10塊;0.5,1,1.005mm各一塊共3塊;為了減少量塊的組合誤差,應(yīng)盡量減少量塊的組合塊數(shù),一般不超過(guò)4塊。選用量塊時(shí),應(yīng)從所需組合尺寸的最后一位數(shù)開始,每選一塊至少應(yīng)減去所需尺寸的一位尾數(shù)。例如,從83塊一套的量塊中選取尺寸為36.745mm的量塊組,選取方法為:36.745…………所需尺寸-1.005…………第一塊量塊尺寸-1.24…………第二塊量塊尺寸-4.5…………第三塊量塊尺寸35.7434.530.0…………第四塊量塊尺寸§3.2.2角度傳遞系統(tǒng)我國(guó)目前作為角度量的最高基準(zhǔn)是分度值為0.1″的精密測(cè)角儀。機(jī)械制造行業(yè)中的一般角度標(biāo)準(zhǔn)是角度量塊、測(cè)角儀或分度頭?!?.3測(cè)量方法與計(jì)量器具的分類§3.3.1計(jì)量器具的分類⑴單值量具:只能體現(xiàn)一個(gè)單一量值的量具。可用來(lái)校對(duì)和調(diào)整其它測(cè)量器具或作為標(biāo)準(zhǔn)量與被測(cè)量直接進(jìn)行比較。如量塊、角度量塊等。⑵多值量具:可體現(xiàn)一組同類量值的量具。同樣能校對(duì)和調(diào)整其它測(cè)量器具或作為標(biāo)準(zhǔn)量與被測(cè)量直接進(jìn)行比較。如線紋尺、90°角尺等。⑶通用量具:我國(guó)習(xí)慣上將結(jié)構(gòu)比較簡(jiǎn)單的測(cè)量?jī)x器稱為通用量具。如游標(biāo)卡尺、外徑千分尺、百分表等。⑷專用量具:專門用來(lái)檢驗(yàn)?zāi)撤N特定參數(shù)的量具。常見(jiàn)的有:檢驗(yàn)光滑圓柱孔或軸的光滑極限量規(guī),判斷內(nèi)螺紋或外螺紋合格性的螺紋量規(guī),判斷復(fù)雜形狀的表面輪廓合格性的檢驗(yàn)樣板,用模擬裝配通過(guò)來(lái)檢驗(yàn)裝配精度的功能量規(guī)等等。按所測(cè)得的量(參數(shù))是否為欲測(cè)量分類:⑴直接測(cè)量:從測(cè)量器具的讀數(shù)裝置上得到欲測(cè)之量的數(shù)值或?qū)?biāo)準(zhǔn)值的偏差。例如用游標(biāo)卡尺、外徑千分尺測(cè)量外圓直徑,用比較儀測(cè)量長(zhǎng)度尺寸等。⑵間接測(cè)量:先測(cè)出與欲測(cè)之量有一定函數(shù)關(guān)系的相關(guān)量,然后按相應(yīng)的函數(shù)關(guān)系式,求得欲測(cè)之量的測(cè)量結(jié)果?!?.3.2測(cè)量方法的分類例如:用“弦高法”測(cè)量大尺寸圓柱體的直徑,由弦長(zhǎng)S與弦高

H的測(cè)量結(jié)果,可求得直徑

D的實(shí)際值,如圖所示。由圖可得:對(duì)上式微分后,得到測(cè)量結(jié)果的測(cè)量誤差為:式中

dS——弦長(zhǎng)S的測(cè)量誤差

dH——

弦高

H

的測(cè)量誤差。周長(zhǎng)=π×D⑴絕對(duì)測(cè)量:從測(cè)量器具上直接得到被測(cè)參數(shù)的整個(gè)量值的測(cè)量。例如用游標(biāo)卡尺測(cè)量零件軸徑值。⑵相對(duì)測(cè)量:從測(cè)量器具上得到的是被測(cè)量與標(biāo)準(zhǔn)量(已知)的相對(duì)偏差。因此被測(cè)量等于儀器所指偏差與標(biāo)準(zhǔn)量的代數(shù)和。按測(cè)量結(jié)果的讀數(shù)值不同分類:按被測(cè)表面與測(cè)量器具測(cè)頭是否有機(jī)械接觸分類:⑴接觸測(cè)量:測(cè)量器具的測(cè)頭與零件被測(cè)表面接觸后有機(jī)械作用力的測(cè)量。如用外徑千分尺、游標(biāo)卡尺測(cè)量零件等。為了保證接觸的可靠性,測(cè)量力是必要的,但它可能使測(cè)量器具及被測(cè)件發(fā)生變形而產(chǎn)生測(cè)量誤差,還可能造成對(duì)零件被測(cè)表面質(zhì)量的損壞,所以測(cè)量力不能太大。⑵非接觸測(cè)量:測(cè)量器具的感應(yīng)元件與被測(cè)零件表面不直接接觸,因而不存在機(jī)械作用的測(cè)量力。屬于非接觸測(cè)量的儀器主要是利用光、氣、電、磁等作為感應(yīng)元件與被測(cè)件表面聯(lián)系。如激光測(cè)位移、紅外測(cè)溫、氣動(dòng)量?jī)x等。⑴主動(dòng)測(cè)量:在加工過(guò)程中進(jìn)行的測(cè)量。其測(cè)量結(jié)果直接用來(lái)控制零件的加工過(guò)程,決定是否繼續(xù)加工或判斷工藝過(guò)程是否正常、是否需要進(jìn)行調(diào)整,故能及時(shí)防止廢品的發(fā)生,所以又稱為積極測(cè)量。⑵被動(dòng)測(cè)量:加工完成后進(jìn)行的測(cè)量。其結(jié)果僅用于發(fā)現(xiàn)并剔除廢品,所以被動(dòng)測(cè)量又稱消極測(cè)量。按測(cè)量在工藝過(guò)程中所起作用分類:⑴單項(xiàng)測(cè)量:?jiǎn)为?dú)地、彼此沒(méi)有聯(lián)系地測(cè)量零件的單項(xiàng)參數(shù)。如分別測(cè)量齒輪的齒厚、齒形、齒距等。這種方法一般用于量規(guī)的檢定、工序間的測(cè)量,或?yàn)榱斯に嚪治觥⒄{(diào)整機(jī)床等目的。⑵綜合測(cè)量:檢測(cè)零件幾個(gè)相關(guān)參數(shù)的綜合效應(yīng)或綜合參數(shù),從而綜合判斷零件的合格性。例如齒輪運(yùn)動(dòng)誤差的綜合測(cè)量、用螺紋量規(guī)檢驗(yàn)螺紋的作用中徑等。綜合測(cè)量一般用于終結(jié)檢驗(yàn),其測(cè)量效率高,能有效保證互換性,在大批量生產(chǎn)中應(yīng)用廣泛。按零件上同時(shí)被測(cè)參數(shù)的多少分類:⑴靜態(tài)測(cè)量:測(cè)量時(shí)被測(cè)件表面與測(cè)量器具測(cè)頭處于靜止?fàn)顟B(tài)。例如用外徑千分尺測(cè)量軸徑、用齒距儀測(cè)量齒輪齒距等。按被測(cè)工件在測(cè)量時(shí)所處狀態(tài)分類:⑵動(dòng)態(tài)測(cè)量:測(cè)量時(shí)被測(cè)零件表面與測(cè)量器具測(cè)頭處于相對(duì)運(yùn)動(dòng)狀態(tài),或測(cè)量過(guò)程是模擬零件在工作或加工時(shí)的運(yùn)動(dòng)狀態(tài),它能反映生產(chǎn)過(guò)程中被測(cè)參數(shù)的變化過(guò)程。例如用激光比長(zhǎng)儀測(cè)量精密線紋尺,用電動(dòng)輪廓儀測(cè)量表面粗糙度等。⑴等精度測(cè)量:在測(cè)量過(guò)程中,決定測(cè)量精度的全部因素或條件不變。例如,由同一個(gè)人,用同一臺(tái)儀器,在同樣的環(huán)境中,以同樣方法,同樣仔細(xì)地測(cè)量同一個(gè)量。在一般情況下,為了簡(jiǎn)化測(cè)量結(jié)果的處理,大都采用等精度測(cè)量。實(shí)際上,絕對(duì)的等精度測(cè)量是做不到的。⑵不等精度測(cè)量:在測(cè)量過(guò)程中,決定測(cè)量精度的全部因素或條件可能完全改變或部分改變。由于不等精度測(cè)量的數(shù)據(jù)處理比較麻煩,因此一般用于重要的科研實(shí)驗(yàn)中的高精度測(cè)量。按測(cè)量中測(cè)量因素是否變化分類:§3.4測(cè)量方法與計(jì)量器具的常用術(shù)語(yǔ)

測(cè)量范圍:在允許誤差限內(nèi)測(cè)量器具所能測(cè)量的被測(cè)量值的下限值至上限值的范圍。測(cè)量力:在接觸式測(cè)量過(guò)程中,測(cè)量器具測(cè)頭與被測(cè)量面間的接觸壓力。測(cè)量力太大會(huì)引起彈性變形,測(cè)量力太小會(huì)影響接觸的穩(wěn)定性。靈敏度:計(jì)量器具反映被測(cè)幾何量變化的能力。如果被測(cè)參數(shù)的變化量為Δx,引起測(cè)量器具示值變化量為Δy,則靈敏度S=Δy/Δx。當(dāng)分子分母為同一類量時(shí),靈敏度又稱放大比或放大倍數(shù)K?;爻陶`差:在相同條件下,被測(cè)量值不變,測(cè)量器具行程方向不同時(shí),兩示值之差的絕對(duì)值。它是由測(cè)量器具中測(cè)量系統(tǒng)的間隙、變形和磨擦等原因引起的。重復(fù)性:在規(guī)定的使用條件下,重復(fù)用相同的激勵(lì),測(cè)量?jī)x器給予出非常相似響應(yīng)的能力。反映的是測(cè)量?jī)x器的工作穩(wěn)定性。

分辨力:是指計(jì)量器具能測(cè)量到最小輸入量變化的能力。也稱分辨率。不確定度:由于測(cè)量誤差的存在而對(duì)被測(cè)量值的不肯定程度。§3.5計(jì)量器具的選擇考慮技術(shù)指標(biāo)和經(jīng)濟(jì)指標(biāo)1、計(jì)量器具的測(cè)量范圍應(yīng)能滿足工件的要求;2、按被測(cè)量工件的公差選擇器具:應(yīng)使所選用的計(jì)量器具的極限誤差約占被測(cè)工件公差的1/10~1/3?!?.5.1計(jì)量器具的選擇常用計(jì)量器具的極限誤差查相關(guān)資料?!?.5.2光滑工件尺寸的檢驗(yàn)1、根據(jù)工件基本尺寸和公差等級(jí)確定工件驗(yàn)收極限;2、根據(jù)工件公差等級(jí)選用計(jì)量器具。光滑工件尺寸的檢驗(yàn)包括以下兩部分內(nèi)容:內(nèi)縮方式:考慮安全裕度A(用于單一要素包容原則及公差等級(jí)較高場(chǎng)合)。不內(nèi)縮方式:不考慮安全裕度A(用于非配合和一般公差的尺寸)。兩種驗(yàn)收極限安全裕度A是為了避免在測(cè)量工件時(shí),由于測(cè)量誤差的存在,而將尺寸已超出公差帶的零件誤判為合格(誤收)而設(shè)置的。安全裕度A的大小及不確定度的允許值u1如書中表3-15所示。保證所選擇計(jì)量器具的不確定度不大于允許值u1。解:①確定驗(yàn)收極限例:要測(cè)量的工件尺寸為φ240h10E,如何選擇計(jì)量器具?由表2-7查得T=185μm,

A=18μm,

u1=17μm。上驗(yàn)收極限=dmax-A=240-0.018=239.982mm下驗(yàn)收極限=dmin+A=240-0.185+0.018=239.833mm②分度值為0.01mm的外徑千分尺不確定度為0.008mm可以滿足要求。三、量值傳遞

1.組織保證:國(guó)家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局——省質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局——地(市)質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局——工廠企業(yè)。2.技術(shù)保證:采用檢定規(guī)程(它規(guī)定了檢定用的儀器,方法,環(huán)境要求)

測(cè)量的基本原則1、基準(zhǔn)統(tǒng)一原則,各種基準(zhǔn)原則上應(yīng)該一致。設(shè)計(jì),裝配,加工,測(cè)量(注塑機(jī)NOZZLE的;鍵槽)2、最小變形原則,被測(cè)工件與測(cè)量器具之間的相對(duì)變形最小。3、最短鏈原則,連接被測(cè)工件與測(cè)量器具的測(cè)頭之間的組成環(huán)節(jié)最少4、阿貝(EnstAbbe)原則,工件的被測(cè)量與測(cè)量器具的測(cè)頭標(biāo)尺應(yīng)該在一條直線上或在延長(zhǎng)線上。(進(jìn)而形成阿貝-布來(lái)恩J.B.Bryan建議

P25)(卡尺;荷蘭的0.1um的CMM)5、閉合原則,在圓周封閉測(cè)量中,累積誤差為零,例如:齒距累積誤差測(cè)量,多棱體內(nèi)角測(cè)量6、重復(fù)原則,同一被測(cè)量應(yīng)多次測(cè)量,以消除測(cè)量誤差的影響。

§1-4測(cè)量誤差與數(shù)據(jù)處理

引子:不論測(cè)量?jī)x器精度有多高,在測(cè)量過(guò)程中,由于有各種誤差因素的存在,使得測(cè)量結(jié)果與被測(cè)量的真值存在差異,

這個(gè)差異我們稱之為測(cè)量誤差測(cè)量誤差:測(cè)得值減去被測(cè)量的真值的代數(shù)差,

又稱絕對(duì)誤差。絕對(duì)誤差與被測(cè)量的真值的比值,稱為相對(duì)誤差。當(dāng)被測(cè)量的基本尺寸相同時(shí),可用絕對(duì)誤差的大小來(lái)評(píng)定測(cè)量精度的高低。絕對(duì)誤差大,測(cè)量精度低,反之則測(cè)量精度高。由于測(cè)量誤差大體上與被測(cè)尺寸的大小成正比。當(dāng)被測(cè)量的基本尺寸不同時(shí),可用相對(duì)誤差的大小來(lái)評(píng)定其測(cè)量精度。

測(cè)量誤差可按原因和性質(zhì)分類

按原因分三種

1.

測(cè)量方法引起的誤差。例

2.

測(cè)量器具引起的誤差。例

3.主、客觀因素引起的誤差。例

按性質(zhì)也分三種系統(tǒng)誤差,隨機(jī)誤差,粗大誤差

一、測(cè)量誤差按性質(zhì)分類

1.系統(tǒng)誤差:系統(tǒng)誤差是測(cè)量系統(tǒng)本身所固有的因素引起的誤差。誤差源在測(cè)量之前就己存在,并在測(cè)量過(guò)程中始終以確定的規(guī)律影響著測(cè)量結(jié)果。系統(tǒng)誤差分為定值系統(tǒng)誤差和變值系統(tǒng)誤差。在相同的條件下,多次測(cè)量同一量時(shí).誤差的絕對(duì)值與符號(hào)保持不變,是定值系統(tǒng)誤差;或者在相同的條件下,按某一確定的規(guī)律變化,是變值系統(tǒng)誤差。2.隨機(jī)誤差:在相同條件下,多次重復(fù)測(cè)量同一量時(shí),誤差大小,方向不定。原因:溫度波動(dòng),振動(dòng),間隙和阻尼等

3.粗大誤差:超出規(guī)定條件下的允許限制的誤差。原因:主觀上的

疏忽——讀錯(cuò),記錯(cuò)和客觀上的條件突變。

二、隨機(jī)誤差的處理

1,隨機(jī)誤差的特點(diǎn)P16a)

單峰性,|vi|大的概率小,|vi|小概率大b)

對(duì)稱性,|vi|相等的正、負(fù)隨機(jī)誤差出現(xiàn)的概率相等c)

有限性,在一定測(cè)量條件下,隨機(jī)誤差的分布范圍是有限的我們一般多設(shè)定隨機(jī)誤差屬于正態(tài)分布或C、F、Gauss分布,圖1-7。以正態(tài)分布曲線的標(biāo)準(zhǔn)偏差作為評(píng)定指標(biāo)σ=

如圖所示,

<<標(biāo)準(zhǔn)偏差對(duì)隨機(jī)誤差分布特性的影響2.隨機(jī)誤差的處理

由概率論可知,多次測(cè)量的平均值殘余誤差

隨機(jī)誤差的標(biāo)準(zhǔn)偏差平均值的標(biāo)準(zhǔn)偏差式中,n—多次重復(fù)測(cè)得的次數(shù)。

真值的概率為9.73%。由于小概率的事件不會(huì)發(fā)生,所以認(rèn)定因此,測(cè)量結(jié)果另外,P16還講到的概率為68.27%。的概率為95.45%。

三、系統(tǒng)誤差的消除

對(duì)定值系統(tǒng)誤差和變值系統(tǒng)誤差分別討論1.定值系統(tǒng)誤差的發(fā)現(xiàn)與消除a)用更高精度儀器的測(cè)量值對(duì)比,加以修正。

b)(從測(cè)量方法考慮)采用抵消法。

例如:用雙頂尖打表法,測(cè)軸的半徑,這時(shí)存在安裝偏心Δ,對(duì)稱180°測(cè)兩個(gè)值a,b。則半徑,安裝偏心Δ就抵消了。

三個(gè)等重的砝碼

2.變值系統(tǒng)誤差的發(fā)現(xiàn)與消除

殘余誤差代數(shù)和檢驗(yàn):(這是一種近似檢驗(yàn)法)a)對(duì)測(cè)量值按測(cè)量順序排序:

x1,x2,x3---xj,xj+1,----xn;

分前、后兩組,取j

b)求測(cè)量的

平均值計(jì)算殘余誤差

(i=1-n)

C)(方法一)觀察法把殘余誤差(i=1-n)按測(cè)量順序排序,當(dāng)正負(fù)號(hào)不成規(guī)律且近似正負(fù)相間,則無(wú)變值系統(tǒng)誤差,線性變值系統(tǒng)誤差

周期性變值系統(tǒng)誤差

d)(方法二)計(jì)算法如果和二者相對(duì)殘余誤差近似為零,則無(wú)變值系統(tǒng)誤差由于線性和周期性變值系統(tǒng)誤差是常見(jiàn)的,用以上兩種方法容易發(fā)現(xiàn)。另外還有多種發(fā)現(xiàn)變值系統(tǒng)誤差的方法,這里就不講了,不過(guò)同學(xué)應(yīng)該知道,系統(tǒng)誤差的發(fā)現(xiàn)多為重大發(fā)現(xiàn)的前提??傊?,變值系差的消除:首先發(fā)現(xiàn)原因,再消除它,再重新測(cè)量處理

四、粗大誤差的判別與剔除

1.怎樣避免粗大誤差?1)加強(qiáng)工作責(zé)任心,2)保證工作環(huán)境良好(如恒溫冷色;園房角等,這是現(xiàn)在企業(yè)最不注意的)

2.粗大誤差判別與剔除(一般假定服從正態(tài)分布)a)

對(duì)|vi|直接用觀察法,可剔除明顯的粗大誤差。b)

3σ(sigma)準(zhǔn)則當(dāng)測(cè)量次數(shù)n≥50時(shí),若殘余誤差|vi|>3,則可以認(rèn)為它是粗大誤差而剔除。注意:ⅰ)這有概率問(wèn)題,它的可靠概率是99.73%ⅱ)當(dāng)測(cè)量次數(shù)n<

50時(shí),這個(gè)方法就不可靠了。

例如:n=10時(shí),,肯定的殘余誤差|vi|<3,其是粗大誤差的可靠概率比99.73%肯定小多了。對(duì)測(cè)量次數(shù)少的情形,有狄克遜準(zhǔn)則和肖維納準(zhǔn)則,我們看肖維勒準(zhǔn)則。

c)肖維勒(Chauvenet)準(zhǔn)則,假定服從正態(tài)分布,從P20圖1-11可知,在殘余誤差|vi|≥Zc時(shí),是粗大誤差的概率相應(yīng)的危率(錯(cuò)誤概率)=1-P=1/2nZc具體見(jiàn)P21的表1-5和例1-3n3456789101112Zc1.381.541.651.731.801.831.921.962.002.03n13

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