CPK-SPC-minitab操作培訓(xùn)教程

1統(tǒng)計(jì)過程控制S

PC

2SPC培訓(xùn)教程一、SPC基礎(chǔ)知識二、建立X-R控制圖的四步驟三、使用MINITAB進(jìn)行SPC的數(shù)據(jù)分析四、現(xiàn)實(shí)行SPC的案例五、如何達(dá)到SPC有效實(shí)施

3一、SPC基礎(chǔ)知識1、什么是SPC？2、質(zhì)量特性波動(dòng)因素3、控制圖基本原理—正態(tài)分布4、常規(guī)控制圖及其選用SPC即英文“StatisticalProcessControl”之縮寫,意為“統(tǒng)計(jì)制程控制”。

SPC主要是指應(yīng)用數(shù)理統(tǒng)計(jì)分析技術(shù)對生產(chǎn)過程進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)控，科學(xué)的區(qū)分出生產(chǎn)過程中產(chǎn)品質(zhì)量的隨機(jī)波動(dòng)與異常波動(dòng)，從而對生產(chǎn)過程的異常趨勢提出預(yù)警，以便生產(chǎn)管理人員及時(shí)采取措施，消除異常，恢復(fù)過程的穩(wěn)定，從而達(dá)到提高和控制質(zhì)量的目的?？刂茍D(ControlChart)：對過程質(zhì)量特性記錄評估，以監(jiān)察過程是否處于受控狀態(tài)的一種統(tǒng)計(jì)方法圖。

4什么是SPC？1、根據(jù)來源的不同,影響產(chǎn)品質(zhì)量的因素有6M

質(zhì)量特性波動(dòng)因素變差原因人Man機(jī)器Machine材料Material方法Method測量Measurement環(huán)境Mother-nature2、從對質(zhì)量影響的大小區(qū)分偶然原因：簡稱偶因，由偶因引起質(zhì)量偶然波動(dòng)簡稱偶波。偶波是不可避免的，但對質(zhì)量的影響很小。異常原因：簡稱異因，由異因引起質(zhì)量異常波動(dòng)簡稱異波，它對質(zhì)量影響大，且采取措施不難消除。但一旦發(fā)生，應(yīng)盡快找出，采取措施加以消除，并納入標(biāo)準(zhǔn)，保證不再出現(xiàn)。只有偶然因素沒有異常因素的狀態(tài)，稱為統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)，簡稱穩(wěn)態(tài)，是控制階段實(shí)施過程控制所追求的目標(biāo)。

6質(zhì)量特性波動(dòng)因素分布(distribution)：用來描述隨機(jī)現(xiàn)象的統(tǒng)計(jì)規(guī)律，說明兩個(gè)問題：變異的幅度有多大；出現(xiàn)這么大幅度的概率。計(jì)量特性值：如焊線推拉力、固晶推力、金球厚度、等連續(xù)性數(shù)據(jù)，最常見的是正態(tài)分布(normaldistribution)。計(jì)件特性值：如檢驗(yàn)合格/不合格兩種離散性數(shù)據(jù)，最常見的是二項(xiàng)分布(binomialdistribution)。

計(jì)點(diǎn)特性值：如單位芯片上外觀檢驗(yàn)缺陷數(shù)等離散性數(shù)據(jù)，最常見的是泊松分布(Poissondistribution)。

7正態(tài)分布

868.26%95.45%99.73%μ+1σ+2σ+3σ-1σ-2σ-3σ正態(tài)分布CCBBAA

9常規(guī)控制圖數(shù)據(jù)特征分布控制圖簡記備注計(jì)量值正態(tài)分布均值—極差圖X-R均值—標(biāo)準(zhǔn)差圖X-S單值—移動(dòng)極差圖I-MR計(jì)件值二項(xiàng)分布不合格品率圖P檢查產(chǎn)品中的不合格品數(shù)不合格品數(shù)圖NP計(jì)點(diǎn)值泊松分布單位產(chǎn)品平均缺陷數(shù)圖U例如每天檢查6個(gè)芯片上的缺陷點(diǎn)個(gè)數(shù)缺陷數(shù)控制圖C10控制圖選用流程

11二、建立X-R控制圖的四步驟12

X-R控制圖

控制圖示例:UpperControlLimitLowerControlLimitProcessAverageUpperSpecLimitLowerSpecLimit規(guī)格界限：是用以說明許可值，來保證各個(gè)單位產(chǎn)品的正確性能。控制界限：應(yīng)用于一群單位產(chǎn)品集體的量度，這種量度是從一群中各個(gè)單位產(chǎn)品所得觀測值中計(jì)算出來的。

13建立X-R控制圖的四步驟：A收集數(shù)據(jù)B計(jì)算控制限C過程控制解釋D過程能力解釋步驟A：收集數(shù)據(jù)Ａ階段收集數(shù)據(jù)A1選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù)子組大小子組頻率組數(shù)大小≥25A2建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù)A3計(jì)算每個(gè)子組的均值X和極差RA4選擇控制圖的刻度A5將均值和極差畫到控制圖上

14平均值X的計(jì)算：

15計(jì)算每個(gè)子組的平均值和極差R值的計(jì)算：eg.計(jì)算每組的平均值和極差22333極差98.210099.498.699.6平均99100999910159999101100100498100100979939710198999829810099981001

16Ｂ計(jì)算控制限B1計(jì)算平均極差及過程平均值B2計(jì)算和R的控制限B3在控制圖畫出

和R的控制線步驟B：計(jì)算控制限

17計(jì)算平均極差、過程均值和控制限

X控制圖R控制圖

18

19相關(guān)系數(shù)附表：d2、D3、D4、A2與樣本子組n有關(guān)

n2345678910d21.131.692.062.3262.532.72.852.973.08D3000000.02D43.272.572.282.1142.001.921.861.821.78A21.881.020.730.5770.480.420.370.340.31Ｃ過程控制解釋C1分析控制圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn)C2識別并標(biāo)注特殊原因C3重新計(jì)算控制界限超出控制限的點(diǎn)鏈明顯的非隨機(jī)圖形步驟C：過程控制解釋

20判異準(zhǔn)則一個(gè)點(diǎn)超出控制上下限。連續(xù)8點(diǎn)在中心線一側(cè)連續(xù)6個(gè)點(diǎn)穩(wěn)步上升或下降連續(xù)8點(diǎn)在中心線兩側(cè)，但沒有點(diǎn)落在一個(gè)內(nèi)連續(xù)3點(diǎn)中有2點(diǎn)在中心線同一側(cè)警戒線外（2個(gè)區(qū)域）連續(xù)5點(diǎn)中有4點(diǎn)在中心線同一側(cè)的一個(gè)外連續(xù)15個(gè)點(diǎn)在中心線的一個(gè)內(nèi)交替出現(xiàn)

211、一個(gè)點(diǎn)超出控制上下限2、連續(xù)8點(diǎn)在中心線一側(cè)3、連續(xù)6個(gè)點(diǎn)穩(wěn)步上升或下降4、連續(xù)8點(diǎn)在中心線兩側(cè)，但沒有點(diǎn)落在一個(gè)內(nèi)

220102030405060708090100123456789SubgroupPerformanceMeasure

7、連續(xù)15個(gè)點(diǎn)在中心線的C區(qū)內(nèi)交替出現(xiàn)6、連續(xù)5點(diǎn)中有4點(diǎn)在中心線同一側(cè)的C區(qū)外.5、連續(xù)3點(diǎn)中有2點(diǎn)在中心線同一側(cè)是的B區(qū)外

23超出控制限的點(diǎn)：出現(xiàn)一個(gè)或多個(gè)超出控制限的點(diǎn)零件間的差異性已經(jīng)變化（變大或變?。y量系統(tǒng)變化（如不同的檢驗(yàn)員或量具）測量系統(tǒng)沒有適當(dāng)?shù)姆直媪?。鏈：連續(xù)八點(diǎn)在平均值的一側(cè)或七點(diǎn)連續(xù)上升/下降過程均值已改變，也許還在變化測量系統(tǒng)已改變明顯非隨機(jī)圖形：如明顯的趨勢、周期性、數(shù)據(jù)點(diǎn)的分布在整個(gè)控制限內(nèi)、或子組內(nèi)的數(shù)據(jù)間有規(guī)律性等。數(shù)據(jù)經(jīng)過編輯過程或抽樣方法造成連續(xù)的分組中包含從兩個(gè)或多個(gè)具有明顯不同變化性的過程流的測量值。

24控制圖分析

25重新計(jì)算控制限在失控的原因被識別消除或制度化，應(yīng)重新計(jì)算控制限排除受特殊原因影響的子組，然后重新計(jì)算控制限注重新計(jì)算控制限之前一定要改變過程，以使特殊原因不會(huì)作為過程的一部分重現(xiàn)

QP-028A1《SPC管理程序》Ｄ過程能力解釋D1計(jì)算過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差D2計(jì)算過程能力指數(shù)CpkD3評價(jià)過程能力D4提高過程能力D5對修改的過程繪制控制圖并分析步驟D：過程能力解釋

2627計(jì)算過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差σ和能力指數(shù)CpkCpk：過程能力指數(shù)。計(jì)算Cpk兩個(gè)前提條件：條件1：過程輸出服從正態(tài)分布（MINITAB正態(tài)檢驗(yàn))條件2：過程處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)（X-R圖無出界點(diǎn))σ通常通過控制圖的R/d2來估計(jì)：

28

過程能力指數(shù)Cpk示意圖

規(guī)格下限LSL規(guī)格上限USL規(guī)格中心Mμ≠M(fèi)3σμ

29Cpk等級判定等級Cpk值處理原則A+1.67

≤

Cpk

無缺點(diǎn)考慮降低成本A1.33

≤

Cpk

≤1.67維持現(xiàn)狀B1

≤Cpk

≤1.33有缺點(diǎn)發(fā)生C0.67

≤

Cpk

≤

1

立即檢討改善D

Cpk

≤0.67采取緊急措施進(jìn)行品質(zhì)改善，并研討規(guī)格

30

客戶要求客戶產(chǎn)品類型測試項(xiàng)目Cpk備注AVAGOChip&PLCC產(chǎn)品固晶推力、金球推力一二焊、金線拉力正負(fù)極>1.5每兩周一次提供

X-R圖和CpkPhilips3014&3030固晶推力、金球推力一二焊、金線拉力正負(fù)極>1.33每兩周一次提供

X-R圖和CpkOsram5630固晶推力、金球推力一二焊、金線拉力正負(fù)極>1.66/BridgeluxXC35固晶推力、二極管推力、

金球推力ABCDE（ondie）、金線拉力ABCDE>1.33每次量產(chǎn)的批次，要求提供CPK

31三、使用MINITAB進(jìn)行SPC的數(shù)據(jù)分析

1、Minitab過程能力分析步驟2、Minitab正態(tài)性檢驗(yàn)步驟3、Minitab“六合一”的一條龍全流程raozhong@163.net32過程能力分析步驟1:

33過程能力分析步驟2:raozhong@163.net34過程能力分析步驟3:raozhong@163.net

35Minitab正態(tài)性檢驗(yàn)步驟1:Minitab正態(tài)性檢驗(yàn)步驟2:

36raozhong@163.net37P值=0.215＞0.05，數(shù)據(jù)服從正態(tài)分布Minitab正態(tài)性檢驗(yàn)步驟3:raozhong@163.net38Minitab“六合一”的一條龍全流程第1步：Minitab“六合一”的一條龍全流程第2步：

39raozhong@163.net40四、現(xiàn)實(shí)行SPC案例

41自3月份開始就進(jìn)行SPC改善專案的導(dǎo)入，

初始能力分析：確定控制上下限管控過程問題1：數(shù)據(jù)整體往上偏管控過程問題2：部分點(diǎn)超出控制線管控過程問題3-1：數(shù)據(jù)點(diǎn)趨勢圖不受控46管控過程問題3-2：數(shù)據(jù)點(diǎn)趨勢圖不受控7個(gè)點(diǎn)在中心線的一段問題點(diǎn)：1、數(shù)據(jù)整體往上偏2、部分點(diǎn)超出控制線3、數(shù)據(jù)點(diǎn)控制圖不受控主要原因分析：

機(jī)器經(jīng)常需要改機(jī)做不同類型的產(chǎn)品，改機(jī)導(dǎo)致機(jī)器不穩(wěn)定，造成了對同一種類型產(chǎn)品在不同時(shí)間難以實(shí)現(xiàn)達(dá)到相同的管控限?，F(xiàn)異常處理方式：調(diào)試設(shè)備以達(dá)到統(tǒng)計(jì)受控狀態(tài)

47問題分析管控過程關(guān)鍵問題：調(diào)試機(jī)臺(tái)過程耗時(shí)耗人力單靠調(diào)試設(shè)備達(dá)到穩(wěn)態(tài)，這樣的管控方式使得耗費(fèi)增加！

49調(diào)試設(shè)備過程的問題品質(zhì)成本提高影響生產(chǎn)效率耗費(fèi)材料占用人力資源

50需要反思的三點(diǎn)1、執(zhí)行主導(dǎo)者對于SPC的理解需要深入2、SPC管控過程應(yīng)該怎樣規(guī)范？3、當(dāng)出現(xiàn)異常應(yīng)該怎樣處理？

51五、如何達(dá)到SPC有效實(shí)施1、管理層的認(rèn)識和重視

在實(shí)施SPC的各階段都要得到管理層的支持，如在實(shí)施SPC的初期階段要安排培訓(xùn)，這需要資金與時(shí)間，需要管理層協(xié)調(diào)安排。在實(shí)施過程中有些過程需