半導(dǎo)體器件物理施敏第四章的知識(shí)_第1頁
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第4章PN結(jié)4.1基本工藝步驟4.2熱平衡狀態(tài)4.3耗盡層4.4耗盡層勢(shì)壘電容4.5電流-電壓特性4.6電荷儲(chǔ)存與暫態(tài)響應(yīng)4.7結(jié)擊穿4.8異質(zhì)結(jié)本章主題電特性和物理特性上p-n結(jié)的形成在偏壓下,結(jié)耗盡層的特性電流在p-n結(jié)的輸運(yùn),產(chǎn)生及復(fù)合對(duì)其的影響p-n結(jié)的電荷儲(chǔ)存對(duì)其暫態(tài)響應(yīng)的影響發(fā)生在p-n結(jié)的雪崩倍增及其對(duì)最大反向電壓的影響異質(zhì)結(jié)及其基本特性4.1基本工藝步驟PN結(jié)是同一塊半導(dǎo)體晶體內(nèi)P型區(qū)和N型區(qū)之間的邊界PN結(jié)是各種半導(dǎo)體器件的基礎(chǔ),了解它的工作原理有助于更好地理解器件基本工藝步驟1氧化2圖形曝光3擴(kuò)散和離子注入4金屬化4.2熱平衡狀態(tài)p-n結(jié):整流性VBI/mAv/V反向擊穿正向?qū)軒DpnECECEFEFEVEV形成結(jié)前均勻摻雜p和n半導(dǎo)體pn+++---EECEC漂移擴(kuò)散EFEFEVEV擴(kuò)散漂移熱平衡時(shí),在耗盡區(qū)電場(chǎng)p-n結(jié)能帶圖平衡費(fèi)米能級(jí)開始,N區(qū)中存在高濃度的電子,P區(qū)中存在高濃度的空穴。然后,載流子互相擴(kuò)散,分別留下ND+和NA-。這樣一來,產(chǎn)生了一個(gè)電場(chǎng)BJ阻止它們的繼續(xù)擴(kuò)散。在平衡態(tài),擴(kuò)散=漂移,BJ

=常數(shù)電荷和電勢(shì)分布滿足Poisson方程:pn++++----內(nèi)建電勢(shì)內(nèi)建電勢(shì)概念在熱平衡時(shí)p型和n型中性區(qū)的總靜電勢(shì)差注意:PN結(jié)的內(nèi)建電勢(shì)決定于摻雜濃度ND、NA、材料禁帶寬度以及工作溫度空間電荷由中性區(qū)移動(dòng)到結(jié)會(huì)遇到一窄小的過度區(qū),這些摻雜離子的空間電荷部分被移動(dòng)載流子補(bǔ)償,越過了過度區(qū),進(jìn)入移動(dòng)載流子濃度為零的完全耗盡區(qū),這個(gè)區(qū)域稱為耗盡區(qū)在p=n=0兩個(gè)重要列子1突變結(jié)2線性緩變結(jié)4.3耗盡區(qū)

4.3.1突變結(jié)電場(chǎng)電勢(shì)分布耗盡層近似假定:ND,NA是常數(shù)耗盡層近似Possion方程耗盡層近似總耗盡層寬度為:N區(qū)有:P區(qū):電場(chǎng)隨x線性變化,在x=0時(shí)達(dá)最大值:電勢(shì)分布P-N和P+N結(jié)耗盡層寬度單邊突變結(jié)相關(guān)公式在P+N結(jié)中,NA>>ND,xp<<xn在n+p結(jié),ND>>NA,Xn<<Xp4.3.2線性緩變結(jié)線性緩變結(jié)相關(guān)公式熱平衡時(shí),Possion方程電場(chǎng)為在x=0處,最大電場(chǎng)為內(nèi)建電勢(shì)耗盡區(qū)寬度4.4耗盡層勢(shì)壘電容單位面積耗盡層勢(shì)壘電容定義(其中dQ是外加偏壓變化dv時(shí),單位面積耗盡層的增量)冶金結(jié)ppnV+dvwxdQ0dvdE=dQ/a圖B圖C圖反向偏壓下任意雜質(zhì)p-n結(jié)空間電荷隨外加偏壓的影響相對(duì)應(yīng)的電場(chǎng)分布變化兩種結(jié)勢(shì)壘電容公式單邊突變結(jié)線性緩變結(jié)變?nèi)萜髟S多電路應(yīng)用p-n結(jié)在反向偏壓電壓變化特性,達(dá)此目的的p-n結(jié)稱為變?nèi)萜鞣聪蚱珘簞?shì)壘電容其中對(duì)線性緩變結(jié)n=1/3,突變結(jié)n=1/2,超突變結(jié)n>1/2電壓靈敏度:超突變結(jié)>突變結(jié)>線性緩變結(jié)p+nVR超突變結(jié)m=-3/2線性緩變結(jié)m=1突變結(jié)m=0三種結(jié)的雜質(zhì)分布耗盡區(qū)寬度和反向偏壓的關(guān)系w(VR)1/(m+2)4.5電流電壓特性理想電流電壓特性基于如下假設(shè)1耗盡區(qū)為突變邊界,邊界之外為電中性2在邊界的載流子濃度和靜電電勢(shì)有關(guān)3小注入情況,(在中性區(qū)邊界,多數(shù)載流子因加上偏壓改變的量可忽略)4在耗盡區(qū)內(nèi)無產(chǎn)生和復(fù)合電流,空穴電子為常數(shù)4.5.1理想情況耗盡區(qū)邊界的少數(shù)載流子濃度總電流是常數(shù)穩(wěn)態(tài)連續(xù)方程:上式稱為理想二極管方程式JS是飽和電流密度,理想電流-電壓特性如圖J/JS正向偏壓反向偏壓直角坐標(biāo)半對(duì)數(shù)坐標(biāo)正向偏壓反向偏壓4.5.2產(chǎn)生復(fù)合與大注入影響在反向偏壓下,在耗盡區(qū)產(chǎn)生電流,w為耗盡區(qū)寬度總反向電流產(chǎn)生復(fù)合與大注入影響正向偏壓產(chǎn)生復(fù)合與大注入影響Et=Ei時(shí)當(dāng)產(chǎn)生復(fù)合與大注入影響對(duì)于v>3kT/q復(fù)合電流串聯(lián)電阻和大注人效應(yīng)串聯(lián)大注入在n端pn=nn電流正比于增長(zhǎng)較緩慢4.5.3溫度影響擴(kuò)散和復(fù)合產(chǎn)生電流大小和溫度有關(guān)硅二極管I,V和溫度的關(guān)系正向偏壓反向偏壓2251751257525VF/VVR/V2251751257525對(duì)于一擴(kuò)散電流占優(yōu)勢(shì)的單邊p+-n,飽和電流密度JS和溫度關(guān)系對(duì)p+-n結(jié)在反向偏壓4.6電荷儲(chǔ)存與暫態(tài)效應(yīng)少數(shù)載流子的儲(chǔ)存擴(kuò)散電容概念當(dāng)結(jié)處于正向偏壓,中性區(qū)儲(chǔ)存電荷的重新排列,對(duì)結(jié)電容會(huì)產(chǎn)生附加電容理想二極管電導(dǎo)GP-N結(jié)小信號(hào)等效電路VIICdCjG暫態(tài)響應(yīng)+-VFI基本開關(guān)電路-+VRIFIRtoff0.1IR由正向偏壓到反向暫態(tài)響應(yīng)4.7PN結(jié)的電擊穿擊穿機(jī)制:雪崩擊穿隧道擊穿一載流子產(chǎn)生雪崩擊穿條件雪崩擊穿通用公式單邊突變結(jié)線性緩變結(jié)硅擴(kuò)散結(jié)的雪崩擊穿電壓判斷條件考慮邊緣效應(yīng)的通用公式隧道擊穿隧道穿透幾率P:隧道長(zhǎng)度:隧道擊穿:VB<4Eg/q雪崩擊穿:VB>6Eg/q4.8異質(zhì)結(jié)不同材料組成的結(jié)ECEC1EF1EVqx1qqx1qEg2EC2EF2EV2EV1真空能級(jí)兩個(gè)分離半導(dǎo)體能帶圖異質(zhì)結(jié)

vbiVb2Vb1qx2qECqx2qEC1EF1EC2EF2EV2Eg2Vb2EVEV1Eg1Vb1X1X2熱平衡時(shí),理想p-n異質(zhì)結(jié)能帶圖兩個(gè)假設(shè)1熱平衡界面兩端費(fèi)米能級(jí)相同2真空能級(jí)必須連續(xù),且平行于能帶邊緣總內(nèi)建電勢(shì)耗盡區(qū)寬度作業(yè)51畫出pn結(jié)在零偏、正偏和反偏時(shí)的能帶圖2P124:3(a)(c)

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