測(cè)井解釋-電阻率測(cè)井課件

第三章電阻率測(cè)井一、普通電阻率測(cè)井二、側(cè)向測(cè)井1ppt課件第三章電阻率測(cè)井一、普通電阻率測(cè)井1ppt課件第三章電阻率測(cè)井

利用巖石的導(dǎo)電性（電阻率或電導(dǎo)率）研究地層的一類(lèi)測(cè)井方法稱(chēng)為電阻率測(cè)井。

巖石的電阻率與巖性、儲(chǔ)集物性、含油性有密切的關(guān)系，所以通過(guò)研究巖石的電阻率的差異就可以區(qū)分巖性、劃分儲(chǔ)集層并評(píng)價(jià)含油氣性、進(jìn)行地層對(duì)比2ppt課件第三章電阻率測(cè)井利用巖石的導(dǎo)電性（電阻率或電導(dǎo)率一、普通電阻率測(cè)量原理1、實(shí)驗(yàn)室測(cè)量巖石電阻率實(shí)驗(yàn)室測(cè)量巖石電阻率方法：通過(guò)測(cè)量流過(guò)巖樣的電流I和MN之間的電位差，由歐姆定律確定巖樣MN之間的電阻.3ppt課件一、普通電阻率測(cè)量原理1、實(shí)驗(yàn)室測(cè)量巖石電阻率3ppt課件一、普通電阻率測(cè)量原理1、實(shí)驗(yàn)室測(cè)量巖石電阻率由實(shí)驗(yàn)室測(cè)量巖石電阻率方法可知：

1）要測(cè)量電阻率，必須供電，形成人工電場(chǎng)；

2）研究電場(chǎng)分布規(guī)律，確定電場(chǎng)參數(shù)與電阻率的關(guān)系；

3）測(cè)量電場(chǎng)參數(shù)，根據(jù)電場(chǎng)參數(shù)與電阻率的關(guān)系，得到電阻率。4ppt課件一、普通電阻率測(cè)量原理1、實(shí)驗(yàn)室測(cè)量巖石電阻率4ppt課件一、普通電阻率測(cè)量原理2、普通電阻率測(cè)量原理

普通電阻率測(cè)井的測(cè)量方法與巖樣的測(cè)量原理是極其相似的；但井內(nèi)電場(chǎng)與電位的分布很復(fù)雜；與R之的關(guān)系也很復(fù)雜。供電電極：A、B

測(cè)量電極：M、N

有一個(gè)在地面（如圖為N），其余在井下，構(gòu)成電極系，電極距L=AM5ppt課件一、普通電阻率測(cè)量原理2、普通電阻率測(cè)量原理5ppt課件一、普通電阻率測(cè)量原理2、普通電阻率測(cè)量原理電阻率表達(dá)式：

K—電極系系數(shù)，只與電極系結(jié)構(gòu)有關(guān)

I—電流測(cè)量即可確定介質(zhì)電阻率6ppt課件一、普通電阻率測(cè)量原理2、普通電阻率測(cè)量原理6ppt課件一、普通電阻率測(cè)量原理2、普通電阻率測(cè)量原理測(cè)量時(shí)，3個(gè)電極放入井中，1個(gè)(B或N)留在地面。提升過(guò)程中，地面儀器記錄沿井身的電位差變化曲線，該電位差不僅與地層的Rt有關(guān)，而且還與井眼流體、侵入帶、圍巖的電阻率有關(guān)。故該電位差經(jīng)刻度后，得到視電阻率Ra。7ppt課件一、普通電阻率測(cè)量原理2、普通電阻率測(cè)量原理7ppt課件二、電極系分類(lèi)

成對(duì)電極：把電極系中接在同一線路中的電極叫成對(duì)電極：MN。不成對(duì)電極：把和地面電極接在同一線路中的電極叫不成對(duì)電極：AB。8ppt課件二、電極系分類(lèi)成對(duì)電極：把電極系中接在同一線路中二、電極系分類(lèi)1、電位電極系

不成對(duì)電極到靠近它的那個(gè)成對(duì)電極之間的距離小于成對(duì)電極之間的距離（AM<MN）的電極系。電位電極系9ppt課件二、電極系分類(lèi)1、電位電極系電位電極系9ppt課件二、電極系分類(lèi)1、電位電極系

電位電極系視電阻率曲線特征：

a、半幅點(diǎn)之間的距離與地層的厚度及電阻率有關(guān)。Rt>Rs，且h>>L，半幅點(diǎn)距離=h-L；其它情況下，半幅點(diǎn)距離=h+L。

b、曲線極值對(duì)應(yīng)于地層重點(diǎn)且最接近于Rt。10ppt課件二、電極系分類(lèi)1、電位電極系10ppt課件二、電極系分類(lèi)2、梯度電極系不成對(duì)電極到靠近它的那個(gè)成對(duì)電極之間的距離大于成對(duì)電極之間的距離（AM>MN）的電極系。梯度電極系11ppt課件二、電極系分類(lèi)2、梯度電極系梯度電極系11ppt課件二、電極系分類(lèi)2、梯度電極系梯度電極系視電阻率曲線特征：

a、在層界面處曲線出現(xiàn)極值。

b、h>3L時(shí)（厚層），地層中部直線處Ra近似等于Rt。

c、h=1—3L時(shí)（中厚層），曲線的形狀與層厚基本相同，所不同的是h變小時(shí)，中部的直線逐漸變短直至消失，扣除巖層頂或底一個(gè)電極范圍內(nèi)的曲線，取面積平均值，其Ra近似等于Rtd、h<L時(shí)（薄層），其極值最接近Rt12ppt課件二、電極系分類(lèi)2、梯度電極系12ppt課件三、普通電阻率測(cè)井影響因素1、電極系的影響電極矩不同時(shí)，探測(cè)范圍不同，測(cè)量結(jié)果不同（L小時(shí)，主要測(cè)量Rm和Ri；L太大時(shí)，受?chē)鷰r影響）2、井眼的影響井眼的大小、泥漿電阻率決定了探測(cè)范圍內(nèi)各種介質(zhì)對(duì)測(cè)量結(jié)果的貢獻(xiàn)的大小13ppt課件三、普通電阻率測(cè)井影響因素1、電極系的影響13ppt課件三、普通電阻率測(cè)井影響因素3、層厚與圍巖的影響地層厚度h、圍巖電阻率與Rt的差異的大小、層厚變薄，低阻圍巖對(duì)測(cè)量結(jié)果貢獻(xiàn)增大4、侵入的影響低侵（一般在油層）、高侵（一般在水層）與di、Ri有關(guān)5、高阻鄰層的屏蔽影響高阻鄰層的屏蔽改變了電流的分布及地流密度14ppt課件三、普通電阻率測(cè)井影響因素3、層厚與圍巖的影響14ppt課件四、視電阻率曲線的應(yīng)用1、劃分巖性剖面不同巖性地層的Rt不同，反映Rt的視電阻率Ra也不同，所以Ra曲線可用來(lái)劃分巖性，以地區(qū)經(jīng)驗(yàn)為基礎(chǔ)。2、層界面的確定梯度電極系依據(jù)極值確定層界面，電位電極系依據(jù)半幅點(diǎn)的位置來(lái)確定層界面15ppt課件四、視電阻率曲線的應(yīng)用1、劃分巖性剖面15ppt課件四、視電阻率曲線的應(yīng)用3、確定巖層真電阻率Rt1）正確讀取巖層的視電阻率值Ra：電位電極系對(duì)應(yīng)地層中部取極值；梯度電極系：厚層在中部取值，中厚層在底部/頂部Ra上扣除距頂部/底部界面一個(gè)電極距后用面積平均法取值，薄層取極值。

2）對(duì)Ra做相應(yīng)的校正（井眼、層厚、侵入等），每一種儀器在不同情況下，采用不同的圖版或經(jīng)驗(yàn)公式進(jìn)行校正。16ppt課件四、視電阻率曲線的應(yīng)用3、確定巖層真電阻率Rt16ppt課件第三章電阻率測(cè)井一、普通電阻率測(cè)井二、側(cè)向測(cè)井17ppt課件第三章電阻率測(cè)井一、普通電阻率測(cè)井17ppt課件普通電阻率測(cè)井的弱點(diǎn)

在高礦化度泥漿、地層為高阻薄層、且有侵入的情況下，其電流主要分布在井眼及圍巖之中，使其測(cè)量結(jié)果不能反映目的層的電阻率。18ppt課件普通電阻率測(cè)井的弱點(diǎn)在高礦化度泥漿、地層為高阻薄改進(jìn)思路

采用屏蔽電流控制主電流的流路（路徑）使影響減至最小——發(fā)展側(cè)向測(cè)井。目前側(cè)向測(cè)井包括：三側(cè)向、七側(cè)向、雙側(cè)向、微側(cè)向等。19ppt課件改進(jìn)思路采用屏蔽電流控制主電流的流路（路徑）使影一、三電極側(cè)向測(cè)井1、測(cè)量原理A0——主電極A1、A2——屏蔽電極B1、B2——回路電極電極系中有三個(gè)柱狀電極（回路電極除外）。主電極較短，屏蔽電極較長(zhǎng)。淺三測(cè)向的屏蔽電極較深三測(cè)向的短。淺三測(cè)向的回路電極離屏蔽電極較近，深三測(cè)向的回路電極離屏蔽電極較遠(yuǎn)。20ppt課件一、三電極側(cè)向測(cè)井1、測(cè)量原理20ppt課件一、三電極側(cè)向測(cè)井1、測(cè)量原理測(cè)井過(guò)程中，A1、A0、A2具有相同有極性和電位且與B的極性相反。深、淺三側(cè)向的電流側(cè)向流入地層。深三側(cè)向的主電流能流入到地層較深的地方才開(kāi)始發(fā)散。這主要是屏蔽電極長(zhǎng)，回路電極遠(yuǎn)，聚焦能力強(qiáng)所導(dǎo)致的。21ppt課件一、三電極側(cè)向測(cè)井1、測(cè)量原理21ppt課件一、三電極側(cè)向測(cè)井1、測(cè)量原理測(cè)井過(guò)程中，A1、A0、A2具有相同有極性和電位且與B的極性相反。深、淺三側(cè)向的電流側(cè)向流入地層。淺三側(cè)向的主電流流入到地層后不久就發(fā)散，這主要是屏蔽電極短，回路電極近，聚焦能力差所決定的。22ppt課件一、三電極側(cè)向測(cè)井1、測(cè)量原理22ppt課件一、三電極側(cè)向測(cè)井1、測(cè)量原理電阻率：

K—電極系系數(shù)（一般由實(shí)驗(yàn)或理論計(jì)算確定）

I0—主電極強(qiáng)度。

ΔU—主電極與無(wú)限遠(yuǎn)處的電位差23ppt課件一、三電極側(cè)向測(cè)井1、測(cè)量原理23ppt課件一、三電極側(cè)向測(cè)井2、測(cè)井曲線特點(diǎn)

1）高阻層Ra增大，比普通電阻率曲線更接近Rt。

2）上下圍巖電阻率相等時(shí)Ra對(duì)稱(chēng)于高阻層中部，應(yīng)取地層中部的Ra（極值）作為地層的Ra。

3）高阻鄰層影響很小。24ppt課件一、三電極側(cè)向測(cè)井2、測(cè)井曲線特點(diǎn)24ppt課件一、三電極側(cè)向測(cè)井3、影響因素

1）井眼和泥漿的影響井眼的影響由井眼的直徑及流體的電阻率所決定，當(dāng)井內(nèi)的電阻率較低時(shí)，且直徑不是很大時(shí)，井眼影響小。

2）泥餅的影響

泥餅的影響由泥餅的厚度（hmc）、和泥餅的電阻率（Rmc）所決定。通常hmc很小，其對(duì)測(cè)量影響很小。25ppt課件一、三電極側(cè)向測(cè)井3、影響因素25ppt課件一、三電極側(cè)向測(cè)井3、影響因素

3）泥漿侵入的影響

影響的大小由侵入深度（di）侵入帶的電阻率（Ri）所決定。

4）圍巖的影響

圍巖影響的大小由地層的厚度（h）和圍巖的電阻率（Rs）所決定。當(dāng)h<4倍主電流層的厚度時(shí)，影響較低大，主要是影響電流的分布，即主電流層包含了非目的層（圍巖），圍巖電阻率低時(shí)，分流嚴(yán)重，使RLL3不能很好地反映目的層的Rt

26ppt課件一、三電極側(cè)向測(cè)井3、影響因素26ppt課件一、三電極側(cè)向測(cè)井4、測(cè)井資料的應(yīng)用

1）劃分巖性并決定層界面的位置（以地區(qū)經(jīng)驗(yàn)為基礎(chǔ)）

2）識(shí)別滲透層在滲透層處兩條曲線（深三側(cè)向、淺三側(cè)向）出現(xiàn)差異，這主要是由于濾液與地層流體的差別所引起的。27ppt課件一、三電極側(cè)向測(cè)井4、測(cè)井資料的應(yīng)用27ppt課件一、三電極側(cè)向測(cè)井4、測(cè)井資料的應(yīng)用

3）判斷油氣水層僅用深三側(cè)向：油氣層的RLL3高，水層的RLL3小（以地區(qū)經(jīng)驗(yàn)為基礎(chǔ)）。用深三側(cè)向與淺三側(cè)向的差值進(jìn)行判別：一般情況下（中、低礦化度）；油層為正差異，水層為負(fù)差異。28ppt課件一、三電極側(cè)向測(cè)井4、測(cè)井資料的應(yīng)用28ppt課件一、三電極側(cè)向測(cè)井4、測(cè)井資料的應(yīng)用

4）確定地層電阻率

a）僅用深三側(cè)向的視電阻率確定Rt：

Ⅰ對(duì)應(yīng)于地層中部讀取極值；

Ⅱ?qū)ζ渥飨鄳?yīng)的影響因素校正。＊根據(jù)儀器的型號(hào)、測(cè)井時(shí)的環(huán)境選擇相應(yīng)的專(zhuān)用圖版或經(jīng)驗(yàn)公式。

b）用淺三側(cè)向的視電阻率確定Ri:Ⅰ對(duì)應(yīng)于地層中部讀取極值；

Ⅱ?qū)ζ渥飨鄳?yīng)的影響因素的校正。

29ppt課件一、三電極側(cè)向測(cè)井4、測(cè)井資料的應(yīng)用29ppt課件一、三電極側(cè)向測(cè)井

三側(cè)向測(cè)井與普通電阻率測(cè)井相比，受井眼、圍巖的影響要小得多。但仍有弱點(diǎn)：

1）深三側(cè)向測(cè)井的探測(cè)深度不夠深。三側(cè)向測(cè)井是通過(guò)加長(zhǎng)屏蔽電極來(lái)增強(qiáng)聚焦能力，提高探測(cè)深度，而理論與實(shí)驗(yàn)結(jié)果都表明：隨屏蔽電極的加長(zhǎng)，探測(cè)深度加深，當(dāng)屏蔽電極加長(zhǎng)到一定的度度之后，再進(jìn)一步加長(zhǎng)屏蔽電極對(duì)聚焦效果的改善不明顯。

2）淺三側(cè)向的探測(cè)深度不夠淺。改進(jìn)的思路：改變電極系的結(jié)構(gòu)和聚焦方式從而以展了七側(cè)向測(cè)井。。

30ppt課件一、三電極側(cè)向測(cè)井三側(cè)向測(cè)井與普通電阻二、七電極側(cè)向測(cè)井1、測(cè)量原理七測(cè)向測(cè)井的電極系結(jié)構(gòu)

A0—主電極

A1、A2—屏蔽電極

M1、M2、M1’、M2’—監(jiān)督電極電極系距:L=O1O2

電極系長(zhǎng)度:L0=A1A2

電極系分布比：S=L0/L

記錄點(diǎn)：A0的中點(diǎn)。

31ppt課件二、七電極側(cè)向測(cè)井1、測(cè)量原理31ppt課件二、七電極側(cè)向測(cè)井1、測(cè)量原理測(cè)量過(guò)程中：A1、A0、A2的極性相同;主電流強(qiáng)度Ｉ0不變，通過(guò)自動(dòng)調(diào)節(jié)電路調(diào)整Is的大小使Um1=Um1’,Um2=Um2’,即使主電流Io側(cè)向流入地層之中.深淺七側(cè)向的電極系分布比S不同，聚絲能力不同。深七側(cè)向的主電流能流入到地層的深部，而淺七側(cè)向的主電流進(jìn)入地層后不久就開(kāi)始發(fā)散。探測(cè)范圍不同。深七側(cè)向的深度較大,測(cè)得的RLL7主要反映Rt,而淺七側(cè)向的探測(cè)深度較小,測(cè)得的RLL7主要反映Ri．

32ppt課件二、七電極側(cè)向測(cè)井1、測(cè)量原理32ppt課件二、七電極側(cè)向測(cè)井1、測(cè)量原理電阻率：

K—電極系系數(shù)（一般由實(shí)驗(yàn)或理論計(jì)算確定）

I0—主電極強(qiáng)度ΔU—M1與N(無(wú)限遠(yuǎn)處)的電位差。33ppt課件二、七電極側(cè)向測(cè)井1、測(cè)量原理33ppt課件二、七電極側(cè)向測(cè)井2、測(cè)井曲線特點(diǎn)特點(diǎn)與三側(cè)向類(lèi)似，七側(cè)向與三側(cè)向探測(cè)特性的差別：深七側(cè)向的探測(cè)深度比深三側(cè)向大。淺七側(cè)向的探測(cè)深度比淺三側(cè)向小34ppt課件二、七電極側(cè)向測(cè)井2、測(cè)井曲線特點(diǎn)34ppt課件二、七電極側(cè)向測(cè)井3、影響因素與三側(cè)向類(lèi)似，所不同的是依探測(cè)深度的不同所受影響大小不同4、測(cè)井資料的應(yīng)用

與三側(cè)向類(lèi)似，35ppt課件二、七電極側(cè)向測(cè)井3、影響因素35ppt課件三、雙側(cè)向測(cè)井

三側(cè)向測(cè)井的深度不夠深，其測(cè)量結(jié)果受井眼及泥漿侵入的影響較大，但分辨高（主電流層?。?，且深、淺三側(cè)向的主電流層厚度基本相同，有利于對(duì)比分析。（深淺之間的比較分析油氣水層）。

七側(cè)向測(cè)井的探測(cè)深度略有增大，但還不夠深，而且深、淺七側(cè)向的電流層厚度不同,不利于對(duì)比分析。

改進(jìn)思路：

加大探測(cè)深度，減小井眼及泥漿侵入的影響。使深淺探測(cè)的主電流層厚度相同，且受?chē)鷰r和影響小。

36ppt課件三、雙側(cè)向測(cè)井三側(cè)向測(cè)井的深度不夠深，其三、雙側(cè)向測(cè)井1、測(cè)量原理電極的結(jié)構(gòu)及電流分布：電極的數(shù)目：9個(gè)電極的形狀:Ao、A1、A1’為環(huán)狀；

A2、A2’為柱。

37ppt課件三、雙側(cè)向測(cè)井1、測(cè)量原理37ppt課件三、雙側(cè)向測(cè)井1、測(cè)量原理電極的極性：深側(cè)向：

A2與A1的極性相同；淺側(cè)向：

A2與A1的極性相反。因此，深側(cè)向的探測(cè)深度較深七側(cè)向的還大。而淺側(cè)向的探測(cè)深度與淺七側(cè)向的差不多。

38ppt課件三、雙側(cè)向測(cè)井1、測(cè)量原理38ppt課件三、雙側(cè)向測(cè)井1、測(cè)量原理深、淺側(cè)向的電極的大小、形狀、位置完全相同。所以主電流層的厚度完全相同，有利于對(duì)比。主電流層的厚度略大于三側(cè)向。39ppt課件三、雙側(cè)向測(cè)井1、測(cè)量原理39ppt課件三、雙側(cè)向測(cè)井1、測(cè)量原理電阻率：

K—電極系系數(shù)（一般由實(shí)驗(yàn)或理論計(jì)算確定）

I0—主電極強(qiáng)度

ΔU—M1與N(無(wú)限遠(yuǎn)處)的電位差。40ppt課件三、雙側(cè)向測(cè)井1、測(cè)量原理40ppt課件四、三、七、雙側(cè)向?qū)Ρ?、探測(cè)深度：

1）深探測(cè)方面：三側(cè)向最小，雙側(cè)向中的深側(cè)向最大，七側(cè)向次之。

2）淺側(cè)向方面：淺側(cè)向與淺七側(cè)向的相差不多且較小，淺三側(cè)向的較大。

41ppt課件四、三、七、雙側(cè)向?qū)Ρ?、探測(cè)深度：41ppt課件四、三、七、雙側(cè)向?qū)Ρ?、縱向分層能力：三側(cè)向的分層能力最好（層厚：0.4～0.5m）七側(cè)向與雙側(cè)向相同且較三側(cè)向差。42ppt課件四、三、七、雙側(cè)向?qū)Ρ?、縱向分層能力：42ppt課件四、三、七、雙側(cè)向?qū)Ρ?、影響因素：

影響因素相同，但影響的大小不同。三側(cè)向受井眼、圍巖及侵入的影響最大，且深、淺三側(cè)向的探測(cè)深度差不大，不利于對(duì)比分析。雙側(cè)向受井眼、侵入的影響最小，且深、淺側(cè)向的電流層厚度相同有利于對(duì)比分析。七側(cè)向介于三側(cè)向和雙側(cè)向之間，且深、淺七側(cè)向的主電流厚度不同不利于對(duì)比。43ppt課件四、三、七、雙側(cè)向?qū)Ρ?、影響因素：43ppt課件四、三、七、雙側(cè)向?qū)Ρ?、曲線特點(diǎn)：

曲線特點(diǎn)基本相同。5、應(yīng)用：

基本相同，只是效果不同。6、應(yīng)用的有利條件：

鹽水泥漿，高阻地層。44ppt課件四、三、七、雙側(cè)向?qū)Ρ?、曲線特點(diǎn)：44ppt課件第三章電阻率測(cè)井一、普通電阻率測(cè)井二、側(cè)向測(cè)井45ppt課件第三章電阻率測(cè)井一、普通電阻率測(cè)井1ppt課件第三章電阻率測(cè)井

利用巖石的導(dǎo)電性（電阻率或電導(dǎo)率）研究地層的一類(lèi)測(cè)井方法稱(chēng)為電阻率測(cè)井。

巖石的電阻率與巖性、儲(chǔ)集物性、含油性有密切的關(guān)系，所以通過(guò)研究巖石的電阻率的差異就可以區(qū)分巖性、劃分儲(chǔ)集層并評(píng)價(jià)含油氣性、進(jìn)行地層對(duì)比46ppt課件第三章電阻率測(cè)井利用巖石的導(dǎo)電性（電阻率或電導(dǎo)率一、普通電阻率測(cè)量原理1、實(shí)驗(yàn)室測(cè)量巖石電阻率實(shí)驗(yàn)室測(cè)量巖石電阻率方法：通過(guò)測(cè)量流過(guò)巖樣的電流I和MN之間的電位差，由歐姆定律確定巖樣MN之間的電阻.47ppt課件一、普通電阻率測(cè)量原理1、實(shí)驗(yàn)室測(cè)量巖石電阻率3ppt課件一、普通電阻率測(cè)量原理1、實(shí)驗(yàn)室測(cè)量巖石電阻率由實(shí)驗(yàn)室測(cè)量巖石電阻率方法可知：

1）要測(cè)量電阻率，必須供電，形成人工電場(chǎng)；

2）研究電場(chǎng)分布規(guī)律，確定電場(chǎng)參數(shù)與電阻率的關(guān)系；

3）測(cè)量電場(chǎng)參數(shù)，根據(jù)電場(chǎng)參數(shù)與電阻率的關(guān)系，得到電阻率。48ppt課件一、普通電阻率測(cè)量原理1、實(shí)驗(yàn)室測(cè)量巖石電阻率4ppt課件一、普通電阻率測(cè)量原理2、普通電阻率測(cè)量原理

普通電阻率測(cè)井的測(cè)量方法與巖樣的測(cè)量原理是極其相似的；但井內(nèi)電場(chǎng)與電位的分布很復(fù)雜；與R之的關(guān)系也很復(fù)雜。供電電極：A、B

測(cè)量電極：M、N

有一個(gè)在地面（如圖為N），其余在井下，構(gòu)成電極系，電極距L=AM49ppt課件一、普通電阻率測(cè)量原理2、普通電阻率測(cè)量原理5ppt課件一、普通電阻率測(cè)量原理2、普通電阻率測(cè)量原理電阻率表達(dá)式：

K—電極系系數(shù)，只與電極系結(jié)構(gòu)有關(guān)

I—電流測(cè)量即可確定介質(zhì)電阻率50ppt課件一、普通電阻率測(cè)量原理2、普通電阻率測(cè)量原理6ppt課件一、普通電阻率測(cè)量原理2、普通電阻率測(cè)量原理測(cè)量時(shí)，3個(gè)電極放入井中，1個(gè)(B或N)留在地面。提升過(guò)程中，地面儀器記錄沿井身的電位差變化曲線，該電位差不僅與地層的Rt有關(guān)，而且還與井眼流體、侵入帶、圍巖的電阻率有關(guān)。故該電位差經(jīng)刻度后，得到視電阻率Ra。51ppt課件一、普通電阻率測(cè)量原理2、普通電阻率測(cè)量原理7ppt課件二、電極系分類(lèi)

成對(duì)電極：把電極系中接在同一線路中的電極叫成對(duì)電極：MN。不成對(duì)電極：把和地面電極接在同一線路中的電極叫不成對(duì)電極：AB。52ppt課件二、電極系分類(lèi)成對(duì)電極：把電極系中接在同一線路中二、電極系分類(lèi)1、電位電極系

不成對(duì)電極到靠近它的那個(gè)成對(duì)電極之間的距離小于成對(duì)電極之間的距離（AM<MN）的電極系。電位電極系53ppt課件二、電極系分類(lèi)1、電位電極系電位電極系9ppt課件二、電極系分類(lèi)1、電位電極系

電位電極系視電阻率曲線特征：

a、半幅點(diǎn)之間的距離與地層的厚度及電阻率有關(guān)。Rt>Rs，且h>>L，半幅點(diǎn)距離=h-L；其它情況下，半幅點(diǎn)距離=h+L。

b、曲線極值對(duì)應(yīng)于地層重點(diǎn)且最接近于Rt。54ppt課件二、電極系分類(lèi)1、電位電極系10ppt課件二、電極系分類(lèi)2、梯度電極系不成對(duì)電極到靠近它的那個(gè)成對(duì)電極之間的距離大于成對(duì)電極之間的距離（AM>MN）的電極系。梯度電極系55ppt課件二、電極系分類(lèi)2、梯度電極系梯度電極系11ppt課件二、電極系分類(lèi)2、梯度電極系梯度電極系視電阻率曲線特征：

a、在層界面處曲線出現(xiàn)極值。

b、h>3L時(shí)（厚層），地層中部直線處Ra近似等于Rt。

c、h=1—3L時(shí)（中厚層），曲線的形狀與層厚基本相同，所不同的是h變小時(shí)，中部的直線逐漸變短直至消失，扣除巖層頂或底一個(gè)電極范圍內(nèi)的曲線，取面積平均值，其Ra近似等于Rtd、h<L時(shí)（薄層），其極值最接近Rt56ppt課件二、電極系分類(lèi)2、梯度電極系12ppt課件三、普通電阻率測(cè)井影響因素1、電極系的影響電極矩不同時(shí)，探測(cè)范圍不同，測(cè)量結(jié)果不同（L小時(shí)，主要測(cè)量Rm和Ri；L太大時(shí)，受?chē)鷰r影響）2、井眼的影響井眼的大小、泥漿電阻率決定了探測(cè)范圍內(nèi)各種介質(zhì)對(duì)測(cè)量結(jié)果的貢獻(xiàn)的大小57ppt課件三、普通電阻率測(cè)井影響因素1、電極系的影響13ppt課件三、普通電阻率測(cè)井影響因素3、層厚與圍巖的影響地層厚度h、圍巖電阻率與Rt的差異的大小、層厚變薄，低阻圍巖對(duì)測(cè)量結(jié)果貢獻(xiàn)增大4、侵入的影響低侵（一般在油層）、高侵（一般在水層）與di、Ri有關(guān)5、高阻鄰層的屏蔽影響高阻鄰層的屏蔽改變了電流的分布及地流密度58ppt課件三、普通電阻率測(cè)井影響因素3、層厚與圍巖的影響14ppt課件四、視電阻率曲線的應(yīng)用1、劃分巖性剖面不同巖性地層的Rt不同，反映Rt的視電阻率Ra也不同，所以Ra曲線可用來(lái)劃分巖性，以地區(qū)經(jīng)驗(yàn)為基礎(chǔ)。2、層界面的確定梯度電極系依據(jù)極值確定層界面，電位電極系依據(jù)半幅點(diǎn)的位置來(lái)確定層界面59ppt課件四、視電阻率曲線的應(yīng)用1、劃分巖性剖面15ppt課件四、視電阻率曲線的應(yīng)用3、確定巖層真電阻率Rt1）正確讀取巖層的視電阻率值Ra：電位電極系對(duì)應(yīng)地層中部取極值；梯度電極系：厚層在中部取值，中厚層在底部/頂部Ra上扣除距頂部/底部界面一個(gè)電極距后用面積平均法取值，薄層取極值。

2）對(duì)Ra做相應(yīng)的校正（井眼、層厚、侵入等），每一種儀器在不同情況下，采用不同的圖版或經(jīng)驗(yàn)公式進(jìn)行校正。60ppt課件四、視電阻率曲線的應(yīng)用3、確定巖層真電阻率Rt16ppt課件第三章電阻率測(cè)井一、普通電阻率測(cè)井二、側(cè)向測(cè)井61ppt課件第三章電阻率測(cè)井一、普通電阻率測(cè)井17ppt課件普通電阻率測(cè)井的弱點(diǎn)

在高礦化度泥漿、地層為高阻薄層、且有侵入的情況下，其電流主要分布在井眼及圍巖之中，使其測(cè)量結(jié)果不能反映目的層的電阻率。62ppt課件普通電阻率測(cè)井的弱點(diǎn)在高礦化度泥漿、地層為高阻薄改進(jìn)思路

采用屏蔽電流控制主電流的流路（路徑）使影響減至最小——發(fā)展側(cè)向測(cè)井。目前側(cè)向測(cè)井包括：三側(cè)向、七側(cè)向、雙側(cè)向、微側(cè)向等。63ppt課件改進(jìn)思路采用屏蔽電流控制主電流的流路（路徑）使影一、三電極側(cè)向測(cè)井1、測(cè)量原理A0——主電極A1、A2——屏蔽電極B1、B2——回路電極電極系中有三個(gè)柱狀電極（回路電極除外）。主電極較短，屏蔽電極較長(zhǎng)。淺三測(cè)向的屏蔽電極較深三測(cè)向的短。淺三測(cè)向的回路電極離屏蔽電極較近，深三測(cè)向的回路電極離屏蔽電極較遠(yuǎn)。64ppt課件一、三電極側(cè)向測(cè)井1、測(cè)量原理20ppt課件一、三電極側(cè)向測(cè)井1、測(cè)量原理測(cè)井過(guò)程中，A1、A0、A2具有相同有極性和電位且與B的極性相反。深、淺三側(cè)向的電流側(cè)向流入地層。深三側(cè)向的主電流能流入到地層較深的地方才開(kāi)始發(fā)散。這主要是屏蔽電極長(zhǎng)，回路電極遠(yuǎn)，聚焦能力強(qiáng)所導(dǎo)致的。65ppt課件一、三電極側(cè)向測(cè)井1、測(cè)量原理21ppt課件一、三電極側(cè)向測(cè)井1、測(cè)量原理測(cè)井過(guò)程中，A1、A0、A2具有相同有極性和電位且與B的極性相反。深、淺三側(cè)向的電流側(cè)向流入地層。淺三側(cè)向的主電流流入到地層后不久就發(fā)散，這主要是屏蔽電極短，回路電極近，聚焦能力差所決定的。66ppt課件一、三電極側(cè)向測(cè)井1、測(cè)量原理22ppt課件一、三電極側(cè)向測(cè)井1、測(cè)量原理電阻率：

K—電極系系數(shù)（一般由實(shí)驗(yàn)或理論計(jì)算確定）

I0—主電極強(qiáng)度。

ΔU—主電極與無(wú)限遠(yuǎn)處的電位差67ppt課件一、三電極側(cè)向測(cè)井1、測(cè)量原理23ppt課件一、三電極側(cè)向測(cè)井2、測(cè)井曲線特點(diǎn)

1）高阻層Ra增大，比普通電阻率曲線更接近Rt。

2）上下圍巖電阻率相等時(shí)Ra對(duì)稱(chēng)于高阻層中部，應(yīng)取地層中部的Ra（極值）作為地層的Ra。

3）高阻鄰層影響很小。68ppt課件一、三電極側(cè)向測(cè)井2、測(cè)井曲線特點(diǎn)24ppt課件一、三電極側(cè)向測(cè)井3、影響因素

1）井眼和泥漿的影響井眼的影響由井眼的直徑及流體的電阻率所決定，當(dāng)井內(nèi)的電阻率較低時(shí)，且直徑不是很大時(shí)，井眼影響小。

2）泥餅的影響

泥餅的影響由泥餅的厚度（hmc）、和泥餅的電阻率（Rmc）所決定。通常hmc很小，其對(duì)測(cè)量影響很小。69ppt課件一、三電極側(cè)向測(cè)井3、影響因素25ppt課件一、三電極側(cè)向測(cè)井3、影響因素

3）泥漿侵入的影響

影響的大小由侵入深度（di）侵入帶的電阻率（Ri）所決定。

4）圍巖的影響

圍巖影響的大小由地層的厚度（h）和圍巖的電阻率（Rs）所決定。當(dāng)h<4倍主電流層的厚度時(shí)，影響較低大，主要是影響電流的分布，即主電流層包含了非目的層（圍巖），圍巖電阻率低時(shí)，分流嚴(yán)重，使RLL3不能很好地反映目的層的Rt

70ppt課件一、三電極側(cè)向測(cè)井3、影響因素26ppt課件一、三電極側(cè)向測(cè)井4、測(cè)井資料的應(yīng)用

1）劃分巖性并決定層界面的位置（以地區(qū)經(jīng)驗(yàn)為基礎(chǔ)）

2）識(shí)別滲透層在滲透層處兩條曲線（深三側(cè)向、淺三側(cè)向）出現(xiàn)差異，這主要是由于濾液與地層流體的差別所引起的。71ppt課件一、三電極側(cè)向測(cè)井4、測(cè)井資料的應(yīng)用27ppt課件一、三電極側(cè)向測(cè)井4、測(cè)井資料的應(yīng)用

3）判斷油氣水層僅用深三側(cè)向：油氣層的RLL3高，水層的RLL3?。ㄒ缘貐^(qū)經(jīng)驗(yàn)為基礎(chǔ)）。用深三側(cè)向與淺三側(cè)向的差值進(jìn)行判別：一般情況下（中、低礦化度）；油層為正差異，水層為負(fù)差異。72ppt課件一、三電極側(cè)向測(cè)井4、測(cè)井資料的應(yīng)用28ppt課件一、三電極側(cè)向測(cè)井4、測(cè)井資料的應(yīng)用

4）確定地層電阻率

a）僅用深三側(cè)向的視電阻率確定Rt：

Ⅰ對(duì)應(yīng)于地層中部讀取極值；

Ⅱ?qū)ζ渥飨鄳?yīng)的影響因素校正。＊根據(jù)儀器的型號(hào)、測(cè)井時(shí)的環(huán)境選擇相應(yīng)的專(zhuān)用圖版或經(jīng)驗(yàn)公式。

b）用淺三側(cè)向的視電阻率確定Ri:Ⅰ對(duì)應(yīng)于地層中部讀取極值；

Ⅱ?qū)ζ渥飨鄳?yīng)的影響因素的校正。

73ppt課件一、三電極側(cè)向測(cè)井4、測(cè)井資料的應(yīng)用29ppt課件一、三電極側(cè)向測(cè)井

三側(cè)向測(cè)井與普通電阻率測(cè)井相比，受井眼、圍巖的影響要小得多。但仍有弱點(diǎn)：

1）深三側(cè)向測(cè)井的探測(cè)深度不夠深。三側(cè)向測(cè)井是通過(guò)加長(zhǎng)屏蔽電極來(lái)增強(qiáng)聚焦能力，提高探測(cè)深度，而理論與實(shí)驗(yàn)結(jié)果都表明：隨屏蔽電極的加長(zhǎng)，探測(cè)深度加深，當(dāng)屏蔽電極加長(zhǎng)到一定的度度之后，再進(jìn)一步加長(zhǎng)屏蔽電極對(duì)聚焦效果的改善不明顯。

2）淺三側(cè)向的探測(cè)深度不夠淺。改進(jìn)的思路：改變電極系的結(jié)構(gòu)和聚焦方式從而以展了七側(cè)向測(cè)井。。

74ppt課件一、三電極側(cè)向測(cè)井三側(cè)向測(cè)井與普通電阻二、七電極側(cè)向測(cè)井1、測(cè)量原理七測(cè)向測(cè)井的電極系結(jié)構(gòu)

A0—主電極

A1、A2—屏蔽電極

M1、M2、M1’、M2’—監(jiān)督電極電極系距:L=O1O2

電極系長(zhǎng)度:L0=A1A2

電極系分布比：S=L0/L

記錄點(diǎn)：A0的中點(diǎn)。

75ppt課件二、七電極側(cè)向測(cè)井1、測(cè)量原理31ppt課件二、七電極側(cè)向測(cè)井1、測(cè)量原理測(cè)量過(guò)程中：A1、A0、A2的極性相同;主電流強(qiáng)度Ｉ0不變，通過(guò)自動(dòng)調(diào)節(jié)電路調(diào)整Is的大小使Um1=Um1’,Um2=Um2’,即使主電流Io側(cè)向流入地層之中.深淺七側(cè)向的電極系分布比S不同，聚絲能力不同。深七側(cè)向的主電流能流入到地層的深部，而淺七側(cè)向的主電流進(jìn)入地層后不久就開(kāi)始發(fā)散。探測(cè)范圍不同。深七側(cè)向的深度較大,測(cè)得的RLL7主要反映Rt,而淺七側(cè)向的探測(cè)深度較小,測(cè)得的RLL7主要反映Ri．

76ppt課件二、七電極側(cè)向測(cè)井1、測(cè)量原理32ppt課件二、七電極側(cè)向測(cè)井1、測(cè)量原理電阻率：

K—電極系系數(shù)（一般由實(shí)驗(yàn)或理論計(jì)算確定）

I0—主電極強(qiáng)度ΔU—M1與N(無(wú)限遠(yuǎn)處)的電位差。77ppt課件二、七電極側(cè)向測(cè)井1、測(cè)量原理33ppt課件二、七電極側(cè)向測(cè)井2、測(cè)井曲線特點(diǎn)特點(diǎn)與三側(cè)向類(lèi)似，七側(cè)向與三側(cè)向探測(cè)特性的差別：深七側(cè)向的探測(cè)深度比深三側(cè)向大。淺七側(cè)向的探測(cè)深度比淺三側(cè)向小78ppt課件二、七電極側(cè)向測(cè)井2、測(cè)井曲線特點(diǎn)34ppt課件二、七電極側(cè)向測(cè)井3、影響因素與三側(cè)向類(lèi)似，所不同的是依探測(cè)深度的不同所受影響大小不同4、測(cè)井資料的應(yīng)用

與三側(cè)向類(lèi)