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文檔簡介

1、通用運算放大器主要參數(shù)測試方法說明運算放大器測試方法基本原理采用由輔助放大器(A)與被測器件(DUT)構成閉合環(huán)路的方法進行測試, 基本測試原理圖如圖1所示。Rf圖1輔助放大器應滿足下列要求:開環(huán)增益大于60dB;輸入失調電流和輸入偏置電流應很小;動態(tài)范圍足夠大。環(huán)路元件滿足下列要求:滿足下列表達式Ri IbVVosRVRid R Ib Vos RosVRfVRid R1 = R2 R1RL式中:Ib:被測器件的輸入偏置電流;Vos :被測器件的輸入失調電壓;Rid :被測器件的開環(huán)差模輸入電阻; Ros :輔助放大器的開環(huán)輸出電阻;Rf/ Ri值決定了測試精度,但須保證輔助放大器在線性區(qū)工作

2、。運算放大器測試適配器SP-3160III數(shù)/?;旌霞呻娐窚y試系統(tǒng)提供的運算放大器測試適配器便是 根據上述基本原理設計而成。它由運放測試適配板及一系列測試適配卡組成,可 以完成通用單運放、雙運放、四運放及電壓比較器的測試。運算放大器適配器原 理圖如附圖所示。3 .測試參數(shù)以OP-77G為例,通用運算放大器主要技術規(guī)范見下表。elECTrpCal CHARACTERISTICS at va - j isu,。- 2in c, un。豺 Mh白rvrfs* rdsdPARAMETERSYMBOLCQNDITIDNSMJNlOP-TTE TTPOP-T7FOP-77G.HUNITSNAXMINTT

3、FMAXM-NTTFMAXnpurtSwt WtifleVnu;!&520do鬟I-ifCOmVV商Tggt 1g0.4&聲/知Ar4ly-031 3jf.hs-&J1 3IbpUl INHdse 瞄liasCnp-pOJlHF EC 1DHZ 1癡0稔罰口志0.BQ2D65口.螢Inpul Mdim 宙 K珥Ht Dtfnl lyy= Whzl0-IQCHi2ro= lom1M 1&_05成0 114g 102 9J5am13.51151g函北13J&II】nVivi iflinipul NKi事E CuirrtnlMa口aihu tq qgt?NU:b 23315351535Guint曰e

4、誠曲*n峪 1QHzrD- iocme心推町r。一 loogHeC.fi。曲0 35CL野Ec&b gr &ia0 3655口怕Q.EB。.怕pAiyHEM 口mDilF-EFrtcl M#dc(Mw 3)26106現(xiàn)MGMilInjiul H&SEglsincs C Cwin! n-k/r Cnaturnpaon%vs- tIEV. INC Lo*d V5- 3DPd 皿的口 liifreor 瞄 rmwe晚anKw itri 3口。株網企孺網帽.Excluding the iriktial houi (.i 4.lian. cha pgeain Vs僑仙rlvi. ffw firal $0

5、Sample tBE.t&d3. Gu*rw鍬1 byam3.1參數(shù)名稱:輸入失調電壓Vos (Input Offset Voltage)03.1.1參數(shù)定義:使輸出電壓為零(或規(guī)定值)時,兩輸入端間所加的直流補償 電壓。3.1.2測試方法:測試原理如圖2所示。DLT1圖DLT1圖2 在規(guī)定的環(huán)境溫度下,將被測器件接入測試系統(tǒng)中;(2)電源端施加規(guī)定的電壓; 開關“K4”置地(或規(guī)定的參考電壓); 在輔助放大器A的輸出端測得電壓Vlo;計算公式:Vos=(Ri/(Ri+Rf)*VLo3.1.3編程舉例:(測試對象:OP-77G,測試系統(tǒng):SP3160)-測試名稱:vos-測量方式:VosBia

6、s 1=-15.000 VClamp1=-10.000mABias 2=15.000 VClamp2=10.000mA測量高限=0.0001 V測量低限=V測量延遲:50mS箝位延遲:50mSSKon=0,4,11,12,13,19,23,27電壓基準源2電壓=0V電壓基準源2量程+/-2.5V電壓基準源3電壓=0V電壓基準源3量程+/-2.5V測試通道TP1測量單元DCVDCV 量 程:+/-2V圖3在規(guī)定的環(huán)境溫度下,將被測器件接入測試系統(tǒng)中;電源端施加規(guī)定的電壓;開關K4置“地”(或規(guī)定的參考電壓);開關K1、K2閉合,在輔助放大器A的輸出端測得電壓VL0;開關K1、K2斷開,在輔助放大

7、器A的輸出端測得電壓VL1;計算公式:Ios=(Ri/(Ri+Rf)*(VL1-VL0)/R)。3.2.3編程舉例:(測試對象:OP-77G,測試系統(tǒng):SP3160)測試條件詳見下一參數(shù)。圖4 在規(guī)定的環(huán)境溫度下,將被測器件接入測試系統(tǒng)中;(2)電源端施加規(guī)定的電壓;開關K4置“地”(或規(guī)定的參考電壓);開關K1斷開、K2閉合,在輔助放大器A的輸出端測得電壓VL2; 開關K1閉合、K2斷開,在輔助放大器A的輸出端測得電壓VL3;(6)計算公式:Ib=(Ri/(Ri+Rf)*(VL2-VL3)/2R)。3.3.3編程舉例:(測試對象:OP-77G,測試系統(tǒng):SP3160)-測試名稱:Ib/Ios

8、-測量方式:Ib/IosBias 1=-15.000 VClamp1=-10.000mABias 2=15.000 VClamp2=10.000mA測量高限=2.8 nA測量低限=2.8 nA測量延遲:10mS箝位延遲:10mSSKon=0,4,11,12,13,19,23,27電壓基準源2電壓=0V電壓基準源2量程+/-2.5V電壓基準源3電壓=0V電壓基準源3量程+/-2.5V測試通道TP1測量單元DCVDCV 量 程:+/-2V圖5 在規(guī)定的環(huán)境溫度下,將被測器件接入測試系統(tǒng)中;(2)電源端施加規(guī)定的電壓; 開關K4置“1”,在輔助放大器A的輸出端測得電壓VL4; 開關K4置“2”,在輔

9、助放大器A的輸出端測得電壓VL5;計算公式:Avo=(Vref+-Vref-)/(VL4-Vl5)*(Ri+Rf)/Ri) 或+Avo=20lg(Vref+-Vref_)/|(VL4-Vl5)|)*(Ri+Rf)/Ri)(dB)。3.4.3編程舉例:(測試對象:OP-77G,測試系統(tǒng):SP3160) -測試名稱:Avo-測量方式:Op_AvoBias 1=-15.000 VClamp1=-10.000mABias 2=15.000 VClamp2=10.000mA測量高限= dB測量低限=126 dB測量延遲:10mS箝位延遲:10mSSKon=0,4,11,12,13,17,19,23,27

10、電壓基準源2電壓=0V電壓基準源2量程+/-2.5V電壓基準源3電壓=-5_5V 電壓基準源3量程+/-10V 測試通道TP1測量單元DCVDCV 量 程:+/-2V圖6 在規(guī)定的環(huán)境溫度下,將被測器件接入測試系統(tǒng)中;電源端施加規(guī)定的電壓;輸入端施加規(guī)定的直流共模信號電壓Vic+,在輔助放大器A的輸出端測得電壓VL6; 輸入端施加規(guī)定的直流共模信號電壓Vic-,在輔助放大器A的輸出端測得 電壓VL7;計算公式:CMRR=(Vic+-Vic_)/(VL6-VL7)*(Ri+Rf)/Ri)或+CMRR=20lg(Vic+-Vic_)/(VL6-VL7)*(Ri+Rf)/Ri)(dB)。3.5.3編程舉例:(測試對象:OP-77G,測試系統(tǒng):SP3160) -測試名稱:CMRR- 測量方式 :Cmrr Bias 1=-5_-25 V Clamp1=-10.000mA Bias 2=25_5 V Clamp2

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