晶胞參數(shù)的測(cè)定

1、晶胞參數(shù)的測(cè)定第1頁，共19頁，2022年，5月20日，1點(diǎn)47分，星期四OutlineExperimental Goal1.Background and Theory2.Example3.第2頁，共19頁，2022年，5月20日，1點(diǎn)47分，星期四Experimental Goal Determine the precise lattice parameters of materials第3頁，共19頁，2022年，5月20日，1點(diǎn)47分，星期四Background and TheoryImportance Useful in determining solid solubility lim

2、its of one component in another, coefficients of thermal expansion, and true densities of materials. The magnitudes of changes in the lattice parameters due to a change in solute content or temperature are so small.第4頁，共19頁，2022年，5月20日，1點(diǎn)47分，星期四Background and TheoryA material with a cubic structure第

3、5頁，共19頁，2022年，5月20日，1點(diǎn)47分，星期四Background and TheoryMethodsDebye-Scherrer CamerasDiffractometersMathematizationExtrapolation Debye-Scherrer Cameras Bradley-Jay Nelson-Riley Diffractometers The least-square method第6頁，共19頁，2022年，5月20日，1點(diǎn)47分，星期四Background and TheoryDebye-Scherrer CamerasSources of error:

4、 Film shrinkage Incorrect camera radius Off-centering of specimen Absorption in specimen Divergence of the beam第7頁，共19頁，2022年，5月20日，1點(diǎn)47分，星期四Background and TheoryDiffractometersSources of error: Misalignment of the instrument Use of a flat specimen instead of a specimen curved to conform to the focu

5、sing circle Absorption in the specimen Displacement of the specimen from the diffractometer axis Vertical divergence of the incident beam第8頁，共19頁，2022年，5月20日，1點(diǎn)47分，星期四Background and TheoryExtrapolation1. Since varies differently with different errors，a single extrapolation function is not satisfacto

6、ry in this case2. It is necessary to have as many reflections as possible in the high-angle region of the diffraction pattern so that you will have many Pointsenabling you to draw the best possible straight line第9頁，共19頁，2022年，5月20日，1點(diǎn)47分，星期四Background and TheoryThe least-square methodNormal Equation

7、s Drift constant第10頁，共19頁，2022年，5月20日，1點(diǎn)47分，星期四ExampleFIG 1X-ray diffraction pattern of aluminum showing only the high-angle regionThe least-square method-Aluminum第11頁，共19頁，2022年，5月20日，1點(diǎn)47分，星期四ExampleTable 1 Calculation of the Lattice Parameter of Aluminum第12頁，共19頁，2022年，5月20日，1點(diǎn)47分，星期四ExampleTABLE

8、 2 Data Required for Cohens Analytical Method第13頁，共19頁，2022年，5月20日，1點(diǎn)47分，星期四Example 2674A+858.9C=96.77139858.9A+313.14C=31.08341A=0.0361895 C=7.810-7 第14頁，共19頁，2022年，5月20日，1點(diǎn)47分，星期四ExampleFIG2 X-ray diffraction pattern of silicon showing only the highangle regionExtrapolation-Silicon第15頁，共19頁，2022年，

9、5月20日，1點(diǎn)47分，星期四ExampleTABLE 3 Work Table for Indexing the Diffraction Pattern of Silicon第16頁，共19頁，2022年，5月20日，1點(diǎn)47分，星期四Examplea0=0.5430nmTrue value a0=0.5431 nmFIG 3 The straight line by extrapolating lattice parameters against 第17頁，共19頁，2022年，5月20日，1點(diǎn)47分，星期四Examplea0=0.5430nmTrue value a0=0.5431 nmFIG 4 The stra