BSEN1022831998C鋼鍛件無損檢驗.鐵素體或馬氏體鋼鍛件超聲檢驗中文版

1、BSEN10228-3:1998 BSEN10228-3:1998 鍛鋼件的無損檢驗第3部分鐵素體鋼或馬氏體鋼鍛件的超聲波檢驗1范圍EN10228標準本部分規(guī)定了用脈沖反射式超聲波探傷儀，對鐵素體鋼和馬氏體鋼鍛件進行手工超聲波檢驗的方法。自動掃查方法，如液浸法，也可以采用，但供方和需方應達成一致（見第4條）。EN10228標準本部分適用于4種類型的鍛件，按形狀和制造方法進行分類。1、2和3類為簡單形狀，4類為復雜形狀。EN10228標準本部分不適用于：模鍛件汽輪機轉子鍛件和發(fā)電機鍛件奧氏體鋼和奧氏體鐵素體不銹鋼鍛件的超聲波檢驗是本歐洲標準第4部分的主要內容。2參考標準EN10228標準本部分引

2、用了其它標準的條款，這些標準注明日期或未注明日期。這些參考標準在文中適當的地方加以引用，它們在下面列出。對于注明日期的標準，其后的增補或修改只有在EN10228標準本部分加以引用時才適用。對于未注明日期的標準，它們的最新版本適用。EN473無損檢驗人員的資格鑒定和認證現行的EN12688-1無損檢驗超聲波檢驗設備的特性和校驗一第1部分：儀器現行的EN12688-2無損檢驗超聲波檢驗設備的特性和校驗一第2部分：探頭現行的EN12688-3無損檢驗超聲波檢驗設備的特性和校驗一第3部分：組合設備現行的EN583-2超聲波檢驗一一第2部分：靈敏度和范圍設置現行的EN583-5超聲波檢驗第5部分：缺陷的

3、特性和定尺寸現行的EN12223超聲波檢驗校準試塊現行的EN1330無損檢驗一一術語一第4部分一超聲波檢驗的術語3定義現行的EN1330-4的定義適用于EN10228的本部分。4協商的項目供方和需方在詢價或簽定合同時，應對以下有關超聲波檢驗的問題達成協議：町應進行超聲波檢驗的時期（見第9條）；b）檢驗的體積，是格網式掃査，還是100%體積掃査（見第12條）；c）近表面檢驗采用雙晶探頭（見7.2.6）；d）質量等級，或者不同區(qū)域的質量等級；e）分別適用于表5,6或7的記錄值/驗收值；0除了第7條和第12條以外，需附加的特殊掃査范圍、儀器或耦合劑；g）非手工的掃査方法（見第1條）；h）延伸性缺陷定

4、尺寸的方法（見第15條）；i）設置靈敏度的方法（見第11條）；j）需方或需方代表是否對檢驗進行見證；k）是否應提交書面的檢驗規(guī)程給需方認可（見第5條）。5書面檢驗規(guī)程5.1總則超聲波檢驗應按書面的檢驗規(guī)程進行。如果在詢價或簽定合同時有規(guī)定，檢驗前書面的檢驗規(guī)程應提交需方認可。5.2格式書面的檢驗規(guī)程應按以下格式a）產品規(guī)范；b）專用的書面規(guī)程；或c）如果規(guī)定了適用的詳細檢驗內容，也可用EN10228標準本部分。5.3內容書面的檢驗規(guī)程至少應包括以下詳細內容：町受檢鍛件的種類；b）參考文件；c）檢驗人員的認證資格；d）檢驗時期；e）不同檢驗區(qū)域適用的質量等級；l）掃査表面的準備；g）耦合劑;h）

5、檢驗設備的種類；i）校準和設置；j）掃查計劃；k）檢驗的種類和結果；l）記錄/評定限；m）缺陷特性；n）驗收值；o）檢驗報告6人員資格檢驗人員應取得EN473規(guī)定的認證資格。7設備和輔助裝置7.1超聲波探傷儀超聲波探傷儀應為A型，符合現行的EN12688-1標準。7.2探頭7.2.1一般要求應采用符合現行的EN12688-2標準的直探頭和斜探頭。如果有進一步的要求，也可采用輔助探頭。輔助探頭不應在初始探傷時使用。建議采用符合現行的EN12688-2標準的輔助探頭。7.2.2外形探頭的外形應按EN5832標準的要求。7.2.3公稱頻率探頭的公稱頻率的范圍應為1MHz至6MHz。7.2.4直探頭直

6、探頭的有效晶片直徑應為10mm至40mm。7.2.5斜探頭斜探頭的折射角應為35至70o斜探頭的有效晶片面積應為20mi】F至625mnr。7.2.6雙晶探頭如果要求檢驗近表面，應采用雙晶探頭（見第4條）。7.3校準試塊校準試塊應符合現行的EN12223標準。7.4參考試塊當靈敏度由距離幅度校正曲線（DAC）確定時，或缺陷大小按照幅度和參考反射體的關系即DAC法確定時，應制作參考試塊。參考試塊的表面狀態(tài)應代表受檢零件的表面狀態(tài)。除非另有規(guī)定，參考試塊至少應有覆蓋整個檢驗深度的三個反射體。參考試塊的形式取決于使用情況。應由如下之一的材料制作：町受檢零件的余料；或b）與受檢零件同材質和同熱處理狀態(tài)

7、的材料；或c）與受檢零件有相近聲學性能的材料。除非要求校核典型的DGS圖的準確性，采用距離幅度（DGS）法時，不應使用參考試塊。注：參考試塊的反射體的大小取決于表5和表6規(guī)定的缺陷尺寸的大小。如果檢驗靈敏度依此校正，可釆用表5和表6規(guī)定的不同的反射體尺寸。7.5耦合劑應采用適當的耦合劑。校準、設置靈敏度、掃查和評定缺陷應采用相同類型的耦合劑。檢驗后，應去除耦合劑，以免妨礙隨后的制造或檢驗工序或部件的組裝。注：適用的耦合劑如：水（加或不加防腐劑或軟化劑），油脂，油，甘油和水溶性的纖維素漿糊。8常規(guī)校準和檢查組合設備（超聲波探傷儀和探頭）應按現行的EN12688-3標準的要求進行校準和檢査。9檢驗

8、時期超聲波檢驗應在最終性能熱處理后進行，除非在詢價和簽定合同時另有協議（見第4條），例如在最終熱處理后鍛件的某些受檢區(qū)無法進行超聲波檢驗，則超聲波檢驗盡可能在最后的制造階段進行。注：對于要打中心孔的圓柱體鍛件和矩形鍛件，建議打中心孔前進行超聲波探傷。10表面狀態(tài)10.1總則掃査表面應無油漆、氧化皮、干耦合劑、凹凸不平或其它任何能降低耦合效果、妨礙探頭自由運動或導致錯誤結論的物質。10.2對應不同質量等級的表面粗糙度表面粗糙度應與所要求的質量等級相一致（見表1）。表1相應于質量等級的表面粗糙度表面粗糙度質量等級和粗糙度Ra123425pm12.5pm2類鍛件包括由方坯和棒料制造的產品。表3直探頭

9、的掃查范圍類別網格式掃查100%掃查21la直徑，D,mm掃査線)沿圓柱體表面主少180范圍內100%的掃査DW200200VDW500500VDW10001000DP）,應為（ZWDp）校注b）延伸性缺陷回波動態(tài)圖形2和/或尺寸大于降6dE聲束寬度（見圖4）o圖3中原文為（LW6），應為（LDP）校注c）單個分散缺陷相鄰缺陷信號最大幅度點之間的距離超過40mm（見圖5）。d）密集單個缺陷相鄰缺陷信號最大幅度點之間的距離小于或等于40mm（見圖6）。圖3單個缺陷（ZWQ）圖4延伸性缺陷（LDq）圖5單個分散缺陷（厶侏），cO40mm）圖6密集單個缺陷（LWDp,衣40mm）BSEN10228-

10、3:1998 # #BSEN10228-3:1998 #BSEN10228-3:1998 # #BSEN10228-3:1998 #符號：1缺陷的一6dB常規(guī)外形；Dp缺陷所在深度的聲束寬度;d兩缺陷間距；L缺陷的一6dB指示長度。BSEN10228-3:1998 BSEN10228-3:1998 #14記錄限和驗收值買方和賣方應就適用的質量等級達成協議（見第4條）。表5、表6和表7詳細列出了應適用于4個質量等級的記錄限和驗收值。注：一個鍛件或鍛件的各部分可適用幾個不同的質量等級；4級是最嚴的級別，規(guī)定了最小的記錄限和驗收值。如果達成協議，可釆用不同于表5、表6和表7的記錄限，評定限和驗收值。

11、表5質量等級，直探頭的記錄限和驗收值參數質量等級1234記錄限平底孔當量直徑（EFBH）d旳mni底波急速降低率R）3）85320.6驗收值平底孔當量直徑EFBH（單個分散缺陷）尙nun平底孔當量直徑EFBH（延伸性缺陷或密集單個缺陷）deqinin1288553360nun時，n=ltv60mm時，n=2凡=11次降低底波的幅度（屏髙）凡工=與凡同一范圍的最近的無缺陷區(qū)域的底波幅度（屏髙）3）如果底波降低量超過記錄限，應做進一步探査。底波降低率R僅適用于由缺陷引起的底波快速降低。表6質量等級，采用平底孔DGS法的斜探頭的記錄限和驗收值質量等級1234記錄限尙nun2）-532單個分散缺陷的驗

12、收值尙inni2）-853延伸性缺陷或密集單個缺陷的驗收值deqmm0-5W32注：橫波掃査不適用于質量等級1級。1爼=平底孔當量直徑表7質量等級，采用DAC法的斜探頭的記錄限和驗收值質量等級公稱檢驗頻率MHz記錄限%(DAC)驗收值單個分散缺陷呎）%（DAC）延伸性缺陷或密集單個缺陷4）%（DAC）12)2150100502100200100325010050410020010042306030450100501）釆用直徑3mm橫孔的方法。2）橫波掃查不適用于質量等級1級。3）每一頻率和每一個探頭都應采用直徑3mm橫孔的DAC法。4）附錄B給出了缺陷幅度dB和DAC的關系。15定尺寸如果要求

13、對缺陷的尺寸進行評定，在買方和賣方達成協議時，應采用以下的一種或幾種方法。這些方法應按現行的EN5835標準詳述的要求進行。町降低6dE法；b）降低20dE法；c）最大幅度法。16報告所有檢驗應提交書面報告，報告至少應包括以下內容：a）供方的名稱；b）合同號；c）受檢鍛件的標識號；d）檢驗范圍：檢驗部位和適用的質量等級；e）超聲波檢驗時期；1）表面狀態(tài)；g）所用設備（超聲波探傷儀，探頭，校準和參考試塊）；h）設置靈敏度的方法；i）采用的參考標準或書面的檢驗規(guī)程（如果適用）；j）檢驗結果；k）超過記錄限/驗收值的缺陷的位置，分類和幅度（按照平底孔當量直徑或橫孔的百分比）；l）對要求的掃査范圍的詳細規(guī)定以及如果適用的近表面區(qū)域的大?。籱）檢驗日期；n）操作者的姓名，認證資格和簽名。BSEN10228-3:1998 BSEN10228-3:1998 #附錄A（供參考）橫波周向掃查的最大檢驗深度圖A.1表示了一特定探頭和聲程范圍橫波周向掃査的最大深度。D為垂直入射于徑向缺陷上的聲程M為特定探頭折射角和外半徑慮時的最大檢驗深度探頭折射角X最大檢驗深度M聲程范圍D700.06R0.34R600.13R0.50R500.24R0.64R450.30R0.70R350.42R0.82R注