統(tǒng)計過程控制培訓課件(PPT 95頁)

1、Statistical Process Control 統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制內(nèi)容安排內(nèi)容安排1認知認知 SPCSPC2控制圖介紹控制圖介紹3控制圖繪制及判異控制圖繪制及判異4過程能力過程能力5SPC SPC 推行推行案例：關(guān)于案例：關(guān)于SPECSPEC和和SPCSPC某公司QA工程師Vitia先生今天收到海外一個客戶的電話，內(nèi)容如下：“Vitia,今天整理你們資料的時候，發(fā)現(xiàn)一個很嚴重的事情，你們6月份提供的產(chǎn)品，6月17日，某項特性均值6.8，6月18日，相同特性均值在4.7。請貴公司注意一下。” Vitia收到這個投訴后，把這一信息反饋給他主管的時候，他的主管很疑惑的說“很好啊，他們要

2、求是2，我們達到最差都到了4.7，簡直無理取鬧嘛。”另外一個工程師M也發(fā)表了他的看法：“如果SPEC是2,而實際達到4.76.8，那么有必要進行SPC控制嗎？我認為控制的意義不大，除非提高SPEC。另外也要考慮一下控制的成本?！盫itia對主管的回答和M工程師的回答都不太滿意， 覺的主管的回答太不負責了，M工程師的看法有些道理，但又好像有些問題在里面。我們應(yīng)怎樣看待這個問題我們應(yīng)怎樣看待這個問題 ？ 怎么解決這類問題？怎么解決這類問題？1.1 SPC1.1 SPC定義定義SPC就是應(yīng)用統(tǒng)計技術(shù)對過程中的各個階段進行監(jiān)控，從而達到改進與保證質(zhì)量的目的。1 1、認知、認知SPC 統(tǒng)計學統(tǒng)計學(St

3、atistics)是數(shù)學的一個分支：是數(shù)學的一個分支： 從所有同類項目從所有同類項目(總體總體)(population)中抽取一些項目中抽取一些項目(樣本樣本)(samples) 計算集中特性計算集中特性(central tendency)，如算術(shù)平均數(shù)，如算術(shù)平均數(shù)(average)，離散特，離散特性（性（diskrete）如極差）如極差 (range)、標準差、標準差(standard deviation)。 對于總體分布，通過對抽樣分布做假設(shè)，便可提供對總體采取措對于總體分布，通過對抽樣分布做假設(shè)，便可提供對總體采取措施的基礎(chǔ)。施的基礎(chǔ)。例如：根據(jù)經(jīng)驗例如：根據(jù)經(jīng)驗/接受抽樣樣本的品質(zhì)去

4、推斷應(yīng)否接受或拒收整批貨接受抽樣樣本的品質(zhì)去推斷應(yīng)否接受或拒收整批貨物。統(tǒng)計學中利用變異物。統(tǒng)計學中利用變異(variation)的概念衡量產(chǎn)品或過程抽樣分布圍的概念衡量產(chǎn)品或過程抽樣分布圍繞著平均值波動及在可接受的范圍以內(nèi)或以外波動的趨勢。變異可能繞著平均值波動及在可接受的范圍以內(nèi)或以外波動的趨勢。變異可能是隨機是隨機(random)(由于偶然因素造成由于偶然因素造成)或非隨機的或非隨機的(assignable)(由于機由于機械、方法、物料與械、方法、物料與/或人事引起或人事引起)。統(tǒng)計學有助我們分辨隨機與非隨機。統(tǒng)計學有助我們分辨隨機與非隨機因素。因素。按字面意思來解釋按字面意思來解釋SP

5、CSPC過程過程(Process)是指生產(chǎn)產(chǎn)品是指生產(chǎn)產(chǎn)品/服務(wù)的一系列行動或操作，服務(wù)的一系列行動或操作，也指支持產(chǎn)品也指支持產(chǎn)品/服務(wù)的過程如管理、財務(wù)、采購與工藝服務(wù)的過程如管理、財務(wù)、采購與工藝.控制控制(Control)的意思是通過過程控制產(chǎn)品的意思是通過過程控制產(chǎn)品/服務(wù)?？刂剖欠?wù)?？刂剖侵竿ㄟ^經(jīng)預先設(shè)計的實驗及采用統(tǒng)計技巧成功地指通過經(jīng)預先設(shè)計的實驗及采用統(tǒng)計技巧成功地: 1)對過程進行控制；對過程進行控制； 2)維持或改善控制，目標是使品質(zhì)維持不變。維持或改善控制，目標是使品質(zhì)維持不變。把統(tǒng)計、過程及控制三個名詞的英文字頭起來就是把統(tǒng)計、過程及控制三個名詞的英文字頭起來就是S

6、PC1.2 SPC1.2 SPC的宗旨的宗旨PROCESS原料原料人人 機機 法法 環(huán)環(huán) 測測量量測量測量結(jié)果結(jié)果好好不好不好不要等不要等產(chǎn)產(chǎn)品做出來品做出來后后再去看它好不好再去看它好不好!而是在而是在制造的時候就要把它制造制造的時候就要把它制造好好!的起伏變化，是造成質(zhì)量的起伏變化，是造成質(zhì)量的主要根源的主要根源1.3 SPC1.3 SPC的的焦點焦點過程過程人員人員設(shè)備設(shè)備原料原料方法方法量測量測環(huán)境環(huán)境產(chǎn)品或服務(wù)客戶客戶確認客戶需求與期望客戶聲音客戶聲音統(tǒng)計方法統(tǒng)計方法過程之聲過程之聲輸入輸入過程過程/系統(tǒng)系統(tǒng)輸出輸出1.4 SPC&SQC過程原料原料測量結(jié)果 針對產(chǎn)品所做的針

7、對產(chǎn)品所做的仍只是在做仍只是在做SQCSQC針對過程的重要控制針對過程的重要控制參數(shù)所做的才是參數(shù)所做的才是SPCSPC機器機器人員人員方法方法環(huán)境環(huán)境量測量測綜上所述綜上所述，SPCSPC是是通過通過運用運用統(tǒng)計學統(tǒng)計學上的技巧分析上的技巧分析過程過程或或其輸出，從而作出適當?shù)男袆右赃_至及保持其輸出，從而作出適當?shù)男袆右赃_至及保持統(tǒng)計控制統(tǒng)計控制狀況及改善狀況及改善過程能力過程能力。SPCSPC解釋為解釋為 . .運用運用統(tǒng)計統(tǒng)計方法于方法于過程控制過程控制上以控制產(chǎn)品品質(zhì)上以控制產(chǎn)品品質(zhì)SPC統(tǒng)計技術(shù)有哪些？統(tǒng)計技術(shù)有哪些？1.5 SPC1.5 SPC與控制圖的關(guān)系？與控制圖的關(guān)系？內(nèi)容安

8、排內(nèi)容安排1認知認知 SPCSPC2控制圖介紹控制圖介紹3控制圖繪制及判異控制圖繪制及判異4過程能力過程能力5SPC SPC 推行推行 控制圖是1924年由美國品管大師W.A.Shewhart博士發(fā)明. 因其用法簡單且效果顯著, 人人能用, 到處可用,逐漸成為實施品質(zhì)控制時不可缺少的主要工具,當時稱為(Statistical Quality Control).2.12.1控制圖的歷史控制圖的歷史2 2、控制圖分類及繪制、控制圖分類及繪制英國在1932年，邀請W.A. Shewhart博士到倫敦，主講統(tǒng)計品質(zhì)管控，而提高了英國人將統(tǒng)計方法應(yīng)用到工業(yè)方面之氣氛。就控制圖在工廠中實施來說，英國比美國

9、為早。 日本在1950年由W.E.Deming博士引到日本并得到大力推廣。 同年日本規(guī)格協(xié)會成立了品質(zhì)控制委員會，制定了相關(guān)的JIS標準。八十年代以后，全世界紛紛推廣應(yīng)用SPC。并在ISO9000以及QS9000中提出應(yīng)用SPC方法的要求。2.22.2控制圖定義控制圖定義2 2、控制圖分類及繪制、控制圖分類及繪制控制圖（控制圖（control chartcontrol chart）又稱管制圖。它是用來又稱管制圖。它是用來區(qū)分過程中性能特性值的波動，是由系統(tǒng)因素引起區(qū)分過程中性能特性值的波動，是由系統(tǒng)因素引起的異常波動，還是由偶然因素引起的正常波動的一的異常波動，還是由偶然因素引起的正常波動的一

10、種工具。種工具。2.32.3控制圖原理控制圖原理 控制圖原理是基于正態(tài)分布的重要特性。質(zhì)量特性值控制圖原理是基于正態(tài)分布的重要特性。質(zhì)量特性值在區(qū)間（在區(qū)間（-3-3，+3+3）內(nèi)的概率為內(nèi)的概率為99.73%99.73%，19271927年美年美國人休哈特就是根據(jù)這一結(jié)論，把正態(tài)分布圖形轉(zhuǎn)化為控國人休哈特就是根據(jù)這一結(jié)論，把正態(tài)分布圖形轉(zhuǎn)化為控制圖制圖. .3-33-3UCLCLLCL-4 -3 -2 -1 0 1 2 3 468.26%95.45%99.73%99.99%2.42.4控制圖的基本圖形控制圖的基本圖形控制圖分為上控制限（UCL）、下控制限（LCL）和中心線（CL）三條線。01

11、234567812345678抽樣時間或樣本組序號質(zhì)量特性值3倍標準差3倍標準差UCLUCLC L和趨勢圖的對比？和趨勢圖的對比？2.52.5控制圖的作用控制圖的作用過程診斷：可以用診斷生產(chǎn)過程的穩(wěn)定性，即 生產(chǎn)過程是否處于穩(wěn)定狀態(tài)。過程控制：可以用來確定生產(chǎn)過程何時需要加以調(diào) 整，何時應(yīng)保持生產(chǎn)過程的穩(wěn)定狀態(tài)。改進確認：可以用來確定某過程是否得到了改進。其它領(lǐng)域的應(yīng)用：記帳（差錯率）、運送時間、耗電量等2.6 2.6 統(tǒng)計概念統(tǒng)計概念總體：指某次統(tǒng)計分析中研究對象的全體又稱母體。樣本：從總體中隨機抽取出來要對其進行分析的一 部分個體，也稱為子體。抽樣：從總體中隨機抽取樣品組成樣本的活動過程。

12、隨機抽樣：使總體中每一個個體都有同等的機會， 被抽出來組成樣本的活動過程?？傮w與樣本 統(tǒng)計特征數(shù)是對樣本說的。 常用的統(tǒng)計特征數(shù)可分為兩類： 一：表示數(shù)據(jù)的集中位置 1、 樣本平均值 2、 樣本中位數(shù) 二：表示數(shù)據(jù)的離散程度 1、樣本方差 s2 2、樣本標準偏差 s ； 3、樣本極差 R 統(tǒng)計特征數(shù)統(tǒng)計特征數(shù) 樣本平均值樣本平均值X 式中 樣本的算術(shù)平均值； n：樣本大小。計算公式： =nixn1i1xX：最常用的測度值，是集中趨勢的測度值之一，易受極端值影響。 樣本中位數(shù)樣本中位數(shù)將所收集的數(shù)按大小排序，在正中位置的數(shù)為中位數(shù)。集中趨勢的測度值之一。不受極端值影響。 x當N為畸數(shù)時，中位數(shù)為

13、正中間位置的數(shù)。當N為偶數(shù)時，中位數(shù)為正中間兩個數(shù)的算術(shù)平均值。 x五個數(shù)據(jù)取中位數(shù)原始數(shù)據(jù): 10 5 9 12 6 8排 序: 5 6 8 9 10 12位 置: 1 2 3 4 5 6原始數(shù)據(jù): 24 22 21 26 20排 序: 20 21 22 24 26位 置: 1 2 3 4 5六個數(shù)據(jù)取中位數(shù)方差和標準差方差和標準差1.離散程度的測度值之一2.最常用的測度值3.反映了數(shù)據(jù)的分布4.反映了各變量值與均值的平均差異5.根據(jù)總體數(shù)據(jù)計算的，稱為總體方差或標準差；根據(jù)樣本數(shù)據(jù)計算的，稱為樣本方法或標準差樣本方差和標準偏差計算公式樣本方差和標準偏差計算公式1)(1221nxxSniin

14、1)(121nxxSniinS： 樣本標準偏差，樣本方差的正平方根。樣本方差 S2 ：（xi-x）：表示某一數(shù)據(jù)與樣本平均值之間的偏差。n：采集的樣本數(shù) n-1：樣本方差的自由度樣本標準偏差S ：樣本方差樣本方差 算例算例 原始數(shù)據(jù): 10 5 9 13 6 8 平均數(shù)據(jù)：10+5+9+13+6+86=8.53 . 816) 5 . 88 () 5 . 85 () 5 . 810(1)(2221221nxxSniin1. 一組數(shù)據(jù)的最大值與最小值之差2. 離散程度的最簡單測度值3. 表示數(shù)據(jù)的分散范圍4. 易受極端值影響極極 差差 R R = 205 145 = 60（公分）205145平均：

15、175計量型數(shù)據(jù)計數(shù)型數(shù)據(jù)u 能夠在某一區(qū)間內(nèi)連續(xù)取值的為計量型，離散的則為計數(shù)型u 計量型數(shù)據(jù)與計數(shù)型數(shù)據(jù)最大的區(qū)別在于前可無限的分割且數(shù)據(jù)仍然有意義后者卻不可計量型數(shù)據(jù)是指連續(xù)測量所得的質(zhì)量特性值，如長度、重量、強度、化學成分、時間、電阻等。計數(shù)型數(shù)據(jù)是指按個數(shù)數(shù)得的非連續(xù)性取值的質(zhì)量特性值，如鑄件的疵點數(shù)，統(tǒng)計抽樣中的不合格判定數(shù)、審核中的不合格項數(shù)等可以用0、1、2、3、等阿拉伯數(shù)字數(shù)下去的數(shù)據(jù)。其中計數(shù)型數(shù)據(jù)又可分為計件值與計點值，其中計件值是指是按件、按個、按項計數(shù)的數(shù)據(jù)。例如：不合格品件數(shù)、溫控器個數(shù)、質(zhì)量檢驗項目等；計點值是指是指按缺陷點計數(shù)，例如：鑄件的沙眼數(shù)、布匹上的疵點數(shù)

16、、電路板上的焊接不良數(shù)等離散性數(shù)據(jù)。2.72.7控制圖類型控制圖類型計量型計量型分布控制圖代號控制圖名稱 用 途均值極差控制圖用于控制對象為長度、重量、強度、純度、時間和生產(chǎn)量等計量值的場合。Xbar控制圖用于觀察分布均值的變化,R控制圖用于觀察分布的分散情況或變異度的變化均值標準差控制圖適用范圍同上，當樣本大小n10時，這時用極差估計總體標準差的效率降低，故用S圖來代替R圖中位值極差圖適用于檢驗時間遠比加工時間短，現(xiàn)場需要把測定數(shù)據(jù)直接記入控制圖進行控制的場合，如車床加工軸單值-極差圖用于對每一個產(chǎn)品都進行檢驗,采用自動化檢查和測量；取樣費時、昂貴以及化工過程,樣品均勻,多抽樣也無太大意義的

17、場合或者是破壞性檢驗RXSXRX sRX 正態(tài)分布分布控制圖代號控制圖名稱備注二項分布(計件值) p不合格品率控制圖適用于關(guān)鍵零部件需全數(shù)檢查的場合np不合格品數(shù)控制圖適用于一般半成品或零部件，要求每次檢測的產(chǎn)品個數(shù)即樣本大小n必須一定的場合泊松分布(計點值)u單位不合格數(shù)控制圖用來控制每單位缺陷數(shù)，需全數(shù)檢查的場合，如噴漆加工表面的氣泡數(shù)c不合格數(shù)控制圖適用于控制一般缺陷數(shù)的場合，要求每次檢測的產(chǎn)品個數(shù)即樣本大小n必須一定一定的場合2.52.5控制圖類型控制圖類型計數(shù)型計數(shù)型計量型數(shù)據(jù)嗎？ 性質(zhì)上是否均勻或不能按子組取樣？關(guān)心的是不合格品率嗎？樣本容量是否恒定？樣本容量是否恒定？子組均值是否

18、能很方便地計算？sx Rx np或或p圖圖p圖圖C或或U圖圖U圖圖是否是是是是是否否否否否關(guān)心的是單位零件缺陷數(shù)嗎？是2.6 2.6 控制圖的選擇控制圖的選擇sRX 子組容量 9？是否RX 內(nèi)容安排內(nèi)容安排1認知認知 SPCSPC2控制圖介紹控制圖介紹3控制圖繪制及判異控制圖繪制及判異4過程能力過程能力5SPC SPC 推行推行 3.1 3.1 控制圖繪制控制圖繪制 之之 Xbar-RXbar-R圖圖A.做圖前的準備：做圖前的準備：定義過程；確定做圖特性；定義測量系統(tǒng)；使不必要的變差最小化；B.收集數(shù)據(jù)：收集數(shù)據(jù)：子組大小（一般由4到5件連續(xù)生產(chǎn)的產(chǎn)品為1個樣本）子組頻率（一般每小時、每半日、

19、每天、每周）子組數(shù)的大?。ㄒ话惆?00個以上單值，組數(shù)大于25）C.C.計算每個子組的均值和極差計算每個子組的均值和極差R R：MINMAXnXXRnxxxx.21D.D.計算控制線：計算控制線：計算中心線：（K為子組數(shù)量）KXXXXKRRRRKK.2121D.D.計算控制線：計算控制線：計算控制線：XRAxRndxnLCLxCLRAxRndxnUCL22223333計算控制線：RRDRddRLCLRCLRDRddRUCLRRRRR3234233333E.E.畫圖：畫圖：選擇控制圖的刻度；將均值和極差畫到控制圖上；n2345678910D43.272.572.282.1121.921.861

20、.821.78D3*0.080.140.180.22A21.881.020.730.580.480.420.370.340.31計算參數(shù) * 國標中對照表 1、收集數(shù)據(jù)如下: 50+10 (一般要有20子組以上的數(shù)據(jù)才有分析價值)12345678910111213141516171819201515351504847504950495050505249555250464824847495248535352485252535050514652495154353485050505145515550524751524850515248514515053484951494953525351505052

21、525154494955152504547525252485055515045514951484848X50.85050.64948.450.849.850.650.850.652.450.450.249.850.250.451.450.648.450R56473683735617491656X-R圖案例2、計算總體平均值X=X1+X2+X3+.XiK=XCL K：表示組數(shù)，該例K=20X=XCL=(50.8+50.0+50.6+) / 20 = 50.263、 計算全距平均值 R=(R1+R2+R3+Ri) / K = RCL K：表示組數(shù)，該例K=20 R=RCL=(5+6+4+.6) /

22、 20 = 5.14、計算控制上下限 XUCL=X+A2R平均數(shù)控制上限 XCL=X平均數(shù)中心限 XLCL=X-A2R平均數(shù)控制下限XUCL=50.26+A2R=50.26+0.577*5.1=53.2XCL=X=50.26XLCL=50.26-A2R=50.26-0.577*5.1=47.32圖表如下：RUCL=D4R=2.114*5.1=10.78RCL=R=5.1RXLCL=D3R=0圖表如下：移動極差移動極差移動極差是指一個測定值xi與緊鄰的測定值xi+1之差的絕對值，記作Rs， Rs= |xi- xi+1| （i=1,2,k-1) k為測定值的個數(shù); k個測定值有k-1個移動極差,每

23、個移動極差值相當與樣本大小n=2時的極差值. 3.1 3.1 控制圖繪制控制圖繪制 之之 單值單值- -移動極差圖移動極差圖計算均值計算均值1 計算總平均數(shù):2 計算移動極差平均數(shù):kiikxkkxxxx1211.11121111.kisiskssRkkRRRR計算控制界限計算控制界限3 計算控制界限:ssssssRxRExdRxLCLRxRExdRxUCLxCL66.2366.232222n=2時,E2=2.66X控制圖 3 計算控制界限:Rs控制圖0267. 334sSSSRDLCLRRDUCLRCL相當于n=2時的極差控制圖;n=2時,D4=3.267,D3=0例例1：某制藥廠某種藥品堿

24、的單耗數(shù)據(jù)如表，做：某制藥廠某種藥品堿的單耗數(shù)據(jù)如表，做單值單值-移動極差圖移動極差圖1)收收集集數(shù)數(shù)據(jù)據(jù)X-Rs控制圖實例控制圖實例2）計算各組的統(tǒng)計量）計算各組的統(tǒng)計量1)計算樣本的平均值：2)計算移動極差Rsi及其平均值：649. 32523.9111KiiXKx087. 02409. 2112426. 049. 375. 327. 076. 349. 311232121KisiSSsRKRxxRxxR個移動極差。依次類推，本例有第二個移動極差為：第一個移動極差為：填寫數(shù)據(jù)表如下：填寫數(shù)據(jù)表如下：子樣號xRs子樣號xRs13.76143.810.1523.490.27153.970.16

25、33.750.26163.640.3343.660.09173.670.0353.620.04183.60.0763.640.02193.610.0173.590.05203.61083.580.01213.60.0193.670.09223.680.08103.630.04233.660.02113.670.04243.620.04123.630.04253.610.21133.660.03合計91.232.09X圖Rs圖平均值3.6490.087CL3.6490.087系數(shù)n=2E2D4UCL3.880.284查表2.663.267LCL3.4183）計算控制界限）計算控制界限X控制圖Rs

26、控制圖418. 3087. 0*66. 2649. 3880. 3087. 0*66. 2649. 3649. 322ssREXLCLREXUCLXCL不考慮LCLRDUCLRCLss284. 0087. 0*267. 3087. 044）作控制圖）作控制圖X-Rs控制圖實例控制圖實例A.A.應(yīng)用場合：應(yīng)用場合：B.B.收集數(shù)據(jù)：收集數(shù)據(jù)：子組大?。ㄒ话愦笥?0個零件）子組頻率（一般每小時、每半日、每天、每周）子組數(shù)的大?。ńM數(shù)要達到25以上） P圖不合格品率控制圖，樣本含量可以不等，但計算量大， 控制線凹凸不平； 3.1 3.1 控制圖繪制控制圖繪制 之之 P P圖圖C.C.計算控制線：計算

27、控制線：計算控制線：nPPPLCLnPPPUCLPP)1(3)1(3備注：1.當P很小或n很小時，LCL計算有時會為負，此時下控制線按0??；2.當n變化在 25%以內(nèi)時，上述公式可用 代替n，避免控制線 凹凸不平；nE.E.畫圖：畫圖：選擇控制圖的刻度；將計算值畫到控制圖上；P圖圖 案例案例數(shù)據(jù)收集數(shù)據(jù)收集132809791423493215116817216268536173456381815482719245830202147292122412222189512233012352425212725198618樣本號 當班生產(chǎn)總數(shù)不合格品計算控制界限計算控制界限作控制圖普通原因是造成過程數(shù)據(jù)

28、之間的差異，普通原因是造成過程數(shù)據(jù)之間的差異，但數(shù)據(jù)總體分布隨時間推移具有重復性但數(shù)據(jù)總體分布隨時間推移具有重復性和穩(wěn)定性的許多原因的總和；普通原因和穩(wěn)定性的許多原因的總和；普通原因存在于任何過程，不能利用現(xiàn)有技術(shù)進存在于任何過程，不能利用現(xiàn)有技術(shù)進行控制，其對過程的影響是輕微且不確行控制，其對過程的影響是輕微且不確定的；定的；減少普遍原因變差需通過重新設(shè)減少普遍原因變差需通過重新設(shè)計過程計過程/DOE /機器的投資而作出改善。機器的投資而作出改善。普通原因示例普通原因示例原料在一定范圍內(nèi)之微小變異原料在一定范圍內(nèi)之微小變異機器的特性機器的特性(如年齡、運行溫度、公差如年齡、運行溫度、公差)環(huán)

29、境環(huán)境(如濕度、光線如濕度、光線)特殊原因是造成過程數(shù)據(jù)之間的差異，特殊原因是造成過程數(shù)據(jù)之間的差異，且數(shù)據(jù)總體分布隨時間推移會發(fā)生變化且數(shù)據(jù)總體分布隨時間推移會發(fā)生變化的原因；特殊原因?qū)^程的影響很大，的原因；特殊原因?qū)^程的影響很大，但不一定每個過程都存在，可利用現(xiàn)有但不一定每個過程都存在，可利用現(xiàn)有技術(shù)進行控制；技術(shù)進行控制；特殊原因示例特殊原因示例物料改變物料改變(如新供貨商、不同的紙張如新供貨商、不同的紙張) 機器或過程故障機器或過程故障(如模具磨損如模具磨損) 不同操作員不同操作員(如新的受訓者如新的受訓者) 環(huán)境改變環(huán)境改變(如天氣時常很差如天氣時常很差)未依據(jù)作業(yè)標準執(zhí)行作業(yè)未

30、依據(jù)作業(yè)標準執(zhí)行作業(yè)過程變異過程變異普通原因普通原因特殊原因特殊原因3.2 3.2 控制圖判異控制圖判異3.2.13.2.1普通原因和特殊原因普通原因和特殊原因如果過程中，只有普通原因的變異存在，隨時間推移，過程數(shù)據(jù)分布狀態(tài)（位置、分布寬度、分布形狀）不變，則其成品將形成一個很穩(wěn)定的分布，而且是可以預測的，那么我們就認為該過程處于受控狀態(tài)。時間可預測可預測2 52 01510507 57 06 5S a m p le N u m b e rSample MeanX -B a r C h a rt fo r P ro c e s s AX = 7 0 .9 1U C L = 7 7 .2 0L

31、C L = 6 4 .6 22 52 01510507 57 06 5S a m p le N u m b e rSample MeanX -B a r C h a rt fo r P ro c e s s AX = 7 0 .9 1U C L = 7 7 .2 0L C L = 6 4 .6 2過程受控過程受控范圍 時間無法無法預測預測如果過程中，有特殊原因的變異存在，隨時間推移，過程數(shù)據(jù)分布狀態(tài)（位置、分布寬度、分布形狀）將改變，則其成品將為不穩(wěn)定的分布，而且無法預測的；那么我們就認為該過程處于不受控狀態(tài)。2 52 01510508 07 06 05 0S a m p le N u m b

32、 e rSample MeanX - B a r C h a r t fo r P r o c e s s BX = 7 0 .9 8U C L = 7 7 .2 7L C L = 6 4 .7 0過程不受控過程不受控特殊原因特殊原因3.2.2 3.2.2 工序穩(wěn)定的判定標準工序穩(wěn)定的判定標準判斷標準判斷標準：工序質(zhì)量特性值分布的變化是通過控制圖上點子的分布體現(xiàn)出來的，因此工序是否處于穩(wěn)定狀態(tài)要依據(jù)點子的位置和排列來判斷。工序處于穩(wěn)定的控制狀態(tài)，必須同時滿足兩個條件：控制圖的點子全部在控制界限內(nèi)。點子的排列無缺陷。即點子在控制界限內(nèi)的波動是隨機波動，不應(yīng)有明顯的規(guī)律性。點子排列的明顯規(guī)律性稱為

33、點子的排列缺陷。 3.2.3 3.2.3 控制圖判異口訣控制圖判異口訣將國標中的控制圖的8條判異準則，每條總結(jié)成2到5個字，總共二十多個字，可以像背詩一樣，很容易記住：一外、九同、六遞、十四交三二同B外、五四同C外、十五C內(nèi)、八C外一外：1個點落在A區(qū)以外九同：連續(xù)9點落在中心線同一側(cè)六遞：連續(xù)6點遞增或遞減十四交：連續(xù)14點中相鄰點交替上下三二同B外：連續(xù)3點中有2點落在中心線同一側(cè)的B區(qū)外五四同C外：連續(xù)5點中有4點落在中心線同一側(cè)的C區(qū)外十五C內(nèi)：連續(xù)15點落在中心線兩側(cè)的C區(qū)以內(nèi)八C外： 連續(xù)8點落在中心線兩側(cè)且無一在C區(qū)以內(nèi)（即在C區(qū)以外）判異依據(jù)：小概率事件判異依據(jù)：小概率事件一外

34、一外：一個點落在：一個點落在A A區(qū)以外區(qū)以外異常原因：新操作人員，方法不對，機器故障，原料不合格檢驗方法或標準變化計算錯誤，測量誤差九同九同：連續(xù)：連續(xù)9 9點落在中心線同一側(cè)點落在中心線同一側(cè)異常原因：新操作人員，方法不對，機器故障，原料不合格檢驗方法或標準變化計算錯誤，測量誤差六遞六遞：連續(xù)：連續(xù)6 6點遞增或遞減點遞增或遞減異常原因：工具逐漸磨損，維護水平逐漸降低，操作人員技能逐漸提高十四交十四交：連續(xù)：連續(xù)1414點中相鄰點交替上下點中相鄰點交替上下異常原因：白夜班交替，交替使用兩不同機臺，兩個不同供應(yīng)商的材料交替使用三二同三二同B B外外：連續(xù)連續(xù)3 3點中有點中有2 2點落在中心

35、線同一側(cè)的點落在中心線同一側(cè)的B B區(qū)以外區(qū)以外異常原因：新操作人員，方法不對，機器故障，原料不合格檢驗方法或標準變化計算錯誤，測量誤差五四同五四同C C外外：連續(xù)連續(xù)5 5點中有點中有4 4點落在中心線同一側(cè)的點落在中心線同一側(cè)的C C區(qū)以外區(qū)以外異常原因：新操作人員，方法不對，機器故障，原料不合格檢驗方法或標準變化計算錯誤，測量誤差十五十五C C內(nèi)內(nèi)：連續(xù)連續(xù)1515點落在中心線兩側(cè)的點落在中心線兩側(cè)的C C區(qū)內(nèi)區(qū)內(nèi)異常原因：數(shù)據(jù)不真實計算錯誤數(shù)據(jù)分層不夠八八C C外外：連續(xù)連續(xù)8 8點落在中心線兩側(cè)且無一在點落在中心線兩側(cè)且無一在C C區(qū)內(nèi)區(qū)內(nèi)異常原因：數(shù)據(jù)分層不夠中位線(CL)下控制界

36、限(LCL)26區(qū)域A區(qū)域B區(qū)域C區(qū)域C區(qū)域B區(qū)域A上控制界限(UCL)練習：找出異常點練習：找出異常點內(nèi)容安排內(nèi)容安排1認知認知 SPCSPC2控制圖介紹控制圖介紹3控制圖繪制及判異控制圖繪制及判異4過程能力過程能力5SPC SPC 推行推行4.14.1基本概念基本概念4 4、過程能力、過程能力過程能力Cp 指處于 統(tǒng)計穩(wěn)定狀態(tài)統(tǒng)計穩(wěn)定狀態(tài)下過程的實際加工能力；過程能力指數(shù)Cpk 是依特性值的規(guī)格或過程特性的中心位置及一致程度,來表示過程中心的偏移和過程均勻度.Cp:“我們能做得多好”Cpk:“我們真正能做得多好”CpCp:-:-過程能力過程能力（Process Capability )1.

37、定量表示工序能力滿足產(chǎn)品設(shè)計的質(zhì)量要求的程度，工序能力就 是產(chǎn)品公差范圍（T）與工序能力（B）之比.2.工序能力的計算A.當給定雙向公差，質(zhì)量數(shù)據(jù)分布中心（x）與公差上心（M） 相一致時，用符號CP表示。B.當質(zhì)量數(shù)據(jù)分布中心（x）與公差上心（M）不一致時，引于“過 程能力指數(shù)”的概念,用符號Cpk表示 Tu公差上限 TL公差下限4.2 4.2 過程能力計算過程能力計算STTTBTCLUP66Cpk:-Cpk:-過程能力過程能力指數(shù)指數(shù) 當給定雙向公差,質(zhì)量數(shù)據(jù)分布中心與公差中心不一致時，即存在中心偏移量（）時，用符號Cpk表示:Cpk的計算公式的計算公式: Cpk =Min(CPU,CPL)

38、-為CPU及CPL中最小 CPU 為上能力指數(shù)（Upper Capability Index) CPL 為下能力指數(shù)（Lower Capability Index)3USLXCpu.13LSLXCPL.262TCPK6TCP提高工序能力指數(shù)的途徑提高工序能力指數(shù)的途徑由工序能力指數(shù)的計算公式 可見，影響工序 能力指數(shù)的有三個變量，即產(chǎn)品質(zhì)量規(guī)格范圍（公差范圍公差范圍T T）；工序加工的分布中心x與公差中心M的偏移量；工序加工的質(zhì)量特性值分散程度，標準偏差S S。簡言之，減少中心偏移量，或減少標準偏差S，或增大公差范圍T，都能提高工序能力指數(shù)。1.1.調(diào)整工序加工的分布中心，減少偏移量調(diào)整工序加

39、工的分布中心，減少偏移量A. 分布中心與公差中心不偏離時，不會產(chǎn)生不合格品。而當存在中心偏移1以上時，則產(chǎn)生不合格品的概率較高.B.即使工序能力已經(jīng)能夠基本滿足公差要求，但由于工序加工存在著中心偏離，也會嚴重地影響工序能力指數(shù)，仍出現(xiàn)相當數(shù)量的不合格品.STkCP624.4“4.4“提高過程能力提高過程能力 ”的方法的方法減少減少工序加工的中心偏移量的措施如下：工序加工的中心偏移量的措施如下： 1.對大量生產(chǎn)工序進行統(tǒng)計分析，得出由于刀具磨損和加工條件等隨著時間的推移而逐漸變化的偏移規(guī)律，因而可及時進行中心調(diào)整，或采取設(shè)備自動補償偏移或刀具自動調(diào)整和補償?shù)取?.根據(jù)中心偏移量，通過首件檢驗，可

40、調(diào)整設(shè)備、刀具等的加工定位裝置。3.改變操作者的孔加工偏向下差及軸加工偏向上差等的傾向性習慣，以公差中心值為加工依據(jù)。 4.配置更為精確的量規(guī)，或由量規(guī)檢驗改為量值檢驗，或采用高一等級的量具檢測2 2、提高工序能力，減少分散程度、提高工序能力，減少分散程度工序加工的分散程度，即工序加工的標準偏差S。由于材料、設(shè)備、工裝模具、工序安排和工藝方法等影響，對工序能力指數(shù)的影響是十分顯著的。 提高工序能力，減少分散程度的措施極為廣泛，一般有：A.改進工藝方法，如修訂操作規(guī)程，優(yōu)化工藝參數(shù)B.檢修、改造或更新設(shè)備C.增添工具工裝，提高工具工裝的精度D.更改、改造現(xiàn)有的現(xiàn)場環(huán)境條件E.改變材料的批次差異，

41、減少因此而造成的質(zhì)量波動F.對關(guān)鍵工序、特種工藝的操作者進行技術(shù)培訓G.加強現(xiàn)場的質(zhì)量控制，如設(shè)置工序質(zhì)量管理點或推行控制圖管理3. 修訂公差范圍修訂公差范圍 公差范圍大小，顯然影響工序能力指數(shù)。當確信降低公差要求和放寬公差范圍不致影響產(chǎn)品質(zhì)量時，有必要修訂不切實際的公差要求。當中心偏移量=0時，如CP值仍舊小于1時，可考慮是否有可能放寬公差范圍，或提高工序能力，減少工序加工的分散程度。放寬公差范圍必須有不影響產(chǎn)品質(zhì)量，不影響用戶使用效果的充分依據(jù)。764.5 Cpk 4.5 Cpk PpkPpk1.Cpk&Ppk之計算公式完全一樣;2.差異在于標準偏差()的公式不同;Cpk計算(組內(nèi)

42、變異);Ppk計算(組內(nèi)+組間變異) Cpk Cpk和和PpkPpk兩者之間有什么區(qū)別？兩者之間有什么區(qū)別？1.衡量對象不同: Cpk是衡量穩(wěn)定過程的綜合能力的一個指標,Ppk是衡量不穩(wěn)定或不知道是否穩(wěn)定的過程(如初始過程)的性能的一個指標.2.計算方法不同:在Cpk的計算中,CP的算法與Ppk中的PP的算法是不同的.3.要求不同:一般Cpk要求1.33以上就可以了,而Ppk要求1.67以上.4.名稱不同: Cpk是過程能力指數(shù),Ppk是過程性能指數(shù).5.實施時機不同: Cpk一般是量產(chǎn)時實施,Ppk一般試生產(chǎn)時實施.6.其它不同:可以看一下SPC第二版,里面有詳細介紹.4.6 4.6 過程能

43、力和不合格率的關(guān)系過程能力和不合格率的關(guān)系CP公差范圍公差范圍合格品率（合格品率（%）不合格品率（不合格品率（ppm）0.671.001.331.672.002345695.5699.7399.993499.99993699.99999984444322700660.640.002上述與我們平時說的“過程能力達到6時，時，不合格為不合格為3.4PPM”為什么不一樣？為什么不一樣？內(nèi)容安排內(nèi)容安排1認知認知 SPCSPC2控制圖介紹控制圖介紹3控制圖繪制及判異控制圖繪制及判異4過程能力過程能力5SPC SPC 推行推行5 5、SPC SPC 推行推行5.1 SPC5.1 SPC推行相關(guān)人員權(quán)責推

44、行相關(guān)人員權(quán)責職位權(quán)責所需看和分析的圖形分析頻率生產(chǎn)副總核準SPC推行方案，協(xié)調(diào)各部門關(guān)系，監(jiān)督SPC運作成效PPM/不良率圖、柏拉圖每月或重要客戶或產(chǎn)品市場部內(nèi)勤了解各批次質(zhì)量狀態(tài)P圖每一批次分析一次采購員了解進料質(zhì)量狀況進料P圖每一批次分析一次質(zhì)量主管審核SPC推行計劃，定時看圖分析質(zhì)量狀態(tài)，界定質(zhì)管部內(nèi)部關(guān)系，指導SPC系統(tǒng)運作，安排今后的SPC培訓。PPM/不良率推移圖、柏拉圖每2至3天分析一次Xbar-R圖、P圖等控制圖每5個點分析一次質(zhì)量工程師適時觀看各質(zhì)量圖形，界定各基本資料，出問題時提醒生產(chǎn)部門，協(xié)同生產(chǎn)部制定過程質(zhì)量標準。Xbar-R圖、P圖等控制圖最好適時監(jiān)控與分析柏拉圖、

45、PPM/不良率圖每批次或每5點分析一次生產(chǎn)主管觀看本部門的產(chǎn)品品質(zhì)狀況，對出問題采取具體執(zhí)行措施Xbar-R圖、P圖等控制圖每收集完成1至2個點分析一次或一個批次生產(chǎn)完5.25.2控制圖應(yīng)用控制圖應(yīng)用控制圖分類控制圖分類-按用途或應(yīng)用階段按用途或應(yīng)用階段1.1.分分析用控制析用控制圖：圖： 根據(jù)樣本數(shù)據(jù)計算出控制圖的中心線和上、下控制根據(jù)樣本數(shù)據(jù)計算出控制圖的中心線和上、下控制界限，畫出控制圖，以便分析和判斷過程是否處于界限，畫出控制圖，以便分析和判斷過程是否處于于穩(wěn)定狀態(tài)。如果分析結(jié)果顯示過程有異常波動時，于穩(wěn)定狀態(tài)。如果分析結(jié)果顯示過程有異常波動時，首先找出原因，采取措施，然后重新抽取樣本

46、、測首先找出原因，采取措施，然后重新抽取樣本、測定數(shù)據(jù)、重新計算控制圖界限進行分析。定數(shù)據(jù)、重新計算控制圖界限進行分析。2.2.控制用控制控制用控制圖：圖： 經(jīng)過上述分析證實過程穩(wěn)定并能滿足質(zhì)量要求，此經(jīng)過上述分析證實過程穩(wěn)定并能滿足質(zhì)量要求，此時的控制圖可以用于現(xiàn)場對日常的過程質(zhì)量進行控時的控制圖可以用于現(xiàn)場對日常的過程質(zhì)量進行控制。制?？刂茍D應(yīng)用控制圖應(yīng)用1. 收集數(shù)據(jù)收集數(shù)據(jù)2. 建立控制限建立控制限3. 統(tǒng)計上受不統(tǒng)計上受不受控的解釋受控的解釋4. 為了持續(xù)控為了持續(xù)控制延長控制限制延長控制限1)1)建立一個抽樣計劃建立一個抽樣計劃2)2)控制圖的設(shè)置控制圖的設(shè)置3)3)記錄原因數(shù)據(jù)記

47、錄原因數(shù)據(jù)4)4)計算每一個子組樣本的控制統(tǒng)計量計算每一個子組樣本的控制統(tǒng)計量5)5)將控制統(tǒng)計量畫在控制圖上將控制統(tǒng)計量畫在控制圖上2. 建立控制限建立控制限1)1)確定控制圖中心線確定控制圖中心線2)2)確定控制圖上控制限和下控制限確定控制圖上控制限和下控制限3. 統(tǒng)計上受不統(tǒng)計上受不受控的解釋受控的解釋1)1)分析極差圖上的點分析極差圖上的點 ( (控制圖判異控制圖判異) )2)2)識別并標識特殊原因（識別并標識特殊原因（R R圖）圖）3)3)重新計算控制限（重新計算控制限（R R圖）圖）4)4)識別和處理特殊原因（均值圖）識別和處理特殊原因（均值圖）5)5)重新計算控制限（均值圖）重新計算控制限（均值圖）當過程受控時并經(jīng)過過程能力評價滿足要求時，當過程受控時并經(jīng)過過程能力評價滿足