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文檔簡介

平衡點(diǎn)缺陷數(shù)目:平衡點(diǎn)缺陷數(shù)目: 在點(diǎn)缺陷的平衡濃度下晶體的自由能最低,系統(tǒng)最穩(wěn)定。當(dāng)在一定的溫度下,晶體中點(diǎn)缺陷的數(shù)目明顯超過其平衡濃度時,這些點(diǎn)缺陷稱為過飽和點(diǎn)缺陷,通常有三種方式產(chǎn)生:淬火淬火(quenching)冷加工冷加工(cold working)輻照輻照(radiation)兩種位錯特征的比較 與晶向指數(shù)相似,只不過晶向指數(shù)沒有“大小”的概念,而柏氏矢量必須在晶向指數(shù)的基礎(chǔ)上把矢量的模也表示出來,因此柏氏矢量的大小和方向要用它在各個晶軸上的分量,即點(diǎn)陣矢量a,b和c來表示。 222abuvwn b122a132aaadJDdx /0Q RTDD e87329811exp()298873DQDR98732984.6 10DD288732989.5 10DD98732984.6 10DD288732989.5 10DDexp()vEcAkT得到600600300300exp()exp()vvEcAkTEcAkT660030010exp()vvEEkTkT由已知條件660030010cc得到兩邊取自然對數(shù),得到193.18 10vEJ

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