辦公樓綜合布線系統(tǒng)測試

1、辦公樓綜合布線系統(tǒng)測試1.1測試描述系統(tǒng)測試、驗收將根據(jù)建筑與建筑群綜合布線系統(tǒng)工程施工及驗收規(guī)范(GB/T50312-2000)進行。測試標(biāo)準(zhǔn)雙絞線連接：根據(jù) ISO IS 11801 國際標(biāo)準(zhǔn) Class D(CAT.6)之要求制定光纖連接：根據(jù)ISO IS 11801國際標(biāo)準(zhǔn) Optical Class之要求制定測試范圍水平布線點進行100%測試，數(shù)據(jù)主干進行100%測試。被測線路的定義雙絞線連接光纖連接銅纜測試項目使用FLUKE DSP-4000系列測試儀測試雙絞電纜時，提供 如下內(nèi)容：接線圖電阻長度傳輸遲延遲延偏離阻抗近端串?dāng)_(NEXT-Near-end Crosstalk )衰減衰

2、減串?dāng)_比(ACR環(huán)路損耗(RL-Return loss )功率總和的近端串?dāng)_(PS NEXT)功率總和的遠端串?dāng)_(PS FEXT)功率總和的等電平遠端串?dāng)_(PS ELFEXT)光纖測試項目測試波長：1300nm或 850nm;主干子系統(tǒng)光纖連接：信號衰減 1.5dB（500m 波長 1300nmj）信號衰減 3.5dB（500m 波長850nn）1.2測試儀器的選用對于銅纜測試建議采用美國FLUKE公司的局域網(wǎng)電纜測試儀，該測試儀是一種手持式的儀器，它可用來對安裝的局 域網(wǎng)雙電纜線、同軸電纜進行認(rèn)證、測試以及故障診斷，該 儀器使用了新的測試技術(shù)，它將脈沖測試信號和數(shù)字信號處理結(jié)合起來提供了快速

3、精確的測試結(jié)果。它提供的測試結(jié)果符合IEEE、ANSL TAI、ISO/IEC 等有關(guān)國際標(biāo)準(zhǔn)。使用該 儀器可對綜合布線工程的質(zhì)量提供可靠的依據(jù)。對于光纖測試使用兩個光纖損耗測試儀用來測試光纖傳輸損耗，為了使在兩個地點進行測試的操作員之間進行通話需要有對 講機，也可以使用美國FLUKE公司的DSP-4000 （需配光纖測 試模塊及適配器）來完成測試。測試人員由本公司派出工程師在用戶方與監(jiān)理工程師監(jiān)督下共同 完成整個系統(tǒng)的測試工作，并填寫測試表。設(shè)置電纜類型執(zhí)行自檢分別用跳線將主機和遠端器連接在被測網(wǎng)段上按動主機上的TEST鍵，片刻后儀器將顯示出測試結(jié)果存儲測試結(jié)果作為國際標(biāo)準(zhǔn)化委員會的重要成員

4、、ISO/IEC 11801第二版的編輯，時刻把握國際標(biāo)準(zhǔn)的最新動態(tài)。此工程的驗收將測試信道(Channel)的性能，如下圖所示:ChannelA+E=10mmax.信道測試內(nèi)容包括:-連通性-端接線序(Wire Map)-直流電阻-特性阻抗衰減(Attenuation)-近端串?dāng)_衰減(NEXT loss)功率總和近端串?dāng)_衰減 (PS-NEXT loss)衰減串?dāng)_比 (ACR)功率總和衰減串?dāng)_比 (PS-ACR)等效電平遠端串?dāng)_衰減 (ELFEXT loss)功率總和等效遠端串?dāng)_衰減 (PS-ELFEXT loss)回波損耗 (Return Loss)時延 (Delay)時延偏差 (Delay

5、 Skew)本工程測試驗收所采用的為美國FLUKE公司的測試儀配專用 6類適配器 , 該測試儀有以下特性：1支持頻帶寬達 250MHz。2驗證 6 類布線。3具有 100dB 的動態(tài)量程。4快速自動測試，提供較好的工作效率。5具備自學(xué)式的數(shù)據(jù)管理功能。根 據(jù) ISO/IECJTC1/SC25/WG3N568 規(guī)范 ， 新的 超五類TIA/EIA-568B.2-1 標(biāo)準(zhǔn)信道( CHANNE)L 有以下指標(biāo)：-衰減(Attenuation ) 35.3dB100MHz-功率總和近端串?dāng)_衰減(PS-NEXTIoss) 32.3dB100MHz-衰減串?dāng)_比(ACR)14.0dB100MHz- 等 效電

6、平 遠端串 擾衰減(ELFEXTIoss) 23.8dB100MHz-功率總和等效遠端串?dāng)_衰減(PS-ELFEXTloss)20.8dB100MHz-回波損耗(ReturnLoss) 20.1dB100MHz-時延(Delay) 536nS100MHz-時延偏差(DelaySkew)45nsMax光纖的測試光纖路徑損耗的測試步驟設(shè)置測試設(shè)備按光纖損耗測試設(shè)備一起提供的指令來設(shè)置它們。調(diào)零調(diào)零用來消除能級偏移量，當(dāng)測試非常低的光能級時， 不調(diào)零則會引起很大的誤差，調(diào)零還能消除跳線的損耗，為位置A位置B光源|光源檢波器4光纖路徑檢波器OLTS測試連接點OLTS了調(diào)零，在位置 A用一跳線將測試儀的光

7、源（輸出端口）和檢 波器插座（輸入端口）連接起來，在光纖路徑的另一端（位置B）完成同樣的工作，你必須在兩個位置（A和B）上對兩個測試儀調(diào)零，參看圖1。按自校按鈕連續(xù)按住自校按鈕一秒鐘以上，等待20秒鐘的時間來完成自校準(zhǔn)。測試光纖路徑中的損耗（位置A到位置B方向上的損耗） 參看圖2。在位置A的測試儀上從檢波器插座（IN端口）處斷開跳線51, 并把S1連接到被測的光纖路徑上。在位置B的測試儀上從檢波器插座（IN端口）處斷開跳線52。在位置B的測試儀檢波器插座（輸入端口）與被測光纖通路的置B端之用另條光光源 .光源檢波器10Z/光纖路徑aD21CI檢波器位置A位置BS1S2測量損耗在此讀出被測損耗的

8、方向跳線連接起來測試光纖路徑中的損耗（位置B到位置 A 在位置B的光纖路徑處將跳線 D2斷開； 將跳線S2（位置B處的）連接到光纖路徑上;位置B位置A光源檢波器OLTS光纖路徑S2源ooDT |檢波器被測損耗的方向OLTS測量損耗在此讀出從位置A處將跳線S1從光纖路徑上斷開；用另一條跳線D1將位置A處測試儀檢波器插座（IN端口 ） 與位置A處的光纖路徑連接起來；在位置A處的測試儀上測試出B到A方向上的損耗。計算光纖路徑上的傳輸損耗，然后將數(shù)據(jù)認(rèn)真地記錄下來。計算時采用下列公式：平均損耗=損耗（A到B方向）+損耗（B到A方向）/2、記錄所有的數(shù)據(jù)當(dāng)一條光纖路徑建立好后，測試的是光纖路徑的初始損

9、耗，要認(rèn)真地將安裝系統(tǒng)時所測試的初始損耗記錄在案。以后當(dāng)某條光纖路徑工作不正常時，要進行測試，這時 的測試值要與最初測試的損耗值比較，若高于最初測試的損 耗值，則表明存在問題，可能是測試設(shè)備的，也可能是光纖 路徑的問題。重復(fù)此過程如果示出的數(shù)據(jù)高于最初記錄的損耗值，那么要對所有 的光纖連接器進行清洗，此外，你還要檢查對設(shè)備的操作是 否正確，還要檢查測試跳線連接條件。如果重復(fù)出現(xiàn)較高的損耗值，那么就要檢查光纖路徑上 有沒有不合格的接續(xù)，損壞的連接器，被壓住/挾住的光纖記錄測試數(shù)據(jù)按如下圖表填寫測試數(shù)據(jù)光纖損耗測試數(shù)據(jù)單光纜標(biāo)識：測試日期：區(qū)域：地點X的末端地點丫的末端末端丫的操作員： 末端X的操作員：測試要求：MAX期望損耗小于dB光纖號No波長(nm)在x位置的損 耗讀數(shù)Lx(dB)在丫位置的損 耗讀數(shù)Ly(dB)總損耗為(Lx+Ly)/2(dB)123456保護地線測