DINEN102283德國探傷標(biāo)準(zhǔn)

1、德國標(biāo)準(zhǔn) 1998.7鋼鍛件的無損檢測第3部分鐵素體或馬氏體鋼（鍛件）的超聲波檢驗DIN EN 10228-3 標(biāo)準(zhǔn)的英文版DINEN 10228-3主題詞：鍛件，鋼，無損檢測鋼鍛件的無損檢測第3部分 鐵素體或馬氏體鋼（鍛件）的超聲波檢驗歐盟標(biāo)準(zhǔn)EN 10228-3：1998按照德國標(biāo)準(zhǔn)DIN書寫，逗號用作小數(shù)點。國家標(biāo)準(zhǔn)前言本標(biāo)準(zhǔn)根據(jù)ECISS/TC28起草。本標(biāo)準(zhǔn)由德國鋼鐵標(biāo)準(zhǔn)委員會，鍛件技術(shù)委員會負(fù)責(zé)解釋。本標(biāo)準(zhǔn)共19頁。標(biāo)準(zhǔn)號碼： DIN EN 10228-3：1998.07歐盟標(biāo)準(zhǔn)EN 10228-31998.05主題詞：鍛件，鋼，無損檢測英文版鋼鍛件的無損檢測第3部分 鐵素體或馬氏

2、體鋼（鍛件）的超聲波檢驗本標(biāo)準(zhǔn)由歐盟標(biāo)準(zhǔn)化委員會（CEN）1997.12.21批準(zhǔn)。根據(jù)CEN/CENELEC內(nèi)部協(xié)議，歐盟標(biāo)準(zhǔn)化委員會（CEN）成員國必須不折不扣地執(zhí)行歐盟標(biāo)準(zhǔn)。與國家標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)的引用標(biāo)準(zhǔn)的更新可從標(biāo)準(zhǔn)化委員會的總部申請得到，也可從任何一個成員國獲得。歐盟標(biāo)準(zhǔn)有三個官方版本（英文、法文和德文）。其他語言的翻譯，需要歐盟標(biāo)準(zhǔn)化委員會成員國負(fù)責(zé)，同時需要標(biāo)準(zhǔn)化委員會總部進(jìn)行公證以表明與官方文本保持一致。歐盟標(biāo)準(zhǔn)化委員會成員國有：奧地利、比利時、丹麥、芬蘭、法國、德國、希臘、冰島、愛爾蘭、意大利、盧森堡、荷蘭、挪威、葡萄牙、西班牙、瑞典、瑞士和英國。CEN目錄 頁碼前言 21范圍 3

3、2引用標(biāo)準(zhǔn) 33定義 34約定條款 45檢驗程序 46人員資質(zhì) 57設(shè)備及附件 58標(biāo)定及檢查 69制造階段 610表面狀況 711靈敏度 712掃描 813分類 1114記錄水平和合格標(biāo)準(zhǔn) 1415缺陷定量 1616報告 16附錄A （信息性）圓周橫波掃描最大測試深度。附錄B （信息性）相對于DAC（）的分貝dB前言本歐盟標(biāo)準(zhǔn)由ECISS/TC28 鋼制鍛件技術(shù)委員會編制，該委員會的秘書部掛靠在英國標(biāo)準(zhǔn)機(jī)構(gòu)BSI。本歐盟標(biāo)準(zhǔn)將以國家標(biāo)準(zhǔn)的形式給出，或1998年11月最新版的同樣原文以背書的形式公布，與此國家標(biāo)準(zhǔn)相沖突的一切標(biāo)準(zhǔn)，將在1998年11月作廢。本歐盟標(biāo)準(zhǔn)的其他部分的題目為：PART

4、1：磁粉檢驗PART2：滲透檢驗（著色探傷）PART4：奧氏體以及奧氏體-鐵素體不銹鋼鍛件超聲波檢驗。根據(jù)CEN/CENELEC內(nèi)部規(guī)定，下列國家的標(biāo)準(zhǔn)機(jī)構(gòu)使用在歐盟標(biāo)準(zhǔn)：.奧地利、比利時、丹麥、芬蘭、法國、德國、希臘、冰島、愛爾蘭、意大利、盧森堡、荷蘭、挪威、葡萄牙、西班牙、瑞典、瑞士和英國。1.范圍歐盟標(biāo)準(zhǔn)EN10228-3的本部分給出了由鐵素體以及馬氏體組成的鍛件的脈沖回聲檢驗、超聲波檢驗的操作技術(shù)指導(dǎo)手冊。機(jī)械掃描技術(shù)如油浸檢驗也可用于鍛件檢測，但是需要買賣雙方進(jìn)行協(xié)商。歐盟標(biāo)準(zhǔn)EN10228-3適用于4類鍛件，按鍛件的形狀以及生產(chǎn)方法進(jìn)行分類，第1、2、3類為簡單形狀的鍛件，第4類則

5、為復(fù)雜形狀的鍛件。EN10228-3不能用于：-模鍛件-渦輪葉片以及發(fā)動機(jī)鍛件。奧氏體以及奧氏體-鐵素體不銹鋼鍛件超聲波檢驗的具體標(biāo)準(zhǔn)在歐盟標(biāo)準(zhǔn)EN10228-4中給出。2.引用標(biāo)準(zhǔn)EN10228-3由過期或不過期的標(biāo)準(zhǔn)以及其他標(biāo)準(zhǔn)出版物組成，在正文的相應(yīng)地方引用了下列標(biāo)準(zhǔn)以及標(biāo)準(zhǔn)出版物：對于過期的引用標(biāo)準(zhǔn)，只有當(dāng)本標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行修改或更新時，其相應(yīng)修改或這些修改版本的出版物才可用于本規(guī)范。對于未過期的標(biāo)準(zhǔn)，最新的版本可用于本標(biāo)準(zhǔn)。EN473 無損檢測（NDT）人員資質(zhì)prEN 12668 無損檢測超聲波檢驗（NDT-UT）設(shè)備的特性以及核實第1部分： 設(shè)備第2部分： 探頭第3部分： 組合設(shè)備prE

6、N583 超聲波檢驗（UT）第2部分：靈敏度和范圍設(shè)定第5部分：缺陷的性質(zhì)與尺寸prEN12223超聲波檢驗（UT）標(biāo)準(zhǔn)試塊prEN1330 無損檢測（NDT）術(shù)語第4部分：在無損檢測（UT）中使用的術(shù)語。3.定義prEN1330-4中給出的定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)EN10228。4.約定條款在詢價或定貨階段買賣雙方應(yīng)該對有關(guān)超聲波檢驗（UT）的如下方面進(jìn)行協(xié)商：在鍛件生產(chǎn)的哪一個階段，應(yīng)進(jìn)行超聲波檢驗(UT)（見第9條）；A 檢驗的數(shù)量以及是否需要柵格掃描或100%的掃描覆蓋。（見第12條）；B 使用雙晶探頭對近表面進(jìn)行檢測（見7.2.6）；C 要求的質(zhì)量等級，或使用的質(zhì)量等級以及該等級的應(yīng)用區(qū)域（

7、見第14條）；D 如與表5，表6或表7的詳細(xì)要求不同，則需要建立適用的記錄/合格標(biāo)準(zhǔn)；E 除第7及12條規(guī)定的詳細(xì)要求外，是否還需特殊的掃描覆蓋、設(shè)備或耦合劑；F 如不是手工掃描（見第1條），需給出所用的掃描工藝；G 對于條狀缺陷所使用的定量方法（見第15條）；H 靈敏度設(shè)定方法（見第11條）；I 進(jìn)行超聲波檢驗時是否需買方或其代表在場；J 檢驗程序是否需要買方認(rèn)可（見第5條）。5. 檢驗程序5.1概述超聲波檢驗將根據(jù)檢驗程序的規(guī)定進(jìn)行超聲波檢驗(UT)。如果在詢價或定貨時另有規(guī)定，檢驗程序要在檢驗前提交買方獲得認(rèn)可（見第5條）；5.2 形式本檢驗程序按以下形式編制：產(chǎn)品技術(shù)說明書；或A 一個

8、特定的檢驗程序；或B EN10228-3，如果還要求附加檢驗的詳細(xì)要求。5.3 內(nèi)容檢驗程序至少包含以下要求：待檢鍛件的描述A 參考文件B 檢驗人員資質(zhì)證明；C 制作階段所需進(jìn)行的檢驗；D 規(guī)定了適用質(zhì)量等級的檢驗區(qū)域；E 掃描前鍛件表面的準(zhǔn)備；F 耦合劑；G 檢驗設(shè)備的描述H 標(biāo)定以及設(shè)置；I 掃描計劃；J 檢驗操作的描述與次序；K 記錄/評判等級；L 缺陷性質(zhì)；M 合格標(biāo)準(zhǔn)；N 檢驗報告；6.人員資質(zhì)人員的資質(zhì)應(yīng)該符合EN473的要求；7.設(shè)備及輔助設(shè)備7.1 示波器（缺陷探測器）示波器（缺陷探測器）應(yīng)具有掃描性能以及滿足prEN12668-1要求。7.2 探頭7.2.1 一般要求直探頭和

9、斜探頭均應(yīng)符合prEN12668-2的要求。如果有進(jìn)一步的要求，可使用輔助探頭。輔助探頭不能用于初始探測缺陷，建議輔助探頭應(yīng)符合prEN12668-2的要求。7.2.2 外形探頭的外形應(yīng)該符合EN583-2的要求。7.2.3 標(biāo)準(zhǔn)頻率探頭應(yīng)為標(biāo)準(zhǔn)頻率，范圍為1MHz6MHz。7.2.4 標(biāo)準(zhǔn)探頭探頭有效晶體直徑的范圍為10mm40mm。7.2.5水平探頭水平探頭的聲束角度范圍為3570探頭有效晶體面積范圍為20mm262.5mm27.2.6 雙晶探頭如需對近表面進(jìn)行檢驗（見第4條），則使用雙晶探頭。7.3 標(biāo)準(zhǔn)試塊標(biāo)準(zhǔn)試塊應(yīng)滿足prEN12223的要求。7.4 參考試塊參考試塊用于當(dāng)靈敏度按照

10、距離波幅曲線（DAC）校正的方法確定缺陷尺寸時。當(dāng)采用按相對于參考反射物的波幅的技術(shù)來確定缺陷大小時，就需要參考試塊。參考試塊的表面狀況應(yīng)該能夠代表待檢構(gòu)件的表面狀況。如果沒有特殊的規(guī)定，參考試塊應(yīng)包含至少3個反射物，而且可以覆蓋全部檢查深度范圍。參考試塊的形狀取決于使用情況，它可按下面的方法之一來制造：超出待檢構(gòu)件的長度；或A與待檢構(gòu)件同材質(zhì)以及與待檢構(gòu)件同熱處理狀態(tài)；或B與待檢構(gòu)件具有相似的聲學(xué)特性。除非要檢查一個特定的當(dāng)量曲線圖（DGS）的準(zhǔn)確性，參考試塊不能用作DGS技術(shù)。注意：在參考參考塊上的反射物的尺寸要由表5、6中規(guī)定的詳細(xì)尺寸控制。表5、6中詳細(xì)規(guī)定的反射物的不同尺寸用作檢測相

11、應(yīng)的靈敏度。7.5 耦合劑所用的耦合劑要恰當(dāng)。同樣類型的耦合劑將用于標(biāo)定、靈敏度設(shè)定、掃描操作以及缺陷評判。檢查結(jié)束后，如留在工件上的耦合劑對后續(xù)的制作或檢驗作業(yè)或工件的完整性有不利的影響，應(yīng)清除殘留的耦合劑。注意：合適的耦合劑可為： 水（有或沒有腐蝕抑制劑或軟化劑），油脂，油，甘油以及水纖維漿糊。8 標(biāo)定及檢查按prEN12668-3中詳細(xì)規(guī)定的要求對組合設(shè)備（缺陷探測器及探頭）進(jìn)行標(biāo)定及檢查。9. 制造階段在最終質(zhì)量熱處理后進(jìn)行超聲波檢驗(UT)；除非在詢價或訂貨時另有約定（見第4條），即對于鍛件僅在制造的最終熱處理后進(jìn)行檢查是不實際的。注意：對于那些需要打孔的圓柱形及矩形鍛件，建議在打孔

12、之前進(jìn)行超聲波檢驗(UT)。10.表面狀況10.1 概述待掃描的表面應(yīng)沒有油漆、附著的氧化皮、已干的耦合劑、表面不規(guī)則物體或其他可能減少耦合作用、阻礙探頭移動或引起評判錯誤的物體。10.2 與質(zhì)量等級相關(guān)的表面粗糙度表面加工精度應(yīng)與要求的質(zhì)量等級相一致（見表1）表1：與質(zhì)量等級相關(guān)的表面加工精度表面加工精度質(zhì)量等級與表面粗糙度R123425um12.5um12.5um6.3um機(jī)械加工XXXX機(jī)械加工及熱處理XXX-注意: X表明只有通過特殊的表面加工才能達(dá)到相應(yīng)的質(zhì)量等級。10.3 鍛件表面狀況只要鍛件以鍛制表面狀態(tài)供貨時，只要能達(dá)到特定的質(zhì)量等級，該鍛件就認(rèn)為是可接受的。注意：對原始鍛件表

13、面進(jìn)行綜合的檢查是困難的。建議采用拋丸、噴砂或表面打磨以確保聲學(xué)耦合效果。通常只達(dá)到質(zhì)量等級1。11.靈敏度11.1概述靈敏度要確保足以能探測到規(guī)定的某一質(zhì)量等級的（見表5，6及7）最小的缺陷。按照11.2及11.3的工藝(DAC或DGS)中對所用的特定探頭（見第4條）設(shè)定掃描靈敏度。在每一情況下的設(shè)定靈敏度的程序都應(yīng)符合prEN583-2的要求。11.2直探頭距離波幅曲線法（DAC）用于平底孔；A 當(dāng)量曲線法（DGS）。11.3 斜探頭使用側(cè)面鉆孔直徑為3mm的距離波幅曲線（DAC）技術(shù)；A 當(dāng)量曲線法（DGS）。對于斜探頭，DAC和DGS不能進(jìn)行比較。11.4復(fù)檢如果進(jìn)行復(fù)檢，靈敏度設(shè)定要

14、與初始設(shè)定完全相同（DAC或DGS）。12.掃描12.1概述使用手工接觸脈沖回波方法進(jìn)行掃描。所需最小掃描覆蓋寬度由鍛件的類型決定，采用柵格掃描還是100%掃描已經(jīng)在詢價和定貨中約定（參見第4條）。表2描述了根據(jù)生產(chǎn)方法和形狀確定的鍛件的四種類型。表3指定了用于第1、2和3類鍛件的法向掃描覆蓋要求。表4指定了外徑內(nèi)徑比小于1.6：1的3a和3b類鍛件的橫波掃描覆蓋要求。橫波在圓周方向的有效掃描深度受探頭角度及鍛件直徑的影響（見附錄A）。12.2復(fù)雜鍛件對外形復(fù)雜的鍛件（第4類鍛件）和小直徑的鍛件，掃描覆蓋方式要在買賣雙方的詢價及定貨中約定（參見第4條）。約定中至少要包括：檢驗時探頭角度、掃描覆

15、蓋的范圍（柵格掃描還是100%掃描）和方向。12.3柵格掃描柵格掃描要讓探頭沿著表3及表4中定義的柵格線來回移動掃描。如果在柵格掃描時發(fā)現(xiàn)了缺陷，要在該位置附近進(jìn)行附加的掃描以確定其缺陷范圍。12.4 100%掃描需要對表3及表4中指定的表面進(jìn)行100%掃描，探頭掃描路徑的重疊寬度至少為探頭有效直徑的10%。12.5掃描速度手工掃描速度不超過150mm/s。本頁原件缺失！表3：直探頭的掃描覆蓋類型柵格掃描1）100%掃描1）2）1a 直徑D（mm）掃描線數(shù)量至少要對圓柱的180范圍內(nèi)進(jìn)行100%掃描。D200200D500500D10001000D90位置2條60位置3條45位置4條30位置6

16、條1b 要對兩個垂直的面進(jìn)行柵格掃描，按方格線的方式進(jìn)行柵格掃描在兩個垂直的面上進(jìn)行100%掃描。2在圓柱面上360范圍和一個端面上進(jìn)行方格線掃描。3）4）對圓柱面進(jìn)行至少180的范圍內(nèi)進(jìn)行100%掃描，并且對一個端面進(jìn)行100%掃描。33a 在圓柱體外表面360范圍內(nèi)進(jìn)行方格線柵格式掃描4）在圓柱體外表面360范圍內(nèi)進(jìn)行100%掃描。3b、3c對圓柱體外表面360和一個端面進(jìn)行柵格線掃描，4）對圓柱體外表面360和一個端面進(jìn)行100%掃描。4掃描覆蓋范圍必須在詢價及定貨中指定。注意：1）如在詢價及定貨中另有約定，則要進(jìn)行附加掃描檢查（如3a沿兩個軸向端面進(jìn)行掃描）。2）100%掃描檢查意味著

17、在兩個連續(xù)的掃描路徑中，探頭軌跡至少有10%的重疊。3）對1a（端面有孔）和1b類鍛件，如果上面有孔洞妨礙了超聲波檢驗，則掃描線量要對稱地加倍布置。4）掃描線柵格的分布要均勻，沿鍛件厚度方向的距離最大為200mm。表4：斜探頭掃描覆蓋類型柵格掃描1）100%掃描1）2）33a3b沿著圓周柵格線的兩個方向（如箭頭所示）進(jìn)行掃描，掃描線數(shù)量沿半徑方向均布，最大不超過200mm。在圓周的兩個方向（如箭頭所示）進(jìn)行100%掃描。4掃描覆蓋范圍必須在詢價及定貨中指定。注意：1）如在詢價或定貨中另有約定，則要進(jìn)行附加的掃描。2）100%掃描檢查意味著在兩個相繼的掃描線軌跡至少10%的重疊。13分類13.1

18、信號分類將根據(jù)回波模式對探測到的信號進(jìn)行分類。模式1隨著探頭的移動，示波器顯示出單個的尖銳信號圖形，均勻地上升到最高點后又均勻地回落到零點（參見圖1）。這樣的圖形模式對應(yīng)的是直徑小于或等于波形為-6dB的不連續(xù)性缺陷，例如從鉆有側(cè)面孔的試塊得到的回波圖波形。掃描波形圖（探頭在典型位置） 回波圖（探頭移動時的單個振幅）圖1 模式1的掃描波形圖和回波圖b) 模式2隨著探頭的移動，掃描波形圖顯示出單個尖銳的波峰，均勻地上升到最高點，然后保持不變，再均勻地回落到零點（參見圖2）。掃描波形圖（探頭在典型位置） 回波圖（探頭移動時的單個振幅）圖2 模式2的掃描波形圖和回波圖13.2缺陷分類對缺陷的分類是根

19、據(jù)其回波圖形進(jìn)行的：點狀缺陷回波模式1和/或尺寸小于等于波寬-6dB（見圖3）A 條狀缺陷回波模式2和/或尺寸大于波寬-6dB（見圖4）B 孤立缺陷兩個相鄰的點缺陷間距離d大于40mm（見圖5）C 成組缺陷兩個相鄰的點缺陷間距離d小于等于40mm（見圖6）圖中符號說明：l： -6dB缺陷的常規(guī)輪廓Dp：缺陷沿深度方向的波寬D： 兩個缺陷間的距離L： -6dB缺陷的常規(guī)長度14記錄水平與合格標(biāo)準(zhǔn)質(zhì)量等級標(biāo)準(zhǔn)必須由買方及賣方達(dá)成協(xié)議（見第4條）。表5、6和7給出了將要應(yīng)用的4種質(zhì)量等級的詳細(xì)記錄水平和合格標(biāo)準(zhǔn)。注意：對一個鍛件或經(jīng)過鍛造的零件可能會有不同質(zhì)量等級要求。第4級質(zhì)量等級的要求最嚴(yán)格，給

20、出了最小的記錄水平和最小合格標(biāo)準(zhǔn)。如有協(xié)議在先，可以使用與表5、6、7不同的記錄水平和合格標(biāo)準(zhǔn)。表5：直探頭檢驗時質(zhì)量等級，記錄水平及合格標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)質(zhì)量等級1234記錄水平等值平底孔（EFBH）deq （mm） 1）底板回波衰減比率R2）3）80.150.330.520.6合格標(biāo)準(zhǔn)EFBH（孤立缺陷）deq（mm）1）EFBH（條狀或成組缺陷）deq（mm）1）1288553321）deq = 等值平底孔直徑2）式中：n=1（t60mm），n=2（t60mm） 底板第n次回波衰減振幅（示波器屏幕所示高度）與在相同范圍內(nèi)的無缺陷區(qū)域底板第n次回波衰減振幅（示波器屏幕所示高度）。3）如果底板回波衰減

21、超過記錄水平，那么就需要進(jìn)一步研究這個問題。衰減比率R僅適用于存在單個缺陷時引起底板回波快速衰減。表6斜探頭使用DGS技術(shù)采用平底孔試塊時質(zhì)量等級、記錄水平及合格標(biāo)準(zhǔn)質(zhì)量等級1 1）234記錄水平dep（mm）2） -532孤立缺陷的合格標(biāo)準(zhǔn)dep（mm）2）-853條狀或成組缺陷的合格標(biāo)準(zhǔn)depmm1）-532注意：質(zhì)量等級1不適用橫波掃描檢驗deq等值平底孔直徑表7：斜探頭使用DAC技術(shù)時質(zhì)量等級、記錄水平及合格標(biāo)準(zhǔn)1)質(zhì)量級別公稱檢測頻率2）MHz記錄水平%（DAC）接受標(biāo)準(zhǔn)孤立缺陷1）4）%（DAC）條狀或成組缺陷1）4）%（DAC）12）2150100502100200100325010050410020010042306030450100501）基于3mm直徑的側(cè)面鉆孔。2）橫波掃描不適用于質(zhì)量等級1。3）對每個頻率和探頭均需建立基于3mm直徑的側(cè)面鉆孔試塊掃描獲得距離波幅曲線（DAC）。4）附錄B中給出了以dB為單位相對于DAC波幅顯示值。15 確定缺陷尺寸買賣雙方需要協(xié)商用下面的一項或幾項方法對可能存在條狀缺陷進(jìn)行評估。這些方法應(yīng)該與p