muon壽命測量實驗_第1頁
muon壽命測量實驗_第2頁
muon壽命測量實驗_第3頁
muon壽命測量實驗_第4頁
全文預(yù)覽已結(jié)束

下載本文檔

版權(quán)說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請進行舉報或認(rèn)領(lǐng)

文檔簡介

1、宇宙線子平均壽命的測量實驗意義和目的 子是自然界中存在的基本粒子之一。地球上的生物每時每刻都受到子照射,并對人類進化過程產(chǎn)生影響。1937年由美國科學(xué)家J.C.Street和E.C.Stevenson在宇宙線實驗中觀測到了子,并明確的指出了它的存在。子帶有一個單位的基本電荷,其質(zhì)量為105.658MeV/c2,平均壽命約2.197s。對它的壽命測量和物理特性的研究具有重要的科學(xué)意義。海平面上子的通量的測定結(jié)果,也是對愛因斯坦相對論中時間膨脹效應(yīng)的有力證據(jù)。本實驗利用一個大面積粒子探測器(面積約450平方厘米),來探測宇宙線子,通過專門研制的可編程邏輯電路實現(xiàn)對子的平均壽命測量。實驗的目的是:1

2、. 加深相對論效應(yīng)及宇宙線子性質(zhì)的認(rèn)識;2. 掌握宇宙線子平均壽命的測量原理;3. 學(xué)習(xí)短時間間隔的一種現(xiàn)代測量方法。實驗原理地面上為何能探測到來自宇宙的子。宇宙射線在大氣中發(fā)生簇射過程產(chǎn)生大量的介子。子主要是介子衰變產(chǎn)生,大多數(shù)子產(chǎn)生在大氣上層。由于子不參與強相互作用,只通過與物質(zhì)的電磁相互作用和弱相互作用的衰變,具有較強的穿透力。它通過衰變成電子(e)和中微子()方式衰變:實驗證明到達地面的子大多數(shù)產(chǎn)生在15km的高空,產(chǎn)生子速率接近光速。在子靜止的參考系觀測,子產(chǎn)生到衰變的平均壽命約2.197s,則子飛行的平均距離約為六百多米,想要到達地面似乎是不可能的。大量的實驗證據(jù)表明地面上觀測者可

3、以測量到子。在海平面上每平方厘米每分鐘大約有1個子,平均能量在幾個GeV數(shù)量級。這是由于子高速運動時產(chǎn)生了相對論時間膨脹效應(yīng),地面參考系測量的子“運動壽命”,比其“靜止壽命”要長,也可以認(rèn)為在運動參考系觀測,子到達地面飛行距離變短。如何探測子衰變平均壽命。實驗由塑料閃爍體配合光電倍增管構(gòu)成子探測器。相比其它測量帶電粒子的探測器(如電離室、半導(dǎo)體探測器等),塑料閃爍探測器易制成較大的尺寸,具有探測效率高和時間響應(yīng)快特性,是現(xiàn)代核與粒子物理實驗常用的探測器之一。子在塑料閃爍體中,主要的能量損失方式是電離能損并伴隨一些庫侖散射。高能量子可直接從閃爍體中穿出,并在徑跡周圍產(chǎn)生電子以及熒光光子等次級粒子

4、;一些較低能量子在閃爍體中停止并衰變,衰變產(chǎn)生的電子則繼續(xù)與閃爍體中發(fā)生作用損失能量并使閃爍體分子激發(fā),而中微子直接穿出。圖1利用計算機模擬上述兩個過程產(chǎn)生的物理圖像。 圖1高能子入射(直接穿出)和低能子入射(停止并衰變)圖像(模擬結(jié)果)閃爍體中被激發(fā)的分子在極短的時間內(nèi)(為ns量級)退激發(fā)并發(fā)射出熒光。熒光經(jīng)過光電倍增管轉(zhuǎn)換成電信號。停止在閃爍體中的子信號就是粒子的“到達”探測器的信號,而子衰變產(chǎn)生的電子信號,稱為“衰變”信號。由于微觀粒子(包括子)的衰變具有一定的統(tǒng)計性,因此實驗上對子的壽命測量,實際是通過測量到達-衰變信號的時間差的分布,進而計算得到子平均壽命。設(shè)子的平均壽命為,子產(chǎn)生時

5、刻(t=0時刻)數(shù)目為,t時刻數(shù)目為N,則服從指數(shù)衰變規(guī)律為:,單個子在時間間隔dt內(nèi)衰變概率為:。在本實驗中,來自宇宙線子的通量很低,每次擊中探測器的事例可以看成單子事例。設(shè)第i個子的產(chǎn)生時間為,則相對一個公共的時間零點,衰變概率為:如果第i個子到達探測器的時刻為,那么時間間隔內(nèi),這個子衰變的概率是:如果實驗共測量到M個子,則在時間差以內(nèi)衰變的總的子數(shù)N為:因此通過測量得到的時間差分布曲線,利用指數(shù)函數(shù)擬合方法,可以求得子衰變的平均壽命。實驗裝置 整個測量裝置包括:閃爍探測器,高壓電源,信號處理和數(shù)據(jù)通訊接口,以及計算機和分析軟件四部分儀器。其工作原理如圖2所示。 圖2 子壽命測量裝置工作原

6、理圖當(dāng)子在塑料閃爍體探測器中產(chǎn)生的信號、經(jīng)過放大器和甄別器成形為邏輯信號,然后經(jīng)過可編程邏輯電路(FPGA)對觸發(fā)信號進行邏輯判選。FPGA主要功能是:將接受到的第一個脈沖作為開始時間,對時鐘脈沖進行記數(shù),在一定時間間隔內(nèi)(例如:10微秒)如果沒有接受到第二個脈沖則電路清零重置;如果在該時間間隔內(nèi)接受到第二個脈沖,則將兩個脈沖的之間的時鐘周期數(shù)輸出,之后清零重置??梢钥闯鯢PGA功用就是通過觸發(fā)判選電路,找到具有時間關(guān)聯(lián)的子的到達信號與衰變信號,并將這兩個信號的時間差轉(zhuǎn)換成脈沖數(shù)。最后通過USB接口輸入計算機進行數(shù)據(jù)處理。圖3是測量測量裝置的照片。兩套測量裝置可共用同一個閃爍體和高壓電源。圖3

7、 子壽命測量裝置實驗步驟和內(nèi)容1) 將高壓電源線(紅色)與探測器連接;探測器信號線(黑色)與信號處理儀器測量面板上的信號輸入端連接; USB接口線與計算機相應(yīng)接口連接。2) 將各部件電源線接好,檢查無誤后,打開高壓電源和信號處理儀器電源。并將探測器工作高壓設(shè)置為-600v。記錄下電壓及電流大小。3) 從信號處理儀器放大器輸出觀測信號,記錄放大信號特征(幅度、上升時間,信號寬度、頻率),并粗略估計放大倍數(shù)和噪聲信號幅度。4) 調(diào)節(jié)儀器面板上的電阻以選擇合適的閾電壓,用于去除放大器輸出信號中包含的噪聲信號。5)打開計算機,執(zhí)行數(shù)據(jù)獲取軟件:muon.tcl(見附錄1),獲取子的衰變信號,要求累積數(shù)

8、據(jù)足夠長( >10小時 ),存儲數(shù)據(jù)文件.6)利用origin軟件(見附錄2)處理數(shù)據(jù),計算子的平均壽命。7)打印出實驗曲線和實驗結(jié)果,回答思考題,給出實驗條件,寫出實驗報告。附錄1:數(shù)據(jù)獲取軟件muon.tcl軟件使用介紹 1.打開muon.tcl,彈出如下對話框:2單擊“設(shè)置”按鈕,彈出下圖對話框,按提示選擇通信端口、量程、采樣計數(shù)區(qū)間數(shù)及測量時間,并保存退出。3點擊“開始”按鈕開始收集數(shù)據(jù),實驗中可以點擊同一按鈕實現(xiàn)“暫?!焙汀盎謴?fù)計數(shù)”功能,并通過“監(jiān)測器”、“計數(shù)率表”、“穿過探測器子計數(shù)”、“子衰變時間柱形圖”實現(xiàn)實時監(jiān)控。4結(jié)束實驗點擊停止并保存退出程序5程序會在計算機上同一目錄下建立以測量開始時間命名的“*.data”ASCII數(shù)據(jù)文件,可以用文本編輯器打開,并可導(dǎo)入到origin等數(shù)據(jù)處理工具軟件中以供之后的離線處理。附錄2:數(shù)據(jù)處理說明1. 打開origin,導(dǎo)入數(shù)據(jù)文件2. 對左邊那列進行頻率統(tǒng)計,范圍0-20000,間隔1000,分20個區(qū)間,作散點圖3. 對散點圖進行e指數(shù)函數(shù)擬合,獲得子平均壽命擬合值思考題1. 在地面參考系觀測,運動的子到達地面的平均壽命是多少?(假設(shè)子的速率為0.998c)。2. 該實驗是如何保證測量的兩個信號恰是同一子的到達與衰變信號?3. 解釋

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會有圖紙預(yù)覽,若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 人人文庫網(wǎng)僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護處理,對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

最新文檔

評論

0/150

提交評論