TYPEC數(shù)據(jù)線規(guī)格書精編版

1、最新資料推薦1TYPE C 數(shù)據(jù)線規(guī)格書 V1.0關鍵詞：TYPE C 數(shù)據(jù)線摘 要：本文介紹了數(shù)據(jù)線的規(guī)格，性能及測試規(guī)范。縮略語：1 范圍標準適用于 TYPE A TO C 數(shù)據(jù)線需求規(guī)格書， 未盡規(guī)格描述以 TYPE C 協(xié)會規(guī)范 V1.1 為準。2 編寫依據(jù)序號 No.文件編號 Doc No.文件名稱 Doc Title1GJB1217電連接器試驗方法2MIL-STD-202GTest method sta ndard electr onic and electrical comp onent parts3GB/T 3048電線電纜電性能試驗方法4GB4098射頻電纜試驗方法5EIA-

2、364-101Atte nu ati on Test Procedure for Electrical Conn ectors, Sockets, CableAssemblies or In terc onnection Systems6EIA-364-106Sta ndi ng Wave Ratio (SWR) Test Procedure for ElectricalConn ectors7EIA-364-108Impeda nee. Reflect ion Coefficie nt, Retur n Loss, and VSWRMeasured in the Time and Frequ

3、e ncy Doma in Test Procedure forElectrical Conn ectors, Cable Assemblies orIn terc onnection Systems8GB5441.2工作電容試驗-電橋法9EIA-364-103Propagati on Delay Test Procedure for Electrical Conn ectors,Sockets, Cable Assemblies or In terc onnection Systems10IEC 68-2-1基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗 A :寒冷11GB/T 2423.1電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)

4、程試驗 A :低溫試驗方法12IEC 68-2-2基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗 A :干熱13GB/T 2423.2電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗 B :高溫試驗方法14IEC 68-2-10電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第 2 部分：試驗方法試驗 J 和導則：長霉 0020 的15GB/T 2423.16電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第 2 部分：試驗方法 試驗 J 和導則：長霉16ASTM G 21Stan dard Practice for Determi ning Resista nee of Syn thetic最新資料推薦2序號 No.文件編號 Doc No.文件名稱 Doc TitlePolymeric

5、Materials to Fungi17IEC 61587-1Mecha ni cal structures for electro nic equipme nt Tests for IEC60917 and IEC 60297 Part 1 Climatic mecha nical tests andsafety aspects for cab in ets racks subracks and chassis18GR 487Gen eric Requireme nts for Electro nic Equipme nt Cabin ets19IEC 68-2-30基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗 D

6、b 及導則：交變濕熱（12 + 12h 循環(huán)）20GB/T 2423.4電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗 Db :交變濕熱試驗方法21IEC 68-2-52電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第 2 部分：試驗 試驗 Kb :鹽霧，交變（氯化鈉溶液）22GB/T 2423.18電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第 2 部分：試驗 試驗 Kb :鹽霧，交變（氯化鈉溶液）23IEC 529Degrees of protecti on provided by en closure(IP code)24GB 4208外殼防護等級（IP 代碼）25EIA-364-38BCable pull-out test procedure fo

7、r electrical conn ectors26EIA-364-41CCable flex ing test procedure for electrical conn ectors27IEC 60950Safety of in formati on tech no logy equipme nt28EN 60950Safety of in formati on tech no logy equipme nt29UL 60950Safety of in formati on tech no logy equipme nt30GB 4943信息技術設備的安全31IEC60332Tests o

8、n electric cabies under fire conditions32GB/T18380電纜在火焰條件下的燃燒試驗33UL1581Refere nee sta ndard for electical wires,cables,a nd flexible cords34GR 1217Gen eric requireme nts for separable electrical conn ectors used intelecom muni cati ons hardware35GR 950Gen eric Requireme nts for Optical Network Un it

9、 (ONU) Closures36USB Type-C Cable and Co nn ector Specificatio nV1.13 數(shù)據(jù)線正常工作和存儲條件3.1 數(shù)據(jù)線應能在下列條件下正常工作：3.1.1 工作環(huán)境溫度：-20C+55C;（僅作單體驗證目的，與整機匹配時以整機試驗 環(huán)境為準）；3.1.2相對濕度：5%95% ;3.1.3大氣壓力：86 kPa 106kPa;最新資料推薦33.1.4 數(shù)據(jù)線的存儲溫度：-40C+85C;4 數(shù)據(jù)線主要參數(shù)4.1 數(shù)據(jù)線連線規(guī)格詳細尺寸以及工藝要求以 3D 圖檔為準1、 type C 金屬插頭，要求必須是整體拉伸成型，不能是折彎成型，不接

10、受接縫；2、 金屬插頭部分，要求做不銹鋼原色，表面噴砂處理：50u”150u” MATT NICKELPLATING OVER ALL3、 保證至少 3A 通流能力整條線纜產(chǎn)品詳細規(guī)格（BOM 清單，包括端子圖紙 2D &可拆解版本的 3D）要有確認才能 認可（認證時必須提供以上文件）。4.2 線材主體信息:4.2.1夕卜觀5V/3A A plug TO C plug, cover式，白色半霧面,素材細咬花處理，MT110064.2.2主體結構項目規(guī)格說明長度16mm不含金屬插頭部分顏色白色半霧面材質Overmold& Cable &Housing &其他輔料N

11、ON-PVC無鹵滿足 ROSH,且無如下有害物質添加：溴系阻燃劑 Brominated Flame Retardants 氯系阻燃劑Chlorinated Flame Retardants 聚氯乙烯 Polyvinyl Chloride(PVC) 鄰苯二甲酸酯 Phthalates三氧化銻 Antimony Trioxide鈹及其化合物 Beryllium (Be) and its compounds接口USB 卩 B receptacletoTYPE C plug滿足 5V 3A其他應符合 5.2 節(jié)測試標準Voltage Rating:30VAC/DC導體材質規(guī)格如下:材質：鍍錫銅Sign

12、al NameWire Gauge (AWG)VBUS /GND端到端阻抗不大于 80m Q絕緣材質 NON-PVC，須滿足 5.2 章節(jié)測試性能要求最新資料推薦44.2.3關鍵尺寸4.2.3.1 USB2.0 B plug參考協(xié)會規(guī)范4.2.3.2 TYPE C plug1.紅圈標示尺寸為重點尺寸，其余尺寸依據(jù)協(xié)會規(guī)范要求2.各組件 BOM LIST 原材料信息需明確到具體牌號3.應滿足 TYPE C 2.0 規(guī)格LT41尋03srcrnH上亡 un屯0猛ri：t0ONMrrrsq 朝的廿2J75WAU 鋤也TEJi PG制!1Qfis.l Ihfi.MggBLLL2g.列1V9bpHras

13、cnrwiLML CLHMI 3C ACbP HhCf Q/ntTT 鬥”用吟 已：期 005 5Jf：Tk：! aaWHDMTRqk.REMF5 N 頂 FH.門工訊啊注弼!i.2旳斷CEAMCE 0 102bl 叮屮卩4V9K1 1 %心iiq urW 2QI誑JKlLE M RUkH MU. J H*” BU PUHI M low MJ. ui wi Mon-wnr.jnw nnu.1I 1 -I3E-ttr E 1廠利- 5U:a TAtfb I-*. LNLtHVirW tJMJHMI.最新資料推薦5/TQAND BOTTOM CONTACTS SHALL NOT TOUCHz.eo

14、SECTION A-A最新資料推薦64X0.01號挖【GNC SPRING)-4X 0. IH VIN. (V)IGND PRlNGSfC汽距尺寸和竝進瞳J、7 V：rJ4邁間距尺寸和世豈虔SIGNAL CONTACTS I12X 2.64；0410 (SD 3NAL CONTACTS ?SECTION B-BG最新資料推薦7423.3鍍層厚度測試區(qū)域規(guī)定 關于鍍層測試區(qū)域和方法：TYPE C/A : TYPE C/A 產(chǎn)生接觸的關鍵區(qū)域為 PIN 針頭部觸點，因此鍍層工藝為考慮 成本一般只覆蓋 PIN針觸點位置，其他區(qū)域為flash Au,所以鍍層的量測范圍定義在PIN 針觸點弧頂?shù)淖罡咛庡?/p>

15、層厚度為在觸點弧頂最高點 0.5mm 的范圍內(nèi)進行測量，同一觸點在 0.5mm 范圍內(nèi)測量三次取平均 值ZX 1.S70 0.0251 3 00弓X占5*TBOTH StDESlLR(0,25 MIN.I5HARP EDGES ARE NOT PERMIT BLE RADIUS DR匚HAMFERAl . AROUND REOU J REDDETAIL G* ,金|0 0d爾I A.|日0. 10円匚Q.IOMIN. X 45*/ ALL AROUNDn.QAI 2.40 0.03 可（S）-斗X EMI 5FR i NC5 TOU匚HING PLUG SHELL最新資料推薦84.2.4 線序

16、Table 3-20 USB Type-C to USB 2.0 AMWiringUSB Type-C PlugUSB 2.0 AMPinSignal NamePinSignal NameA1, B1, A12, B12GND4GNDA4, B4, A9, B9VBUS1VBUSA5CCA6Dpi3D+A7Dni2D-ShellShieldShellShieldNotes:1.Pin A5 (CC) of the USB Type-C plug shall be connected to VBUSthrough a resistor Rp. See Section 4.5.322 andTab

17、le 4-13 for the functional description and value of Rp.2. Contacts B6 and B7 should not be present in the USB Type-C plug.3.All VBUSpins shall be connected together within the USB Type-C plug. Bypass capacitors are not required forthe VBUSpins at this cable.4. All Ground return pins shall be connect

18、ed together within the USB Type-C plug.5. All USB Type-C plug pins that are not listed in this table shall be open (not connected).Standard-A plug QMicro-B receptacle -Table 4-13 DFP CCTerm in ati on (Rp)Requireme nts DFPAdvertiseme ntCurre nt Source to1.7-5.5 VResistor pull-up to4.75 -5.5 VResistor

19、 pull-up to3.3 V士5%Default USB Power80A20%56 k Q士20%te 1)36 kQ士20%1.5 A 5 V180卩A8%22 kQ士5%12 kQ士5%3.0 A 5 V330卩A8%10 kQ士5%4.7 kQ士5%DRP最新資料推薦9Notes:最新資料推薦101. For Rp when implemented in the USB Type-C plug on a USB Type-C to USB 3.1Standard-A Cable Assembly, a USB Type-C to USB2.0Standard-A Cable Ass

20、embly, a USB Type-C to USB 2.0 Micro-B Receptacle Adapter Assembly or a USB Type-C captive cable connected to aUSB host, a value of56 k Q s5%ll be used, in order to provide tolerance to IR drop on VBUSand GND in the cable assembly.5 技術要求5.1線材外觀要求5.1.1線材外觀要求如下:外觀金屬插頭/pin 腳檢查1、參照樣品和 PDM 圖紙檢驗，線纜兩端插頭的結構

21、外型（型號） 要求與樣品一致；2、 插頭不允許氧化/生銹、殘缺、變形；3、用干布（無塵布）能擦除的臟污，允許；用干布（無塵布）不 能擦除的臟污，不允許；【注：金屬插頭臟污不良超出 1% （不 良數(shù)/樣本數(shù)）時，提交不合格電子流確認】4、 插頭上不允許有油漬；5、劃痕 L 2mmW 0.1mm,用手觸摸無深度感，允收一條；6、 USB A 公插頭內(nèi)不允許有溢膠的現(xiàn)象；7、 USB A 公插頭內(nèi)的連接器 PIN 腳不允許氧化/生銹、翹高、變形、PIN 腳內(nèi)陷/斷裂不良；8、 金屬插頭（USBA 公以及 TYPE C 公）與注塑部分匹配正常， 不允許歪斜，夾角 90o 2.5o標簽檢查1、參照樣品和

22、 PDM 圖紙檢驗，標簽上的印刷圖案和字體要求一 致；2、標簽不允許破損、漏貼；注塑部位1、 注塑部位（USB A 公外膜、DC 插頭外膜、磁環(huán)外膜）不允許 缺膠、破損；2、合模線（毛邊）H 0.2mm3、 水口位（毛邊）在不刺手的前提下，H 1mm 可接收；4、 壓痕 L 5mm, W 0.2mm, USB A 公外膜每面允收一條， DC 外膜允收一條；5、 點狀壓痕 D 1.5mm , USB A 公外膜每面允收一條，DC 外膜允 收一條；線材外觀1、 線材不允許有破損、漏銅；2、 線材上不允許有臟污；3、 點狀壓痕 D 25mm 允收 6 個；4、線狀壓痕 L 5mm W 25mm 允收

23、 3 條；扎帶下的壓 痕允許；最新資料推薦115、 有感刮傷：L 25mm 允收 2 條；無感刮 傷：Lw30mmWw1mm DS 30mm 允收 3 條；未盡事宜參考終端數(shù)據(jù)線檢驗通用操作指導書5.2 線材性能要求Test con diti onTemperature：15Cto 35CAir pressure : 86 to106 kPaRelative humidity : 25% to 85%NOTest descripti onTest procedurePerforma neeRelated standard1插拔耐久測試數(shù)據(jù)線插頭無破損，配件插頭尺 寸在規(guī)格內(nèi)，接觸良好，電氣性能

24、正 常。測試前，測試后插拔力應滿足要求， 樣品外觀結構、功能及電氣性能應正 常，允許端子接觸點表面有正常磨 損，但不允許有物理損壞測試速度為 12.5mm/分鐘以插入力和拔出力測試 標準為依據(jù)，測試 TYPEC 端子插拔次數(shù) 10000 次(正反方向各 5000 次， 每2500 次換一個方向) 做元25 次插拔之后，插 拔力變化不能超過 33%A 公插拔 1500 次測試結束后端子外觀無 異常、插拔力需要滿足 要求EIA364-092插入力EIA364-131. 插拔力測試儀器2. 測試速度為 12.5mm/分鐘3. 單位為 N插拔耐久測試前后：Type C:插入力 520N ;USB AM

25、: 35N(MAX)EIA364-133拔出力EIA364-131. 插拔力測試儀器2. 測試速度為 12.5mm/分鐘3. 單位為 N插拔耐久測試前后：Type C:拔出力 820NUSB AM: 10N(Mi n)EIA364-134滾筒測試跌落高度 1 米，跌落次數(shù) 150 次，每 50檢查一次，跌落速度參考值 10-12 次/分次(以跌落在滾筒鐵板中心位置為準)測試后，樣品外觀、機 械結構應正常，功能和 電氣性能正應常的最新資料推薦125端子強度測試1.F1/F2(+/-Y) =50N，做到 75N 觀察 損壞情況F3,F4 (+/-X) =50NF5(+Z) =100N上下左右 4

26、個方向力量 要求大于 5.0Kg ,插入方 向要求大于 10Kg，連接 器不允許有失效，接口最新資料推薦13F1 和 F2 方向的測試均米用新樣品測 試，F(xiàn)3-F5 方向視情況進行互用 施力點為接口到 SR 處 15mm （從外 殼平面量起 15mm ；如 SR 不足 15mm，以 SR 的末端為施力位置， 如 SR 末端剛性不足以施加力， 則以剛性位置的末端為施力位置）測試速度：5mm/mi n允許有可恢復的變形， 數(shù)據(jù)線電氣性能正常； 結構無松脫，無斷裂6殼體抗拉脫器件選型標準：公頭鐵殼上掛重 10kgf，持續(xù)時間 1 分鐘進料檢驗標準：公頭鐵殼上掛重6kgf，持續(xù)時間 1 分鐘兩端殼體都

27、需要測試抗 拉脫力，測試后兩端殼 體不應有脫落現(xiàn)象7端子強度耐久測試測試力：F 仁 F2=2kgf測試次數(shù)：2000 次/方向；施力點為接口到 SR 處 15m（從靠近 金屬頭尾部量起 15mm 如 SR 不足 15mm 以SR 的末端為施力位置，如 SR 末端剛性不足以施加力，則以剛 性位置的末端為施力位置）；測試速度：10-15 次/min數(shù)據(jù)線外觀結構、功能 及電氣性能應正常，端 子不應有損壞或嚴重變 形8端子鍍層膜厚膜厚測試儀。Type C 端/ uB 母座。 最少樣品數(shù)量：每個端子3pcsType C /B plug Plating goldAu 不小于 30,Plati ng Ni

28、不小于 8 09成品電阻測試1、C TO A 測試2、屏蔽層測試殼對殼3、壽命前后均要滿足阻抗要求4、滿足協(xié)會規(guī)范 1.1 要求25C時實驗室測試標準：Vbus: 0.135Q最大GND 0.135Q最大線材規(guī)格1M,電源 22AWG10溫升測試TYPEC Vbus/GND 通電 5A（4 對 pin），USB AM 單 VBUS/GND!電 3ATYPE C/USB AM 非電源 pin 腳通流0.25A ;利用 shield/GND 回流，通流不低于3A25C時測試溫度穩(wěn)定 30 分鐘后測試 針對 plug 單體和 cable 組件整體的兩項測試均 需滿足任意點溫升不允許超過30 度USB

29、 Type-CCable andConn ectorSpecificat ion11接觸阻抗LLCR 是從 REC 焊接點的尾部到Plug 焊點,包括 Plug 端和 Rec 所有VBUS/GND 初始接觸阻抗 30mQ,其他 pin 初始接觸阻抗連接器最新資料推薦14內(nèi)部的端子和 Paddle Cards*使用四線測試法*測試電壓 20mV 最大，電流 100mA.40mQMax 最大,所有 Pin 環(huán)境測試后 LCCF 最大增量爲 10mQ13 耐壓測試兩兩 pin 之間打（含外殼）認證測試：100VAC/60s/0.5mA產(chǎn)線測試：100VAC/0.1s/0.5mA14絕緣電阻兩兩 pi

30、n 之間打（含外殼）認證測試：300VDC 60s100MQ產(chǎn)線測試：300VDC/0.1S/10M ?15高溫存儲轉接頭：（702）C,24H完成后返回常溫停留24 小時以上，進行測試連接器：（1052）C,120H完成后返回常溫停留24 小時以上，進行測試部品外觀無損壞；線纜電氣性能正常16 低溫存儲（-402）C,120H完成后返回常溫停留 24 小時以上，進行測試樣品外觀無損壞；線纜電氣性能正常17 溫度沖擊米用兩箱法，低溫-40C,高溫 70C,高低溫各停留不少于 20 分鐘，最大 轉換時間為 20 秒，10 個循環(huán)。測試后，樣品外觀、機 械結構應正常，功能和 電氣性能應正常18 鹽

31、霧測試5%NaCI,35C,連續(xù)噴霧 48 小時（針 對pin 針，uB 鐵殼部分應可承受至 少 24H 連續(xù)噴霧），噴霧時接口需斜 向下放置，確保鹽霧能進入，但冋時 不能在接口中形成積水。然后移出進 行 2 小時晾干。試驗后，樣品外觀應無 明顯銹蝕、變色、及鍍 層剝落等現(xiàn)象。VBUS/GND 初始接觸阻抗 30mQ,其他 pin 初始 接觸阻抗 40mQMax 最 大,所有 Pin 環(huán)境測試后LCCR 最大增量爲 10 mQEIA 36419 咼溫咼濕試驗溫度（70 2）C，濕度（85 3）%RH 進行 168 小時樣品外觀無損壞；主要考察膠料和線料20交變濕熱2555C,相對濕度（95 3

32、）%,測試后，樣品外觀、機主要考察端最新資料推薦15168 小時械結構應正常，功能和電氣性能應正常子21混合氣體腐蝕 測試測試時間：7 天，產(chǎn)品狀態(tài)：5 天非配插，5 天配插， 溫濕度：70%RH 30C,氣體種類：CI2 : 10+/-3 ppb, N02:200+/-50 ppb, H2S: 10+/-5 ppb, SO2:100+/-20 ppb試驗后，樣品外觀應無 明顯腐蝕、變色、及鍍 層剝落等現(xiàn)象，功能應 正常。VBUS/GND 初始接觸阻抗 30mQ,其他 pin 初始 接觸阻抗 40mQMax 最 大,所有 Pin 環(huán)境測試后LCCR 最大增量爲 10 mQ（僅針對連接器）連接器

33、22耐化學溶劑測 試將家用化學物品 （1護手霜； 2防曬 乳液；3口紅；4.化妝粉底；5驅蟲 凍膠；6食用油，所用化學用品型號 或配方為我司終端現(xiàn)有用品） 涂在線 纜、SR、殼體上。放置72小時后用 水清洗掉家用化學品再放置兩個小 時后檢查 2將以下溶劑（1汽油；2. 酒精；3人工汗液；4.5%食鹽水，所 用化學用品型號或配方為我司終端 現(xiàn)有用品）涂在線纜、SR、殼體上。 放置 72 小時（汽油放置 24 小時）后 用水清洗掉溶劑再放置兩個小時后 檢查線纜、SR 殼體不會有 明顯腐蝕、開裂23耐 UV 輻射測試耐 UV 輻照進行 1 個循環(huán)為 24 小時的測 試，具體為在干熱 40C下， 太陽

34、輻射強度為 1120W/m2,保持 20 小時，再關閉太陽輻 射源 4 小時，試驗持續(xù)循環(huán) 96 小時24EMC參考終端產(chǎn)品 USB 數(shù)據(jù)線充電線可 靠性測試規(guī)范 V1.2EMC class A 標準CE/FCC25Differe ntialImpeda neeThis test en sures that the D+/D-lines of the cable assembly have theproper impeda nee.For the en tire cable assembly.75 ohms min and 105 ohms max.400 ps rise time(20%-8

35、0%).EIA364-10826Propagati onDelayThe purpose of the test is to verifytheen d-to-e ndpropagationof the D+/D- lines ofthe cable assembly.20 ns max.400 ps rise time (20%-80%).EIA364-103最新資料推薦1627In tra-pairSkewThis test ensures that the signal on boththe D+ and D- lines ofcable assembly arrive at the r

36、eceiver atthe same time.100 ps max.400 ps rise time(20%-80%).EIA 364-103D+/D -PairAtte nu ati onThis test en sures the D+/D- pairof a cable assembly is able to provideadequate signal strength to the receiverin order tomai nta in a low error rate.-1.02 dB 50 MHz-1.43 dB 100 MHz-2.40 dB 200 MHz-4.35 dB 400 MHzEIA 364-1015.3安全性要求USB 數(shù)據(jù)線的安全性能應能滿足CCEE 規(guī)定要求。符合國際 GB 4943-1995信息技術設備（包括電器事務設備）的安全規(guī)定的要求。5.3.1阻燃要求：塑膠件 /PCB: UL94-V0需要供應商提供報告，PCB 板正負網(wǎng)絡間距不小于 0.15mm滿足 IEC60332 或 GB/T18380 電纜在火焰條件下的燃燒試驗標準（歐洲、國內(nèi)）。參考標準：IEC6095